DE10125905C1 - Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip und einem Träger - Google Patents
Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip und einem TrägerInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen integrierten Schaltkreis (Chip) mit Mitteln (6, 13, 16) zum Befestigen des Chips (1) auf einem Träger (20), wobei die Befestigungsmittel (6, 13, 16) derart ausgebildet sind, dass sie mit auf dem Träger (20) gebildeten korrespondierenden Befestigungsmitteln (14, 15, 18) eine lösbare Verbindung eingehen können. Um die Packungsgröße der Chips möglichst klein zu halten, wird vorgeschlagen, die Befestigungsmittel (6, 13, 16) unmittelbar auf dem ungehäusten Chip anzuordnen.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine lösbare Verbindung
zwischen einem ungehäusten Chip und einem Träger gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1, wie aus der WO 2000/54321 A1
bekannt.
Die US-A-5,557,504 offenbart hakenförmige Befestigungselemen
te im Zusammenhang mit einem gehäusten Chip und einem als
Modul bezeichneten Bauteil.
Aus der DE 196 36 112 A1 ist es bekannt, hakenartige Ausfor
mungen auf einer Folienoberfläche zum unlösbaren Verbinden
mit einer anderen Folie zu nutzen.
Aus der DE 198 14 164 A1 ist ein Träger in Chipgrößenanord
nung im Zusammenhang mit burn-in-Tests bekannt.
Chips werden üblicherweise fest auf Leiterplatten gelötet
oder anderweitig auf einem Träger befestigt. Aus
verschiedenen Gründen ist es jedoch erwünscht, den Chip
reversibel, d. h. ohne Zerstörung lösbar, auf dem Träger zu
montieren. Eine solche Technologie ist z. B. zur Durchführung
von Chiptests von Vorteil und vereinfacht auch den Austausch
defekter Chips wesentlich.
Eine Überprüfung der Funktionsfähigkeit von Chips erfolgt in
der Regel mittels spezieller Tester. Bei einem
konventionellen Chiptest für gehäuste Chips, wie z. B. TSOP-
Chips (TSOP: Thin Small Outline Package) oder BGA-Chips (BGA:
Ball Grid Array), werden die Chips in Testsockel eingesetzt,
welche komplizierte mechanische Konstruktionen aufweisen und
mechanische Ausgleichsbewegungen vollbringen müssen, um die
meist als Lötkontakte ausgebildeten Chipkontakte mit dem
Testboard verbinden zu können. Der mechanische Aufwand bei
derartigen Testsockeln ist daher relativ hoch und die Art der
Verbindung kompliziert. Mit zunehmender Integration und
stetig kleiner werdenden Strukturabständen wird eine solche
mechanische Kontaktierung immer schwieriger. Dies gilt
insbesondere für neuere Generationen von ungehäusten Chips,
wie z. B. CSP-Chips (CSP: Chip Size Package).
Der Austausch defekter Chips von Mehrchipmodulen (MCM)
erfolgt bis heute durch Auslöten der defekten Teile, sowie
Säubern und Einlöten eines Gutteiles. Dieser bekannte
Auswechselprozess ist nicht nur kostspielig und zeitraubend,
er ist auch schlecht automatisierbar.
Im Falle von gehäusten Chips mit Beinchen (Lead Frame Based
Packages) kann das Auswechseln des Chips auch mit Hilfe eines
Sockels erfolgen, der auf den Träger gelötet ist. Die
Kontakte von Chips neuerer Generation sind jedoch anders
gestaltet (als kleine Kügelchen), womit diese Lösung obsolet
ist.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine
Technologie zur Montage von Chips auf Leiterplatten oder
andere Träger zu schaffen, mit der der Chip ohne Beschädigung
auswechselbar auf dem Träger befestigt werden kann.
Gelöst wird diese Aufgabe durch die im Patentanspruch 1
angegebenen Merkmale. Weitere Ausgestaltungen der Erfindung
sind Gegenstand von Unteransprüchen.
Der grundlegende Gedanke der Erfindung besteht darin, Chip
und Träger mit Befestigungsmitteln zu versehen, die lösbar
ineinander greifen. Dabei sind die Befestigungsmittel des
Chips unmittelbar auf dem "nackten", d. h. ungehäusten Chip
angeordnet. Auf den Bereichen des Chips außerhalb der
Befestigungsmittel kann selbstverständlich ein Gehäuse
vorgesehen werden.
Unter der Bezeichnung "Träger" sollen in dieser Beschreibung
jede Art von Mitteln, wie z. B. Leiterplatten, Sockel, andere
Chips etc. verstanden werden, auf denen der Chip lösbar
befestigt werden kann.
Die Befestigungsmittel des Chips als auch diejenigen des
Trägers werden vorzugsweise aus einer auf dem Chip bzw.
Träger angeordneten Schicht, insbesondere aus einer
Polymerschicht, hergestellt.
Die lösbare Verbindung ist vorzugsweise nach dem Schlüssel-
Schloß-Prinzip ausgebildet, wobei die gegenüberliegenden
Befestigungsmittel von Chip und Träger unter Ausübung eines
geringen Drucks ineinander eingreifen, einrasten und so
ortsfest aufeinander halten. Wird in umgekehrter Richtung ein
entsprechender Zug ausgeübt, können beide Partner
zerstörungsfrei voneinander getrennt werden. Dies kann auch
mehrfach erfolgen.
Erfindungsgemäss sind wenigstens die Befestigungsmittel des Chips
oder des Trägers elastisch gebildet.
Der erfindungsgemäße Chip kann somit in eine entsprechende
Testplatine eingesetzt werden, um einen Chiptest
durchzuführen. Nach dem erfolgreichen Test kann der Chip auf
dem Modulboard plaziert werden. Nach dem entsprechenden
Modultest können wiederum die als fehlerhaft spezifizierten
Chips ausgetauscht werden.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind
die gegenseitigen Befestigungsmittel von Chip und Träger als
Schnappverschluß gebildet.
Die Befestigungsmittel des Chips bestehen gemäß einer
Ausführungsform z. B. aus mehreren Fortsätzen und
Vertiefungen. Diejenigen des Trägers aus entsprechenden
Gegenstücken.
Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung können auch
bestimmte Abschnitte, insbesondere Kanten des Chips selbst
als Befestigungsmittel dienen, die mit korrespondierenden
Befestigungsmitteln des Trägers zusammenwirken.
Die Befestigungsmittel von Chip oder Träger können
beispielsweise auch hakenartige Elemente aufweisen.
Die Befestigungsmittel dienen vorzugsweise ausschließlich der
mechanischen Verbindung von Chip und Träger und sind
insbesondere nicht elektrisch leitend.
Zur elektrischen Kontaktierung von Chip und Träger sind
vorzugsweise Kontaktmittel vorgesehen. Gemäß einer speziellen
Ausführungsform der Erfindung umfassen die Kontaktmittel
elastische Kontaktelemente, die vorzugsweise über die
Befestigungsmittel hinaus nach außen vorragen. Nach dem
Aufsetzen des Chips auf den Träger stehen diese
Kontaktelemente dann unter mechanischer Druckspannung,
wodurch ein zuverlässiger Kontakt gewährleistet ist.
Generell sollten die Kontaktmittel senkrecht zur Chip- bzw.
Trägeroberfläche betrachtet länger sein als der Abstand
zwischen Chip- und Trägeroberfläche im zusammengesetzten
Zustand.
Die Kontaktelemente sind vorzugsweise auf einem Kontaktpad
angeordnet.
Die Erfindung wir nachstehend anhand der beigefügten
Zeichnungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 a-h mehrere Verfahrensschritte bei der Herstellung
einer selbsthaftenden Chipanordnung, bestehend aus Chip und
Träger;
Fig. 2 a-f mehrere Verfahrensschritte bei der Herstellung
einer selbsthaftenden Chipanordnung gemäß einer zweiten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 3a, b Verfahrensschritte bei der Herstellung von
Befestigungsmitteln unter Ausnutzung einer Metallstruktur;
Fig. 4a, b Verfahrensschritte bei der Herstellung einer
selbsthaftenden Chipanordnung unter Verwendung eines
plastisch verformbaren Fluids;
Fig. 5 a-g verschiedene Verfahrensschritte bei der
Herstellung einer selbsthaftenden Chipanordnung gemäß einer
dritten Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 6 a-e verschiedene Verfahrensschritte bei der
Herstellung einer selbsthaftenden Chipanordnung gemäß einer
vierten Ausführungsform der Erfindung; und
Fig. 7 a-e verschiedene Verfahrensschritte bei der
Herstellung einer selbsthaftenden Chipanordnung gemäß einer
fünften Ausführungsform der Erfindung.
Fig. 1a zeigt einen in vereinfachter Weise dargestellten
Chip 1, der im wesentlichen aus einem Substrat 3 und einer
darüberliegenden Isolationsschicht 2, z. B. aus Polymid,
besteht. Auf dem Chip 1 bzw. der Isolationsschicht 2 ist ein
Kontaktpad 4 angeordnet, das mit dem Substrat 3 in
elektrischem Kontakt steht.
Wie in Fig. 1b gezeigt ist, wird in einem nachfolgenden
Prozeßschritt eine Schicht 5, insbesondere eine
Polymerschicht, auf die Anordnung aufgebracht und wie
dargestellt strukturiert. Das Aufbringen und Strukturieren
der Polymerschicht 5 erfolgt z. B. durch Spin-Coating mit
anschließender Lithographie sowie Anwendung einer geeigneten
Drucktechnik.
Fig. 1c zeigt das Aufbringen mehrerer verhältnismäßig
ätzresistenter Strukturelemente 18 auf die Polymerschicht 5.
Die Strukturelemente 18 bestehen beispielsweise aus gefülltem
Polymer, das eine geringere selektive Ätzrate wie die
Polymerschicht 5 aufweist.
In Fig. 1d ist der Zustand nach dem Ätzen dargestellt. Der
Ätzschritt kann sowohl als Trocken- als auch als Naßprozeß
durchgeführt werden. Die nach dem Ätzen entstandene
Reliefstruktur der Befestigungsmittel 6 umfasst mehrere
Fortsätze 7 sowie Vertiefungen 8.
In Fig. 1e ist das Aufbringen eines Kontaktelementes 9 auf
das Kontaktpad 4 dargestellt. Das Kontaktelement 9 besteht
z. B. aus einem leitfähigem Polymer, das mittels einer
geeigneten Drucktechnik hergestellt wurde. Das Kontaktelement
9 ist derart angeordnet bzw. gestaltet, dass es über die
Befestigungsmittel 6 nach außen vorragt.
Fig. 1f zeigt einen zugehörigen Träger 20 mit entsprechenden
"negativen" Befestigungsmitteln 16. Der Träger 20 umfasst im
wesentlichen eine Leiterplatte 10 mit einer darauf
befindlichen Isolationsschicht 2. Auf dem Träger 20 sind zu
den Befestigungsmitteln 6 des Chips 1 korrespondierende
Befestigungsmittel 16 vorgesehen, die derart gebildet sind,
dass Chip 1 und Träger 20 lösbar miteinander verbunden werden
können. Diese negativen Befestigungsmittel 16 umfassen
ebenfalls Fortsätze 7 und Vertiefungen 8.
Fig. 1g zeigt das Positionieren und Zusammenfügen des Chips
1 mit dem Träger 20. Das Zusammenfügen von Chip 1 und Träger
20 erfolgt unter Ausübung von geringem Druck, wodurch die
Befestigungsmittel 6, 16 ineinander eingreifen und in der in
Fig. 1h gezeigten Position arretieren. Wenigstens eines der
Befestigungsmittel 6, 16 ist elastisch gebildet.
Wie in Fig. 1h zu erkennen ist, ist das Kontaktelement im
zusammengesetzten Zustand von Chip 1 und Träger 20 elastisch
verformt und steht insbesondere unter Druckspannung. Dadurch
wird ein guter elektrischer Kontakt sichergestellt.
Fig. 2a zeigt einen ersten Verfahrensschritt bei der
Herstellung einer anderen Ausführungsform eines
selbsthaftenden Chips. Der Chip 1 besteht wiederum aus einem
Substrat 3 und einer darauf befindlichen Isolationsschicht 2.
Der Chip 1 ist ferner mit einer Polymerschicht 5 versehen,
auf der ein Kontaktpad 4 angeordnet ist. Das Kontaktpad 4
befindet sich bei dieser Ausführungsform also auf der
Polymerschicht 5.
In einem nachfolgenden Herstellungsschritt wird die
Polymerschicht 5 mit mehreren, z. B. insel- oder
linienförmigen Strukturelementen 18 maskiert, die
insbesondere aus gefülltem Polymer bestehen. Diese Polymere
haben eine höherer Ätzbeständigkeit als die darunter liegende
Polymerschicht 5.
In Fig. 2c ist die nach dem Ätzen zurückbleibende
Reliefstruktur dargestellt. Die Befestigungsmittel 6 sind
dabei wiederum als eine Reihe von Fortsätzen 7 und
Ausnehmungen 8 gebildet.
Fig. 2d zeigt ein auf dem Kontaktpad 4 aufgebrachtes
Kontaktelement 9, dass z. B. aus einem leitfähigen Polymer
besteht.
In Fig. 2e ist das Aufsetzen des Chips 1 auf die
Leiterplatte 20 dargestellt. Beim Zusammenfügen von Chip 1
und Leiterplatte 20 wird der Chip in Pfeilrichtung auf die
Leiterplatte 20 aufgedrückt. Wie gezeigt, weist die
Leiterplatte 20 korrespondierende Befestigungsmittel 16 auf,
die mit den Befestigungsmitteln 6 des Chips 1 ineinander
greifen.
Der zusammengesetzte Zustand von Chip 1 und Leiterplatte 20
ist in Fig. 2f dargestellt. Dabei wird das Kontaktelement 9
zusammengepreßt und gewährleistet dadurch einen zuverlässigen
elektrischen Kontakt mit dem gegenüberliegenden Kontaktpad 4
der Leiterplatte 20. Wahlweise kann an Stelle des elastischen
Polymers auch ein leitfähiger Kleber als Kontaktelement 9
verwendet werden.
Die Fig. 3a und 3b zeigen die Herstellung einer
reliefartigen Struktur als Befestigungsmittel unter
Ausnutzung einer Metallmaskierung. Hierzu wird zunächst eine
Metallschicht auf die Polymerschicht 5 aufgebracht und
entsprechend strukturiert. Die verbleibenden Metall-
Strukturelemente 11 haben eine relativ hohe Ätzbeständigkeit,
so dass nach Durchführen eines Ätzprozesses die in Fig. 3b
gezeigte Struktur erzeugt werden kann.
Eine andere Möglichkeit zur Herstellung korrespondierender
Befestigungsmittel 6, 16 ist in den Fig. 4a, b gezeigt. In
diesem Fall ist nur auf einem der Partner, dem Chip 1 oder
der Leiterplatte 20 ein bestimmtes Befestigungsmittel
gebildet. Auf dem anderen der Partner ist dagegen eine
plastisch verformbare Masse, wie z. B. ein noch nicht
ausgehärtetes Polymer oder ein entsprechender Kleber
vorgesehen. Die auf dem einen der Partner bereits
ausgebildete Struktur wird durch eine Art Transferprozess,
nämlich durch Andrücken des Chips 1 auf die Leiterplatte 20
auf den anderen der Partner übergeben. Im dargestellten
Beispiel wird die Reliefoberfläche des Chips 1 in die nicht
ausgehärtete Oberfläche der Polymerschicht 17 der
Leiterplatte 10 hineingedrückt.
Der elektrische Kontakt wird dabei durch ein elastisch
deformiertes, leitendes Kontaktelement 9 oder beispielsweise
auch durch einen Leitkleber hergestellt.
Eine weitere Möglichkeit zur Herstellung einer
selbsthaftenden Chipanordnung ist in den Fig. 5a-g
dargestellt. Fig. 5a zeigt einen Chip mit Kontaktpads 4, auf
denen hügelartige Kontaktelemente 9 angeordnet sind. Die
Kontaktelemente 9 können beispielsweise mittels bekannter
Drucktechniken hergestellt werden.
In einem weiteren Verfahrensschritt, der in Fig. 5b gezeigt
ist, werden Hilfsformen 12 auf dem Chip 1 sowie auf dem
Träger 20 erzeugt, die zur Herstellung von korrespondierenden
Befestigungsmitteln dienen. Die Hilfsformen 12 können z. B.
aus einem Polymer bestehen und mittels Dispensen hergestellt
sein.
Wie in Fig. 5c zu erkennen ist, werden in einem weiteren
Verfahrensschritt hakenförmigen Befestigungselemente 13, 14
auf Chip 1 und Träger 20 aufgebracht. Dabei sind die jeweils
zusammenwirkenden Befestigungselemente 13, 14 leicht
gegeneinander versetzt angeordnet, so dass deren
hakenförmigen Abschnitte 21, 22 ineinander greifen können.
Nach dem Entfernen der Hilfsform 12 auf Chip 1 und Träger 20
ergibt sich die in Fig. 5d gezeigte Anordnung. Dabei ragen
die Kontaktelemente 9 über die Befestigungselemente 13 nach
außen vor.
Der Chip 1 wird schließlich, wie in Fig. 5e gezeigt ist, auf
den Träger 20 aufgedrückt. Dabei bildet der auf dem Chip 1
befindliche Teil 13 des Verschlusses zugleich einen
Kompressionsstop beim Andrücken der elastischen
Kontaktelemente 9.
In Fig. 5f ist der zusammengesetzte Zustand von Chip 1 und
Träger 20 gezeigt. Dabei sind die Kontakte 9 elastisch
verformt und stehen unter Druckspannung, wodurch ein guter
Kontaktübergang gewährleistet ist.
Die hakenartigen Abschnitte 21, 22 der Befestigungselemente
13, 14 sind miteinander verhakt und arretieren den Chip 1 auf
dem Träger 20. Die Befestigungselemente 13, 14 bilden einen
Schnappverschluss, der aufgrund der Elastizität der Elemente
13, 14 lösbar ist, so dass der Chip 1 einfach vom Träger 20
abgenommen werden kann.
Fig. 5g zeigt eine dreidimensionale Ansicht eines
selbsthaftenden Chips 1 und des zugehörigen Trägers 20. Die
Befestigungsmittel 13 des Chips 1 sind dabei als
durchgehende, langgestreckte Befestigungselemente 13
gebildet, die in ebensolche Befestigungselemente 14 des
Trägers 20 eingreifen können.
Die Befestigungsmittel 13, 14 sind vorzugsweise an zwei
gegenüberliegenden Seiten eines Chips angeordnet. Ein Chip
umfasst vorzugsweise zwei gegenüberliegende Befestigungs
mittel, wahlweise können aber auch mehrere Befestigungs
elemente vorgesehen sein.
Die Befestigungsmittel 13 befinden sich an zwei
gegenüberliegenden Längsseitens des Chips 1. Dabei zeigen
deren hakenartigen Abschnitte 21 nach außen. Die elektrischen
Kontaktelemente 9 befinden sich auf dem Chip 1 innerhalb der
Umgrenzung der Kontaktelemente 13. Zusätzlich sind an den
Stirnseiten des Chips 1 weitere Befestigungselemente 13 (von
denen nur das eine gezeigt ist) vorgesehen.
In den Fig. 6a bis 6e ist eine weitere Ausführungsform
eines selbsthaftenden Chips dargestellt. Zur Herstellung der
entsprechenden Befestigungselemente wird in Fig. 6a zunächst
eine Hilfsform 12 erzeugt, mit der die in Fig. 6b gezeigten
Befestigungselemente 13' hergestellt werden. Die "Schlüssel"
13 werden z. B. mittels Dispensen oder einer geeigneten
Drucktechnik hergestellt.
Fig. 6c zeigt den Zustand der Anordnung nach dem Entfernen
der Hilfsformen 12, das vorzugsweise in einem Naß-
Ätzverfahren durchgeführt wird.
Zur Arretierung der Befestigungselemente 13' sind
entsprechende Ausnehmungen 15 im Träger 20 vorgesehen (Fig.
6d). Die Befestigungselemente 13' und Ausnehmungen 15 sind
dabei genau gegenüberliegend angeordnet.
Im vorliegenden Fall erstrecken sich die Kontaktelemente 9
nicht über die Befestigungselemente 13' nach außen sondern
befinden sich innerhalb der Erstreckung der
Befestigungselemente 13'. Die senkrecht zur Chipoberfläche
betrachtete Dicke der Kontaktelemente 9 ist jedoch größer als
der Abstand zwischen den Oberflächen von Chip 1 und Träger 20
in zusammengesetztem Zustand. Dadurch wird ein guter
elektrischer Kontakt sichergestellt, da das Kontaktelement
beim Zusammenfügen von Chip und Träger verformt wird.
Fig. 6e zeigt den zusammengesetzten Zustand von Chip 1 und
Träger 20. Dabei ragen die Befestigungselemente 13' in die
entsprechenden Ausnehmungen 15 des Trägers hinein und
arretieren den Chip 1 in dieser Position.
In den Fig. 7a-e ist die Herstellung einer weiteren
Ausführungsform eines selbsthaftenden Chips dargestellt.
Fig. 7a zeigt zunächst die Herstellung einer Hilfsform 12
z. B. aus einer bestimmten Polymermasse, welche die
Kontaktflächen 4 teilweise überdeckt.
In einem weiteren Verfahrensschritt werden, wie in Fig. 7b
gezeigt ist, hakenartige Befestigungselemente 15' zwischen
zwei gegenüberliegenden Hilfsformen 12 erzeugt. Die
Herstellung der Hakenstrukturen erfolgt beispielsweise
mittels Dispensen und einer geeigneten Drucktechnik.
Fig. 7c zeigt den Zustand des Trägers 20 nach dem Entfernen
der Hilfsformen 12 durch Naßätzen.
In Fig. 7d ist der Chip 1 über dem Träger positioniert,
wobei der Chip 1 an seinen unteren äußeren Kanten
Protektorelemente 23 aufweist, die zum einen das Aufdrücken
des Chips auf den Träger erleichtern (sie bewirken eine
gewisse Führung) und zum anderen die Befestigungsmittel 15'
vor den scharfkantigen Seiten des Chips 1 schützen. Die
Elemente 23 können ebenfalls aus Polymer hergestellt sein.
Fig. 7e zeigt den Chip 1 im aufgesetzten Zustand. Dabei ist
zu erkennen, dass der Chip keine separaten Befestigungsmittel
im Bereich zwischen Chip 1 und Träger 20 aufweist. Vielmehr
dienen die oberen Kanten 19 des Chips 1 selbst zur
Arretierung mit den Hakenabschnitten 22 der
Befestigungselemente 15'. Bei dieser Ausführungsform des
selbsthaftenden Chips werden insbesondere Verfahrensschritte
zur Herstellung separater Halteelemente eingespart.
1
Chip
2
Isolationsschicht
3
Substrat
4
Kontaktfläche
5
Polymerschicht
6
Befestigungsmittel
7
Fortsätze
8
Ausnehmungen
9
Kontaktelement
10
Leiterplatte
11
Metall-Strukturelemente
12
Hilfsform
13
,
14
hakenförmiges Befestigungselement
13
' Befestigungselement
15
Ausnehmung
15
' hakenförmiges Befestigungselement
16
Befestigungsmittel
17
plastisch verformbare Schicht
18
Strukturelemente
19
Kanten
20
Träger
21
,
22
hakenförmige Abschnitte
23
Protektorelemente
Claims (13)
1. Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip (1) und
einem Träger (20) mit mechanischen Befestigungsmitteln (6,
16; 6, 17; 13, 14; 13', 15; 19, 15'), welche korrespondierend
auf dem Chip (1) und dem Träger (20) vorgesehen sind,
dadurch gekennzeichnet,
dass
die Befestigungsmittel (6, 16; 6, 17; 13, 14, 13', 15; 19,
15') miteinander ortsfest einrastend in Eingriff bringbar
sind.
2. Verbindung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die auf dem Chip (1) vorgesehenen Befestigungsmittel (6,
13) auf einer Isolationsschicht (2) des Chips (1) angeordnet
sind.
3. Verbindung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Befestigungsmittel (6, 16) aus einer strukturierten
Polymerschicht (5) hergestellt sind.
4. Verbindung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Befestigungsmittel (6, 16; 13', 15) mehrere
korrespondierende Vertiefungen (8; 15) und Fortsätze (7, 13')
aufweisen.
5. Verbindung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Befestigungsmittel (13, 14; 19, 15') hakenartige
Elemente (13, 14; 21, 22; 19, 15') aufweisen.
6. Verbindung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Befestigungsmittel (6, 16; 6, 17; 13, 14; 13', 15;
19, 15') nur zur mechanischen Verbindung von Chip (1) und
Träger (20) und nicht zur elektrischen Verbindung dienen.
7. Verbindung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass separate Kontaktmittel (4, 9) zur elektrischen Verbindung
von Chip (1) und Träger (20) vorgesehen sind.
8. Verbindung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Kontaktmittel (4, 9) ein elektrisch leitendes
elastisches Kontaktelement (9) umfassen.
9. Verbindung nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Kontaktelement (9) auf einem Kontaktpad (4)
angeordnet ist.
10. Verbindung nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Kontaktelement (9) über die Befestigungsmittel (6,
16; 6, 17; 13, 14; 13', 15) nach außen vorsteht.
11. Verbindung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Kontaktelement (9) im verbundenen Zustand von Chip
(1) und Träger (20) unter Druckspannung steht.
12. Verbindung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass die auf dem Chip (1) vorgesehenen Befestigungsmittel
(19) Kanten des Chips (1) und die auf dem Träger (20)
vorgesehenen Befestigungsmittel (15') hakenförmig sind.
13. Verbindung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Befestigungsmittel (6, 16; 6, 17; 13, 14; 13', 15;
19, 15') auf mindestens einem vom Chip (1) und Träger (20)
elastisch verformbar sind.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10125905A DE10125905C1 (de) | 2001-05-28 | 2001-05-28 | Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip und einem Träger |
TW091109634A TW559961B (en) | 2001-05-28 | 2002-05-08 | Self-adhering chip |
SG200202948A SG104966A1 (en) | 2001-05-28 | 2002-05-15 | Self-adhering chip |
US10/155,337 US6756540B2 (en) | 2001-05-28 | 2002-05-24 | Self-adhering chip |
KR1020020029534A KR20020090908A (ko) | 2001-05-28 | 2002-05-28 | 자기 부착 칩 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10125905A DE10125905C1 (de) | 2001-05-28 | 2001-05-28 | Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip und einem Träger |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10125905C1 true DE10125905C1 (de) | 2002-11-28 |
Family
ID=7686370
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10125905A Expired - Fee Related DE10125905C1 (de) | 2001-05-28 | 2001-05-28 | Lösbare Verbindung zwischen einem ungehäusten Chip und einem Träger |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6756540B2 (de) |
KR (1) | KR20020090908A (de) |
DE (1) | DE10125905C1 (de) |
SG (1) | SG104966A1 (de) |
TW (1) | TW559961B (de) |
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- 2002-05-15 SG SG200202948A patent/SG104966A1/en unknown
- 2002-05-24 US US10/155,337 patent/US6756540B2/en not_active Expired - Lifetime
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KR20020090908A (ko) | 2002-12-05 |
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R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |