DE102005002006A1 - Vorrichtung zur Herstellung von 3D-Strukturen - Google Patents

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Herstellung von 3-D-Strukturen auf Materialien im Mikro- oder Nanometerbereich mittels Ionenstrahlen. Um zu erreichen, dass 3-D-Strukturen im Mikro- oder Nanometerbereich unterschiedlichster Materialzusammensetzungen maskenlos realisiert werden können, sind erfindungsgemäß in einer Vakuumkammer eine Medienkammer zum Bevorraten eines oder mehrerer Medien, eine Reaktionskammer zur Erzeugung eines Ionenstrahls aus dem der Reaktionskammer von der Medienkammer zugeführten Medium oder Mediengemisch und eine Auskoppelvorrichtung zum Auskoppeln eines Ionenstrahls aus der Reaktionskammer in Richtung des zu bearbeitenden Materials angeordnet, wobei Winkel und Orientierung zwischen dem Ionenstrahl und dem Material zueinander einstellbar sind.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Herstellung von 3D-Strukturen auf Materialien im Mikro- oder Nanometerbereich mittels Ionenstrahlen.
  • Im Bereich der Mikro- und Nano-Technologie sowie in der Mikroelektronik erfolgt die Herstellung von Prototypen nach wie vor im Batch-Verfahren. Dabei wird auf Siliziumwafer Fotolack aufgetragen, der mit Hilfe von fotolithographischen Masken partiell belichtet wird. Nach dem Entfernen des unbelichteten Fotolacks kann der Siliziumwafer an den freien Stellen mit unterschiedlichen Verfahren, z.B. Aufbringen von metallischen, halbleitenden und isolierenden Schichten sowie Ätzen zum subtraktiven Strukturieren, bearbeitet werden. Diese Herstellungsverfahren sind – speziell in der Entwicklungsphase von Bauteilen – sehr teuer und zeitaufwendig. Dies hat mehrere Ursachen. Es werden sehr viele unterschiedliche fotolithographische Masken benötigt. Der apparative Aufwand zur Durchführung der einzelnen Prozesse ist sehr hoch, da für fast jeden Einzelprozess eine hochspezialisierte Anlage vorhanden sein muss. Die Siliziumwafer müssen in einem teuren Reinraum bearbeitet werden, um Kontamination und Verschmutzung der Wafer mit Staub zu verhindern. In der Vergangenheit wurden bereits Anstrengungen unternommen, diesen Nachteilen entgegenzuwirken.
  • So ist aus US 6,419,652 B1 eine Vorrichtung bekannt, bei der die Oberfläche von Substraten in einer Vakuumkammer chemisch bearbeitet wird. Dabei wird einer Reaktionskammer, die sich in der Vakuumkammer befindet, über eine Zuleitung von außerhalb der Vakuumkammer ein Reaktionsgas zugeführt. Die Gaspartikel, die während der Gasreaktion in der Reaktionskammer entstehen, werden durch ein Injektionsröhrchen als Gasstrahl auf das Substrat geleitet, dessen Oberfläche auf diese Weise verändert wird.
  • Außerdem sind sogenannte Focused Ion Beam (FIB)-Systeme bekannt, mit denen ebenfalls die Oberfläche von Materialien in einer Vakuumkammer subtraktiv bearbeitet wird. Außerdem können Abscheidungen des Ausgangsmaterials des Ionenstrahls vorgenommen werden Bei FIB-Systemen wird ein Ionenstrahl erzeugt und über die Materialoberfläche gerastert. Um einen besonders feinen Ionenstrahl zu erzeugen, der die Bearbeitung im Mikro- und Nanometerbeich ermöglicht, können bei der FIB nur bestimmte Medien als Ionenquelle eingesetzt werden, d. h. es ist eine feine Ionenquelle, wie z. B. Gallium, Indium oder Natrium, nötig. Dadurch ist der Anwendungsbereich eingeschränkt, da nur die als Ausgangsmedium eingesetzten Materialien abgeschieden werden können (z. B. kein Silizium). Um die zu prozessierenden Medien von außerhalb des Vakuums zuführen zu können, ist die FIB mit dem Gehäuse der Vakuumkammer verbunden. Außerdem kann jeweils nur ein Medium prozessiert werden. Mischungen, die nötig sind, um unterschiedliche Materialien auf dem Substrat abzuscheiden, sind nicht möglich.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren bereitzustellen, mit dem 3D-Strukturen im Mikro- und Nanometerbereich unterschiedlichster Materialzusammensetzungen maskenlos realisiert werden können.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einer Vorrichtung nach Anspruch 1 gelöst, bei der in einer Vakuumkammer eine Medienkammer zum Bevorraten eines oder mehrerer Medien, eine Reaktionskammer zur Erzeugung eines Ionenstrahls aus dem der Reaktionskammer von der Medienkammer zugeführten Mediums oder Mediengemisches und eine Auskoppelvorrichtung zum Auskoppeln eines Ionenstrahls aus der Reaktionskammer in Richtung des zu bearbeitenden Materials angeordnet sind, wobei Winkel und Orientierung zwischen dem Ionenstrahl und dem Material zueinander einstellbar sind. Ein entsprechendes Verfahren ist in Anspruch 9 angegeben. Vorteilhafte Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen beschrieben.
  • Der Erfindung liegt der Gedanke zugrunde, Material im Mikro- und Nanometerbereich so zu bearbeiten, dass 3D-Nanostrukturen unterschiedlichster Materialzusammensetzungen realisiert werden können. Eine Medienkammer, z. B. ein Tank, beinhaltet ein oder mehrere zu prozessierende Medien, die sich ionisieren lassen und/oder mit denen sich Material bearbeiten lässt. In der Reaktionskammer, die mit der Medienkammer verbunden ist, wird durch vollständiges oder teilweises Ionisieren des zugeführten Mediums oder Mediengemisches aus der Medienkammer ein Plasma erzeugt, um einen Ionenstrahl zu erzeugen. Dies kann z. B. mittels eines elektrischen Lichtbogens oder Laser erfolgen. Durch die Verwendung verschiedener Medien oder Mediengemische können unterschiedliche Materialien, z. B Halbleiter, Metalle oder Isolatoren, auf unterschiedliche Weise bearbeitet, z. B. abgeschieden, abgelagert oder subtraktiv bearbeitet, werden. In der Reaktionskammer sind somit Prozesse sowohl zur chemischen als auch physikalischen Bearbeitung des Substrats möglich. Über eine Auskoppelvorrichtung, z. B. eine Ionenoptik oder eine Blende, wird ein Ionenstrahl ausgekoppelt und auf das zu bearbeitende Material gelenkt, um dieses lokal begrenzt zu bearbeiten. Winkel und Orientierung zwischen Ionenstrahl und Material sind zueinander veränderbar und einstellbar. Durch den modularen Aufbau und die Anordnung innerhalb der Vakuumkammer, wird die Flexibilität des Aufbaus erheblich erhöht. Der apparative Aufwand beschränkt sich auf wenige Baugruppen und wird somit gegenüber dem herkömmlichen Aufwand minimiert.
  • In einer bevorzugten Ausgestaltung ist die Vakuumkammer Teil eines Rasterelektronenmikroskopes. Dadurch ist es möglich, die Materialbearbeitungsprozesse zu beobachten, ohne zusätzliches Gerät zu verwenden. Dies wirkt sich kosten- und platzsparend aus.
  • In einer weiteren Ausgestaltung ist zwischen der Medienkammer und der Reaktionskammer wenigstens im Betrieb ein Druckgefälle vorgesehen, um das Medium oder die Medien aus der Medienkammer der Reaktionskammer zuzuführen. Auf diese Weise gewinnt die Anordnung an Flexibilität, da keine zusätzlichen Mechanismen benötigt werden, um das Medium oder die Medien aus der Medienkammer in die Reaktionskammer zu befördern.
  • Ferner sind in einer Ausgestaltung die Medienkammer, die Reaktionskammer und die Auskoppelvorrichtung beweglich gelagert, insbesondere auf einer mobilen Plattform, um Winkel und Orientierung des Ionenstrahls einzustellen. Bevorzugt ist die Auskoppelvorrichtung ferner zur Auskopplung und Einstellung von Winkeln und Orientierung des Ionenstrahls ausgestaltet. Auf diese Weise wird die Bearbeitung des Materials aus nahezu allen Richtungen ermöglicht.
  • In einer weiteren Ausgestaltung ist die Auskoppelvorrichtung eine Ionenoptik zum Fokussieren des Ionenstrahls mittels elektrischer und/oder magnetischer Felder. Dies ermöglicht die Erzeugung besonders feiner Ionenstrahlen im Nanometerbereich. Alternativ kann die Auskoppelvorrichtung als einfache Blende zum Auskoppeln des Ionenstrahls ausgestaltet sein.
  • Ferner beinhaltet die Medienkammer bevorzugt mehrere Kammern zum Bevorraten mehrerer Medien. Dadurch können je nach Bedarf unterschiedliche Mediengemische realisiert werden, die eine Bearbeitung unterschiedlicher Materialien, z. B. Metalle, Halbleiter, Isolatoren, und auf unterschiedliche Weise, z. B. Abtragen oder Ablagern, ermöglichen.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert. Die einzige Figur zeigt eine Ausgestaltung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Herstellung von 3D-Strukturen sowie eine Steuereinheit und eine Vakuumpumpe.
  • Innerhalb einer Vakuumkammer VK befindet sich das zu prozessierende Substrat SU auf einem Probenhalter PH. Außerdem befinden sich ebenfalls in der Vakuumkammer VK eine Medienkammer MR, eine Reaktionskammer RK und eine Auskoppelvorrichtung IO, in diesem Ausführungsbeispiel eine Ionenoptik. Die Medienkammer MR, die Reaktionskammer RK und die Auskoppelvorrichtung IO sind miteinander verbunden. In der Medienkammer MR befinden sich ein oder mehrere zu prozessierende Medien im flüssigen oder festen Zustand, die sich ionisieren lassen und mit denen sich Material bearbeiten lässt, insbesondere durch additive oder subtraktive Prozesse auf der Substratoberfläche. Dabei handelt es sich vorzugsweise um Stoffe, die bei einer bestimmten stoffabhängigen Temperatur aus dem flüssigen oder festen Zustand in den gasförmigen Zustand übergehen. Dies können z. B. metallo-organische Substanzen, insbesondere Wolframhexacarbonyl oder kobalthaltige Stoffe, sein, da sich diese leicht in der Medienkammer deponieren lassen. Es sind aber auch andere Stoffe, wie z. B. Gallium, möglich. Das Medium oder Mediengemisch geht in der Medienkammer in den gasförmigen Zustand über und wird – bevorzugt über ein Druckgefälle – der Reaktionskammer RK zugeführt. In der Reaktionskammer RK wird das Medium oder Mediengemisch vollständig oder teilweise ionisiert und ein Plasma gebildet, z. B. mittels eines elektrischen Lichtbogens durch das Anlegen zweier Elektroden.
  • Die Auskoppelvorrichtung IO fokussiert und lenkt die Ionen aus der Reaktionskammer RK in Form eines Ionenstrahls IS auf das Substrat SU, z.B. einen Siliciumwafer oder eine Glasplatte. Die Position des Ionenstrahls IS kann dabei in Winkel und Orientierung eingestellt werden. Dies kann bevorzugt dadurch realisiert sein, dass Medienkammer MR, Reaktionskammer RK und Auskoppelvorrichtung IO beweglich gelagert sind, um Winkel und Orientierung des Ionenstrahls IS einzustellen. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel ist dies durch eine mobile Plattform MP realisiert, die innerhalb der Vakuumkammer VK in der horizontalen Ebene bewegt werden kann und auf der Medienkammer MR, Reaktionskammer RK und Auskoppelvorrichtung IO so angebracht sind, dass die Richtung des Ionenstrahls IS durch Bewegung um eine vertikale Achse und ggf. auch um einen horizontale Achse einstellbar ist. Auf diese Weise ist der Ionenstrahl IS frei in der Vakuumkammer VK bewegbar. Durch die Positionsveränderung kann auch die Spotgröße des Ionenstrahls IS auf dem Substrat SU bestimmt werden.
  • Bevorzugt handelt es sich, wie vorliegend, bei der Vakuumkammer VK um die Vakuumkammer eines Rasterelektronenmikroskopes, so dass mit Hilfe des Elektronenstrahls ES der Prozess beobachtet werden kann. Ferner wird bevorzugt der Prozess, wie vorliegend, mittels eines PCs als Steuereinheit PC gesteuert. Dabei umfasst die Prozessteuerung die Lageregelung des Ionenstrahlspots über die mobile Plattform. Das Vakuum in der Vakuumkammer VK wird im vorliegenden Ausführungsbeispiel durch eine Vakuumpumpe PU erzeugt.
  • Wie vorstehend erläutert sind dies Möglichkeiten der Umsetzung der Erfindung, auf die die Erfindung aber nicht beschränkt ist. Beispielsweise ist weiterhin denkbar, dass die Medienkammer MR aus mehreren Kammern für unterschiedliche Medien besteht, die unterschiedlich angesteuert werden können.
  • Das Druckgefälle zwischen Medienkammer MR, Reaktionskammer RK, Auskoppelvorrichtung IO und Vakuumkammer VK, das z. B. im Bereich von 10–6 bis 100mbar liegt, kann durch unterschiedliche Partialdrücke zwischen Medienkammer MR, Reaktionskammer RK und Auskoppelvorrichtung IO realisiert sein, die z. B. durch Temperaturerhöhung, Volumenverkleinerung und/oder chemische Reaktionen der Teilchen entstehen können. Der Ionenstrahl IS kann durch den Druckunterschied zwischen Auskoppelvorrichtung IO auf das Substrat SU zustande kommen.
  • In der Reaktionskammer RK müssen nicht notwendigerweise chemische oder physikalische Prozesse ablaufen, z. B. können Medien auch auskondensiert werden.
  • Bei der Auskoppelvorrichtung IO kann es sich auch um eine Blende handeln, mit der Ionenstrahlen, z. B. in der Größenordnung von 100 μm oder kleiner, ausgekoppelt werden können.
  • Statt einer mobilen Plattform MP, wie im gezeigten Ausführungsbeispiel, kann auch ein andersartiger Antrieb zur Anwendung kommen. Es ist z. B. auch denkbar, dass die Richtung des Ionenstrahls IS durch die Auskoppelvorrichtung IO gesteuert wird. Dies kann z. B. durch elektrische oder magnetische Felder realisiert sein. Zusätzlich oder alternativ zur Einstellbarkeit der Richtung des Ionenstrahls IS kann auch das Substrat SU so angebracht sein, dass seine Position einstellbar ist.
  • Durch die Erfindung wird also erreicht, dass unterschiedliche Materialien im Mikro- und Nanometerbereich bearbeitet werden können. Außerdem werden die Kosten zur Prototypenherstellung minimiert und es entfällt die zeitaufwendige Herstellung von Masken, sowie die Abstimmung und Optimierung der Einzelprozesse aufeinander. Gleichzeitig ist es durch den modularen Aufbau möglich, die Flexibilität des Aufbaus erheblich zu erhöhen.

Claims (11)

  1. Vorrichtung zur Herstellung von 3D-Strukturen auf Materialien im Mikro- oder Nanometerbereich mittels Ionenstrahlen, mit einer Vakuumkammer, in der angeordnet sind – eine Medienkammer zum Bevorraten eines oder mehrerer Medien, – eine Reaktionskammer zur Erzeugung eines Ionenstrahls aus dem der Reaktionskammer von der Medienkammer zugeführten Medium oder Mediengemisch, und – eine Auskoppelvorrichtung zum Auskoppeln eines Ionenstrahls aus der Reaktionskammer in Richtung des zu bearbeitenden Materials, wobei Winkel und Orientierung zwischen dem Ionenstrahl und dem Material zueinander einstellbar sind.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Vakuumkammer Teil eines Rasterelektronenmikroskopes ist.
  3. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der zwischen der Medienkammer und der Reaktionskammer wenigstens im Betrieb ein Druckgefälle vorgesehen ist zum Zuführen eines oder mehrerer Medien aus der Medienkammer in die Reaktionskammer.
  4. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der die Medienkammer, die Reaktionskammer und die Auskoppelvorrichtung beweglich gelagert sind, insbesondere auf einer mobilen Plattform, um Winkel und Orientierung des Ionenstrahls einzustellen.
  5. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der die Auskoppelvorrichtung ausgestaltet ist zur Auskopplung und Einstellung von Winkel und Orientierung des Ionenstrahls.
  6. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der die Auskoppelvorrichtung eine Ionenoptik zum Fokussieren des Ionenstrahls mittels elektrischer und/oder magnetischer Felder ist.
  7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei der die Auskoppelvorrichtung eine Blende zum Auskoppeln eines Ionenstrahls ist.
  8. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der die Medienkammer mehrere Kammern zum Bevorraten mehrerer Medien beinhaltet.
  9. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei der die Erzeugung des Ionenstrahls mittels eines Plasmas erfolgt.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 9, bei der das Plasma mittels eines elektrischen Lichtbogens oder eines Lasers erzeugt wird.
  11. Verfahren zur Herstellung von 3D-Strukturen auf Materialien im Mikro- oder Nanometerbereich mittels Ionenstrahlen, mit den Schritten – Bevorraten eines oder mehrerer Medien in einer Medienkammer, – Zuführen mindestens eines der Medien in eine Reaktionskammer, – Erzeugung eines Ionenstrahls aus dem der Reaktionskammer von der Medienkammer zugeführten Medium oder Mediengemisch in der Reaktionskammer, und – Auskoppeln eines Ionenstrahls aus der Reaktionskammer in Richtung des zu bearbeitenden Materials, wobei die Medienkammer, die Reaktionskammer und die Auskoppelvorrichtung in der Vakuumkammer angeordnet sind, und Winkel und Orientierung zwischen dem Ionenstrahl und dem Material zueinander einstellbar sind.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101846635A (zh) * 2010-05-07 2010-09-29 中国科学院半导体研究所 一种超高真空多功能综合测试系统

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US6039000A (en) * 1998-02-11 2000-03-21 Micrion Corporation Focused particle beam systems and methods using a tilt column
EP1367629A2 (de) * 2002-05-31 2003-12-03 Fei Company Vorrichtung zum Kippen eines Strahlgerätes

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