Allgemeine
Beschreibung der Erfindung
Vor
diesem Hintergrund hat sich die vorliegende Erfindung daher zur
Aufgabe gestellt, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimung
der Träger-Einhüllende-Phase
eines, insbesondere ultrakurzen, Laserpulses bereitzustellen, welche
die oben genannten Nachteile des Standes des Technik vermeiden.
Das
Verfahren und die Vorrichtung zu dessen Ausführung sollen zudem einfach
und kostengünstig
zu verwenden sein.
Insbesondere
soll das Verfahren und die Vorrichtung die Verwendung von aufwendigen
Vakuumanlagen vermeiden und insbesondere geeignet sein, unter Atmosphärendruck
durchführbar
bzw. anwendbar zu sein.
Dies
umfaßt
zudem das Ziel, die Verwendung von standardisierten Bauteilen, insbesondere die
Verwendung von standardisierten Elektronikmodulen und standardisierten
optischen Bauteilen, wie beispielsweise Linsen oder Spiegeln zu
ermöglichen.
Bei
Kenntnis der Träger-Einhüllende-Phase eines
jeden Laserpulses könnte
eine aufwendige Stabilisierung eines Lasers entfallen. Beispielsweise kann
in einem Experiment die entsprechende Träger-Einhüllende-Phase jedes einzelnen
Laserpulses in dem Meßergebnis
mit eingerechnet bzw. berücksichtigt
werden.
Jedoch
sind auch die erfindungsgemäße Vorrichtung
und das erfindungsgemäße Verfahren
integrierbar bzw. anwendbar in Lasersystemen zum Steuern oder Regeln,
dabei insbesondere zum Stabilisieren, der Träger-Einhüllenden-Phase eines Laserpulses,
so daß die
Träger-Einhüllende-Phase
direkt auf die gewünschten
Anforderungen angepaßt
werden kann,
Gelöst wird
diese Aufgabe auf überraschend einfache
Weise bereits durch die Vorrichtung zur Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase
eines ultrakurzen Laserpulses gemäß den Merkmalen des Anspruchs
1 und das Verfahren gemäß dem Anspruch 26
zur Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase eines
ultrakurzen Laserpulses. Vorteilhafte Ausführungsformen sind Gegenstand
der jeweiligen Unteransprüche.
In
einer ersten Ausführungsform
umfaßt
die Erfindung eine Vorrichtung zur Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase
eines Laserpulses, insbesondere eines ultrakurzen Laserpulses. Die
Vorrichtung umfaßt
ein Target, auf welches der Laserpuls richtbar ist, so daß im Wechselwirkungsbereich
des Laserpulses mit dem Target ein Plasma erzeugt wird und dadurch
eine elektromagnetische Strahlung, insbesondere eine gepulste elektromagnetische
Strahlung aus bzw. von dem Plasma emittiert wird, einen Detektor
zum Nachweisen der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen
Strahlung und eine Auswerteeinrichtung, welche ausgebildet ist zum
Bestimmen der Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses mittels der charakterisierenden Eigenschaften der
detektierten elektromagnetischen Strahlung.
Unter
einem Laser wird dabei eine Quelle kohärenter elektromagnetischer
Strahlung verstanden, die sich insbesondere auch über den
sichtbaren Bereich hinaus bis in die angrenzenden Bereiche des langwelligen
elektromagnetischen Spektrums, bis hin zu einschließlich Infrarot
und Ferninfrarot, und des kurzwelligen elektromagnetischen Spektrums,
bis hin zu etwa einschließlich
Ultraviolett- und Röntgenstrahlung,
erstreckt. Dementsprechend weist der Laserpuls bzw. die Trägerwelle
des Laserpulses eine Wellenlänge
von 10–12 m
bis 10–3 m,
bevorzugt von 10–10 m bis 10–5 m
und besonders bevorzugt von 10–7 m bis 10–5 m
auf.
Ein
ultrakurzer Laserpuls bestimmt sich dabei durch die in einem Laserpuls
bzw. in der Einhüllenden
eines Laserpulses enthaltene Anzahl der Schwingungen des elektromagnetischen
Feldes bzw. der elektrischen Feldamplitude der Trägerwelle
des Laserpulses. In der Einhüllenden
des Laserpulses sind ein Bruchteil einer Schwingung bis zu einigen Schwingungen
des elektromagnetischen Feldes der Trägerwelle des Laserpulses enthalten.
Einige Schwingungen umfassen dabei 1 bis 10, bevorzugt 1 bis 5 und
besonders bevorzugt 1 bis 2 Schwingungen des elektromagnetischen
Feldes des Laserpulses bzw, der Trägerwelle des Laserpulses in
der Einhüllenden
des Laserpulses.
Unter
Berücksichtigung
der Trägerwellenlänge des
Laserlichts weist somit der Laserpuls eine Laserpulslänge bzw.
eine Dauer von 10–21 s bis 10–12 s, bevorzugt
von 10–19 s
bis 10–14 s
und besonders bevorzugt von 10–16 s bis 10–14 s
auf. Der Wert der Laserpulslängen
bezieht sich dabei auf die volle Halbwertsbreite (engl. „Full Width
at Half Maximum: FWHM").
Der
physikalische Hintergrund einer aus einem Plasma emittierten, insbesondere
gepulsten, elektromagnetischen Strahlung, welche vorzugsweise Frequenzkomponenten
im THz-Bereich aufweist, kann
wie folgt erläutert
werden. Im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses mit dem Target
werden die Atome und/oder Moleküle
des Targets durch einen Laserpuls ausreichend starker Intensität bzw. ausreichend
hoher Energie ionisiert.
- a) Ein Emissionsmechanismus
der gepulsten elektromagnetischen Strahlung aus dem Plasma beruht
auf der Beschleunigung der Ladungsträger im Plasma in Richtung der
Intensitätsgradienten durch
ponderomotive Kräfte.
Sie basieren auf den räumlichen
und zeitlichen Änderungen
der ponderomotiven Energie. Dabei wird die oszillatorische Energie,
die beispielsweise ein Elektron in einem elektromagnetischen Wechselfeld,
hier im elektromagnetischen Wechselfeld des Laserpulses, besitzt
als ponderomotive (lateinisch: gewichtsbewegend) Energie bezeichnet.
Dieses ist ein radialsymmetrischer Effekt und führt daher zu Emission einer
elektromagnetischen Strahlung, insbesondere mit Frequenzkomponenten
im THz-Bereich,
in einem kegelförmigen
Bereich rund um die Strahlachse. Diese Emission ist immer vorhanden.
Entlang der Strahlachse in Vorwärtsrichtung verschwindet
dieser Beitrag aus Symmetriegründen.
- b) Mit einem im Wechselwirkungsbereichs des Laserpulses mit
dem Target zusätzlich
angelegten externen statischen elektrischen Feld wird das Plasma,
wegen einer Feldabschirmung im Plasma, polarisiert. Dies führt zur
Abstrahlung einer, insbesondere gepulsten, elektromagnetischen Strahlung,
vorzugsweise mit Frequenzkomponenten im THz-Bereich, auch in Vorwärtsrichtung, d.h.
entlang der Strahlachse des Laserstrahls. Polarität und Feldstärke der
emittierten elektromagnetischen Strahlung sind proportional zum
externen elektrischen Feld.
- c) Eine weitere Möglichkeit
zur Erzeugung einer aus dem Plasma emittierten, insbesondere gepulsten,
elektromagnetischen Strahlung, vorzugsweise mit Frequenzkomponenten
im THz-Bereich, ist die Überlagerung
eines Laserpulses mit seiner eigenen zweiten Harmonischen. Das erzeugt
eine Feldasymmetrie, vergleichbar mit der Feldverteilung eines ultrakurzen
Laserpulse. Dabei werden fast alle Teilchen des Targets beispielsweise
bei positiver Laserfeldstärke
ionisiert und dann gleich von der optischen Laserfeldstärke in positive
Richtung beschleunigt. Diese Asymmetrie führt zur Polarisierung des Plasmas
senkrecht zur Strahlachse und zur Abstrahlung einer gepulsten elektromagnetischen
Strahlung, insbesondere in Vorwärtsrichtung,
d.h. entlang der Strahlachse des Laserstrahls.
Die
unter c) genannte Erläuterung
kann zum Verständnis
der physikalischen Grundlagen der Erfindung herangezogen werden.
Der Unterschied besteht darin, daß die Feldasymmetrie nicht
erst „künstlich" durch Überlagerung
der zweiten Harmonischen erzeugt wird, sondern schon ein ultrakurzer
Laserpuls selbst eine deutliche Feldasymmetrie aufweist oder aufweisen
kann.
In
einem vereinfachten Bild läßt sich
somit die Emission der gepulsten elektromagnetischen Strahlung damit
erklären,
daß ein
intensiver ultrakurzer Laserpuls einen großen Dichteunterschied zwischen
der im Plasma generierten elektronischen Ladung und ionischen Ladung
und somit ein polarisiertes Plasma erzeugt, wenn der Puls ausreichend
kurz bzw. utltrakurz ist, um die Ionen über ihre Trägheit einzuschließen. Die
Ladungstrennung resultiert in ein Einschwingen des Plasmas, welches
unter Aussendung einer gepulsten elektromagnetischen Strahlung relaxiert.
Die
Amplitude und/oder die Polarität
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung enthält bzw.
enthalten Informationen über
die Träger-Einhüllende-Phase
des verwendeten Laserpulses. Somit kann durch Nachweisen und Auswerten
der charakterisierenden Eigenschaften, insbesondere der Amplitude
und/oder der Polarität,
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung die
Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses bestimmt werden. Insbesondere kann sogar die absolute
Träger-Einhüllende-Phase des Laserpulses
bestimmt werden.
Da
das Bestimmen der Träger-Einhüllende-Phase
eines Laserpulses mittels der aus dem Plasma detektierten elektromagnetischen
Strahlung erfolgt, erfordert die erfindungsgemäße Vorrichtung keine Verwendung
von aufwendigen Vakuumanlagen und ist insbesondere geeignet, unter
Atmosphärendruck
betrieben zu werden. Ein Betrieb der vorliegenden Vorrichtung in
anderen Druckverhältnissen
ist aber auch möglich.
Die
Energie, die notwendig ist, um das Plasma zu erzeugen, ist unter
anderem abhängig
vom verwendeten Target.
In
einer Ausführungsform
liegt das Target als ein Fluid vor, insbesondere umfaßt das Target
dabei ein Gas oder das Target liegt gasförmig vor. Als bevorzugte Gase
kommen dabei Luft, Argon und/oder Stickstoff in Betracht.
Da
der Betrieb der erfindungsgemäßen Vorrichtung
unter Atmosphärendruck
möglich
ist, kann sogar als Target direkt die Luft bzw. die Umgebungsluft
verwendet werden.
Das
gasförmige
Target kann aber auch in der Wechselwirkungszone einen erhöhten oder
verminderten Druck aufweisen. Beispielsweise kann das Target in
der Wechselwirkungszone in einer Art Druckbehälter, welcher transparent für den Laserpuls und
die aus dem Plasma emittierte Strahlung ist, vorliegen oder als
ein Gasstrahl erhöhter
Teilchendichte vorliegen. Das Gas weist dabei im Wechselwirkungsbereich
des Laserpulses mit dem Target einen Druck von 10–3 mbar
bis 106 mbar, bevorzugt von 10 mbar bis
105 mbar und besonders bevorzugt von 800
mbar bis 1200 mbar auf.
Zur
Kalibrierung und/oder zur Unterdrückung von Störsignalen
und Fluktuationen kann in einer Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses mit dem Target
zusätzlich
ein externes elektrisches, insbesondere ein statisches elektrisches,
Feld angelegt sein. Das elektrische Feld weist einen Wert von 1 kV/cm
bis 100 kV/cm, bevorzugt von –5
kV/cm bis 20 kV/cm und besonders bevorzugt von 9 kV/cm bis 11 kV/cm
auf. Das externe elektrische Feld ist dabei vorzugsweise senkrecht
oder im wesentlichen senkrecht zur Strahlrichtung angelegt.
In
einer weiteren Ausführungsform
liegt das Target als ein Festkörper
vor, auf den der Laserpuls gerichtet ist. Mögliche Materialien des Festkörpers umfassen
dabei Aluminium und/oder Glas.
Wie
bereits erwähnt
ist die notwendige Energie zum Erzeugen eines Plasmas unter anderem
abhängig
vom verwendeten Target. Der Laserpuls weist dabei eine Energie bzw.
deponiert im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses mit dem Target
eine Energie von 5 μJ
bis 1500 μJ,
bevorzugt von 50 μJ
bis 500 μJ
und besonders bevorzugt von 10 μJ
bis 250 μJ.
Wesentlich
ist dabei nicht nur die Energie des Laserpulses selbst zum Erzeugen
des Plasmas, sondern auch die im Wechselwirkungsbereich eingebrachte
bzw. deponierte Energie pro Fläche.
Um eine erhöhte
Energie pro Fläche
zu erzeugen, weist die Vorrichtung zumindest ein in Stahlrichtung
vor dem Target positioniertes erstes optisches Element zum Fokussieren
und/oder, sofern dieses Merkmal erforderlich ist, zum Lenken bzw.
Richten des Laserpulses auf. Das genannte optische Element umfaßt dabei insbesondere
eine Linse, einen Spiegel oder einen fokussierenden Spiegel. Somit
ist der Laserpuls fokussiert auf das Target gerichtet. Der Laserpuls
ist dabei im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses mit dem Target,
vorzugsweise mit dem genannten ersten optischen Element, auf einen
Durchmesser von 0,01 μm
bis 1000 μm,
bevorzugt von 0,1 μm
bis 100 μm
und besonders bevorzugt von 1 μm
bis 10 μm fokussierbar.
Der
ultrakurze Laserpuls erzeugt bei ausreichender Energie in dem Wechselwirkungsbereich des
Laserpulses mit dem Target ein Plasma, aus welchem eine elektromagnetische
Strahlung emittiert wird. Die aus dem Plasma emittierte elektromagnetische
Strahlung weist eine Frequenz auf, welche in einem Frequenzbereich
von 105 Hz bis 1020 Hz,
bevorzugt von 1010 Hz bis 1015 Hz
und besonders bevorzugt von 1011 Hz bis
1014 Hz liegt. Die aus dem Plasma emittierte
Strahlung ist dabei insbesondere gepulst.
Der
Detektor zum Nachweisen der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen
Strahlung ist für
den Nachweis von Amplitude und/oder Polarität der aus dem Plasma emittierten
elektromagnetischen Strahlung ausgebildet. Der Detektor ist dabei derart
ausgebildet, so daß dieser
für den
Nachweis in einem Frequenzbereich der aus dem Plasma emittierten
elektromagnetischen Strahlung ausgebildet ist und umfaßt dabei
den für
diese elektromagnetische Strahlung genannten Frequenzbereich.
In
einer vorteilhaften Ausführungsform
ist der Detektor ein optoelektronischer Detektor. Der optoelektronische
Detektor umfaßt
dabei einen Kristall, insbesondere einen elektrooptischen Kristall,
wie beispielsweise einen ZnTe-Kristall,
oder photoleitende Antennen.
Der
optoelektronische Detektor bzw. der elektroptische Kristall des
optoelektronischen Detektors weist einen von einem auf ihn einwirkenden
elektrischen Feld, insbesondere von der Polarität und der elektrischen Feldstärke eines
elektrischen Feldes, abhängigen
Brechungsindex auf. Der Brechungsindex weist einen Wert von etwa
2,8 bis 3,2 auf.
Je
nach Aufbau der Vorrichtung zur Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase
eines Laserpulses trifft die aus dem Plasma emittierte elektromagnetische
Strahlung direkt auf den Detektor oder muß auf diesen gelenkt und/oder
fokussiert werden. Die Funktionen des Lenkens und Fokussierens sind
erreichbar durch ein optisches Element, welches beide Funktionen
in sich vereinigt oder durch eine Mehrzahl von optischen Elementen
mit jeweils unterschiedlichen Funktionen. Dementsprechend weist
die Vorrichtung zumindest ein im Strahlengang hinter dem Target
positioniertes zweites optisches Element zum Refokussieren und/oder
Lenken bzw. Richten der emittierten elektromagnetische Strahlung
auf. Dieses zweite optische Element umfaßt dabei eine Linse oder vorzugsweise
einen fokussierenden Spiegel, welcher sowohl die Funktion des Fokussierens
bzw. Refokussierens als auch die Funktion des Lenkens bzw. Richtens
in sich vereinigt.
In
einer Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wird der Laserpuls dabei nicht direkt
auf das Target gerichtet, sondern die Vorrichtung weist zusätzlich zumindest
einen in Strahlrichtung des Laserpulses vor dem Target positionierten
ersten Strahlteiler zum Aufteilen des Laserpulses in zumindest einen
ersten Teilpuls und einen zweiten Teilpuls auf. Der erste Strahlteiler
besitzt eine Transmission von 0 % bis 100 %, bevorzugt 50 % bis
100 % und besonders bevorzugt 90 % bis 100 % und einer Reflexion
von 0 % bis 100 %, bevorzugt 0 % bis 50 % und besonders bevorzugt
0 % bis 10 %.
Der
erste Teilpuls wird dabei auf das Target gerichtet, um das Plasma
zu generieren, während der
zweite Teilpuls als ein Referenzpuls auf den Detektor bzw. optoelektronischen
Detektor gelenkt bzw. geführt
wird.
Der
erste Teilpuls und der zweite Teilpuls weisen dabei, mit Ausnahme
der Intensität,
die gleichen Eigenschaften, insbesondere die gleiche Polarisation
wie der ursprüngliche
Laserpuls auf.
Die
vorliegende Erfindung zeichnet sich auch dadurch aus, daß die Dispersion
des ersten Strahlteilers vorkompensiert ist, so daß die Pulslänge bzw.
Dauer des Laserpulses im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses
mit dem Target minimal wird. In einer bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung ist die Dispersion aller optischen Komponenten
im Strahlenlauf des Laserpulses, des ersten Teilpulses und des zweiten
Teilpulses derart vorkompensiert, so daß die Pulslänge bzw. Dauer des Laserpulses
im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses mit dem Target und/oder
beim Austreffen auf den optoelektronischen Detektor minimal wird
bzw. eine Pulsverbreiterung vermieden wird.
Je
nach Aufbau der erfindungsgemäßen Vorrichtung
trifft der zweite Teilpuls direkt auf den Detektor oder muß auf diesen
gelenkt und/oder fokussiert werden. Die Funktionen des Lenkens und
Fokussierens sind erreichbar durch zumindest ein optisches Element,
welches beide Funktionen in sich vereinigt oder durch eine Mehrzahl
von optischen Elementen mit jeweils unterschiedlichen Funktionen.
Dementsprechend
weist die Vorrichtung zumindest ein im Strahlengang hinter dem ersten Strahlteiler
positioniertes optisches Element zum Fokussieren und/oder Lenken
bzw. Richten des zweiten Teilpulses auf. Dieses optische Element
umfaßt
dabei eine Linse, einen Spiegel oder einen fokussierenden Spiegel.
Um
zu erreichen, daß der
zweite Teilpuls als Referenzpuls im wesentlichen zeitgleich mit
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung auf
den Detektor oder auf den elektrooptischen Kristall trifft, weist
die Vorrichtung zudem zumindest eine erste Verzögerungseinrichtung, beispielsweise ausgestaltet
als mechanische Verzögerungsstrecke, zum
Verzögern
des zweiten Teilpulses auf. Die erste Verzögerungseinrichtung ist dabei
insbesondere Teil des optoelektronischen Detektors. Die Zeitverzögerung ist
dabei vorzugsweise so einstellbar bzw. so eingestellt, daß die elektrische
Feldstärke
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung zum
Zeitpunkt ihrer maximalen Feldstärke
gemessen wird.
Die
Vorrichtung weist, insbesondere als Teil des optoelektronischen
Detektors, zudem einen Polarisator, welcher in Strahlrichtung des
zweiten Teilpulses vor seinem Auftreffen auf den elektrooptischen
Kristall positioniert ist, zum Prüfen bzw. Analysieren der Polarisation
bzw. der Polarisationsebene des zweiten Teilpulses auf. Der Polarisatior
umfaßt dabei
beispielsweise einen Glan-Laser-Polarisator.
Die
optoelektronische Detektion der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen
Strahlung basiert auf der Änderung
des Brechungsindexes, also auf der Änderung der Ausbreitungsgeschwindigkeit
einer elektromagnetischen Welle in nicht-linearen optischen Kristallen,
hier als Teil des optoelektronischen Detektors, unter dem Einfluß eines äußeren bzw.
externen elektrischen Feldes. Das elektrische Feld der aus dem Plasma
emittierten elektromagnetischen Strahlung stellt ein in Bezug zur
Pulslänge des
zweiten Teilpulses, quasistatisches, d.h. im Vergleich zum Laserfeld
des zweiten Teilpulses deutlich langsamer veränderliches, elektrisches Feld
dar.
Das
elektrische Feld bzw. der elektrische Feldvektor bedingt eine Änderung
des Brechungsindexes des optoelektronischen Detektors bzw. des elektrooptischen
Kristalls. Das Maß der Änderung des
Brechungsindex ist dabei abhängig
von der Amplitude und/oder der Polarität des elektrischen Feldvektors
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Welle.
Die Änderung
des Brechungsindexes führt zu
einer Polarisationsänderung
bzw. zu einer Drehung der Polarisationsebene des zweiten Teilpulses des
Laserlichts bzw. des Laserpulses, welcher im wesentlichen zeitgleich auf
den elektrooptischen Kristall trifft. Die Änderung der Polarisation bzw.
das Maß der Polarisationsänderung
des zweiten Teilpulses stellt ein Maß für die Amplitude und/oder die
Polarisation der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen
Welle dar. Und da die Amplitude und/oder die Polarisation der aus
dem Plasma emittierten elektromagnetischen Welle ein Maß für die Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses ist, kann die Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses auf diese Art bestimmt werden.
Um
die Polarisationsänderung
bzw. Polarisationsdrehung des zweiten Teilpulses zu erfassen, weist
der optoelektronische Detektor eine zweite Verzögerungseinrichtung, insbesondere
eine λ/4-Verzögerungplatte,
auf. Verzögerungsplatten
sind im allgemeinen dünne
Schichten aus doppelbrechenden Kristallen, die so geschnitten sind,
daß in
Bezug zur optischen Achse des Kristalles eine Polarisationskomponente
einer einfallenden Welle, hier des zweiten Teilpulses, um einen
gewissen Betrag, hier um λ/4,
verzögert
wird, wobei λ die
Wellenlänge
des zweiten Teilpulses ist. Dies führt zu einer Änderung der
Polarisation, so daß der
zweite Teilpuls nach dem Durchlaufen des elektrooptischen Kristalls
mittels der zweiten der λ/4-Verzögerungplatte
elliptisch, insbesondere zirkular polarisiert ist.
Die
Polarisationsdrehung des als Referenzpuls dienenden zweiten Teilpulses,
welches ein Maß für das elektrische
Feld der aus dem Plasma emittierten Strahlung darstellt, wird mittels
zumindest eines polarisierenden Strahlteilers, als Teil des erfindungsgemäßen Detektors,
ermittelt. Dabei wird der in den polarisierenden Strahlteiler eintretende
zweite Teilpuls derart aufgespalten, so daß die Komponenten des zweiten
Teilpulses separat nachgewiesen werden können.
Dies
umfaßt
dabei insbesondere, daß eine Komponente,
in Bezug zur optischen Achse des polarisierenden Strahlteilers,
des zweiten Teilpulses transmittiert und eine Komponente, in Bezug
zur optischen Achse des polarisierenden Strahlteilers, des zweiten
Teilpulses reflektiert wird. Der erfindungsgemäße polarisierende Strahlteiler
umfaßt
dabei vorzugsweise ein Wollastan-Prisma.
Die
beiden Komponenten des zweiten Teilpulses treffen dann jeweils auf
einen Photodetektor. Dementsprechend umfaßt der Detektor bzw. der elektrooptische
Detektor zumindest zwei Photodetektoren. Die Photodetektoren sind
dabei vorzugsweise als Photodioden ausgebildet.
Ist
die Zeitverzögerung
des zweiten Teilpulses derart eingestellt, daß die elektrische Feldstärke zum
Zeitpunkt der maximalen Signalstärke,
d.h. bei im wesentlichen gleicher Ankunftszeit der aus dem Plasma
emittierten elektromagnetischen Strahlung und des zweiten Teilpulses
am elektrooptischen Kristall gemessen wird, so ist die Differenz
der auf die Photodetektoren fallenden Intensität des als Referenzpuls dienenden
zweiten Teilpulses proportional zur maximalen Feldstärke der
genannten elektromagnetischen Strahlung.
Zum
Auswerten der gemessenen Daten bzw. der mit den Photodetektoren
erfaßten
Intensitäten weist
die erfindungsgemäße Vorrichtung
eine Auswerteeinrichtung auf, die die Intensitätsdifferenz für jeden
Laserpuls erfaßt
und dabei entsprechend hergerichtet zum Auswerten der gemessen Daten
ist, so daß sie
zumindest ein Ausgangssignal generiert, welches ein Maß für die Träger-Einhüllende-Phase des
Laserpulses ist.
Die
Auswerteeinrichtung umfaßt
dazu zunächst
einen Differenzverstärker,
der die Differenz zwischen den beiden Ausgangssignalen der beiden Photodetektoren
bzw. die Differenz zwischen den von den beiden Photodetektoren erfaßten Intensitäten bildet
und das Differenzsignal verstärkt.
Der
ermittelte Wert der Differenz ist dann ein Maß für die Polarisationsdrehung
des zweiten Teilpulses in Bezug zu dem Differenzwert eines zweiten Teilpulses,
der ohne Polarisationsdrehung, d.h. ohne das Vorhandensein der aus
dem Plasma emittierten elektromagnetischen Welle, auf den optoelektronischen
Detektor bzw. den elektrooptischen Kristall aufgetroffen und durch
diesen hindurch getreten ist.
Zur
Weiterverarbeitung der Daten umfaßt die Auswerteeinrichtung
einen dem Differenzverstärker sich
anschließenden
Analog-Digital-Wandler und einen Computer.
Der
Computer ist dabei so hergerichtet, daß dieser die gemessenen und
vom Analog-Digital-Wandler digitalisierten Intensitätsdifferenzen
für jeden
Laserpuls erfaßt
und ist dabei entsprechend hergerichtet zum Auswerten der gemessen
Daten, so daß er
zumindest ein Ausgangssignal generiert, welches ein Maß für die Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses ist.
Weiterhin
umfaßt
die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase,
vorzugsweise unter Verwendung der Vorrichtung gemäß einem
der vorstehenden Ansprüche, eines,
insbesondere ultrakurzen, Laserpulses. Das Verfahren umfaßt das Richten
des Laserpulses auf ein Target, so daß im Wechselwirkungsbereich
des Laserpulses mit dem Target ein Plasma erzeugt wird und dadurch
elektromagnetische Strahlung, insbesondere gepulste elektromagnetische
Strahlung aus bzw. von dem Plasma emittiert wird, Nachweisen der emittierten
elektromagnetischen Strahlung und Bestimmen der Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses mittels der charakterisierenden Eigenschaften der
emittierten elektromagnetischen Strahlung.
Die
Amplitude und/oder die Polarität
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung enthalten
die Informationen über
die Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses. Insbesondere wird bzw. werden daher die Amplitude
und/oder die Polarität
der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung bestimmt
bzw. festgestellt.
Vorzugsweise
wird bzw. werden die Amplitude und/oder die Polarität der emittierten
elektromagnetischen Strahlung mittels optoelektronischer Techniken,
insbesondere mittels eines optoelektronischen Detektors festgestellt.
Gegenstand
der vorliegende Erfindung ist ebenfalls auch ein Lasersystem, welches
einen Laser und eine Vorrichtung gemäß einem der vorstehenden Ansprüche umfaßt, wobei
die Träger-Einhüllende-Phase
des Laserpulses mittels der Vorrichtung gesteuert und/oder geregelt,
insbesondere stabilisiert, wird.
Zusätzlich umfaßt die Erfindung
auch die Verwendung des Verfahrens nach einem der vorstehenden Ansprüche in einem
Lasersystem zum Steuern und/oder Regeln, insbesondere zum Stabilisieren,
der Träger-Einhüllende-Phase
eines Laserpulses.
Die
vorliegende Erfindung wird anhand der nachfolgenden Ausführungbeispiele
im Einzelnen erläutert.
Hierzu wird auf die beigefügten
Zeichnungen Bezug genommen. Die gleichen Bezugszeichen in den einzelnen
Zeichnungen beziehen sich auf die gleichen Teile.
1 zeigt
eine schematische Darstellung eines ultrakurzen Laserpulses.
2 zeigt
beispielhaft die erwartete Feldstärke der aus dem Plasma emittierten
elektromagnetischen Strahlung als Funktion der Träger-Einhüllende-Phase.
3 zeigt
eine schematische Darstellung einer beispielhaften Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
4 zeigt
eine schematische Darstellung einer weiteren beispielhaften Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
5 zeigt
eine Detailansicht der Auswerteeinrichtung 12 aus 4.
Detaillierte
Beschreibung der Erfindung
1 zeigt
schematisch den Intensitätsverlauf
zweier ultrakurzer Laserpulse 1 als Funktion der Zeit.
Der Laserpuls 1 ist gekennzeichnet durch die Einhüllende 2,
dargestellt als gestrichelte Linie und die Trägerwelle 3, dargestellt
als durchgezogene Linie. Die absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 ergibt sich
aus der Verschiebung und/oder der Orientierung der Trägerwelle 3 gegenüber der
Einhüllenden 2 bzw. aus
der absoluten Phase der Trägerwelle 3 des
Laserpulses 1 in Bezug zur Einhüllenden 2 des Laserpulses 1.
Bei
nicht ultrakurzen Laserpulsen 1 ist die absolute Phase
der Trägerwelle 3 in
Bezug zur Einhüllenden 2 nicht
von großer
Bedeutung. Dagegen spielt dies eine wichtige Rolle für ultrakurze
Laserpulse 1, da bei solch kurzen Laserpulsen 1 während der Dauer
eines Laserpulses 1 nur wenige Schwingungen des elektromagnetischen
Feldes der Trägerwelle 3 oder
sogar nur ein Bruchteil einer Schwingung innerhalb des Laserpulses 1 stattfinden.
Daraus ergibt sich, daß die
zeitliche Änderung
des Laserfeldes entscheidend von der Phase der Trägerwelle 3 des
Laserpulses 1 in Bezug zur Einhüllenden 2 des Laserpulses 1,
der sogenannten absoluten Träger-Einhüllende-Phase 4,
abhängig
ist. 2 zeigt beispielhaft die erwartete Feldstärke der
aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung 8,
insbesondere einer gepulsten elektromagnetischen Strahlung im Terahertz-Bereich, im Signalmaximum
als Funktion der Träger-Einhüllende-Phase 4.
In der Figur sind zudem beispielhafte Laserpulse 1, deren
Trägerwelle 3 eine
zu der Einhüllenden 2 des
Laserpulses 1 unterschiedliche Phase aufweisen, eingefügt. Die
gemessenen Feldstärken
sind dann im wesentlichen proportional zum Sinus der absoluten Träger-Einhüllende-Phase 4.
Dies liegt darin begründet,
daß aufgrund
der Feldasymmetrie des optischen Laserpulses bzw. der Feldverteilung
der Trägerwelle 3 bei
der Träger-Einhüllende-Phase 4 von –90 Grad
(+90 Grad) nach der Ionisierung deutlich mehr Elektronen in positiver
(negativer) Polarisationsrichtung beschleunigt werden. Dieses führt zu einer
elektrischen Polarisierung und damit zu einer Abstrahlung einer elektromagnetischen
Strahlung aus dem Plasma bzw. eines Pulses mit Frequenzkomponenten
im Terahertz-Bereich. Die Feldstärke
im Signalmaximum hängt
dabei im wesentlichen vom Sinus der absoluten Träger-Einhüllende-Phase 4 ab.
Der
Mechanismus, welcher zur Abstrahlung einer gepulsten elektromagnetischen
Strahlung 8, insbesondere im Terahertz-Bereich, bei der Erzeugung von Plasmen
mittels der Fokussierung ultrakurzer Laserpulse führt, bedingt,
daß Größe und Vorzeichen
der erzeugten elektromagnetischen Strahlung 8 von der absoluten
Träger-Einhüllende-Phase 4 eines ultrakurzen
Laserpulses 1 abhängen.
Weist
ein ultakurzer Puls einen zeitlichen Verlauf der optischen Laserfelder
auf, der stark asymmetrisch ist, so ändern sich je nach Grad und Polarität der Asymmetrie
die Amplitude und Polarität des
erzeugten Terahertzpulses bzw. der aus dem Plasma emittierten gepulsten
elektromagnetischen Strahlung 8 mit Frequenzkomponenten
im Terahertz-Bereich. Dementsprechend erfolgt die experimentelle
Bestimmung der Träger-Einhüllende-Phase 4 mittels
der Detektion der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen
Strahlung 8.
3 zeigt
eine schematische Darstellung einer möglichen Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Ein Laserstrahl, typische Trägerwellenlänge etwa
800 nm, mit den zu untersuchenden intensiven, etwa größer als
50 μJ, und
ultrakurzen, etwa kleiner bzw. kürzer
als 10 fs, Laserpulsen 1 durchläuft einen ersten Stahlteiler 5 und
teilt sich in einen ersten Teilpuls 1a und einen zweiten
Teilpuls 1b, der die Funktion eines Referenzpulses übernimmt,
auf. Bei den typischen Trägerwellenlängen von
etwa 800 nm weist ein Laserpuls mit einer Dauer bzw. Pulslänge von
etwa 10 fs schon etwa 3 Schwingungen des elektromagnetischen Feldes
der Trägerwelle
auf bzw. sind etwa 3 Schwingungen des elektromagnetischen Feldes
der Trägerwelle
in einem Laserpuls enthalten. Vorteilhafter wäre dabei ein Laserpuls mit
einer Dauer von etwa 6 fs, in dem nur 2 Schwingungen des elektromagnetischen
Feldes der Trägerwelle
enthalten sind. Der erste Teilpuls 1a des Laserpulses 1 wird
mittels eines ersten optischen Elements 6, hier ausgestaltet
als eine Linse, auf das Target 7, vorliegend als ein Gas
oder Umgebungsluft fokussiert. Im Wechselwirkungsbereich des ersten Teilpulses 1a des
Laserpulses 1 mit der Target 7, d.h. im Brennpunkt
der Linse entsteht ein Plasma, welches pulsförmige elektromagnetische Strahlung 8, insbesondere
mit Frequenzkomponenten im Terahertz-Bereich, sogenannte Terahertz-Strahlung, emittiert.
Die Amplitude und Polarität
der elektromagnetischen Strahlung 8 enthalten die Information über die
absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 des
zu untersuchenden ultrakurzen Laserpulses 1. Mittels eines
geeigneten fokussierenden zweiten optischen Elements 9 wird
die aus dem Plasma emittierte elektromagnetische Strahlung 8 refokussiert
und mittels eines dritten optischen Elements 10, vorzugsweise ausgebildet
als ein Spiegel 7 auf den optoelektronischen Detektor 11 geleitet.
Der mit dem ersten Stahlteiler 5 generierte zweite Teilpuls 1b des
Laserpulses 1 wird als ein Referenzpuls ebenfalls auf den optoelektronischen
Detektor 11 geleitet und dort zeitlich in Überlapp
mit der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung 8 gebracht,
so daß beide
im wesentlichen zeitgleich ankommen. Die Bestimmung der Amplitude
und Polarität
des vom Plasma emittierten elektromagnetischen Impulses bzw. der
vom Plasma emittierten gepulsten elektromagnetischen Strahlung 8 im
Terahertz-Frequenzbereich erfolgt in Bezug zum zweiten Teilpuls 1b des
Laserpulses 1. Die Auswerteeinrichtung 12 ist
entsprechend hergerichtet zum Auswerten der aus dem Überlapp
des zweiten Teilpulses 1b mit der aus dem Plasma emittierten
elektromagnetischen Strahlung 8 gemessen Daten und erzeugt
ein Ausgangssignal, welches ein Maß für die absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 des
Laserpulses 1 ist.
Die
meßtechnische
Erfassung und die Kenntnis der absoluten Träger-Einhüllende-Phase 4 jedes
einzelnen Laserpulses 1 macht eine aufwendige Stabilisierung
eines Lasers, beispielsweise mittels eines f-zu-2f-Interferometer überflüssig.
Andererseits
kann aber die erfindungsgemäße Vorrichtung
auch eingesetzt werden, um in einem Regelkreis die Träger-Einhüllende-Phase 4 eines
Laserpulses 1 zu messen und diese mittels der Rückführung eines
Regelsignals in den Laser zu stabilisieren. Sollen die Signale zur
Stabilisierung der Träger-Einhüllende-Phase 4 genutzt
werden, so wird zunächst
eine Stabilisierung des Oszillator-Lasers vorgenommen; dies kann
beispielsweise wiederum mittels der genannten f-zu-2f-Interferometrie erfolgen. Werden
nun die Laserpulse 1 des stabilisierten Oszillators nachverstärkt, unterliegt
die absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 der
nachverstärkten
Laserpulse 1 einer langsamen Langzeitdrift. Die mittels
der erfindungsgemäßen Vorrichtung
oder nach dem erfindungsgemäßen Verfahren
ermittelten Werte bzw. die Ausgangssignale der Auswerteeinrichtung 12 können für die absolute
Träger-Einhüllende-Phase 4 verwendet
werden, um den Sollwert der Regelung für den Oszillator so zu regeln,
daß die
absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 der
Ausgangssignale des Verstärkers
bzw. der nachverstärkten
Laserspulse 1 konstant bleibt.
4 zeigt
eine schematische Darstellung einer weiteren beispielhaften Ausführungsform
der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
Ein Laserstrahl mit den zu untersuchenden intensiven und ultrakurzen Laserpulsen 1 wird
von einem Laser 1c bereitgestellt. Die zu untersuchenden
Laserpulse 1 weisen bei einer Zentralwellenlänge der
Trägerwelle 3 von
800 nm eine Pulslänge
bzw. Dauer von kleiner als 8 fs (FWHM) und eine Energie von größer als
50 μJ auf. Der
Laserpuls 1 durchläuft
einen ersten Strahlteiler 5 (ca. 95 % Transmission und
ca. 5 % Reflexion) und teilt sich in einen ersten Teilpuls 1a und
einen zweiten Teilpuls 1b, der die Funktion eines Referenzpulses übernimmt,
auf. Als erster Strahlteiler 5 wird ein normales dielektrisch
beschichtetes Glasplättchen
verwendet, welches beispielsweise einseitig anti-reflex-beschichtet
ist und eine Reflexion von etwa 5 % an der unbeschichteten Seite
aufweist.
Die
Dispersion aller optischen Komponenten (5, 6, 13, 14, 15)
im Strahlenlauf des Laserpulses 1, des ersten Teilpulses 1a und
des zweiten Teilpulses 1b ist dabei derart vorkompensiert,
so daß die
Pulslänge
bzw. die Dauer der Laserpulse (1, 1a, 1b)
im Wechselwirkungsbereich des Laserpulses 1a mit dem Target 7 und/oder
beim Austreffen auf den optoelektronischen Detektor 11 bzw.
beim Auftreffen des zweiten Teilpulses 1b auf den elektrooptischen
Kristall 16 minimal werden bzw. eine Pulsverbreiterung der
Laserpulse (1, 1a, 1b) vermieden wird.
Der
erste Teilpuls 1a des Laserpulses 1 wird mittels
eines ersten optischen Elements 6, hier ausgestaltet als
eine Linse, auf das Target 7, vorliegend als ein Gas oder
Umgebungsluft fokussiert. Die Linse weist dabei eine Brennweite
von etwa 40 bis 80 mm auf.
Im
Wechselwirkungsbereich des ersten Teilpulses 1a mit dem
Target 7, d.h. im Brennpunkt der Linse entsteht ein Plasma,
welches pulsförmige
elektromagnetische Strahlung 8, insbesondere mit Frequenzkomponenten
im Terahertz-Bereich, sogenannte Terahertz-Strahlung, emittiert.
Die Amplitude und Polarität
der gepulsten Terahertz-Strahlung 8 enthalten die Information über die
absolute Träger-Einhüllende-Phase 4 des
zu untersuchenden ultrakurzen Laserpulses 1. Vorzugsweise
erfolgt die Bestimmung der Amplitude und Polarität der gepulsten Terahertz-Strahlung 8 mittels
einer optoelektronischen Vorrichtung 11.
Mittels
zweier zweiter optischer Elemente 9 wird die aus dem Plasma
emittierte elektromagnetische Strahlung 8 refokussiert
und derart auf den optoelektronischen Detektor 11 geführt bzw.
gelenkt, so daß sie
fokussiert auf einen elektrooptischen Kristall 16 trifft.
Die beiden zweiten optische Elemente 9 sind als „Off-Axis"-Parabolspiegel,
welche einen Durchmesser von 50 mm Durchmesser und eine „Off-Axis"-Länge (effektive
Brennweite) von 50 mm aufweisen, ausgebildet.
Der
mit dem ersten Stahlteiler 5 generierte zweite Teilpuls 1b des
Laserpulses 1 wird als ein Referenzpuls ebenfalls auf den
optoelektronischen Detektor 11 geleitet. Der zweite Teilpuls 1b wird
im optoelektronischen Detektor 11 zeitlich in Überlapp
mit der aus dem Plasma emittierten elektromagnetischen Strahlung 8 gebracht,
so daß beide
im wesentlichen zeitgleich auf den elektrooptischen Kristall 16 treffen.
Zum Einstellen dieser Zeitverzögerung
weist der optoelektronische Detektor 11 eine erste Verzögerungseinrichtung 13 auf,
welche mittels einer mechanischen Zeitverzögerungsstrecke realisiert ist.
Zur
Kontrolle der Polarisation des zweiten Teilpulses 1b vor
seinem Auftreffen auf dem elektrooptischen Kristall 16 weist
der optoelektronische Detektor 11 einen Polarisator 14,
hier ausgebildet als ein Glan-Laser-Polarisator, auf.
Über eine
weitere Umlenkeinheit und einen zweiten Strahlteiler 15,
hier ausgebildet als ein Pellicle-Strahlteiler, wird der zweite Teilpuls 1b auf
den elektrooptischen Kristall 16 geführt. Insbesondere wird der
als Referenzpuls dienende zweite Teilpuls 1b ebenfalls
auf den elektrooptischen Kristall 16 fokussiert.
Der
elektrooptische Kristall umfaßt
dabei einen aus einem aktiven <110> geschnittenen ZnTe-Kristall
mit einer Dicke von 20 μm
auf einem nichtaktiven <111> ZnTe-Substrat.
Nach
dem Durchlaufen des elektrooptischen Kristalls 16 wird
der zweite Teilpuls 1b mittels einer zweiten Verzögerungseinrichtung 17,
hier ausgebildet als ein λ/4-Plättchen,
zirkular polarisiert. Die Polarisationsdrehung des zweiten Teilpulses 1b,
welche zum elektrischen Feld der aus dem Plasma emittierten gepulsten
Terahertz-Strahlung 8 proportional ist, wird mittels eines
polarisierenden Strahlteilers 18, hier ausgebildet als
ein Wollaston-Prisma und zweier Photodetektoren 19, hier
ausgebildet als Photodioden, festgestellt und in der Auswerteeinrichtung 12 ermittelt.
Ist
die Zeitverzögerung
so eingestellt, daß die
elektrische Feldstärke
der aus dem Plasma emittierten gepulsten Terahertz-Strahlung 8 zum
Zeitpunkt der maximalen Signalstärke,
d.h. bei gleichzeitiger Ankunft mit dem zweiten Teilpuls 1b am
elektrooptischen Kristall 16, gemessen wird, ist die Differenz der
auf die Photodioden 19 fallenden Intensität des zweiten
Teilpulses 1b proportional zur maximalen Feldstärke der
gepulsten Terahertz-Strahlung 8. Um eine mögliche Langzeitdrift
der Detektionseinheit zu kompensieren, kann ein gleitender Mittelwert über eine
größere Anzahl
von Messungen, etwa 100, von dem aktuellen Meßwert der aus dem Plasma emittierten
Terahertz-Strahlung 8 des aktuellen Laserpulses 1 subtrahiert
werden.
5 zeigt
dazu eine Detailansicht der Auswerteeinrichtung 12 aus 4.
Die Auswerteeinrichtung 12 umfaßt einen Differenzverstärker 20,
der die Differenz zwischen den beiden Ausgangssignale der Photodetektoren 19 bildet
und diese verstärkt.
Zum Digitalisieren des verstärkten
Differenzsignals bzw. der Ausgangsdaten des Differenzverstärkers 20 schließt sich
diesem ein Analog-Digital-Wandler 21 an,
welcher wiederum mit einen Computer 22 verbunden ist. Der
Computer 22 ist dabei so hergerichtet, daß dieser
die gemessene Intensitätsdifferenz
für jeden
einzelnen Laserpuls 1 erfaßt und ist dabei entsprechend
hergerichtet zum Auswerten der gemessen Daten, so daß er zumindest
ein Ausgangssignal generiert, welches ein Maß für die Träger-Einhüllende-Phase 4 des
Laserpulses 1 ist.
Es
ist dem Fachmann ersichtlich, dass die vorstehend beschriebenen
Ausführungsformen
beispielhaft zu verstehen sind. Die Erfindung ist nicht auf diese
beschränkt,
sondern kann in vielfältiger
Weise variiert werden kann, ohne den Geist der Erfindung zu verlassen.