DE10116588A1 - Beleuchtungsanordnung sowie Verfahren zum Beleuchten eines Objekts - Google Patents

Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf eine Beleuchtungsanordnung zum Beleuchten eines zu messenden Objektes, insbesondere bestimmt für ein Koordinatenmessgerät oder ein Messmikroskop, umfassend mehrere von einer Halterung ausgehende Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) mit unterschiedlichen Einfallswinkeln zu einer optischen Achse (14) einer Optik, über die das Objekt messbar bzw. abbildbar ist. Um ohne aufwendige Mechanik ein Einstellen der Beleuchtung auf unterschiedliche Arbeitsebenen zu ermöglichen, um ein zu messendes Objekt bzw. eine Fläche oder Kante dieses optimal zu beleuchten, wird vorgeschlagen, dass Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) in der Halterung (16) derart angeordnet sind, dass deren Einfallswinkel die optische Achse (14) im Bereich voneinander abweichender Arbeitsabstände (48, 50, 52, 54, 56) der Optik schneiden.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Beleuchtungsanordnung zum Beleuchten eines zu messenden Objektes, insbesondere bestimmt für ein Koordinatenmessgerät oder ein Mess­ mikroskop, umfassend mehrere von einer Halterung ausgehende Lichtquellen mit unter­ schiedlichen Einfallswinkeln zu einer optischen Achse einer Optik, über die das Objekt messbar bzw. abbildbar ist. Ferner bezieht sich die Erfindung auf ein Verfahren zum Beleuch­ ten eines Objektes mit mehreren Lichtquellen mit voneinander abweichenden Einfallswinkeln zu einer optischen Achse einer Optik, mit der das Objekt gemessen bzw. abgebildet wird.

Beim Einsatz von optischen und Multisensor-Koordinatenmessgeräten sowie Messmikrosko­ pen ist es notwendig, die zu messenden Objekte mittels geeigneter Beleuchtungsanordnungen auszuleuchten. Übliche Beleuchtungsarten sind dabei Durchlicht, Hellfeld-Auflicht und Dunkelfeld-Auflicht. Durch die Wahl zwischen den verschiedenen Beleuchtungsmöglichkeiten wird abhängig von der Gestalt des zu messenden Objektes eine optimale Ausleuchtung gewährleistet. So trägt bei der Dunkelfeldbeleuchtung nur im Objekt abgebeugtes Licht zur Abbildung bei, wodurch vereinzelte Strukturen hell auf dunklem Grund erscheinen. Bei der Hellfeldbeleuchtung gelangt das zu beleuchtende Licht im Durchlicht oder Auflicht direkt in die Optik. Dabei erscheinen die Objekte, sofern diese selbst kontrastreich sind, dunkel oder farbig auf hellem Untergrund.

Von besonderer Bedeutung ist die Gestaltung des Dunkelfeld-Auflichts. Hierbei kommen Systeme in Form von z. B. Glasfaserringlicht oder ringförmigen Anordnungen von LED's (lichtemittierende Dioden) zum Einsatz. Um den Beleuchtungswinkel bei unveränderter Arbeitsebene verstellen zu können, werden für Glasfaserringlichter in mehrere Segmente unterteilt oder zur Erreichung des gleichen Ergebnisses durch segmentweises Zu- oder Weg­ schalten von LED-Bereichen erzeugt. Hierdurch besteht die Möglichkeit, die zu messenden Objekte unterschiedlichen Beleuchtungen auszusetzen bzw. die Einfallsrichtung der Beleuch­ tung zu ändern.

Auch sind Vorschläge bekannt, bei denen durch gleichzeitiges Heben und Senken bei einer Beleuchtungsquelle oder kugelförmiger Anordnungen mehrerer Beleuchtungsquellen der Winkel zwischen Oberfläche des zu messenden Objektes und Beleuchtungsstrahl veränderlich gestaltet wird. Nachteilig bei diesen Maßnahmen ist es jedoch, dass durch die notwendige mechanische Verstellung des Beleuchtungssystems Kollisionsprobleme mit dem zu messenden Objekt auftreten können. Außerdem ist eine relativ aufwendige Mechanik notwendig bzw. der gesamte Arbeitsabstand wird ungünstig verringert.

Aus der DE 39 06 555 A1 ist eine Auflicht-Objektbeleuchtungseinrichtung mit wählbarem Lichteinfallswinkel und mehreren einzeln schaltbaren Lichtquellen bekannt. Ohne mecha­ nische Verstellung von Lichtquellen oder Abbildungselementen wird dabei eine Beleuchtung unter verschiedenen, auswählbaren Beleuchtungswinkeln möglich. Hierzu sind die von einer kalottenförmigen Halterung ausgehenden Lichtquellen, die konzentrisch um einen Tubus eines Mikroskops angeordnet werden können, sämtlichst auf eine Objektebene ausgerichtet, so dass der Abbildungsabstand stets leicht zu wählen ist. Eine diesbezügliche Anordnung ist auch für Koordinatenmessgeräte denkbar.

Bei einem programmierbaren Oberflächenbeleuchter für Videoprüfanlagen nach der DE 199 04 899 A1 gehen von einer scheibenförmigen Halterung parallel zueinander ausgerichtete LED's aus, deren Strahlen auf einen Parabol-Spiegel fallen, über den die Strahlung auf das zu messende Objekt unter Einfallswinkeln im Bereich zwischen 45° und 90° fallen kann.

Auch besteht die Möglichkeit, zwischen Lichtquellen wie lichtemittierenden Dioden und einem zu messenden Objekt eine Fresnel-Linse anzuordnen, um ein zu messendes Objekt unter unterschiedlichen Einfallswinkeln zu beleuchten (DE 198 37 797 A1).

Weitere Anordnungen, ein Objekt unter voneinander abweichenden Einfallswinkeln zu beleuchten, die in einer gemeinsamen Arbeitsebene fokussiert werden, sind der US 4,893,223 oder DE 196 53 234 A1 zu entnehmen.

Der vorliegenden Erfindung liegt das Problem zu Grunde, eine Beleuchtungsanordnung sowie ein Verfahren zum Beleuchten eines Objektes derart weiterzubilden, dass ohne aufwendige Mechanik ein Einstellen der Beleuchtung auf unterschiedliche Arbeitsebenen möglich ist, um ein zu messendes Objekt bzw. eine Fläche oder Kante dieses optimal zu beleuchten. Dabei soll durch die Lichtquellen selbst eine Einschränkung des Messbereichs nicht erfolgen.

Erfindungsgemäß wird das Problem im Wesentlichen durch eine Beleuchtungsanordnung der eingangs genannten Art dadurch gelöst, dass Lichtquellen in der Halterung derart angeordnet sind, dass deren Einfallswinkel die optische Achse im Bereich voneinander abweichender Arbeitsabstände der Optik schneiden. Insbesondere ist vorgesehen, dass die Lichtquellen auf die optische Achse vorzugsweise konzentrisch umgebenden Kreisen angeordnet sind, wobei auf Kreisen unterschiedlicher Durchmesser angeordnete Lichtquellen die optische Achse in Bereichen voneinander abweichender Arbeitsabstände schneiden.

Um eine hohe Dichte von anzuordnenden Lichtquellen zu ermöglichen, sieht die Erfindung des Weiteren vor, dass die Lichtquellen wie LED's auf aufeinanderfolgenden Kreisen radial versetzt zueinander angeordnet sind. Dabei gehen die Lichtquellen insbesondere von der Halterung einer hauben- oder kalottenförmigen Geometrie aus, die Aussparungen wie Bohrun­ gen aufweist, in denen die Lichtquellen vorzugsweise ortsfest angeordnet sind. Auch besteht die Möglichkeit, die Lichtquellen selbst in den einzelnen Aussparungen zu verstellen wie zu verschwenken.

Die Halterung sollte in ihrem objektseitigen lichtquelleaufnehmenden Bereich einen Krüm­ mungsradius mit 40 mm ≦ R ≦ 80 mm, insbesondere R in etwa 60 mm aufweisen. Hier­ durch können die Lichtquellen derart auf insbesondere konzentrisch zueinander verlaufenden Kreisen angeordnet werden, dass die Strahlen die Arbeitsebene unter einem Winkel 5° bis zu z. B. 85° schneiden, ohne dass die Halterung selbst eine Höhe aufweisen muss, die die Gefahr einer Kollision mit dem zu messenden Objekt hervorruft. Gleichzeitig ist es nicht erforderlich, dass die Halterung zu der Optik bzw. dem diese aufnehmenden Gehäuse verstellt wird.

Erfindungsgemäß erfolgt eine Winkelverstellung zwischen Beleuchtungsstrahl und Oberfläche des Objektes durch unterschiedliche Winkellagen fest angeordneter Lichtquellen, wobei diese in einer Ebene angeordnet sind, die sich im kollisionsfreien Raum befinden. In Abhängigkeit von dem wirksamen Arbeitsabstand werden die Lichtquellen benutzt, deren Winkelstellungen auf den Arbeitsabstand ausgerichtet sind. Umgekehrt wird die Winkelverstellung durch Veränderung des wirksamen Arbeitsabstandes der verwendeten Optik bzw. des optischen Systems erreicht. Selbstverständlich besteht auch die Möglichkeit, dass stets sämtliche oder im Wesentlichen sämtliche Lichtquellen zum Beleuchten des Objektes genutzt werden, wobei stets eine optimale Ausleuchtung des Objektes in der Arbeitsebene erfolgt, da erfindungs­ gemäß Gruppen von Lichtquellen die optische Achse der Optik in unterschiedlichen Ab­ schnitten schneiden. Somit kann ohne zusätzliche mechanische Verstellung sowohl mit unterschiedlichem Beleuchtungseinfallswinkel als auch ausreichend langen Arbeitsabständen gearbeitet werden.

Ist die erfindungsgemäße Beleuchtungsanordnung insbesondere für Dunkelfeld-Auflicht­ verfahren bestimmt, so besteht ohne Weiteres die Möglichkeit, die Anordnung auch für Hellfeld-Auflichtmessungen zu verwenden. Hierzu ist vorgesehen, dass von den Lichtquellen emittierte Strahlungen derart umgelenkt werden, dass diese entlang der optischen Achse auf das Objekt auftreffen. Selbstverständlich kann in gewohnter Weise neben der Abbildungsoptik eine Hellfeld-Auflicht-Anordnung vorgesehen sein.

Sind erwähntermaßen Lichtquellen vorzugsweise LED's, so können auch ausgerichtete Faserbündel und/oder Faserringsegmente zur Realisierung der erfindungsgemäßen Lehre benutzt werden. Als Lichtquellen sind jedoch auch Spiegel geeignet, über die Licht derart umgelenkt werden kann, dass die Einfallswinkel der von den Spiegeln reflektierten Strahlun­ gen die optische Achse der Optik in Bereichen voneinander abweichender Arbeitsabstände schneiden.

In Weiterbildung ist vorgesehen, dass die Optik mehrere Kameras in unterschiedlichen Schnittweiten umfasst, denen ein gemeinsames Objektiv mit fester Brennweite zugeordnet ist. Auch kann die Optik mehrere Objektiv-Kamera-Systeme umfassen, die zum Objekt vonein­ ander abweichende Arbeitsabstände aufweisen.

Unabhängig hiervon kann die Optik als Zoomoptik mit veränderbarem Arbeitsabstand ausge­ bildet sein, also eine Konstruktion aufweisen, wie diese der WO 99/53268 zu entnehmen ist, auf deren Offenbarung ausdrücklich verwiesen wird.

Unabhängig hiervon können die Lichtquelle mit voneinander abweichenden Farben das Objekt beleuchten, wobei gegebenenfalls Lichtquellen gleichen Einfallswinkels das Objekt mit gleicher Farbe beleuchten.

Ein Verfahren zum Beleuchten eines Objektes mit mehreren Lichtquellen mit voneinander abweichenden Einfallswinkeln zu einer optischen Achse einer Optik, mit der das Objekt gemessen bzw. abgebildet wird, zeichnet sich dadurch aus, dass die Einfallswinkel der ortsfest zu der Optik angeordneten Lichtquellen derart ausgerichtet werden, dass diese das Objekt in voneinander abweichenden Arbeitsabständen der Optik beleuchten. Dabei kann in Abhängigkeit von dem Arbeitsabstand das Objekt mit den Lichtquellen beleuchtet werden, deren Einfallswinkel auf den Arbeitsabstand ausgerichtet ist. Auch besteht die Möglichkeit, dass in Abhängigkeit von dem Einfallswinkel der einen zu messenden Bereich des Objekts beleuchtenden Lichtquellen der Arbeitsabstand der Optik eingestellt wird.

Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich nicht aus den Ansprüchen, den diesen zu entnehmenden Merkmalen - für sich und/oder in Kombination -, sondern auch aus der nachfolgenden Beschreibung von der Zeichnung zu entnehmenden bevorzugten Ausführungsbeispielen.

Es zeigen:

Fig. 1 eine Prinzipdarstellung einer Beleuchtungsanordnung eines optischen Mess­ gerätes und

Fig. 2 eine Schnittdarstellung einer Halterung der Beleuchtungsanordnung gemäß Fig. 1.

In Fig. 1 ist in Schnittdarstellung und im Ausschnitt ein optisches Messgerät 10 mit einem eine nicht dargestellte Optik aufnehmenden Gehäuse 12 dargestellt, über die von einem zu messenden Objekt reflektierte Strahlung in eine Kamera wie CCD-Kamera abgebildet wird. Dabei kann die Optik als Zoomoptik mit veränderbarem Arbeitsabstand ausgebildet sein, deren Linsengruppen unabhängig voneinander verstellbar sind, wie dies in der WO 99/53268 offenbart ist.

Konzentrisch zur optischen Achse 14 der Optik ist eine Halterung 16 angeordnet, in der auf konzentrisch zueinander verlaufenden Kreisen und radial zueinander versetzt Lichtquellen vorzugsweise in Form von LED's angeordnet sind. In der Schnittdarstellung gemäß Fig. 1 sind die LED's 18, 20 auf einem ersten Kreis, LED's 22, 24 auf einem zweiten Kreis, LED's 26, 28 auf einem dritten Kreis, LED's 30, 32 auf einem vierten Kreis und LED's 34, 36 auf einem fünften Kreis angeordnet.

Die Halterung 16 weist hierzu auf konzentrisch zueinander verlaufenden Kreisen angeordnete Aufnahmen 38, 40, 42, 44, 46 für die LED's 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36 auf, wobei diese in den Aufnahmen 38, 40, 42, 44, 46 derart angeordnet sind, dass sich in Bezug auf die optische Achse 14 unterschiedliche Einfallswinkel ergeben. So sind z. B. die Öffnungen 38 auf einem Kreis angeordnet, auf dem die LED's zur optischen Achse 18 einen Einfallswinkel α von ca. 70° beschreiben. Über die auf einem Kreis angeordnete Öffnungen 40 werden LED's unter einem Winkel β mit z. B. 35° zur optischen Achse 14 ausgerichtet. Bezüglich der Öffnungen 42 kann ein Winkel γ von etwa 10° vorgegeben werden. Die Öffnungen 44 liegen wiederum auf einem konzentrisch zu der optischen Achse verlaufenden Kreis, um die LED's unter einem Einfallswinkel δ von z. B. 25° schneiden zu lassen. Hinsichtlich der Öffnungen 46 kann sich z. B. ein Öffnungswinkel κ von 50° ergeben, wobei die angegebenen Werte rein beispielhaft genannt sind.

Durch die zuvor beschriebene Ausbildung der Halterung 16 wird erreicht, dass die auf den konzentrisch zueinander verlaufenden Kreisen, die durch die Aufnahmen 38, 40, 42, 44, 46 repräsentiert werden, angeordneten LED's 18, 20, 22, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36 die optische Achse 14 unter unterschiedlichen Einfallswinkeln in zueinander beabstandeten Arbeitsbereichen schneidet, die entlang der optischen Achse 14 ausgeleuchtet werden und die in Fig. 1 mit den Bezugszeichen 48, 50, 52, 54 und 56 bezeichnet sind.

Befindet sich z. B. eine zu messende Oberfläche oder eine Kante eines Objektes in der Arbeitsebene 52, so werden die Leuchtdioden 26, 28 genutzt, die die Arbeitsebene 52 optimal ausleuchten. Bei Veränderung des Arbeitsabstandes - z. B. beim Verlegen des Arbeitsab­ standes in die Ebene 54 - wirken nunmehr die Leuchtdioden 30, 32 optimal. Somit kann über einen großen Arbeitsabstandsbereich optimal gemessen werden, ohne dass es eines mechani­ schen Verstellens der LED's 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36 oder der Halterung 16 zu dem die Optik aufnehmenden Gehäuse 12 bedarf.

Die Lichtquellen sind dabei stets derart zueinander ausgerichtet, dass deren Strahlen sich in einer vorgegebenen Arbeitsebene treffen bzw. eine entsprechende Arbeitsebene ausleuchten. Dies wiederum bedeutet, dass ein zu messender Bereich stets auf die entsprechende Arbeits­ ebene auszurichten ist.

Dadurch, dass in der erfindungsgemäßen Beleuchtungsanordnung auf die optische Achse 14 konzentrisch umgebenden Ringen die LED's 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34 unter definierten Winkeln auf unterschiedliche Abschnitte der optischen Achse 14 ausgerichtet sind, sind diese jeweils auf einen anderen Punkt auf der optischen Achse 14 der Optik fokussiert, also im Ausführungsbeispiel der Fig. 1 auf die Schnittpunkte zwischen der optischen Achse 14 und den Arbeitsebenen 48, 50, 52, 54 und 56. Bei Fokussierung des Abbildungssystems, also der Optik auf den jeweiligen Schnittpunkt, entsteht ein unterschiedlicher Einstrahlwinkel zwischen Beleuchtungsstrahl und zu messender Oberfläche des Objektes, so dass eine optimale Beleuchtung und somit eine hohe Güte der Messung gegeben ist.

Wie insbesondere durch die Fig. 2 verdeutlicht wird, ist die Höhe der Halterung 16 un­ geachtet der Möglichkeit, dass über die Leuchtdioden 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36 Einfallswinkel zu der Achse 14 im Bereich zwischen 5° und 85° oder mehr erzielbar sind und somit ein entsprechend langer Arbeitsbereich zur Verfügung gestellt wird, innerhalb dessen gemessen werden kann, relativ gering, so dass die Gefahr von Kollisionen mit einem zu messenden Objekt ausgeschlossen ist.

Hierzu ist insbesondere vorgesehen, dass die objektseitige Fläche 58 der Halterung 16 einen Krümmungsradius R insbesondere im Bereich zwischen 50 und 70 mm aufweist. Durch den Krümmungsradius R bedingt ist der Durchmesser der Halterung 16 selbst relativ gering, wobei der Innendurchmesser maximal dem 4- bis 5-fachen des minimalen Arbeitsabstandes zwischen freier Unterseite der Halterung 16 und eines zu messenden Objektes beträgt. Somit ist der Abstand zwischen den Leuchtdioden 18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36 und dem zu messenden Objekt relativ gering, so dass wiederum eine hohe Ausleuchtung gegeben ist.

Beim Messen kann ein Objekt in der Arbeitsebene bewegt werden, in der ein optimales Ausleuchten erfolgt. In Abhängigkeit von den insoweit genutzten Lichtquellen kann sodann der Arbeitsabstand der Messoptik automatisch eingestellt werden. Umgekehrt besteht ohne Weiteres die Möglichkeit, dass die Optik auf einen bestimmten Arbeitsabstand eingestellt wird, wobei in Abhängigkeit von diesem die Lichtquellen eingeschaltet werden, die auf diesen Arbeitsabstand ausgerichtet sind.

Des Weiteren ergibt sich aus der Prinzipdarstellung der Fig. 1, dass entlang der optischen Achse 14 eine Hellfeld-Auflichtstrahlung über optische Umlenkelemente 58, 60 eingespiegelt werden kann.

Claims (20)

1. Beleuchtungsanordnung zum Beleuchten eines zu messenden Objektes, insbesondere bestimmt für ein Koordinatenmessgerät oder ein Messmikroskop, umfassend mehrere von einer Halterung ausgehende Lichtquellen mit unterschiedlichen Einfallswinkeln zu einer optischen Achse einer Optik, über die das Objekt messbar bzw. abbildbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) in der Halterung (16) derart angeordnet sind, dass deren Einfallswinkel (α, β, γ, δ, κ) die optische Achse (14) im Bereich voneinander abweichender Arbeitsabstände (48, 50, 52, 54, 56) der Optik schneiden.

2. Beleuchtungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) auf die optische Achse (14) konzentrisch umgebenden Kreisen angeordnet sind, wobei auf Kreisen unter­ schiedlicher Durchmesser angeordnete Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) die optische Achse (14) im Bereich voneinander abweichender Arbeitsabstände (48, 50, 52, 54, 56) schneiden.

3. Beleuchtungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36), insbesondere LED's, auf aufeinanderfolgenden Kreisen radial versetzt zueinander angeordnet sind.

4. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Halterung (16) die optische Achse (14) konzentrisch und in Bezug auf das zu messende Objekt kollisionsfrei umgibt.

5. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Halterung (16) für die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) eine hauben- oder kalottenförmige Geometrie mit Aussparungen wie Bohrungen (38, 40, 42, 44, 46) aufweist, in denen die Lichtquellen angeordnet sind.

6. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Halterung (16) objektseitig einen Krümmungsradius R mit 40 mm ≦ R ≦ 80 mm, insbesondere R in etwa 60 mm aufweist.

7. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass von Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30. 32, 34, 36) emittierte Strahlung derart umgelenkt ist, dass das Objekt im Hellfeld-Auflicht beleuchtbar ist.

8. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) verstellbar in den Aufnahmen (38, 40, 42, 44, 46) der Halterung (16) angeordnet sind.

9. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) unverstellbar in der Halterung (16) angeordnet sind.

10. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) ausgerichtete Faserbün­ del und/oder Faserringsegmente sind.

11. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) von von Spiegeln reflek­ tierte Strahlungen sind.

12. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Optik eine Zoomoptik mit veränderbarem Arbeitsabstand ist.

13. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Optik mehrere Objektiv-Kamera-Systeme umfasst mit zu dem Objekt von­ einander abweichenden Arbeitsabständen.

14. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Optik mehrere Kameras in unterschiedlichen Schnittweiten umfasst, denen ein gemeinsames Objektiv mit fester Brennweite zugeordnet ist.

15. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass entlang der optischen Achse (14) eine Hellfeld-Auflichtstrahlung einspiegelbar ist.

16. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) mit voneinander ab­ weichenden Farben das Objekt beleuchten.

17. Beleuchtungsanordnung nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass Lichtquellen (18, 20, 22, 24, 26, 28, 30, 32, 34, 36) gleichen Einfallswinkels (α, β, γ, δ, κ) das Objekt mit gleicher Farbe beleuchten.

18. Verfahren zum Beleuchten eines Objekts mit mehreren Lichtquellen mit voneinander abweichenden Einfallswinkeln zu einer optischen Achse einer Optik, mit der das Objekt gemessen bzw. abgebildet wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Einfallswinkel der Lichtquellen derart ortsfest zu der Optik ausgerichtet werden, dass diese das Objekt in voneinander abweichenden Arbeitsabständen der Optik beleuchten.

19. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass in Abhängigkeit von dem Arbeitsabstand Lichtquellen das Objekt beleuchten, deren Einfallswinkel auf den Arbeitsabstand ausgerichtet sind.

20. Verfahren nach Anspruch 18 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass in Abhängigkeit von dem Einfallswinkel der das Objekt beleuchtenden Licht­ quellen der Arbeitsabstand der Optik eingestellt wird.