DE102008007004B4 - Integrierte Schaltung mit einem Speicher mit mehreren Speicherzellen mit synchronem Aufbau, die mit Taktausblendeeinheiten verbunden sind, sowie Verfahren zum Entwerfen einer solchen Schaltung - Google Patents

Integrierte Schaltung mit einem Speicher mit mehreren Speicherzellen mit synchronem Aufbau, die mit Taktausblendeeinheiten verbunden sind, sowie Verfahren zum Entwerfen einer solchen Schaltung Download PDF

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Abstract

Integrierte Schaltung (200) mit:
einer Taktquelle, die ausgebildet ist, ein Taktsignal bereitzustellen;
mehreren Taktausblendeeinheiten (240), wovon jede so angeschlossen ist, um das Taktsignal und ein Steuersignal zu empfangen, wobei die mehreren Taktausblendeeinheiten (240) ausgebildet sind, das Taktsignal bereitzustellen, wenn das Steuersignal sich in einem gesetzten Zustand befindet; und
einem Speicherbereich (210) mit Speicherzellen, die in mehrere Häufigkeitsgruppen unterteilt sind, wobei jede Häufigkeitsgruppe aus Speicherzellen eine vorbestimmte unterschiedliche Zugriffshäufigkeit während eines spezifizierten Betriebsmodus aufweist, und das Taktsignal von einer entsprechenden der mehreren Taktausblendeeinheiten (240) empfängt.

Description

  • Gebiet der vorliegenden Offenbarung
  • Die vorliegende Offenbarung betrifft im Allgemeinen digitale integrierte Schaltungen mit Speicherbereichen, die mit geringer Leistungsaufnahme zu betreiben sind, etwa integrierte Schaltungen mit einer Taktquelle und Taktausblendeeinheiten, sowie ein Verfahren zum Entwerfen solcher Schaltungen.
  • Beschreibung des Stands der Technik
  • Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen mit relativ komplexer Schaltung ist der Entwurf und die Verifizierung, d. h. das Prüfen und das Simulieren des Bauelements, ein wesentlicher Teil des Fertigungsprozesses, der häufig unterschätzt wird im Hinblick auf die Kosten und den Aufwand, der erforderlich ist, um zuverlässige Daten im Hinblick auf die korrekte Funktion und Zuverlässigkeit des Bauelements zu erhalten. Ein Grund für das Nichteinhalten von Leistungsspezifikationen der integrierten Schaltungen liegt in Entwurfsfehlern, die durch Schaltungsverifizierung auf der Grundlage von Softwaresimulation und/oder Prototypenprüfung vor der Massenfertigung der betrachteten integrierten Schaltungen erkannt und behoben werden können. Eine nicht korrekte Funktion der integrierten Schaltung kann ferner durch den Fertigungsprozess selbst hervorgerufen werden, wenn die vollständige Schaltung nicht den verifizierten Schaltungsaufbau entspricht, etwa auf Grund von Prozessschwankungen in einem oder mehreren der großen Anzahl an beteiligten Prozessschritten. Obwohl Mess- und Testverfahren an vielen Punkten des Fertigungsprozesses vorgesehen sind, ist es dennoch äußerst wichtig, die korrekte Funktion des fertigen Halbleiterbauelements zu prüfen, da gemäß einer Faustregel, die durch fehlerhafte Chips hervorgerufenen Kosten mit jeder Montagephase um eine Größenordnung zunehmen. Z. B. sind die Kosten, die durch eine defekte Leiterplatte mit einem fehlerhaften Chip hervorgerufen werden, deutlich höher als das Erkennen eines fehlerhaften Chips vor dem Ausliefern und dem Montieren der Leiterplatte. Das gleiche gilt für ein System, wenn ein Fehler durch ein oder mehrere fehlerhafte Leiterplatten hervorgerufen wird, da eine Standzeit eines industriellen Systems zu mittleren Kosten von ungefähr mehreren hundert Dollar pro Minute im Vergleich zu einem Preis von einigen wenigen Dollar für eine integrierte Schaltung betragen, die den Defekt hervorgerufen hat.
  • Somit gibt es ein großes Interesse bei der Entwicklung effizienter Entwurfsstrategien und Test- und Verifizierungsverfahren, um die Entwurfsphase zu beschleunigen, ohne zu Schaltungsfehlern, die durch Entwurfsfehler hervorgerufen werden, beizutragen. Insbesondere mit der Forderung nach immer mehr Strukturelementen und geringeren Kosten von Schaltungen gibt es ein Bestreben, eine Vielzahl unterschiedlicher Schaltungsbereiche in einen einzelnen Chip zu integrieren, um damit ein vollständiges System auf einem Chip (SOC) bereitzustellen. Ein Halbleiterbauelement mit diversen Funktionsblöcken enthält typischerweise zusätzlich zu einem oder mehreren Logikblöcken einen oder mehrere eingebettete Speicherbereiche, wie sie etwa als chipinterner Cache-Speicher oder Zwischenspeicher für CPU's oder als Puffer für Datenpakete verwendet werden, die zwischen unterschiedlichen Taktsignalbereichen ausgetauscht werden.
  • Die zunehmende Komplexität moderner digitaler Schaltungen ist typischerweise auch von einer Zunahme der Leistungsaufnahme begleitet, da in digitalen Schaltungen die Leistungsaufnahme mit zunehmender Taktfrequenz und der Anzahl der aktiven Komponenten ansteigt, d. h. der Transistoren, die zum Aufbau der grundlegenden digitalen Schaltungskomponenten verwendet werden, etwa von Invertern, Signalspeichern bzw. Latches, Flipflops, und dergleichen. Beispielsweise benötigt ein komplexer Mikroprozessor mit mehreren 100 Million Transistorelementen, der bei einer Taktfrequenz von einigen 100 MHz oder mehr arbeitet, etwa 50 bis 100 Watt an Leistung, wodurch deutliche Beschränkungen im Hinblick auf die Erfordernisse für die Wärmeabfuhr in Bezug auf das Gehäuse des Bauelements auferlegt werden. In anderen Fallen sind mobile elektronische Bauelemente mit komplexer Steuerschaltung auf der Grundlage digitaler Funktionsblöcke zunehmend in vielen technischen Gebieten in Verwendung, wobei ein Aspekt des ökonomischen Erfolges die zur Verfügung stehende Betriebsdauer auf der Grundlage der in diesen Geräten verwendeten Leistungsquelle ist. Folglich werden große Anstrengungen unternommen, um die Leistungsaufnahme für ein gegebenes Maß an Komplexität eines digitalen Schaltungsblocks zu reduzieren. In einer komplexen digitalen Schaltung werden typischerweise zwei Arten von Schaltungsentwurf eingesetzt, d. h. ein synchroner Entwurf und ein asynchroner Entwurf. In einer synchronen Gestaltung wird die gesamte Schaltung auf der Grundlage eines Systemtaktsignals betrieben, das mit allen getakteten digitalen Gattern verbunden ist. Andererseits wird in einer asynchronen Gestaltung die Schaltung oder zumindest Teile davon ohne ein Taktsignal betrieben, so dass Schaltereignisse nur auftreten, wenn ein Eingang eines spe ziellen Funktionselementes sich ändert. Obwohl im Prinzip eine asynchrone Gestaltung die Möglichkeit bietet, Leistung einzusparen, sind andere Probleme, die mit asynchronen Schaltungsentwürfen verknüpft sind, derart, dass diese für komplexe Schaltungen wenig attraktiv sind, da der Aufwand zum Gestalten und Verifizieren asynchroner Schaltungsbereiche deutlich größer ist im Vergleich zu einem taktsignalbasierten Entwurf, der auf der Grundlage eines Systemtaktsignals arbeitet. D. h., für synchrone digitale Schaltungsentwürfe sind automatisierte Synthetisierungsregeln, beispielsweise in Form von CAD (computergestützte Entwurfs-)Werkzeuge vorhanden und verwendbar, um einen spezifizierten Schaltungsentwurf zu erzeugen, wobei gut definierte Zeitrandbedingungen betrachtet werden. Beispielsweise kann die gesamte Verteilung der Taktsignale innerhalb der synchronen digitalen Schaltung auf der Grundlage einer gewünschten Zeitablaufstruktur beruhen, wodurch das Erzeugen eines entsprechenden Taktraumes möglich ist, um damit das Taktsignal in einer spezifizierten minimalen Verzögerung zu Schaltungsbereichen des digitalen Schaltungsentwurfs zuzuführen. Somit kann das Entwerfen und das Verifizieren der Schaltung auf der Grundlage gut etablierter statischer Analyseverfahren erfolgen, wodurch die Gesamtzeit zum Entwerfen und zur Herstellung komplexer digitaler integrierter Schaltungen reduziert wird, wie dies zuvor erläutert ist. Ferner kann der grundlegende Entwurf einer synchronen digitalen Schaltung für unterschiedliche Technologiestandards ohne Änderungen verwendet werden, da die Funktion beibehalten wird, solange entsprechende fertigungsbezogene Beschränkungen eingehalten werden, d. h. solange die Taktsignalverzögerungen innerhalb der Toleranzen liegen, die durch den betrachteten Technologiestandard vorgegeben sind.
  • Andererseits können digitale Schaltungen, die einen deutlichen Anteil an asynchronem Schaltungsentwurf enthalten, an sich einen deutlich geringeren Leistungsbedarf besitzen, erfordern jedoch einen hohen Aufwand zum Gestalten und insbesondere zum Verifizieren des asynchronen Schaltungsentwurfs. D. h., während eines Prüfvorgangs muss eine dynamische Simulation der Schaltung ausgeführt werden, wodurch deutlich zu den Gesamtherstellungszeiten beigetragen wird, insbesondere, wenn sehr komplexe Schaltungen betrachtet werden. Des weiteren kann der Schaltungsentwurf nicht in einfacher Weise auf einen anderen Technologiestandard übertragen werden, da die „Antwort” der digitalen Schaltung ein sehr dynamisches Verhalten beinhaltet, das deutlich von der betrachteten Fertigungstechnologie abhängt, wodurch eine deutliche Umgestaltung oder sogar ein neuer Entwurf der betrachteten Schaltung erforderlich ist.
  • Da typischerweise die Vorteile des synchronen Entwurfs, etwa ein geringerer Aufwand beim Entwerfen und Verifizieren komplexer Schaltungen, wesentliche Aspekte bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen repräsentieren, worin eine Vielzahl von Techniken entwickelt, um auch die Leistungsaufnahme in synchronen digitalen Schaltungen zu reduzieren. Zusätzlich zu dem Beibehalten einer geringen Betriebsspannung werden auch andere Konzepte eingesetzt, in denen aktuell nicht verwendete Schaltungsbereiche durch Abschalten des Taktsignals für diese Schaltungsbereiche deaktiviert werden. Eine entsprechende Technik zum zeitweiligen Deaktivieren des Taktsignals wird auch als Taktausblendung bezeichnet. Während der Taktausblendung wird ein Steuersignal, das auf der Grundlage der Kenntnis erzeugt wird, dass spezielle Logikelemente nicht aktiv sein müssen, als ein „Tor” bzw. als eine „Zeitschablone” für das Taktsignal verwendet, das den betrachteten Logikschaltungsbereich zugeführt wird. Der zusätzliche Aufwand an Schaltung, der zum Realisieren eines geeigneten Taktausblendemechanismus erforderlich ist, wird durch die Vorteile im Hinblick auf die Leistungseinsparung überkompensiert, wobei auch die Möglichkeit geboten wird, einen vollständig synchronen Schaltungsentwurf mit den zuvor genannten Vorteilen zu verwenden.
  • In der EP 1 223 583 A2 wird ein taktsynchrones Speicherbauteil beschrieben, in dem Ein- und Ausgaben von Daten sowie Befehlen taktsynchron erfolgen und ein Zugriffsbefehl sämtliche Adressdatenbits zur gleichen Zeit liefert.
  • In der DE 10 2004 009 693 A1 wird ein Halbleiterbauteil mit Logikschaltung und eingebetteten Speichern beschrieben, in dem Flipflops in einer Abtastkette mit einem Steuereingang einer MBIST-Logik verbunden sind.
  • Wie zuvor erläutert ist, werden zunehmend mehr Schaltungsfunktionen in einer Vielzahl von elektronischen Geräten eingebaut, die auf der Grundlage tragbarer Leistungsquellen zu versorgen sind, wobei auch eine gewisse Grundfunktion in einem im Wesentlichen deaktivierten Zustand des elektronischen Geräts beibehalten werden soll. Eine wichtige Funktion in dieser Hinsicht ist das Beibehalten und das Überwachen der Zeit und des Datums, um damit zeitgesteuerte Ereignisse, etwa das Aktivieren des gesamten Systems oder Teile davon oder der zeitgesteuerte Betrieb des Systems beim Reaktivieren der Schaltung, zu ermöglichen. Zu diesem Zweck wurde sogenannte Echtzeituhren entwickelt, in denen die aktuelle Zeit in einer für Menschen gut wahrnehmbaren Weise überwacht wird, d. h., die Zeit wird in Form von Sekunden, Minuten, Stunden, Tagen, Wochen, Monaten, Jahren und dergleichen überwacht und bereitgehalten in Abhängigkeit von der gewünschten Kapazität der Echtzeituhr. Somit ist für leistungskritische Anwendungen die Leistungsaufnahme der Echtzeituhr, wenn diese als ein interner Teil der gesamten digitalen Schaltung vorgesehen ist, so zu gestalten und zu betreiben, dass die Leistungsaufnahme möglichst gering ist, da die Echtzeituhreinheit auch aktiv ist, wenn der restliche Teil der Schaltung deaktiviert ist. Somit hängt die Fähigkeit, die Zeit aufzuzeichnen, von der gesamten Leistungsaufnahme der Echtzeituhr und der Kapazität einer entsprechenden Leistungsquelle ab, die häufig in Form eines Stützkondensators, einer wiederaufladbaren Batterie, und dergleichen vorgesehen ist. Eine Echtzeituhr enthält typischerweise einen Speicherbereich in einer spezifizierten Anzahl an Speicherzellen, um damit die entsprechenden Echtzeitwerte in einem geeigneten Format zu speichern, wobei auch geeignete Zeitzähler und zusätzliche Schaltungen vorgesehen sind, um die Echtzeitwerte in den Speicherzellen regelmäßig zu aktualisieren.
  • 1 zeigt schematisch eine Blockansicht eines grundlegenden Aufbaus einer Echtzeituhreinheit, die für einen geringen Leistungsverbrauch gestaltet ist. In 1 umfasst eine Echtzeituhr 190 einen Speicherbereich 110 mit einer entsprechenden Anzahl an Speicherzellen, etwa Register, und dergleichen, die gestaltet sind, um Echtzeitwerte in Form von Sekunden, Minuten, Stunden, und dergleichen, abhängig von den gewünschten Zeitauflösung und dem Zeithorizont für die Zeitüberwachungsfähigkeit der Einheit 100 zu halten. Ferner sind in einer Zeitaktualisierungseinheit 120 entsprechende Zeitgeber eingebaut, um damit die gewünschten Echtzeitwerte auf der Grundlage eines Taktsignal CLK zu erzeugen. Die Zeitaktualisierungseinheit 120 umfasst ferner geeignete Schaltungen, beispielsweise Komparatoren und dergleichen, um damit vorprogrammierte Ereignisse zu erkennen und entsprechende Alarmsignale abhängig von der Gesamtprogrammierung der Einheit 100 bereitzustellen. Die Einheit 120 steht mit dem Speicherbereich 110 über eine Busschnittstelle 130 in Verbindung, wodurch ein Daten- und Steuersignalaustausch zwischen den Komponenten der Einheit 100 möglich ist. Des weiteren ist eine Schnittstelle 140 vorgesehen, um mit anderen Schaltungsbereichen eine Kommunikation zu ermöglichen, einen Zugriff auf die Einheit 100 durch externe Komponenten zu gewährleisten, und dergleichen. Es sollte beachtet werden, dass, wenn die Echtzeiteinheit 100 ein einzelnes Gerät repräsentiert, das Taktsignal CLK intern auf der Grundlage geeignet gestalteter Oszillatoren in Verbindung mit Verteilerschaltungen und dergleichen erzeugt wird. Wie zuvor erläutert ist, im Hinblick auf eine geringe Leistungsaufnahme wird die Gesamtgestaltung der Einheit 100 als eine asynchrone Gestaltung vorgesehen, beispielsweise als eine Latch-basierte Gestaltung, so dass entsprechende Schaltungsbereiche der Einheit 100 „nach Bedarf” aktiviert werden, wobei insbesondere im Speicherbereich 110 lediglich Teile aktiviert werden, auf die tatsächlich von der Zeitaktualisierungseinheit 120 zugegriffen wird. Folglich kann eine minimale Leistungsaufnahme während des Betriebs der Einheit 100 erreicht werden, wobei die Zeitaktualisierungseinheit 120 aktualisierte Echtzeitwerte liefert, die dann in entsprechenden Speicherzellen des Speicherbereichs 110 gespeichert werden.
  • Wie jedoch zuvor erläutert ist, kann insbesondere, wenn die Einheit 100 einen Teil einer komplexen digitalen Schaltung repräsentiert, die Gestaltung der Gesamtschaltung einen höheren Aufwand beim Implementieren erfordern, und das Übertragen der betrachteten Schaltungsgestaltung kann nicht auf einfache Weise auf andere Chiptechnologien auf Grund der Verwendung eines technologieabhängigen Entwurfs erfolgen.
  • Angesichts der zuvor beschriebenen Situation liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine integrierte Schaltung und einen Entwurf für eine solche bereitzustellen, die bzw. der einen verlässlichen Speicherzugriff unter geringem Leistungsverbrauch ermöglicht.
  • Überblick über die Offenbarung
  • Im Allgemeinen betreffen die hierin offenbarten Prinzipien Techniken, in denen ein Speicherbereich einer digitalen Schaltung in „Häufigkeitsgruppen” unterteilt wird, wobei jede Häufigkeitsgruppe einer Gruppe aus Speicherzellen entspricht, auf die in einer vorhersagbaren Weise während des Betriebs das Bauelements gemeinsam zugegriffen wird. Auf diese Weise kann der Speicherbereich als eine synchrone Gestaltung bereitgestellt werden, wobei jede Häufigkeitsgruppe mit einem geeigneten Gateausblendemechanismus verknüpft ist, so dass auf den Speicherbereich zugegriffen werden kann, indem lediglich ein oder mehrere spezielle Häufigkeitsgruppen aktiviert werden, ohne dass der gesamte Speicherbereich aktiviert wird, was ansonsten zu einem unerwünschten Leistungsverbrauch führen würde. Somit kann ein vollständig synchroner Entwurf eingesetzt werden, wobei dennoch der Leistungsverbrauch während des Zugreifens auf den Speicherbereich auf einem geringen Niveau bleibt. In einem anschaulichen Aspekt, der hierin offenbart ist, wird eine Echtzeituhreinheit in einer synchronen Gestaltung bereitgestellt, wobei der Speicherbereich in entsprechende Häufigkeitsgruppen unterteilt ist, da auf die Speicherzellen in einer vorhersagbaren Weise zugegriffen wird, ohne dass der Gesamtbetrieb der Echtzeituhr beeinflusst wird. Folglich können gut etablierte automatisierte Synthese- und Verifizierungsverfahren eingesetzt werden, wobei dennoch ein Schaltungsentwurf bereitgestellt wird, der zu einem geringen Leistungsverbrauch führt.
  • Eine anschauliche hierin offenbarte integrierte Schaltung umfasst eine Taktquelle, die ausgebildet ist, ein Taktsignal bereitzustellen. Des weiteren sind mehrere Taktausblendeeinheiten vorgesehen, wovon jede so angeschlossen ist, dass das Taktsignal und ein Steuersignal empfangen werden, wobei die mehreren Taktausblendeeinheiten ausgebildet sind, das Taktsignal bereitzustellen, wenn das Steuersignal in einem aktiven bzw. gesetzten Zustand ist. Die integrierte Schaltung umfasst ferner einen Speicherbereich mit Speicherzellen, die in mehrere Häufigkeitsgruppen unterteilt sind, wobei jede Häufigkeitsgruppe aus Speicherzellen eine vorbestimmte unterschiedliche Zugriffshäufigkeit während eines spezifizierten Betriebsmodus aufweist und das Taktsignal von einer entsprechenden der mehreren Taktausblendeeinheiten empfängt.
  • Ein hierin offenbartes anschauliches Verfahren betrifft das Entwerfen einer integrierten Schaltung. Das Verfahren umfasst das Bestimmen einer ersten Häufigkeit zum Zugreifen auf eine erste Gruppe von Speicherzellen des Halbleiterbauelements während eines spezifizierten Betriebsmodus. Das Verfahren umfasst ferner das Bestimmen einer zweiten Häufigkeit zum Zugreifen auf eine zweite Gruppe an Speicherzellen in dem spezifizierten Betriebsmodus. Ferner wird das Halbleiterbauelement auf der Grundlage eines synchronen Entwurfs gestaltet, indem ein erster Taktausblendemechanismus, der zu der ersten Gruppe aus Speicherzellen gehört, und ein zweiter Taktausblendemechanismus für die zweite Gruppe aus Speicherzellen bereitgestellt wird. Schließlich umfasst das Verfahren das Herstellen des Halbleiterbauelements unter Anwendung des synchronen Entwurfs.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Weitere Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung sind in der Beschreibung und den angefügten Patentansprüchen definiert und gehen deutlicher aus der folgenden detaillierten Beschreibung hervor, wenn diese mit Bezug zu den begleitenden Zeichnungen studiert wird, in denen:
  • 1 schematisch eine Schaltungsansicht einer konventionellen Echtzeituhreinheit mit geringer Leistungsaufnahme zeigt;
  • 2a schematisch ein Schaltbild einer synchronen Digitalschaltung mit einem Speicherbereich mit mehreren Häufigkeitsgruppen zeigt, die mit zugeordneten Gateausblendeeinheiten gemäß anschaulicher Ausführungsformen verbunden sind;
  • 2b schematisch ein Schaltbild einer integrierten Schaltung mit einer Echtzeituhreinheit zeigt, die auf der Grundlage eines synchronen Entwurfs mit mehreren Taktausblendeeinheiten gebildet ist, die mehreren Gruppen aus Speicherzellen mit identischen Zugriffshäufigkeiten gemäß anschaulicher Ausführungsformen verbunden sind; und
  • 3 schematisch ein Flussdiagramm eines Verfahrens zur Herstellung eines Halbleiterbauelements auf der Grundlage einer synchronen Gestaltung mit einem Speicherbereich zeigt, etwa dem Speicher einer Echtzeituhr, der mit mehreren Taktausblendeeinheiten gemäß noch weiterer anschaulicher Ausführungsformen verbunden ist.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Obwohl die vorliegende Offenbarung mit Bezug zu den Ausführungsformen beschrieben ist, wie sie in der folgenden detaillierten Beschreibung sowie in den Zeichnungen gezeigt sind, sollte beachtet werden, dass die folgende detaillierte Beschreibung sowie die Zeichnungen nicht beabsichtigen, die vorliegende Offenbarung auf die speziellen offenbarten Ausführungsformen einzuschränken, sondern die beschriebenen Ausführungsformen stellen lediglich beispielhaft die diversen Aspekte dar, wie sie hierin offenbart sind.
  • Im Allgemeinen betrifft der hierin offenbarte Gegenstand Verfahren und integrierte Schaltungen, die auf Grundlage eines synchronen Entwurfs gebildet werden können, wodurch das Entwerfen und das Verifizieren der Bauelemente vereinfacht wird, wobei auch die Übertragbarkeit auf eine gewünschte Chiptechnologie ermöglicht wird. In einigen anschaulichen hierin offenbarten Aspekten wird ein Betriebsmodus mit geringer Leistungsaufnahme für Schaltungsbereiche mit einem Speicherbereich verwirklicht, wobei die einzelnen Speicherzellen des Speicherbereichs in entsprechende Häufigkeitsgruppen eingestuft werden, wobei eine Häufigkeitsgruppe als eine Gruppe zu verstehen ist, in der die Speicherzellen mit der gleichen Häufigkeit während des Betriebsmodus mit geringer Leistungsaufnahme angesprochen werden. D. h., in vielen Anwendungen ist die Häufigkeit des Zugreifens auf spezifizierte Speicherbereiche auf Grund der Natur der Funktion des betrachteten Schaltungsbereichs vorhersagbar. Wenn beispielsweise Werte mit einem vorbestimmten Format regelmäßig gespeichert oder abgerufen werden sollen, können die entsprechenden Speicherzellen von einem Systemtakt während beliebiger Zeitintervalle zwischen den regelmäßig auftretenden Zugriffszeiten abgekoppelt werden. Somit können Speicherbereiche, die während des Zugreifens auf eine spezielle Gruppe an Speicherzellen nicht benötigt werden, deaktiviert bleiben, wodurch die Zufuhr des Taktsignals zu dem gesamten Speicherbereich vermieden wird, was ansonsten in unerwünschter Weise Leistung verbrauchen würde. Wenn somit mehrere unterschiedliche Werte, die unterschiedliche Formate besitzen können, in einem Speicherbereich abzulegen sind oder daraus abzurufen sind, können geeignet ausgewählte Speicherzellen des Speicherbereichs kombiniert werden, um eine Häufigkeitsgruppe zu definieren, wovon jede eine unterschiedliche Zugriffshäufigkeit besitzt. Somit kann der Speicherbereich gemäß einer synchronen Gestaltung auf der Grundlage eines Systemtaktsignals gebildet werden, wobei entsprechende Taktausblendemechanismen das Systemtaktsignal separat zu den einzelnen Häufigkeitsgruppen zuführen, da typischerweise nur diese einzelne Häufigkeitsgruppe zum Ausführen der anhängigen Speicheroperation erforderlich ist.
  • In einem anschaulichen Aspekt repräsentiert der synchron gestaltete Speicherbereich den Speicher einer Echtzeituhreinheit, in welcher Zugriffsereignisse und das Format der Werte, die in den Speicherbereich abzulegen sind, auf Grund der Natur des Funktionsverhaltens der Echtzeituhreinheit vorhersagbar sind. Beispielsweise liefert eine Zeitaktualisierungseinheit, d. h. eine entsprechende Anordnung aus Zählern und anderen Schaltungen, Echtzeitwerte, beispielsweise in Form von Sekunden, Minuten und dergleichen, gemäß einer gewünschten Zeitauflösung der Echtzeituhreinheit. Da das Format der jeweiligen Echtzeitwerte vorbestimmt ist und auch die Echtzeitwerte regelmäßig zu speichern sind, jedoch mit unterschiedlicher Häufigkeit, können die Speicherzellen so entsprechend gruppiert werden, dass eine Speicherzelle, die beispielsweise mit Echtzeitwerten für Sekunden verknüpft ist, mit einem Taktausblendemechanismus verbunden ist, während andere Speicherzellen, die mit anderen Echtzeitwerten verknüpft sind, etwa Minuten, ebenfalls mit einer Taktausblendeeinheit verbunden sind, wodurch das Zuführen des Systemtaktsignals zu dem Speicherbereich so beschränkt wird, dass lediglich jene Speicherzellen aktiviert werden, auf die während der betrachteten Speicheroperation tatsächlich zugegriffen wird. Folglich kann die Gesamtleistungsaufnahme des Speicherbereichs vergleichbar oder kleiner sein in Bezug auf eine asynchronische Speichergestaltung, wobei der Implementierungsaufwand deutlich geringer ist im Vergleich zu beispielsweise einer Latch-basierten Gestaltung, wie sie typischerweise für Echtzeituhreinheiten eingesetzt wird, die in einem Betriebsmodus mit geringer Leistungsaufnahme zu betreiben sind. Des weiteren kann der Gesamtschaltungsentwurf durch eine formale statische Zeitanalyse verifiziert werden und während der automatisierten Synthese kann eine gemeinsame Zeitrahmenbedingung für den gesamten Taktraum der digitalen Schaltung verwendet werden.
  • Mit Bezug zu den 2a, 2b und 3 werden nunmehr weitere anschauliche Ausführungsformen detaillierter beschrieben.
  • 2a zeigt schematisch eine synchron entworfene integrierte Schaltung 200 gemäß anschaulicher Ausführungsformen. Die Schaltung 200 umfasst somit einen „Taktbaum” 251, der ein Taktsignal aus einer Systemtaktquelle (nicht gezeigt) zu jeder der taktsignalbasierten digitalen Komponenten der Schaltungen 200 liefert. D. h., die Schaltung 200 wird auf der Grundlage eines Taktsignals CLK betrieben, das über den Taktbaum 251 bereitgestellt wird, wobei der Taktbaum gemäß gut etablierter Konzepte so gestaltet ist, dass dieser mit der betrachteten Fertigungstechnologie kompatibel ist. Der Taktbaum 251 ist typischerweise so gestaltet, dass eine maximale Taktverzögerung innerhalb vordefinierter Toleranzen liegt, die auf der Grundlage der Prozesstechnologie und der entsprechenden betrachteten Fertigungsschwankungen bestimmt sind. Des weiteren umfasst die Schaltung 200 mehrere Funktionseinheiten, die in geeigneter Weise mit dem Taktbaum 251 verbunden sind. In der gezeigten Ausführungsform ist ein Speicherbereich 210 vorgesehen und enthält mehrere Speicherzellen (nicht gezeigt), die ebenfalls in Form von synchron gestalteten Speicherzellen vorgesehen sind, wodurch das Anlegen des Systemtaktsignals CLK erforderlich ist. Der Speicherbereich 210 kann einen Speicher repräsentieren, in welchem Zugriffsereignisse für gewisse Bereiche vorhersagbar sind, beispielsweise auf Grund des Funktionsverhaltens der integrierten Schaltung 200, wie dies zuvor erläutert ist. Daher können Speicherzellen mit der gleichen vorhersagbaren Zuspitzhäufigkeit zu einer speziellen Häufigkeitsgruppe bzw. Frequenzgruppe zusammengefasst werden, etwa den Gruppen 210, ..., 210n. Des weiteren ist jede der Gruppen 210a, ..., 210n mit einer entsprechenden von mehreren Taktausblendeeinheiten 240 verbunden. Somit ist eine entsprechende der Taktausblendeein heiten 240a, ..., 240n mit einer zugeordneten Gruppe 210a, ..., 210n verbunden. Jede der Taktausblendeeinheiten 240 ist aufgebaut, das Systemtaktsignal CLK zu empfangen und das Signal CLK zu seiner zugeordneten Gruppe beim Empfang eines gesetzten bzw. Gegensteuersignals 241 zuzuführen. D. h., das Steuersignal 241 enthält individuelle Steuersignalbereiche 241a, 241n, um selektiv die Taktausblendeeinheiten 240a, ..., 240n zu aktivieren. Im Grunde kann jede der Taktausblendeeinheiten 240 eine logische „UND”-Funktion repräsentieren, die das Systemtaktsignal CLK und das Steuersignal 241 kombiniert. Das Steuersignal 241 wird mittels einer Schnittstelle 230 von einer Aktualisierungseinheit 220 bereitgestellt, um mehrere Funktionseinheiten 220a, ..., 220d umfasst, die mit dem Taktbaum 251 so verbunden sind, dass ein synchroner Betrieb realisiert, wie dies zuvor erläutert ist. Die Schaltung 200 umfasst eine Funktionsblock 250, der komplexe digitale Schaltungen aufweisen kann und dergleichen, die mit dem Taktbaum 251 gemäß gut etablierter Entwurfprinzipien verbunden sind, wobei der Einfachheit halber entsprechende Funktionseinheiten des Blocks 250 in 2a nicht gezeigt sind. Es sollte beachtet werden, dass die integrierte Schaltung 200 einen Entwurfszustand der Schaltung 200 repräsentieren kann, während in anderen Fällen die diversen Komponenten in einem Halbleiterchip gemäß einer spezifizierten Fertigungstechnologie eingerichtet sind.
  • Während des Betriebs der Schaltung 200 liefert, unabhängig davon, ob diese sich in einem Entwurfszustand befindet oder eine tatsächliche Hardwarekonfiguration repräsentiert, der Taktbaum 251 das Taktsignal CLK zum Betrieb des Funktionsblocks 250 und der Aktualisierungseinheit 220. Beispielsweise kann die Aktualisierungseinheit 220 Speicheranforderungen für die diversen Gruppen 210a, ..., 210n mit unterschiedlicher Häufigkeit erzeugen, wenn beispielsweise Daten regelmäßig zu speichern oder aufzurufen sind, wobei entsprechende Zugriffszeitintervalle für die Gruppen 210a, ..., 210n unterschiedlich sind. Folglich kann beim Ausführen einer Speicheroperation die Aktualisierungseinheit 220 ein spezielles der Steuersignale 241a, ..., 241n ersetzen bzw. aktivieren, wodurch die jeweilige Gruppe 210a, ..., 210n aktiviert wird, auf die mittels der anhängigen Speicheroperation zugegriffen werden soll. Während dieses Betriebsmodus, d. h. eines Betriebsmodus mit regelmäßigem Zugriff auf den Speicherbereich 210, kann folglich eine deutliche Leistungseinsparung erreicht werden, da die Gruppen 210a, ..., 210n individuell angesprochen werden können, während die verbleibenden Gruppen in einem deaktivierten Zustand bleiben. Beispielsweise in einem Betriebsmodus mit geringer Leistungsaufnahme, in welchem der Funktionsblock 250 im Wesentlichen deaktiviert ist, kann die Leistungsaufnahme der Schaltung 200 im Wesentlichen durch den Betrieb der Aktualisierungseinheit 220 und des Taktbaums 251 bestimmt sein, wobei auch der Speicherbereich 210 nicht wesentlich zur Gesamtleistungsaufnahme beiträgt, da lediglich spezielle Gruppen 210a, ..., 210n zu einer gegebenen Zeit aktiviert werden.
  • 2b zeigt schematisch die synchrone integrierte Schaltung 200 gemäß einer weiteren anschaulichen Ausführungsform, in der die Schaltung 200 in Echtzeituhreinheit 260 aufweist. In diesem Falle umfasst der Speicherbereich 210 mehrere Speicherzellen 211a, ..., 211k, die zu Gruppen 210a, ..., 210n so zusammengefasst sind, dass die Speicherzellen 211 in jeder einzelnen Gruppe einem Echtzeitwert entsprechen, wie der zum Verfolgen der aktuellen Zeit und des Datums erforderlich ist. Beispielsweise kann die Häufigkeitsgruppe 210a den Speicherzellen entsprechen, die zu den Echtzeitwerten gehören, die die Anzahl der Sekunden der aktuellen Zeit angeben. In ähnlicher Weise kann die Gruppe 210b dem aktuellen Wert der Anzahl der Minuten entsprechen, während die Gruppen 210c, jenen Speicherzellen entsprechen, die dem Speichern von Echtzeitwerten für Stunden bzw. Tage zugeordnet sind. Abhängig von der gewünschten Zeitauflösung der Echtzeituhreinheit 260 können weitere Gruppen 210 Wochen, Monaten, Jahren, Sekundenbruchteilen, und dergleichen entsprechen. Somit weist jede der Gruppen 210a, ..., 210n zumindest eine ausreichende Anzahl an Speicherzellen 211 auf, um damit das Speichern des Echtzeitwertes in einem geeigneten Format zu ermöglichen. Es sollte jedoch beachtet werden, dass der Speicherbereich 210 weitere Speicherzellen aufweisen kann, um zusätzliche Daten zu speichern, wobei einige diese zusätzlichen Speicherzellen ebenfalls ein vorhersagbares Zugriffsverhalten besitzen und daher einer geeigneten Gruppen 210 zugeordnet werden können. Andere Speicherzellen mit einem nicht-vorhersagbaren Zugriffsverhalten können ebenfalls mit dem Taktbaum 251 ohne die dazwischengeschalteten Taktausblendeeinheiten 240a, ..., 240d verbunden sein. Die Aktualisierungseinheit 220, die nunmehr als Zeitaktualisierungseinheit bezeichnet wird, kann ausgebildet sein, die mehreren Steuersignale 241a, ..., 241d so bereitzustellen, dass das Systemtaktsignal CLK zu einem oder mehreren der Gruppen 210 selektiv zugeführt wird, wie dies zuvor erläutert ist. Des weiteren umfasst die Zeitaktualisierungseinheit 220 eine weitere Schaltung zum Ausführen gewünschter Echtzeituhrfunktionen, etwa das Erzeugen von Alarmsignalen und dergleichen. Es sollte beachtet werden, dass die Echtzeituhreinheit 260 prinzipiell auch als ein Einzelgerät vorge sehen werden kann, während in anderen Fällen die Einheit 260 ein Teil der Schaltung 200 ist, die zusätzlich weitere Funktionsblöcke, etwa dem Block 250 aufweist. In diesem Falle ermöglicht die Echtzeituhreinheit 260 in Verbindung mit dem Block 250 ein verbessertes Entwurfs- und Verifizierungsverhalten auf Grund der synchronen Gestaltung, wobei auch ein Modus mit geringer Leistungsaufnahme möglich ist, da der Speicherbereich 210, obwohl dieser als sein synchroner Entwurf vorgesehen ist, nach Bedarf aktiviert werden kann, wobei lediglich Speicherzellen mit dem Systemtakt verbunden sind, auf die von der Zeitaktualisierungseinheit 220 tatsächlich zugegriffen wird. Somit kann ein vergleichbares oder sogar verbessertes Verhalten im Hinblick auf die Leistungsaufnahme im Vergleich zu einer asynchronen Gestaltung erreicht werden, wie dies zuvor mit Bezug zu 1 erläutert ist. Daher kann die Echtzeituhreinheit 260 auf der Grundlage geringer Leistungserfordernisse betrieben werden, was wichtig sein kann für tragbare Geräte, in denen während des Betriebs und auch während im Wesentlichen inaktiver Zustände, in denen die größten Teile der Gesamtschaltung 200 deaktiviert sind, mit Ausnahme der Echtzeituhreinheit 260, ein geringer Leistungsbedarf deutlich die Anwendbarkeit der integrierten Schaltung 200 verbessert.
  • Mit Bezug zu 3 wird ein typischer Prozessablauf zur Herstellung der integrierten Schaltung 200 beschrieben, wobei die Entwurfs- und Verifizierphase enthalten sind. Der Gesamtfertigungsprozess 300 beginnt im Block 310, in welchem die Zugriffshäufigkeit der mehreren Speicherzellen für ein gegebenes Funktionsverhalten einer synchron gestalteten integrierten Schaltung, die betrachtet wird, bestimmt wird. In diesem Zusammenhang ist die Zugriffshäufigkeit nicht nur als die Häufigkeit des Ausführens von Speicheroperationen an einer spezifizierten Speicherzelle zu verstehen, sondern auch als der „Zeitpunkt” des Zugriffs, was bedeutet, dass Mitglieder der gleichen Häufigkeitsgruppe gemeinsam angesprochen werden, d. h. innerhalb einer vordefinierten Anzahl an Taktzyklen des Systemtaktsignals CLK. D. h., in diesem Schritt wird entschieden, welche Speicherzellen stets mit einer spezifizierten Anzahl an Taktzyklen angesprochen werden, wobei der Zeitabstand in Form an der Anzahl der Taktzyklen zu einer „benachbarten” Häufigkeitsgruppe, d. h. einer Gruppe, auf die häufiger oder weniger häufiger zugegriffen wird, typischerweise deutlich größer ist als die Zeitspanne der betrachteten Häufigkeitsgruppe, so dass eine große Anzahl an Taktzyklen „eingespart” werden kann, indem die einzelnen Gruppen separat akti viert werden. Beispielsweise sind für Anwendungen in Form einer Echtzeituhr die Anzahl der Speicherzellen, d. h. das Datenformat, sowie das Ausführen von Speicheroperationen, gut vorhersagbar, da die diversen Echtzeitwerte regelmäßig gespeichert werden müssen, wobei die Speicherzellen, die „Sekunden” repräsentieren, innerhalb einer spezifizierten An zahl an Taktzyklen angesprochen werden, während Ereignisse zum Zugreifen auf die Gruppe, die die „Minuten” repräsentier, durch eine große Anzahl an Taktzyklen „getrennt” ist, mit der Ausnahme für die „seltenen” Fälle, wenn die Gruppe „Sekunden” und die Gruppe „Minuten” beide zu aktualisieren sind.
  • Nach dem Erkennen entsprechender Speicherzellen mit der gleichen vorhergesagten Zugriffshäufigkeit im Schritt 320 werden Speicherzellen mit identischer Zugriffshäufigkeit zu einer Gruppe zusammengestellt und mit einem entsprechenden zugeordneten Taktausblendemechanismus verknüpft. Auf der Grundlage der Kenntnis der Anzahl und der Mitglieder der jeweiligen Häufigkeitsgruppen und der Anzahl der erforderlichen Taktausblendemechanismen wird die synchrone Schaltung gestaltet, indem beispielsweise andere Funktionen berücksichtigt werden, die nicht direkt mit dem betrachteten Speicherbereich und der entsprechenden dazugehörigen Schaltung verknüpft sind. Nach dem Erstellen des Entwurfs der Schaltung, was auf der Grundlage gut etablierter automatischer Syntheseverfahren unter Anwendung automatischer Synthesewerkzeuge bewerkstelligt werden kann, wie dies im Stand der Technik bekannt ist, wird im Schritt 340 der resultierende Schaltungsentwurf verifiziert, wobei gemäß der synchronen Gestaltung formale statische Zeitanalyseverfahren eingesetzt werden können. Da der betrachtete Speicherbereich, der einen Teil einer Echtzeituhreinheit repräsentieren kann, wie dies zuvor erläutert ist, mit einer synchronen Gestaltung vorgesehen wird, können folglich die Schritte 330 und 340 mit hoher Effizienz im Vergleich zu Schaltungsgestaltungen, die asynchrone Schaltungsbereiche enthalten, ausgeführt werden. Nach dem Verifizieren des Gesamtentwurfs kann die integrierte Schaltung tatsächlich als eine Hardware-Konfiguration eingerichtet werden, was bewerkstelligt werden kann, indem ein oder mehrere Prototypen bereitgestellt werden und danach der Entwurf verwendet wird, um Halbleiterbauelemente während der Massenfertigung gemäß dem Schritt 350 herzustellen. In diesem Schritt wird eine geeignete Chiptechnologie eingesetzt. D. h., entsprechende Fertigungsprozesse werden so ausgeführt, dass einzelne Transistoren, Kondensatoren und dergleichen gemäß dem etablierten synchronen Schaltungskonzept hergestellt werden, wobei die einzelnen Halbleiterbauelemente vorbestimmte kritische Bauteilabmessungen aufweisen, etwa die Gatelänge von Feldeffekttransistoren, wodurch geeignet angepasste Fertigungsprozesse erforderlich sind, beispielsweise Photolithographieschritte, Abscheideschritte, Ionenimplantationsschritte, Ätzschritte und dergleichen. Wie zuvor erläutert ist, hängt die tatsächliche Hardware-Implementierung des synchronen Schaltungsentwurfs von der verfügbaren Chiptechnologie ab, wobei jedoch der grundlegende Schaltungsentwurf eine beliebige geeignete Chiptechnologie eingesetzt werden kann, solange Rahmenbedingungen im Hinblick auf den Taktbaum mit den fertigungsspezifischen Eigenheiten der betrachteten Chiptechnologie kompatibel sind.
  • Es gilt also: Der hierin offenbarte Gegenstand stellt Techniken und integrierte Schaltungen bereit, die auf der Grundlage einer synchronen Gestaltung hergestellt sind, wobei in anschaulichen Ausführungsformen eine Echtzeituhreinheit so gebildet wird, dass diese eine geringe Leistungsaufnahme zeigt, indem ein entsprechender Speicherbereich unter Anwendung von Taktausblendetechniken betrieben wird. D. h., da ein Zugriff auf Speicherzellen in dem Speicherbereich vorhersagbar ist, werden Speicherzellen mit identischem Zugriffsverhalten kombiniert, wodurch die Aktivierung aller Speicherzellen vermieden wird, wenn eine Speicheroperation zum Lesen oder Schreiben von Daten ausgeführt wird. Folglich wird eine geringe Leistungsaufnahme erreicht, wobei deutliche Vorteile im Hinblick auf den Entwurf und die Verifizierung im Vergleich zu asynchronen Entwürfen möglich sind.

Claims (12)

  1. Integrierte Schaltung (200) mit: einer Taktquelle, die ausgebildet ist, ein Taktsignal bereitzustellen; mehreren Taktausblendeeinheiten (240), wovon jede so angeschlossen ist, um das Taktsignal und ein Steuersignal zu empfangen, wobei die mehreren Taktausblendeeinheiten (240) ausgebildet sind, das Taktsignal bereitzustellen, wenn das Steuersignal sich in einem gesetzten Zustand befindet; und einem Speicherbereich (210) mit Speicherzellen, die in mehrere Häufigkeitsgruppen unterteilt sind, wobei jede Häufigkeitsgruppe aus Speicherzellen eine vorbestimmte unterschiedliche Zugriffshäufigkeit während eines spezifizierten Betriebsmodus aufweist, und das Taktsignal von einer entsprechenden der mehreren Taktausblendeeinheiten (240) empfängt.
  2. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 1, die ferner eine Zeitaktualisierungsschaltung (220) aufweist, die funktionsmäßig mit dem Speicherbereich (210) verbunden und ausgebildet ist, Echtzeitwerte zu erzeugen und die mehreren Speicherzellen mit den Echtzeitwerten zu aktualisieren.
  3. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 2, wobei die vorbestimmten Zugriffshäufigkeiten den Aktualisierungsintervallen für die Echtzeitwerte entsprechen.
  4. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 3, die ferner umfasst: einen Funktionsblock (250), der angeschlossen ist, das Taktsignal zu empfangen, und eine Schnittstelle (230), die ausgebildet ist, einen Zugriff auf den Speicherbereich (210) durch den Funktionsblock (250) zu ermöglichen.
  5. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 4, wobei der Funktionsblock (250) ausgebildet ist, das Setzen des Steuersignals anzuweisen, um mindestens eine der mehreren Gruppen vor dem Zugreifen auf den Speicherbereich (210) zu aktivieren.
  6. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 5, wobei das Setzen des Steuersignals jede der Speicherzellen aktiviert.
  7. Integrierte Schaltung (200) nach Anspruch 2, wobei die Speicherzellen mindestens Speicherplatz für Echtzeitwerte, die einer aktuellen Zeit und einem aktuellen Datum entsprechen, enthalten.
  8. Ein Verfahren zum Entwerfen einer integrierten Schaltung (200) gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Verfahren umfasst: Bestimmen einer ersten Häufigkeit zum Zugreifen auf eine erste Gruppe aus Speicherzellen des Halbleiterbauelements während eines spezifizierten Betriebsmodus; Bestimmen einer zweiten Häufigkeit für das Zugreifen auf eine zweite Gruppe aus Speicherzellen in dem spezifizierten Betriebsmodus; Entwerfen des Halbleiterbauelements auf der Grundlage einer synchronen Gestaltung durch Vorsehen eines ersten Taktausblendemechanismus für die erste Gruppe aus Speicherzellen, und eines zweiten Taktausblendemechanismus für die zweite Gruppe aus Speicherzellen; und Herstellen des Halbleiterbauelements unter Anwendung der synchronen Gestaltung.
  9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei die erste und die zweite Gruppe aus Speicherzellen entsprechen, um Echtzeitwerte zu speichern.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, das ferner umfasst: Entwerfen einer Zeitaktualisierungseinheit auf der Grundlage der synchronen Gestaltung.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, das ferner umfasst: Entwerfen mindestens eines Funktionslogikblockes auf der Grundlage der synchronen Gestaltung, wobei der mindestens eine Funktionsblock (250) ausgebildet ist, auf die erste und die zweite Gruppe aus Speicherzellen zuzugreifen.
  12. Verfahren nach Anspruch 8, wobei mindestens einige weitere Gruppen aus Speicherzellen vorgesehen werden, die eine unterschiedliche Häufigkeit für einen Zugriff während des spezifizierten Betriebsmodus besitzen, und wobei jede der mindestens einigen weiteren Gruppen aus Speicherzellen einem zugeordneten Taktausblendemechanismus (240) zugeordnet ist.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8443224B2 (en) * 2010-10-27 2013-05-14 Freescale Semiconductor, Inc. Apparatus and method for decoupling asynchronous clock domains
US8656326B1 (en) 2013-02-13 2014-02-18 Atrenta, Inc. Sequential clock gating using net activity and XOR technique on semiconductor designs including already gated pipeline design
KR102276007B1 (ko) * 2015-07-23 2021-07-12 삼성전자주식회사 집적 회로의 리페어 정보 제공 장치
US9698781B1 (en) * 2016-05-26 2017-07-04 Intel Corporation Dynamic clock gating frequency scaling
US10528489B2 (en) * 2018-02-28 2020-01-07 Micron Technology, Inc. Multiple memory type memory module systems and methods

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1223583A2 (de) * 1998-07-17 2002-07-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Taktsynchrone speicheranordnung mit hochgeschwindigkeitszyklus
DE102004009693A1 (de) * 2004-02-27 2005-10-13 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Technik zum Kombinieren eines Abtasttests und eines eingebauten Speicherselbsttests

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000347761A (ja) * 1999-06-02 2000-12-15 Alps Electric Co Ltd 制御回路
US6434704B1 (en) * 1999-08-16 2002-08-13 International Business Machines Corporation Methods for improving the efficiency of clock gating within low power clock trees
US6536024B1 (en) * 2000-07-14 2003-03-18 International Business Machines Corporation Method for making integrated circuits having gated clock trees
US7797561B1 (en) * 2006-12-21 2010-09-14 Nvidia Corporation Automatic functional block level clock-gating

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1223583A2 (de) * 1998-07-17 2002-07-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Taktsynchrone speicheranordnung mit hochgeschwindigkeitszyklus
DE102004009693A1 (de) * 2004-02-27 2005-10-13 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Technik zum Kombinieren eines Abtasttests und eines eingebauten Speicherselbsttests

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