DE102006022330A1 - Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten, mit dem elektrische Signale von außen in die Leiterbahnen der Leiterplatte eingespeist und wieder ausgelesen werden können. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einem Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten mit Testpunkten dadurch gelöst, dass die Testpunkte in Form eines Musters bezüglich mindestens eines in der Leiterplatte befindlichen Durchbruches angeordnet sind, wobei mindestens ein Testpunkt, der so genannte Referenztestpunkt, eine andere geometrische Ausdehnung als die übrigen Testpunkte aufweist, und dass das Modul einen Arretierungsmechanismus aufweist, der über die Dauer der Kontaktierung das Modul unter Nutzung des Durchbruches fest auf der Leiterplatte arretiert. Das Modul weist ferner Kontaktflächen auf, wobei im arretierten Zustand des Moduls jeder Testpunkt mit mindestens einer Kontaktfläche in Verbindung steht und jede Kontaktfläche mit einer Signalleitung verbunden ist, die die Verbindung zwischen Testmodul und Testsystem herstellt.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten, mit dem elektrische Signale von außen in die Leiterbahnen der Leiterplatte eingespeist und wieder ausgelesen werden können.
- Seit es Leiterplatten gibt, besteht die Notwendigkeit, die elektrische Funktionsfähigkeit zu testen. Diese Funktionsprüfung erfolgt in aller Regel über vorhandene oder eigens zu Prüfzwecken auf der Leiterplatte angeordnete Steckverbinder. Entgegen dem Betreiben der Leiterplatte im Einsatzfall, ist für Prüfzwecke nur eine kurzzeitige und zumeist einmalige elektrische Verbindung zwischen Leiterplatte und Testsystem notwendig. Deshalb erweist es sich als viel zu aufwendig und kostenintensiv, allein zu Prüfzwecken extra Steckverbinder auf der Leiterplatte aufzubringen.
- Soll dieses elektrische Testen der Leiterplatte in eine Fertigungslinie integriert werden, so steht ebenfalls das Aufstecken und Abnehmen von Steckverbindern einer effizienten Automatisierbarkeit entgegen.
- Dieses Problem lösen die beiden bekannten Testverfahren der In-Circuit Test und der Flying Probe Test dadurch, dass die elektrische Kontaktierung der einzelnen Leiterbahnen über Nadeln erfolgt. Beim In-Circuit Test Verfahren erfolgt dies in einem Nadelbettadapter, wobei die einzelne Nadel starr angeordnet ist und nur in horizontaler Richtung verändert werden kann. Beim Flying Probe Test Verfahren hingegen sind die einzelnen Nadeln in alle Richtungen beweglich angeordnet. Auf den zu testenden Leiterplatten sind zu diesen Zwecken so genannte Testpunkte vorgesehen. Beide Testverfahren sind sehr aufwendig und können deshalb erst ab einer bestimmten Stückzahl an zu testenden Leiterplatten oder erst ab einer gewissen Zahl von Testpunkten wirtschaftlich betrieben werden.
- Aufgabe der Erfindung ist es, unter Beachtung der Nachteile des Standes der Technik eine Möglichkeit anzugeben, dass Leiterplatten einfach elektrisch kontaktiert werden können, um so die notwendige Verbindung zwischen Testsystem und den Leiterbahnen der Leiterplatte über Testpunkte für Prüfzwecke zu realisieren.
- Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einem Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten mit Testpunkten dadurch gelöst, dass die Testpunkte in Form eines Musters bezüglich mindestens eines in der Leiterplatte befindlichen Durchbruches angeordnet sind, wobei mindestens ein Testpunkt, der so genannte Referenztestpunkt, eine andere geometrische Ausdehnung als die übrigen Testpunkte aufweist, und dass das Modul einen Arretierungsmechanismus aufweist, der über die Dauer der Kontaktierung das Modul unter Nutzung des Durchbruches fest auf der Leiterplatte arretiert. Das Modul weist ferner Kontaktflächen auf, wobei im arretierten Zustand des Moduls jeder Testpunkt mit mindestens einer Kontaktfläche in Verbindung steht und jede Kontaktfläche mit einer Signalleitung verbunden ist, die die Verbindung zwischen Testmodul und Testsystem herstellt. Ein besonders effektives Ausführungskonzept der Erfindung besteht darin, dass der Durchbruch eine Bohrung ist und die Testpunkte auf Rasterfeldern angeordnet sind, wobei alle Rasterfelder zusammen genommen einen Kreisring ergeben, dessen Mittelpunkt gleichzeitig der Mittelpunkt der Bohrung ist. Der Referenztestpunkt erstreckt sich dabei über zwei benachbarte Rasterfelder. Das zu diesem Konzept passende Modul ist dadurch gekennzeichnet, dass die Anzahl der Rasterfelder des Moduls ein Vielfaches der Anzahl der Rasterfelder der Leiterplatte ist, wobei jedes Rasterfeld mit einer Kontaktfläche belegt ist und diese auch auf einen gleich großen Kreisring auf der unteren Seite des Moduls sich befinden. Der wesentliche Vorteil des Konzepts besteht darin, dass das Modul beliebig aufgesetzt werden kann, da durch einen einfachen elektrischen Kontakttest der Referenztestpunkt feststellbar ist, denn dieser steht als einziger mit mehr Kontaktflächen in Verbindung. Die Arretierung des Moduls wird vorteilhafterweise dadurch erreicht, dass im Zentrum des Moduls ein hohler Zentrierdorn vorhanden ist und in dem Zentrierdorn eine Spindel geführt ist, wobei der aus dem Zentrierdorn herausragende Teil der Spindel von einem Gummi, der die Form eines Zylindermantels aufweist, ummantelt ist, wobei der unterste Teil des Gummis über den gesamten Kreisring mit der Spindel fest verbunden ist und der obere Kreisring des Gummis mit dem Zentrierdorn in Verbindung steht. Im ausgefahrenen Zustand der Spindel nimmt dabei der Gummimantel die Form eines Zylinders an und im eingefahrenen Zustand der Spindel nähert sich die Form einem Rotationsellipsoid. Ein weiteres Ausführungskonzept besteht darin, dass zwei rechteckförmige Durchbrüche in die Leiterplatte eingebacht werden und die Testpunkte dazwischenliegend in Form eines rechteckig unterteilten Rasters angeordnet werden. Das hierzu gehörige Modul weist auf seiner Unterseite ein identisch aufgebautes Raster wie das auf der Leiterplatte auf, wobei jedes Rasterfeld mit einer Kontaktfläche belegt ist. Eine Möglichkeit für die Arretierung des Moduls auf der Leiterplatte besteht nun darin, dass Krallen durch die Durchbrüche hindurch geführt werden können, die dann, durch einen Spindelmechanismus angetrieben, das Modul auf der Leiterplatte derart fest arretieren, dass jeder Testpunkt mit einer Kontaktfläche in einem direkten Kontakt steht. Da das Modul grundsätzlich zwei verschiedene Einbauzustände einnehmen kann, ist es wieder von Vorteil, wenn ein Referenztestpunkt geschaffen wird, durch den der eingesetzte Zustand dann leicht ermittelt werden kann. Von Vorteil kann es insbesondere beim automatischen Einsetzen des Moduls sein, wenn dieser auf seiner Unterseite mit einem Sensor zum Ermitteln der Entfernung zwischen Modul und Leiterplatte ausgestattet wird. Weiterhin vorteilhaft ist es, wenn das Modul auf seiner Unterseite im Randbereich mit einem Schutzgummi versehen ist, so dass im aufgesetzten Zustand die Kontaktflächen und Testpunkte geschützt sind und ferner eine Beschädigung der Leiterplatte dadurch weitestgehend vermieden wird. Als günstig erweist es sich, wenn Kontaktflächen mit einem elektrisch leitfähigen Gummi belegt werden, über den im aufgesetzten Zustand der Kontakt zwischen Testpunkten und Kontaktflächen dann erfolgt. Der elektrisch leitfähige Gummi ist dabei so ausgelegt, dass er im Stande ist, eine elektrische Verbindung zwischen der Ober- und Unterseite, nicht jedoch quer, herzustellen.
- Die Erfindung soll nachstehend anhand von Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Die dazugehörigen Zeichnungen zeigen:
-
1 : eine schematische Darstellung einer Ausführungsform der Testpunktanordnung auf einer Leiterplatte, -
2 : eine schematische Darstellung eines Moduls als Querschnitt zugehörig zur Ausführungsform der Testpunktanordnung gemäß1 , -
3 : eine schematische Darstellung des Moduls gemäß2 von unten, -
4 : eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform der Testpunktanordnung auf einer Leiterplatte und -
5 eine schematische Darstellung eines Moduls als Querschnitt zugehörig zur Ausführungsform der Testpunktanordnung gemäß4 . - Vorangestellt sei, dass der Begriff Testpunkt in dieser Anmeldung immer so auszulegen ist, dass es sich hierbei um einen Punkt mit flächenhafter Ausdehnung handelt.
- Gemäß
1 ist eine schematische Darstellung einer bevorzugten Anordnung der Testpunkte2 , inklusive dem Referenztestpunkt3 , zu erkennen, wenn gleichzeitig der Durchbruch1 eine Bohrung ist. Der Kreisring4 ist dabei in gleichgroße Rasterfelder5 unterteilt. Jedes Rasterfeld5 ist dabei jeweils mit einem Testpunkt2 belegt, wobei der Referenztestpunkt3 sich über zwei benachbarte Rasterfelder erstreckt. - In
2 ist ein erfindungsgemäßes Modul6 im auf die Leiterplatte aufgesetzten Zustand im Querschnitt dargestellt. Erkennbar sind als seine wesentlichen Bestandteile das Gehäuse7 , der Spindelantrieb8 mit Spindel9 und dem daran im Endbereich ummantelten Gummi10 , die Kontaktflächen11 und die Signalleitung12 . Zwischen den Kontaktflächen11 und den Testpunkten2 ist gemäß2 noch ein elektrisch leitfähiger Gummi13 zu erkennen, der zum Modul6 gehört und der über eine Führung14 den Kontaktflächen11 vorgeordnet ist. Dies erweist sich als günstig, da der leitfähige Gummi13 bestens geeignet ist, um einen sicheren Kontakt zwischen Kontaktflächen11 und Testpunkten2 bzw.3 herzustellen. Der elektrisch leitfähige Gummi13 ist dabei so ausgelegt, dass er im Stande ist, eine elektrische Verbindung zwischen der Ober- und Unterseite, nicht jedoch quer, herzustellen. Solche Gummis werden üblicherweise bei der Kontaktierung von LCD Anzeigeelementen eingesetzt. Des Weiteren ist der Schutzgummi15 erkennbar, der eine Beschädigung der Leiterplatte durch die starre Außenkante des Moduls6 vermeiden soll. - In
3 ist eine schematische Darstellung des Moduls6 gemäß2 von unten zu sehen. Dabei sind neben den in bereits zu2 erläuterten Bestandteilen des Moduls6 weiterhin ein Sensor16 zur Ermittlung der Entfernung zwischen Modul6 und Leiterplatte erkennbar. Darüber hinaus ist hier deutlich zu erkennen, dass doppelt soviel Rasterfelder wie in1 auf dem Modul6 vorhanden sind, wobei jedes Rasterfeld mit genau einer Kontaktfläche11 belegt ist. - Im Folgenden soll der Ablauf zur Kontaktierung der Testpunkte
2 dargelegt werden. Das Modul6 ist axialsymmetrisch ausgeführt. Im Zentrum befindet sich ein hohler Zentrierdorn, an dessen unterem Ende der Gummi10 fest angebracht ist. Das andere Ende des Gummis10 ist mit einer, in dem Zentrierdorn beweglichen Spindel9 fest verbunden. Durch ein Bewegen der Spindel9 nach unten, aus dem Modul6 heraus, wird der Gummi10 gestreckt, woraufhin sich dessen Durchmesser verringert. D.h. im geöffneten Zustand nimmt der Gummi10 die Form eines Zylinders an. Umgekehrt vergrößert sich der Durchmesser von Gummi10 , sobald die Spindel9 nach oben, also in das Modul6 hineingezogen wird. D.h. im geschlossenen Zustand wird der Zylinder zusammengestaucht, so dass er nach außen aufbeult und somit die Form eines Rotationsellipsoids annimmt. Das Bewegen der Spindel9 erfolgt vorzugsweise über einen Spindelantrieb8 . Das Aufsetzen des Moduls6 auf die Leiterplatte erfolgt dadurch, dass das Modul6 sich zunächst im geöffneten Zustand befindet, wodurch es sich bequem in den Durchbruch1 der Leiterplatte einführen lässt. Der Sensor16 des Moduls6 überwacht ständig die Entfernung zur Leiterplatte. Sobald das Modul6 weit genug aufgesetzt ist, gibt der Sensor16 ein Signal an den Spindelantrieb8 , woraufhin dieser die Spindel9 in Bewegung setzt. Infolge dessen verbreitert sich der Gummi10 und bewirkt dadurch eine feste Arretierung des Moduls6 auf der Leiterplatte. Das Ausrichten des Moduls6 erfolgt dabei selbstständig über die Geometrie des Zentrierdorns, der, wie aus3 ersichtlich, im unteren Bereich konisch ausläuft, um somit ein erleichtertes Einsetzen zu ermöglichen. Ein seitliches Verkanten des Moduls6 wird über die Geometrie der Außenkante des Moduls6 selbst erreicht. Um eine Beschädigung der Leiterplatte durch diese starre Außenkante zu vermeiden, empfiehlt sich die Verwendung des Schutzgummis15 . Ist eine vorgegebene Anpresskraft erreicht oder eine bestimmte Entfernung zwischen dem Modul6 und der Leiterplatte unterschritten, so wird der Spindelantrieb8 abgeschaltet. Das Modul6 ist nun geschlossen und hält ohne eine weitere Energiezufuhr von selbst. Die elektrische Verbindung ist nunmehr zwischen den Testpunkten2 und Referenztestpunkt3 der Leiterplatte einerseits und den Kontaktflächen11 andererseits über die leitfähigen Gummis13 hergestellt. Das Öffnen des Moduls6 und somit das Abstoßen von der Leiterplatte erfolgt durch das Herausfahren der Spindel9 mit Hilfe des Spindelantriebes8 . - Durch die doppelte Anzahl, bezogen auf die Anzahl der Rasterfelder
5 der Leiterplatte, von Kontaktflächen11 auf dem Modul6 ist gewährleistet, dass stets mindestens eine Kontaktfläche11 mit einem Testpunkt2 elektrisch verbunden ist. Um nun automatisch erkennen zu können, welche Kontaktfläche11 mit welchem Testpunkt2 in Verbindung steht, wurde der Referenztestpunkt3 geschaffen. Dieser steht durch seine anders gewählte geometrische Ausdehnung immer mit mehreren Kontaktflächen11 in Verbindung. Durch einen einfachen elektronischen Test kann somit ermittelt werden, welche Kontaktflächen11 mit dem Referenztestpunkt3 in Verbindung stehen, wodurch dann wiederum jeder andere Testpunkt2 eindeutig bestimmbar ist. - Ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung besteht darin, dass der Zentrierdorn des Moduls
6 mit einer Nut oder Feder ausgeführt ist und in dem Durchbruch1 der Leiterplatte ein entsprechendes Gegenstück, also eine Feder bzw. eine Kerbe angebracht ist. Dadurch ist eine statische Zuordnung zwischen den einzelnen Testpunkten2 und den Kontaktflächen11 gegeben. Eine Elektronik zur Erkennung der Zuordnung von Testpunkten2 zu den Kontaktflächen11 würde somit nicht mehr benötigt. Der Referenztestpunkt3 bezüglich seiner anderen geometrischen Ausdehnung wäre ebenfalls nicht notwendig, allerdings geschieht dies zu Ungunsten der einfachen Handhabung. - Ein weiteres Ausführungsbeispiel besteht darin, dass die Kontaktflächen
11 und der elektrisch leitfähige Gummi13 vom Modul6 ersetzt werden durch federnd gelagerte Nadeln, wie diese bei den bereits bekannten Nadelbettadaptern verwendet werden. - Ein weiteres Ausführungsbeispiel besteht darin, dass der Spindelantrieb
8 durch eine Mechanik ersetzt wird, die analog aufgebaut ist wie die bei einem Druckkugelschreiber. Die Spindel9 würde somit durch einen Druck des Moduls6 auf die Leiterplatte mit Hilfe einer Feder nach innen gezogen (geschlossener Zustand) und mit einem weiteren Druck wieder nach außen bewegt (geöffneter Zustand) werden. - Eine weitere Ausführungsform besteht darin, dass der Sensor
16 ersetzt oder ergänzt wird durch einen Helligkeitssensor. - Ein weiteres Ausführungsbeispiel besteht darin, dass der Gummi
10 vom Modul6 ersetzt wird durch eine Mechanik, die durch Einfahren der Spindel9 gespreizt wird und durch Ausfahren der Spindel9 wieder zusammengezogen wird, bzw. sich selbst wieder zusammenzieht. - Ein weiteres Ausführungsbeispiel besteht darin, dass um die ringförmige Anordnung der Rasterfelder
5 weitere Testpunkte2 angeordnet werden. Hierdurch kann die Anzahl der Testpunkte2 beliebig erhöht werden, ohne die Kompatibilität zu der geringeren Ausbaustufe zu verlieren, vorausgesetzt natürlich, dass im Modul6 analog die entsprechenden Kontaktflächen11 geschaffen werden. - Gemäß
4 ist ein weiteres Konzept der Gestaltung der Testpunktanordnung und damit einhergehend eine weitere Ausführungsform des Moduls gemäß5 aufgezeigt. Hier sind zwei längliche Durchbrüche1 auf der Leiterplatte ausgeführt und zwischen diesen sind die Rasterfelder5 diesmal orthogonal zueinander angeordnet. Die Rasterfelder5 sind dabei wieder mit den Testpunkten2 belegt und der eine Referenztestpunkt3 ist wiederum über zwei benachbarte Rasterfelder5 ausgedehnt. Dies dient wiederum dem gleichen Zweck, um eine eindeutige Identifizierung vornehmen zu können, obwohl diesmal das Modul6 nur zwei unterschiedliche Aufsetzzustände einnehmen kann. Werden wieder zusätzliche Maßnahmen getroffen, um nur eine Aufsetzmöglichkeit zu gewährleisten, dann kann auf die Gestaltung des Referenztestpunktes3 wieder verzichtet werden. Das Modul6 wird in dieser Ausführung auf die Leiterplatte aufgesetzt, dabei ragen zwei beweglich um die Achsen19 gelagerte Krallen20 in die Durchbrüche1 und mittels zwei Spindeln, Spindel mit Linksgewinde17 und Spindel mit Rechtsgewinde18 , werden diese über den Spindelantrieb8 geöffnet bzw. geschlossen.5 zeigt den geschlossenen Zustand. -
- 1
- Durchbruch
- 2
- Testpunkt
- 3
- Referenztestpunkt
- 4
- Kreisring
- 5
- Rasterfeld
- 6
- Modul
- 7
- Gehäuse
- 8
- Spindelantrieb
- 9
- Spindel
- 10
- Gummi
- 11
- Kontaktfläche
- 12
- Signalleitung
- 13
- leitfähiger Gummi
- 14
- Führung
- 15
- Schutzgummi
- 16
- Sensor
- 17
- Spindel mit Linksgewinde
- 18
- Spindel mit Rechtsgewinde
- 19
- Achse
- 20
- Kralle
Claims (12)
- Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten mit Testpunkten, dadurch gekennzeichnet, dass – die Testpunkte (
2 ) in Form eines Musters bezüglich mindestens eines in der Leiterplatte befindlichen Durchbruches (1 ) angeordnet sind, wobei mindestens ein Testpunkt (3 ) eine andere geometrische Ausdehnung als die übrigen Testpunkte (2 ) aufweist, – das Modul (6 ) einen Arretierungsmechanismus aufweist, der über die Dauer der Kontaktierung das Modul (6 ) unter Nutzung des Durchbruches (1 ) fest auf der Leiterplatte arretiert, – das Modul (6 ) ferner Kontaktflächen (11 ) aufweist, wobei im arretierten Zustand des Moduls (6 ) jeder Testpunkt (2 ,3 ) mit mindestens einer Kontaktfläche (11 ) in Verbindung steht und jede Kontaktfläche (11 ) mit einer Signalleitung (12 ) verbunden ist. - Modul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchbruch (
1 ) eine Bohrung ist und die Testpunkte (2 ,3 ) auf Rasterfeldern (5 ) angeordnet sind, wobei alle Rasterfelder (5 ) zusammengenommen einen Kreisring (4 ) ergeben, dessen Mittelpunkt gleichzeitig der Mittelpunkt der Bohrung ist. - Modul nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der eine die andere geometrische Form aufweisende Testpunkt (
3 ) die räumliche Ausdehnung von zwei benachbarten Rasterfeldern (5 ) aufweist. - Modul nach Anspruch 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Anzahl der Rasterfelder (
5 ) des Moduls (6 ) ein Vielfaches der Anzahl der Rasterfelder (5 ) der Leiterplatte ist, wobei jedes Rasterfeld (5 ) mit einer Kontaktfläche (11 ) belegt ist und diese auch auf einen gleich großen Kreisring (4 ) auf der unteren Seite des Moduls (6 ) angeordnet sind. - Modul nach Anspruch 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass – im Zentrum des Moduls (
6 ) ein hohler Zentrierdorn vorhanden ist, – in dem Zentrierdorn eine Spindel (9 ) geführt ist, wobei der aus dem Zentrierdorn herausragende Teil der Spindel (9 ) von einem Gummi (10 ), der die Form eines Zylindermantels aufweist, ummantelt ist, wobei der unterste Teil des Gummis (10 ) über den gesamten Kreisring mit der Spindel (9 ) fest verbunden ist und der obere Kreisring des Gummis (10 ) mit dem Zentrierdorn in Verbindung steht, und – im ausgefahrenen Zustand der Spindel (9 ) der Gummimantel die Form eines Zylinders und im eingefahrenen Zustand der Spindel (9 ) die Form eines Rotationsellipsoids aufweist. - Modul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwei rechteckförmige Durchbrüche (
1 ) und dazwischenliegend die Testpunkte (2 ,3 ) in Form eines rechteckig unterteilten Rasters angeordnet sind. - Modul nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass das Modul (
6 ) auf seiner Unterseite ein identisch aufgebautes Raster, wie das auf der Leiterplatte, enthält, wobei jedes Rasterfeld (5 ) mit einer Kontaktfläche (11 ) belegt ist. - Modul nach Anspruch 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Arretierungsmechanismus aus einem Spindelmechanismus (
8 ,17 ,18 ) und mit diesem verbundenen Krallen (20 ) besteht, wobei im geöffneten Zustand die Krallen (20 ) durch die Durchbrüche (1 ) hindurch einsetzbar sind und im geschlossenen Zustand die Krallen (20 ) das Modul (6 ) auf der Leiterplatte derart fest arretieren, dass jeder Testpunkt (2 ) mit einer Kontaktfläche (11 ) in einem direkten Kontakt steht. - Modul nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass ein Testpunkt (
3 ) die räumliche Ausdehnung von zwei benachbarten Rasterfeldern (5 ) aufweist. - Modul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf der Modulunterseite ein Sensor (
16 ) zum Ermitteln der Entfernung zwischen Modul (6 ) und Leiterplatte angeordnet ist. - Modul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Modul (
6 ) auf seiner Unterseite im Randbereich mit einem Schutzgummi (15 ) versehen ist, so dass im aufgesetzten Zustand die Kontaktflächen (11 ) und Testpunkte (2 ,3 ) geschützt sind sowie eine Beschädigung der Leiterplatte weitestgehend vermieden wird. - Modul nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (
11 ) mit einem elektrisch leitfähigen Gummi (13 ) belegt sind, über den im aufgesetzten Zustand der Kontakt zwischen Testpunkten (2 ,3 ) und Kontaktflächen (11 ) erfolgt.
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DE102006022330A1 true DE102006022330A1 (de) | 2007-11-15 |
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EP3716409A1 (de) * | 2019-03-28 | 2020-09-30 | Yamaichi Electronics Deutschland GmbH | Kontaktor, kontaktorsystem und verfahren zum elektrischen kontaktieren einer leiterplatte und/oder eines moduls |
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2006
- 2006-05-10 DE DE200610022330 patent/DE102006022330B4/de not_active Expired - Fee Related
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