DE102006054673A1 - Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, Sondenhalterarm und Prüfvorrichtung - Google Patents

Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, Sondenhalterarm und Prüfvorrichtung Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, einen Sondenhalterarm und eine Prüfvorrichtung. Die Aufgabe der Erfindung, eine Sondenaufnahme anzugeben, die eine reproduzierbare Anordnung einer Sondennadel ermöglicht, eine sichere Kontaktierung der Sondennadel und auch bei hohen Temperaturen oder Probekräften ein sicheres Festhalten der Sondennadel gewährleistet, wird gelöst durch eineung von Halbleiterbauelementen mit einer Sondennadel und einem im Wesentlichen prismatischen Sondenschaft umfasst einen Sockel mit einer zur Aufnahme eines prismatischen Sondenschafts ausgebildeten, von einer Sockelwand umgebenen Fassungsöffnung und ist dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwand aus mindestens zwei aufeinander zu bewegbaren Sockelwandsegmenten besteht. Die Aufgabe wird gleichfalls gelöst durch einen Sondenhalterarm zur Halterung einer Sonde in einer Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, der eine Sondenaufnahme der oben beschriebenen Art aufweist, sowie durch eine Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen mit mindestens einer Sonde, die eine Sondenaufnahme der oben beschriebenen Art aufweist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1, einen Sondenhalterarm und eine Prüfvorrichtung.
  • Zur Prüfung der Funktionsfähigkeit von Halbleiterbauelementen werden die Halbleiterbauelemente, die zu diesem Zeitpunkt meist noch im Verbund mit anderen Halbleiterbauelementen auf einem Wafer angeordnet sind, in einer dafür vorgesehenen Prüfvorrichtung auf einem beweglichen Prüftisch (Chuck) abgelegt und befestigt. Das Halbleiterbauelement wird anschließend mittels einer Sonde kontaktiert, so dass Messungen vorgenommen werden können. Die Sonde, die die Form einer Nadel hat und auch als Probe oder Probe Tip bezeichnet wird, ist üblicherweise entweder an einer Trägerplatte (Probecard) oder an einem Sondenhalterarm (Probearm) befestigt. Bei vielen bekannten Prüfvorrichtungen erstreckt sich der Sondenhalterarm von einem Sondenkopf, an dem der Sondenhalterarm befestigt ist, bis in die Nähe der Oberfläche des Chucks beziehungsweise des auf dem Chuck angeordneten Wafers. Der Sondenkopf, der der Ansteuerung und Bewegung der Sondennadel dient, ist bei diesen Prüfvorrichtungen oberhalb des Chucks neben dem Chuck angeordnet, so dass sich der Sondenhalterarm von oberhalb und außerhalb des Wafers bis kurz vor die Oberfläche des Wafers erstreckt, so dass die Sondennadel mit der Oberfläche des Wafers in Kontakt gebracht werden kann.
  • Zur Befestigung der Sondennadel am Sondenhalterarm bei Prüfvorrichtungen des oben beschriebenen Typs ist es bekannt, am freien Ende des Sondenhalterarms einen vertikal verlaufenden Schlitz vorzusehen, in den die Sondennadel schräg eingelegt und festgeklemmt wird. Ein Nachteil dieser Lösung besteht jedoch darin, dass der vertikale Schlitz nicht dafür geeignet ist, die Sondennadel reproduzierbar in eine relativ zum Sondenhalterarm definierte Lage zu bringen. Die dadurch hervorgerufenen Lageabweichungen führen zu Problemen bei der Positionierung der Sondennadel während der Prüf- und Messvorgänge.
  • Ein Sondenhalter, bei dem die Positionierung der Sondennadel verbessert ist, ist beispielsweise aus dem deutschen Gebrauchsmuster 298 09 568 bekannt. Bei dieser Lösung ist die Sondennadel an einem abgewinkelten, prismatischen Sondenschaft aus einem dielektrischen Material angeordnet und mit diesem fest verbunden. Auf dem Sondenschaft sind Leiterbahnen angeordnet, die vom Ende des Sondenschafts zur Sondennadel führen. Der Sondenhalterarm weist eine Sondenaufnahme zur Aufnahme des prismatischen Sondenschafts auf. Im Innern der Sondenaufnahme sind Kontakte zur elektrischen Kontaktierung der Leiterbahnen des Sondenschafts vorgesehen. Zur Fixierung des Sondenschafts in der Sondenaufnahme ist ein Federelement vorgesehen, das seitlich auf den Sondenschaft drückt und auf diese Weise gleichzeitig den elektrischen Kontakt zwischen dem Sondenschaft und den in der Sondenaufnahme angeordneten Kontakten herstellt, so dass das Einsetzen sowie das Auswechseln der Sondennadel relativ einfach erfolgen kann. Die Vorteile dieser Lösung bestehen zum einen darin, dass der Sondenschaft in der Sondenaufnahme relativ exakt geführt ist, so dass die exakte Positionierung der Sondennadel erleichtert ist. Zum anderen kann auf dem Sondenschaft auch eine Schirmung (Shielding) geführt werden, so dass das Guard-Potential bis nahe an die Spitze der Sondennadel herangeführt werden kann. Als nachteilig hat sich jedoch erwiesen, dass die Klemmung des Sondenschafts mittels eines Federelements nur für die Übertragung relativ begrenzter Klemmkräfte geeignet ist. Darüber hinaus kann die Verwendung des beschriebenen Sondenhalterarms problematisch sein, wenn Tests unter erhöhten Temperaturen oder mit relativ hohen Probekräften durchgeführt werden sollen und diese hohen Temperaturen zu einer Verringerung der Federspannung führen beziehungsweise die Probekraft eine Verschiebung der Sondennadel relativ zum Sondenhalterarm bewirkt. Schließlich kann bei der vorgeschlagenen Konstruktion die sichere Kontaktierung zwischen den Leiterbahnen des Sondenschafts und den Kontakten der Sondenaufnahme aufgrund der relativ kleinen Kontaktflachen nicht fehlerfrei sichergestellt werden.
  • Ausgehend von diesem Stand der Technik besteht die Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine Sondenaufnahme anzugeben, die die Nachteile des Standes der Technik überwindet und insbesondere eine reproduzierbare Anordnung einer Sondennadel ermöglicht, eine sichere Kontaktierung der Sondennadel und auch bei hohen Temperaturen oder Probekräften ein sicheres Festhalten der Sondennadel gewährleistet.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch eine Sondenaufnahme mit den Merkmalen des Anspruchs 1, einen Sondenhalterarm mit den Merkmalen des Anspruchs 11 sowie eine Prüfvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 12. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
  • Die erfindungsgemäße Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen mit einer Sondennadel und einem im wesentlichen prismatischen Sondenschaft umfasst einen Sockel mit einer zur Aufnahme eines prismatischen Sondenschafts ausgebildeten, von einer Sockelwand umgebenen Fassungsöffnung und ist dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwand aus mindestens zwei aufeinander zu bewegbaren Sockelwandsegmenten besteht.
  • Die zur Aufnahme eines prismatischen Sondenschafts ausgebildete, von einer Sockelwand umgebene Fassungsöffnung ermöglicht die reproduzierbare Anordnung der Sonde in der Prüfvorrichtung. Gleichzeitig ermöglichen es die mindestens zwei Sockelwandsegmente, den in die Fassungsöffnung eingeführten Sondenschaft einer Sonde durch Einwirkung äußerer Kräfte in der Fassungsöffnung festzuklemmen. Hierdurch sind höhere und auch bei hohen Temperaturen gleich bleibende Klemmkräfte darstellbar, so dass eine sichere Kontaktierung der Sondennadel erreicht wird.
  • Gemäß einer ersten Ausgestaltung der Erfindung ist die Sockelwand durch mindestens zwei in der Längsrichtung der Fassungsöffnung verlaufende Schlitze in Sockelwandsegmente geteilt. Mit anderen Worten, die Sockelwand, die zunächst einen einheitlichen Körper darstellte, wurde anschließend durch die Herstellung von Schlitzen in Sockelwandsegmente geteilt. So kann der Sockel beispielsweise aus einem zylindrischen Grundkörper gebildet sein, in den in axialer Richtung eine Sackbohrung als Fassungsöffnung eingebracht ist und die die Fassungsöffnung umgebende Sockelwand durch mindestens zwei Schlitze in mindestens zwei Segmente unterteilt ist, die durch Verformung aufgrund radial wirkender äußerer Kräfte aufeinander zu bewegbar sind.
  • Gemäß einer zweiten Ausgestaltung der Erfindung ist die Sockelwand aus mindestens zwei voneinander unabhängigen, aufeinander zu bewegbaren Sockelwandsegmenten zusammengesetzt. Mit anderen Worten, die Sockelwand wurde durch nachträgliches Zusammensetzen einzeln hergestellter Sockelwandsegmente gebildet. Diese Lösung sieht vor, dass zumindest der Teil des Sockels, der die Fassungsöffnung bildet, aus mehreren, voneinander unabhängigen Sockelwandsegmenten gebildet ist. Die Sockelwandsegmente können – wie bei der oben beschriebenen ersten Ausgestaltung – starr gelagert und durch Verformung aufeinander zu bewegbar sein. Der aufwendigere Aufbau des Sockels aus unabhängigen Sockelwandseg menten ermöglicht jedoch auch die bewegliche Lagerung derselben, wobei Federelemente zur Erzeugung eine Rückstellkraft vorgesehen sein können, die die Freigabe des in der Fassungsöffnung befindlichen Sondenschafts bewirkt, wenn keine äußeren Kräfte auf die Sockelwandsegmente wirken.
  • Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist weiterhin mindestens ein Spannmittel zur Erzeugung einer auf die Sockelwandsegmente wirkenden Spannkraft vorgesehen. Obgleich es selbstverständlich möglich ist, ein Spannmittel unabhängig von der Sondenaufnahme und zusätzlich zu dieser vorzusehen, wenn die Sondenaufnahme in einer Prüfvorrichtung verwendet wird, oder die Sondenaufnahme so auszugestalten, dass es eines zusätzlichen Spannmittels nicht bedarf, ist es dennoch vorteilhaft, das Spannmittel als Bestandteil der Sondenaufnahme auszuführen. Hierdurch kann eine besonders kompakte Bauweise erzielt werden.
  • In einer anderen Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Außenfläche des Sockels einen kegelförmigen ersten Bereich aufweist und das Spannmittel eine Spannhülse ist, deren Innenfläche einen kegelförmigen ersten Bereich aufweist, wobei der erste Bereich der Spannhülse mit dem ersten Bereich des Sockels in Anlage bringbar ist. Die von außen auf die Sockelwand Segmente wirkenden Spannkraft wird bei dieser Ausgestaltung dadurch erzeugt, dass die Spannhülse in axiale Richtung der Sondenaufnahme verschoben wird, so dass die beiden kegelförmigen Bereiche von Spannhülse und Sockel in axiale Richtung gegeneinander verschoben werden, wodurch die Sockelwand Segmente in radialer Richtung bewegt werden. Die dadurch hervorgerufene Verengung der Fassungsöffnung bewirkt die Ausübung einer Spannkraft auf den in der Fassungsöffnung steckenden Sondenschaft.
  • In einer Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, dass die Außenfläche des Sockels einen zylindrischen zweiten Bereich aufweist und die Innenfläche der Spannhülse einen zylindrischen zweiten Bereich aufweist, der auf dem zweiten Bereich der Außenfläche des Sockels in axialer Richtung, d.h. in der Längsrichtung der Fassungsöffnung, bewegbar ist. Die Ausführung des Sockels und der Spannhülse mit je einem zylindrischen zweiten Bereich unterstützt die axiale Relativbewegung der Spannhülse auf dem Sockel und sorgt dafür, dass die Spannhülse exakt auf der Oberfläche des Sockels geführt wird.
  • Zur Erzeugung einer Spannkraft von der Spannhülse auf die Außenseite des Sockels kann vorgesehen sein, dass der zweite Bereich der Außenfläche des Sockels mit einem Außengewinde und der zweite Bereich der Innenfläche der Spannhülse mit einem korrespondierenden Innengewinde versehen sind. Die Anbringung eines Gewindes auf dem jeweiligen zylindrischen Bereich ist relativ einfach zu realisieren und bringt eine Sondenaufnahme hervor, die einfach zu bedienen ist, indem die Spannhülse relativ zum Sockel verdreht wird. Hierzu kann die Spannhülse auf ihrer Außenfläche beispielsweise Schlüsselflächen für die Verwendung von Schraubenschlüsseln aufweisen.
  • Alternativ kann zur Bereitstellung der benötigten Spannkraft vorgesehen sein, dass weiterhin eine Feder vorgesehen ist, die auf die Spannhülse eine in axialer Richtung, d.h. in der Längsrichtung der Fassungsöffnung, wirkende Kraft ausübt. Diese Ausführung der erfindungsgemäßen Sondenaufnahme sorgt dafür, dass eine Spannkraft so lange zur Verfügung steht, bis die Spannhülse entgegen der von der Feder ausgeübten Kraft in axialer Richtung verschoben wird. Zur Betätigung der Sondenaufnahme wird in diesem Fall kein zusätzliches Werkzeug benötigt.
  • In einer besonders für einen zylindrischen Sondenschaft geeigneten, den Sondenschaft hochgenau zentrierenden Ausgestaltung ist vorgesehenen, dass drei Sockelwandsegmente vorgesehen sind. Vorteilhaft sind die drei Sockelwandsegmente gleichmäßig über den Umfang des Sockels verteilt. Diese Ausgestaltung entspricht in ihrer Funktionalität einem von Werkzeugmaschinen bekannten Drei-Backen-Futter.
  • Vorteilhaft kann vorgesehen sein, dass die Anzahl der Schlitze geradzahlig ist. Im einfachsten Fall weist der Sockel zwei Schlitze auf. Die beiden dadurch entstehenden Sockelwandsegmente sind besonders einfach zu spannen, wenn die beiden Schlitze bezüglich der Fassungsöffnung im wesentlichen gegenüberliegend angeordnet sind, beispielsweise indem der Sockel von einer Spannschelle umfasst wird. Diese einfache Lösung führt zu einer einfach aufgebauten, robusten und preiswerten Sondenaufnahme.
  • Weiter vorteilhaft kann vorgesehen sein, dass vier Sockelwandsegmente vorgesehen sind. Diese Ausführung hat sich als besonders vorteilhaft erwiesen, wenn der prismatische Sondenschaft einen rechteckigen Querschnitt aufweist. Besonders einfach herstellbar ist der Sockel, wenn die zwischen den Sockelwandsegmenten vorhandenen Schlitze einander bezüglich der Fassungsöffnung paarweise gegenüberliegen.
  • Die Aufgabe der Erfindung wird gleichfalls gelöst durch einen Sondenhalterarm zur Halterung einer Sonde in einer Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, der dadurch gekennzeichnet ist, dass an einem Ende des Sondenhalterarms mindestens eine Sondenaufnahme der oben beschriebenen Art angeordnet ist. Gleichermaßen wird die Aufgabe durch eine Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen mit mindestens einer Sonde gelöst, die dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Sondenaufnahme der oben beschriebenen Art vorgesehen ist. Dabei kann die erfindungsgemäße Sondenaufnahme innerhalb der Prüfvorrichtung selbstverständlich am freien Ende eines Sondenhalterarms angeordnet sein.
  • Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels und zugehöriger Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigt die einzige 1 eine Seitenansicht der erfindungsgemäßen Sondenaufnahme, die am freien Ende eines Sondenhalterarms angeordnet ist sowie eine Schnittdarstellung durch den Sockel der Sondenaufnahme.
  • Die erfindungsgemäße Sondenaufnahme ist am freien Ende eines in einer Prüfvorrichtung angeordneten Sondenhalterarms 10 befestigt. Die Sondenaufnahme besteht aus einem Sockel 3 und einer auf dem Sockel 3 sitzenden Spannhülse 9. Zentral in dem Sockel 3 ist zur Aufnahme eines prismatischen Sondenschafts 2 mit rechteckigem Querschnitt eine Fassungsöffnung 6 mit ebenfalls rechteckigem Querschnitt angeordnet. Der Sockel 3 ist durch vier Schlitze 5, die einander bezüglich der Fassungsöffnung 6 gegenüberliegend angeordnet sind, in vier Sockelwandsegmente 4 aufgeteilt. Der Sockel 3 im Ausführungsbeispiel mit der Fassungsöffnung 6 und den Schlitzen 5 ist durch Funkenerodieren hergestellt.
  • In die Fassungsöffnung 6 wird der prismatische Sondenschaft 2 eingesetzt. Im Ausführungsbeispiel ist dieser prismatische Sondenschaft 2 abgewinkelt. Am freien Ende des Sondenschafts 2 ist die Sondennadel 1 angeordnet und fest mit dem Sondenschaft 2 verbunden. Im Innern der Fassungsöffnung 6, das heißt an einem oder mehreren der vier Sockelwandsegmente 4, wird die Sonde elektrisch kontaktiert. Hierzu können im Innern der Fassungsöffnung 6 entsprechende elektrische Kontakte vorgesehen sein. Da jedoch der Sondenschaft 2 im Ausführungsbeispiel aus einem metallischen Material ausgeführt ist, erfolgt hier die Kontaktierung direkt durch die Sockelwandsegmente 4, die ebenfalls aus Metall bestehen.
  • Der Sockel 3 weist im vorderen Teil seiner Außenfläche einen ersten, kegelförmigen Bereich 7 und im hinteren Teil einen zweiten, zylindrischen Bereich 8 auf. Auf dem Sockel 3 und den Sockel 3 umschließend sitzt die Spannhülse 9. Auch die Spannhülse 9 weist im vorderen Teil ihrer Innenfläche einen ersten, kegelförmigen Bereich und im hinteren Teil einen zweiten, zylindrischen Bereich auf, die jedoch in der gewählten Darstellung nicht sichtbar sind. Die beiden kegelförmigen Bereiche 7 von Sockel 3 und Spannhülse 9 liegen aneinander an. Die beiden zylindrischen Bereiche 8 von Sockel 3 und Spannhülse 9 sind mit zueinander passenden Gewinden versehen.
  • Die Erzeugung einer Spannkraft, die auf den in die Fassungsöffnung 6 eingelegten prismatischen Sondenschaft 2 wirkt, erfolgt durch Verdrehen der Spannhülse 9 gegenüber dem Sockel 3, so dass die Spannhülse 9 in axialer Richtung des Sockels 3 vor bzw. zurück bewegt wird. Durch das Zusammenwirken der beiden kegelförmigen Bereiche 7 von Spannhülse 9 und Sockel 3 werden die Sockelwandsegmente 4 in der einen Drehrichtung aufeinander zu bewegt, so dass sie eine Spannkraft erzeugen und in der anderen Drehrichtung die Spannkraft aufgehoben wird, so dass der prismatische Sondenschaft 2 freigegeben wird.
  • 1
    Sondennadel
    2
    Sondenschaft
    3
    Sockel
    4
    Sockelwandsegment
    5
    Schlitz
    6
    Fassungsöffnung
    7
    erster Bereich
    8
    zweiter Bereich
    9
    Spannhülse
    10
    Sondenhalterarm

Claims (14)

  1. Sondenaufnahme zur Halterung einer Sonde zur Prüfung von Halbleiterbauelementen mit einer Sondennadel (1) und einem im wesentlichen prismatischen Sondenschaft (2), umfassend einen Sockel (3) mit einer zur Aufnahme eines prismatischen Sondenschafts (2) ausgebildeten, von einer Sockelwand umgebenen Fassungsöffnung (6), dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwand mindestens zwei aufeinander zu bewegbare Sockelwandsegmente (4) aufweist.
  2. Sondenaufnahme nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwand durch mindestens zwei in der Längsrichtung der Fassungsöffnung (6) verlaufende Schlitze (5) in Sockelwandsegmente (4) geteilt ist.
  3. Sondenaufnahme nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwand aus mindestens zwei voneinander unabhängigen, aufeinander zu bewegbaren Sockelwandsegmenten (4) zusammengesetzt ist.
  4. Sondenaufnahme nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass weiterhin mindestens ein Spannmittel zur Erzeugung einer auf die Sockelwandsegmente (4) wirkenden Spannkraft vorgesehen ist.
  5. Sondenaufnahme nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenfläche des Sockels (3) einen kegelförmigen ersten Bereich (7) aufweist und dass das Spannmittel eine Spannhülse (9) ist, deren Innenfläche einen kegelförmigen ersten Bereich aufweist, wobei der erste Bereich der Spannhülse (9) mit dem ersten Bereich des Sockels (3) in Anlage bringbar ist.
  6. Sondenaufnahme nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenfläche des Sockels (3) einen zylindrischen zweiten Bereich (8) aufweist und die Innenfläche der Spannhülse (9) einen zylindrischen zweiten Bereich aufweist, der auf dem zweiten Bereich (8) der Außenfläche des Sockels (3) in axialer Richtung bewegbar ist.
  7. Sondenaufnahme nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich (8) der Außenfläche des Sockels (3) mit einem Außengewinde und der zweite Bereich der Innenfläche der Spannhülse (9) mit einem korrespondierenden Innengewinde versehen sind.
  8. Sondenaufnahme nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass weiterhin eine Feder vorgesehen ist, die auf die Spannhülse (9) eine in der Längsrichtung der Fassungsöffnung (6) wirkende Kraft ausübt.
  9. Sondenaufnahme nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass drei Sockelwandsegmente (4) vorgesehen sind.
  10. Sondenaufnahme nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Anzahl der Sockelwandsegmente (4) geradzahlig ist.
  11. Sondenaufnahme nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass vier Sockelwandsegmente (4) vorgesehen sind.
  12. Sondenaufnahme nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Sockelwandsegmente (4) einander bezüglich der Fassungsöffnung (6) paarweise gegenüberliegen.
  13. Sondenhalterarm (10) zur Halterung einer Sonde in einer Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen, dadurch gekennzeichnet, dass an einem Ende des Sondenhalterarms (10) mindestens eine Sondenaufnahme nach einem der Ansprüche 1 bis 12 angeordnet ist.
  14. Prüfvorrichtung zur Prüfung von Halbleiterbauelementen mit mindestens einer Sonde, dadurch gekennzeichnet, dass eine Sondenaufnahme nach einem der Ansprüche 1 bis 12 vorgesehen ist.
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