DE10100168A1 - Entwurf von Schaltungen mit Abschnitten unterschiedlicher Versorgungsspannung - Google Patents
Entwurf von Schaltungen mit Abschnitten unterschiedlicher VersorgungsspannungInfo
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Abstract
Bei einem Verfahren zum rechnergestützten Entwerfen einer Schaltung wird zunächst ein Hardware-Beschreibungscode der Schaltung unter Verwendung von logischen Schaltungsblöcken erstellt, wobei jedem Schaltungsblock eine Versorgungsspannung zugeteilt wird. Der Hardware-Beschreibungscode wird in eine Netzliste übertragen, welche logische Zellen und deren Verbindungen umfaßt. Durch eine eindeutige Kennung ist jeder Zelle eine bestimmte Versorgungsspannung zugeordnet. Nachfolgend wird unter Berücksichtigung der Kennungen der Zellen eine Zeitablauf-Analyse der Schaltung vorgenommen.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum rechnergestützten
Entwerfen einer Schaltung, welche Abschnitte unterschiedli
cher Versorgungsspannungen umfaßt.
Mit der zunehmenden Höherintegration und einer ständig stei
genden Komplexität der Schaltkreise nehmen die Anforderungen
an den Schaltungsentwurf ständig zu. Es werden leistungsfähi
ge und flexible Entwurfswerkzeuge benötigt, die auf der Simu
lationsebene mit den Fortschritten im Bereich der Fertigung
integrierter Schaltkreise schritthalten können. Dies gilt so
wohl für die Verifikation der Funktionalität einer Schaltung
als auch für die Genauigkeit der Vorhersage von Signal-Zeit
verzögerungen in Datenpfaden der Schaltung.
Die rechnergestützte Entwicklung von Schaltkreisen geht aus
von einem gedanklichen Schaltkreiskonzept und umfaßt die
Schritte des Niederschreibens dieses Schaltkreiskonzepts in
einer geeigneten Hardware-Beschreibungssprache (z. B. VHDL),
der Analyse des Schaltkreiskonzeptes unter dem Aspekt der Lo
gik-Funktionalität, der Synthese eines Schaltkreis-Designs
(Erstellung einer synthetisierten Netzliste), der Re-Analyse
des synthetisierten Designs (Post-Layout Analyse) und der
Programmierung eines geeigneten Chip-Herstellungsgerätes. Die
Gesamtprozeßfolge wird als "Design Flow" bezeichnet.
Schwierigkeiten treten auf, wenn mit den bisher bekannten
Entwurfswerkzeugen Schaltungen analysiert werden sollen, die
Abschnitte unterschiedlicher Versorgungsspannungen umfassen.
Derartige Mehrfach-Spannungs-Schaltungsentwürfe ("multivol
tage designs") müssen gegenwärtig mit einem hohen Aufwand an
Handarbeit analysiert werden. Zunächst ist es erforderlich,
das Gesamt-Design in Abschnitte unterschiedlicher Versorgungsspannungen
zu partitionieren. Im Anschluß daran müssen,
ebenfalls in Handarbeit, sogenannte Schaltschwellen-Umsetzer
("level-shifter") an den Grenzen der Schaltungsabschnitte mit
unterschiedlichen Versorgungsspannungen in die Netzliste ein
gesetzt werden. Nach dem Erstellen der Netzliste ergibt sich
ein weiteres gravierendes Problem dadurch, daß die unter
schiedlichen Versorgungsspannungen bei der Analyse des Zeit
verhaltens der entworfenen Schaltung zu berücksichtigen sind.
Dies ist bisher nicht oder nur in sehr eingeschränktem Maße
durch das sogenannte "Derating" möglich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren anzu
geben, welches den rechnergestützten Entwurf einer Schaltung
mit Abschnitten unterschiedlicher Versorgungsspannung wesent
lich erleichtert. Insbesondere soll eine bessere Automatisie
rung des Syntheseschrittes und eine genauere Analyse des
Zeitverhaltens der Schaltung ermöglicht werden.
Die Aufgabenstellung wird durch die Merkmale des Anspruchs 1
gelöst.
Ein wesentlicher Aspekt der Erfindung besteht darin, daß den
in der Netzliste definierten logischen Zellen eine Kennung
zugeordnet ist, welche eindeutig angibt, für welche Versor
gungsspannung die jeweilige Zelle verwendet werden soll. Dies
ermöglicht, Zellen gleicher logischer Funktionalität (d. h.
gleichen Zellentyps) im Netzlistenformat zu unterscheiden,
wodurch erreicht wird, daß sämtliche weiteren Werkzeuge im
Entwurfsablauf je nach Kennung der Zelle unterschiedliche
physikalische Parameter referenzieren können. Dies wird im
Zusammenhang mit der Zeitablaufanalyse noch näher erläutert.
Vorzugsweise erfolgt ein Einbau einer Schaltschwellen-Um
setzerzelle in eine Verbindung zwischen zwei Zellen mit un
terschiedlichen Kennungen.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung kennzeichnet
sich dadurch, daß jedem Eingang und jedem Ausgang einer logi
schen Zelle ein Verbindungsattribut zugeordnet wird, das bei
der Synthese des Schaltungsentwurfs (d. h. dem Übertragen des
Hardware-Beschreibungscodes in eine Netzliste) bewirkt, daß
ein Ausgang einer ersten Zelle mit einem Eingang einer zwei
ten Zelle nur dann (direkt) verbunden werden kann, wenn der
Ausgang der ersten Zelle und der Eingang der zweiten Zelle
identische Verbindungsattribute aufweisen, und daß die Zuwei
sung von Verbindungsattributen für Ein- und Ausgänge nach ei
ner vorgegebenen Zuordnungsvorschrift zwischen der Menge der
Kennungen und der Menge der Verbindungsattribute erfolgt.
Hiermit wird eine Design-Regel aufgestellt, welche im Falle
eines Verbindens von Ein- und Ausgängen mit unterschiedlichen
Verbindungsattributen verletzt würde.
Eine bevorzugte Zuordnungsvorschrift besteht darin, einer be
stimmten Kennung einer Zelle genau ein nur dieser bestimmten
Kennung zugeordnetes Verbindungsattribut zuzuordnen. Dadurch
wird erreicht, daß eine direkte (d. h. ohne Zwischenschaltung
eines Schaltschwellen-Umsetzers realisierte) Verbindung zwi
schen dem Signalweg benachbarter Zellen nur dann möglich ist,
wenn diese Zellen derselben Versorgungsspannung zugeordnet
sind. Eine alternative Vorgehensweise besteht darin, in be
stimmten Fällen zuzulassen, daß auch unterschiedlichen Ken
nungen ein und dasselbe Verbindungsattribut zugeordnet wird.
Dieser Fall wird dann von Bedeutung sein, wenn bezüglich der
Verbindungsattribute eine weniger feine Differenzierungsfä
higkeit bezüglich unterschiedlicher Versorgungsspannungen ge
fordert ist als für verschiedene Kennungen. Da die Verbin
dungsattribute (der Ein- und Ausgänge der Zellen) im Rahmen
der Entwurfssynthese eingesetzt werden, während die Kennungen
(der Zellen) der Entwurfsanalyse zugrunde gelegt werden (und
deren Genauigkeit erhöhen), kann diese Maßnahme in vielen
Fällen zweckmäßig sein.
Durch die Definition von Verbindungsattributen für Ein- und
Ausgänge von Zellen läßt sich erreichen, daß der Einbau von
Schaltschwellen-Umsetzerzellen zwischen Aus- und Eingängen
mit unterschiedlichen Verbindungsattributen von benachbarten
Zellen automatisch im Rahmen der rechnergestützen Erstellung
der Netzliste (Schaltkreis-Synthese) erfolgt. Dadurch wird
eine wesentliche Reduzierung des Entwurfaufwands erreicht.
Eine besonders bevorzugte Vorgehensweise im Entwurfsablauf
kennzeichnet sich dadurch, daß es sich bei dem Analyseschritt
um eine Zeitablauf-Analyse der Schaltung handelt.
In diesem Fall ist vorteilhaft, wenn die Zeitablauf-Analyse
einen Berechnungsschritt zur Ermittlung von Signal-Übertra
gungszeiten innerhalb von Zellen mit unterschiedlichen Ken
nungen umfaßt, und hierfür auf in einer Technologie-Zellen
bibliothek enthaltene kennungsabhängige Technologie-Infor
mationen zu den Zellen zugegriffen wird. Dadurch wird er
reicht, daß eine Zeitablauf-Berechnung für Zellen mit unter
schiedlichen Kennungen durchgeführt werden kann.
Eine Möglichkeit, die Zeitablauf-Analyse weiterhin mit beste
henden Entwurfswerkzeugen - die nicht speziell für die Be
rechnung von Multivoltage-Schaltungen konzipiert sind - vor
zunehmen, besteht darin, nach der Wahl einer Referenzspannung
eine Tranformation der kennungsabhängigen Technologie-Infor
mationen der Zellen in Abhängigkeit von der gewählten Refe
renzspannung vorzusehen, und dann die Durchführung des Be
rechnungsschrittes für Zellen mit unterschiedlichen Kennungen
unter Verwendung der transformierten Technologie-Informatio
nen und der einen gewählten Referenzspannung vorzunehmen.
In diesem Zusammenhang wird darauf hingewiesen, daß diese
"kennungsbasierte" Form der Zeitanalyse der bekannten Vorge
hensweise, die Eingangs-zu-Ausgangs-Übertragungszeiten mit
tels eines "Derating"-Faktors zu skalieren, überlegen ist.
Denn beim "Derating" wird vorausgesetzt, daß die bei einer
Änderung der Versorgungsspannung auftretende Änderung der Si
gnal-Übertragungszeit nach einer für die Analyse verwendeten
vorgegebenen Beziehung (zumeist wird einfach eine lineare Be
ziehung angenommen) beschreibbar ist. Eine solche vorgegebene
Beziehung liefert - zumindest bei einem vertretbaren Parame
terisierungsaufwand - jedoch ein der Realität entsprechendes
Zeit-Spannungs-Verhalten lediglich in einem engen Spannungs
bereich, z. B. beim linearen Derating etwa für Spannungs
schwankungen im Bereich von +/-3% vom Sollwert. Multivol
tage-Entwürfe sind daher allein durch Derating nicht zufrie
denstellend in ihrem Zeitverhalten zu analysieren.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in
den Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgen in beispielhafter Weise unter
Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert; in dieser zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer komplexen elek
trischen Schaltung, die sich aus verschiedenen
Schaltungsteilen zusammensetzt;
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Logik-Ab
schnitts der in Fig. 1 gezeigten Schaltung mit zwei
Schaltungsabschnitten, welche mit unterschiedlichen
Versorgungsspannungen betrieben werden;
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer logischen Zel
le;
Fig. 4 ein Ablaufdiagramm des erfindungsgemäßen Verfah
rens;
Fig. 5 ein Schaubild zur Erläuterung des Deratings flach
dem Stand der Technik, in welchem die Signal-
Übertragungszeit von einem Eingang einer Zelle zu
einem Ausgang dieser Zelle in Abhängigkeit von der
Versorgungsspannung dargestellt ist;
Fig. 6 ein bei der Modellberechnung erhaltenes und der
Analyse des Zeitverhaltens zugrunde liegendes Mo
dell der Zelle;
Fig. 7 eine graphische Darstellung der Zeitbögen des Mo
dells; und
Fig. 8 ein Schaubild zur Erläuterung der erfindungsgemäßen
Berechnung von Signal-Übertragungszeiten von einem
Eingang zu einem Ausgang einer Zelle.
Fig. 1 zeigt eine Darstellung einer elektrischen Schaltung,
welche als integrierter Schaltkreis (IC) realisiert ist. Die
elektrische Schaltung umfaßt einen A/D-Umsetzer, einen D/A-
Umsetzer, eine Logikeinheit, einen Speicher sowie einen Mi
kroprozessor µP oder Mikro-Controller µC.
Beim Entwurf eines derartigen ICs werden die unterschiedli
chen Schaltungsteile zunächst in einer geeigneten Hardware-
Beschreibungssprache codiert und nachfolgend zur Überprüfung
des codierten Schaltungsentwurfs analysiert bzw. simuliert.
Zur Codierung der Logik- und Speicherbausteine kann bei
spielsweise die VHDL-(Very High Speed Integrated Circuits
Hardware Description Language-)Hardware-Beschreibungssprache
eingesetzt werden. Die Beschreibung des Mikroprozessors be
ziehungsweise des Mikro-Controllers erfolgt üblicherweise auf
Bauteilebene unter Verwendung von C-Code-Routinen, welche für
die Simulation mittels eines Analog-Simulators, z. B. einem
SPICE-(Simulation Program With Integrated Circuit Emphasis)
ähnlichen Simulator vorgesehen sind.
A/D-Umsetzer und D/A-Umsetzer können sowohl in VHDL als auch
in SPICE-Routinen beschrieben werden.
Im folgenden wird in Fig. 2 ein Logik-Schaltungsabschnitt des
in Fig. 1 gezeigten ICs betrachtet. Dargestellt ist exempla
risch ein Datenpfad DP, welcher einen ersten Schaltungsblock
SB1 und anschließend einen zweiten Schaltungsblock SB2 durch
läuft. Beide Schaltungsblöcke SB1, SB2 enthalten in nicht
dargestellter Weise Logik-Bauelemente wie beispielsweise Lo
gik-Gatter sowie z. B. Flip-Flops. Ferner können sie auch kom
plexere Steuer-Logik enthalten.
Die Vorgehensweise beim rechnergestützten Entwerfen einer
Schaltung wird anhand der Fig. 4 erläutert. In einem ersten
Schritt S1 erfolgt eine Partitionierung der Schaltung in Fig.
1 unter dem Gesichtspunkt eines möglichst geringen Leistungs
verbrauchs. Eine Optimierung des Leistungsverbrauchs läßt
sich dann erreichen, wenn, wie in Fig. 2 dargestellt, unter
schiedliche Schaltungsblöcke mit unterschiedlichen Versor
gungsspannungen betrieben werden. Der Einsparungseffekt be
steht darin, daß Schaltungsblöcke, die auch noch bei ver
gleichsweise niedrigen Versorgungsspannungen einwandfrei
funktionieren, nicht mit einer unnötig hohen Versorgungsspan
nung betrieben werden. Die Bewertung einzelner Schaltungs
blöcke hinsichtlich ihrer Leistungsaufnahme kann z. B. mit
Hilfe des Entwurfswerkzeugs "WattWatcher" erfolgen. Die
Schaltungsbeschreibung erfolgt durch eine geeignete Hardware-
Beschreibungssprache auf der RTL-(Register Transfer Level)
Ebene.
Nach der Partitionierung des Schaltungs-Layouts in Schritt S1
wird in dem Schritt S2 jedem Block eine geeignete Versor
gungsspannung zugeteilt, siehe Fig. 2. Im Rahmen dieses
Schritts S2 erfolgt auch eine Überprüfung der Funktionalität
der Schaltung auf RTL-Ebene. Diese RTL-Analyse dient zur Prü
fung, ob die entworfene Schaltung die an sie gestellten Lo
gik-Spezifikationen erfüllt.
In dem Schritt S3 erfolgt die Synthese der Schaltung auf die
Gate-Ebene. Bei der Synthese der Schaltung wird diese in Form
einer Netzliste festgelegt. Die Netzliste umfaßt eine Dar
stellung der Logik-Elemente der Schaltung, z. B. (N)AND- und
(N)OR-Gates, Flip-Flops, Invertierer oder zusammengesetzte
Logik-Grundelemente sowie eine Darstellung sämtlicher Verbin
dungsleitungen zwischen diesen Logik-Elementen. Die Darstel
lung eines Logik-Elements der Netzliste wird als logische
Zelle bezeichnet und eine Verbindung zwischen den logischen
Zellen wird als eine Knotenverbindung bezeichnet. Die in der
Netzliste benötigten Zellen sind in Technologie-Zellenbiblio
theken hinterlegt, auf die im Syntheseschritt und in den da
rauffolgenden Schritten zugegriffen wird. Im folgenden wird
vorausgesetzt, daß eine logische Zelle einem Logik-Element
der tatsächlichen Schaltung entspricht, welches nur von einer
Versorgungsspannung betrieben wird, d. h., eine logische Zelle
in der Netzliste ist gemäß der zuvor erfolgten Partitionie
rung der Schaltung stets genau einer Versorgungsspannung zu
geordnet.
Fig. 3 zeigt eine exemplarische Darstellung eines einer ein
zigen Versorgungsspannung zugehörigen Schaltungsabschnitts,
z. B. eines der in Fig. 2 dargestellten Schaltungsblöcke SB1
beziehungsweise SB2 oder eines Teilbereichs davon, anhand der
logischen Zellen und Knotenverbindungen, d. h. mit anderen
Worten in Form einer Netzliste. Die Netzliste umfaßt die Ein
gänge i3, i2, i1, clkin, clkin2 und die Ausgänge out1 und
out2. Der in Fig. 3 dargestellte logische Block umfaßt sei
nerseits logische Zellen in Form von AND-Gates 1, einem OR-
Gate 2, Treibern 3, invertierenden Treibern 4 und Flip-Flops
5, welche über die Takt-Eingänge clkin und clkin2 getaktet
werden. Die Knotenverbindungen der logischen Zellen 1, 2, 3,
4, 5 sind in der Fig. 3 graphisch dargestellt. Der in Fig. 3
dargestellte Schaltungsblock kann auch selbst als logische
Zelle ("Makrozelle") betrachtet werden.
Erfindungsgemäß wird jeder logischen Zelle der Netzliste eine
Kennung zugeordnet, welche angibt, welcher Versorgungsspan
nung das der logischen Zelle entsprechende (tatsächliche) Logik-Element
angehört. Die entsprechende Festlegung wurde, wie
bereits beschrieben, im Schritt S2 durchgeführt.
Zur Kennzeichnung der logischen Zellen kann ein Zellsuffix
verwendet werden. Eine Zelle AND, die sich in einer 2 Volt-
(V-)Spannungsumgebung befindet, wird beispielsweise als
AND_2v bezeichnet, eine Zelle AND in einer 3 V-Spannungs
umgebung wird entsprechend als AND_3v vermerkt. Durch diese
Kennung wird erreicht, daß unterschiedlichen Versorgungsspan
nungen zugeordnete Zellen im Netzlistenformat voneinander un
terscheidbar sind. Von nun ab können alle nachfolgenden Ent
wurfs-Werkzeuge auf diese Kennung zurückgreifen.
Die Kennzeichnung der logischen Zellen z. B. durch Zellsuf
fizes bedingt, daß die Technologie-Zellenbibliotheken ent
sprechend aufgebaut werden müssen, d. h. die Kennzeichnung un
terstützen müssen. In diesem Zusammenhang wird darauf hinge
wiesen, daß bisherige Hardware-Beschreibungssprachen (wie
beispielsweise Verilog) keine Bibliothekenverwaltung besit
zen, welche es erlauben würde, einer logischen Zelle eine
Kennung in der beschriebenen Form hinzuzufügen.
Bei dem in Fig. 3 betrachteten Beispiel, in welchem sämtli
chen logischen Zellen 1, 2, 3, 4, 5 die gleiche Versorgungs
spannung zugeordnet ist, ist auch die aus den genannten logi
schen Zellen aufgebaute logische Makrozelle einer einzigen
Versorgungsspannung zugeordnet. Die Makrozelle läßt sich da
her in gleicher Weise wie die einzelnen logischen Zellen
durch einen (willkürlich gewählten) Namen und ein Zellsuffix
bezeichnen.
In der Netzliste sind unterschiedlichen Versorgungsspannungen
zugeordnete logische Zellen beziehungsweise logische Makro
zellen miteinander verbunden. Hierfür müssen Schaltschwellen-
Umsetzer zwischen den entsprechenden Aus- und Eingängen der
miteinander in Verbindung stehenden Zellen eingefügt werden.
Der Grund für dieses Erfordernis wird an einem Beispiel er
läutert:
Eine logische "1" ergibt am Ausgang eines 1 V Logik-Elements einer Schaltung einen Spannungspegel von 1 V. Wird mit diesem Spannungspegel der Eingang eines z. B. 5 V Logik-Elements be aufschlagt, liegt ein unbestimmtes Eingangssignal an, da die Schaltschwelle des 5 V Logik-Elements bei etwa 1,0 V liegt. Im umgekehrten Fall würde der Eingang eines 1 V Logik-Ele ments mit 5 V beaufschlagt. Dies würde das 1 V Logik-Element der Schaltung zerstören.
Eine logische "1" ergibt am Ausgang eines 1 V Logik-Elements einer Schaltung einen Spannungspegel von 1 V. Wird mit diesem Spannungspegel der Eingang eines z. B. 5 V Logik-Elements be aufschlagt, liegt ein unbestimmtes Eingangssignal an, da die Schaltschwelle des 5 V Logik-Elements bei etwa 1,0 V liegt. Im umgekehrten Fall würde der Eingang eines 1 V Logik-Ele ments mit 5 V beaufschlagt. Dies würde das 1 V Logik-Element der Schaltung zerstören.
Der Einbau von Schaltschwellen-Umsetzern erfolgt auf der Ent
wurfsebene im Netzlistenformat durch Zwischenschaltung von
logischen Schaltschwellen-Umsetzerzellen zwischen logischen
Zellen unterschiedlicher Versorgungsspannungen. Die Zwischen
schaltung erfolgt im Entwurfsablauf automatisch auf der Basis
von Verbindungsattributen, welche sämtlichen Ein- und Ausgän
gen der logischen Zellen zuvor zugeordnet wurden. Ein- und
Ausgänge mit identischen Verbindungsattributen werden direkt
verbunden, zwischen Ein- und Ausgängen, die unterschiedliche
Verbindungsattribute aufweisen, wird eine Schaltschwellen-
Umsetzerzelle eingefügt.
Die Zuweisung von Verbindungsattributen zu den Ein- und Aus
gängen einer Zelle erfolgt in Abhängigkeit von dem Zellsuffix
der Zelle. Eine erste Möglichkeit besteht darin, jedem Zell
suffix eineindeutig ein Verbindungsattribut zuzuordnen. Dies
hat zur Folge, daß in jedem Verbindungsknoten zwischen Zellen
unterschiedlicher Versorgungsspannungen stets eine Schalt
schwellen-Umsetzerzelle eingebaut wird. Eine zweite Möglich
keit besteht darin, unterschiedlichen Zellsuffizes zumindest
für einige der Zellsuffizes ein und dasselbe Verbindungsat
tribut zuzuordnen. Dadurch kann z. B. erreicht werden, daß
Zellen, deren Versorgungsspannungen nicht weit voneinander
entfernt liegen, ohne die Zwischenschaltung von Schaltschwel
len-Umsetzerzellen synthetisiert werden.
Der Einbau von Schaltschwellen-Umsetzerzellen kann ggf. auch
noch im Rahmen der sogenannten "Place & Root"-Funktionalität
des Synthese-Entwurfswerkzeugs erfolgen. Im Rahmen dieses
Schrittes (S3) kann eine nochmalige Überprüfung und Optimie
rung des Schaltungsdesigns in Bezug auf ihr Leistungsverhal
ten erfolgen. Im Unterschied zu der in Schritt S1 durchge
führten Erst-Beurteilung des Schaltungs-Layouts unter Lei
stungsverbrauchs-Gesichtspunkten erfolgt dieser Schritt nun
auf der Basis der Netzliste (d. h. auf Gate-Ebene) und durch
gezielte Änderungen von Kennungen bzw. Zellsuffizes.
Ein Beispiel eines Codes im Synopsis-.lib-Format zur Zuwei
sung von Verbindungsattributen ("connection_classes") lautet
wie folgt:
Dabei wird sämtlichen Ein- und Ausgängen der logischen Zellen
mit den Namen "buffer", "nand", "or", "low_voltage_cell_y"
das Verbindungsattribut "vdd" zugeordnet.
Ein Beispiel für den Code einer Schaltschwellen-Umsetzerzelle
liest sich folgendermaßen:
Mit diesem Code wird eine Schaltschwellen-Umsetzerzelle mit
dem Namen "vdd_y_to_vdd_x_shifter" definiert, welche Aus
gangs-Anschlüsse mit dem Verbindungsattribut "vdd_x" mit Ein
gangs-Anschlüssen, welche dem Verbindungsattribut "vdd_y" zu
geordnet sind, verbindet.
In dem Schritt S4 erfolgt die Analyse des Schaltungsentwurfs
in Bezug auf ihr Zeitverhalten. Es wird zumeist eine stati
sche Analyse vorgenommen. Der Schritt S4 kann sich in vier
Teilschritte aufgliedern.
Der erste Teilschritt S4.1 wird als Extraktionsschritt be
zeichnet und besteht darin, aus der Netzliste in automati
scher Weise die RC-Werte zu den einzelnen Zellen zu gewinnen.
Hierfür wird auf die Technologie-Zellenbibliotheken und den
darin abgelegten Zelleninformationen zurückgegriffen.
In einem zweiten Teilschritt S4.2 wird eine Zeitverzögerungs
berechnung ("delay-calculation") aus den beim Extraktionsschritt
gewonnenen RC-Werten für sämtliche Zellen durchge
führt. Die berechneten Zeitverzögerungen oder Signal-
Übertragungszeiten werden als Zeitbögen ("timing arcs") in
einem File des Formats .sdf, meist als SDF-File bezeichnet,
abgelegt. Für die Berechnung der Signal-Übertragungszeiten
wird auf Informationen aus der Technologie-Zellenbibliothek
zurückgegriffen. Für die Berechnung der Signal-Übertragungs
zeiten muß der entsprechenden Programmroutine eine Referenz
spannung Uref mitgeteilt werden, bezüglich der die Berechnung
durchgeführt werden soll.
Ein dritter Teilschritt S4.3 wird üblicherweise als "back
annotation" bezeichnet. In diesem Teilschritt wird aus den zu
einer Zelle berechneten Zeitbögen und aus der nochmals be
trachteten Netzliste ein Modell generiert, welches sowohl das
logische Verhalten als auch die Signal-Übertragungszeiten in
dem betrachteten Schaltungsobjekt so gut wie möglich wieder
gibt. Das Modell ist Grundlage der weiteren Analyse in
Schritt S4.4.
Der Modellberechnung liegt ein Ausschnitt der Netzliste zu
grunde, der als (logisches) Objekt bezeichnet wird. Das logi
sche Objekt (sowie das durch dieses beschriebene Schaltungs
objekt) ist einer oder mehreren Versorgungsspannungen zuge
ordnet, d. h. es kann sich je nach der zu lösenden Entwurfs
aufgabe sowohl um einen Teilabschnitt (Block) der Schaltung
als auch um mehrere Blöcke oder um die Gesamtschaltung han
deln. Das logische Objekt ist eindeutig durch die von ihm um
faßten logischen Zellen sowie deren Knotenverbindungen defi
niert.
Als Eingangsgrößen für die Modellberechnung wird die Netzli
ste des zu modulierenden Objekts, Informationen aus der Tech
nologie-Zellenbibliothek und Informationen bezüglich des
zeitlichen Verhaltens der Umgebung des zu modulierenden Ob
jekts (z. B. Taktgeber etc.) in der Schaltung verwendet.
Logische Zellen gleicher Funktionalität aber unterschiedli
cher Kennung (d. h. z. B. AND_v2 und AND_v3) werden als ein
Zellentyp bezeichnet. Allgemein gesprochen enthält die Tech
nologie-Zellenbibliothek zu einem gegebenen Zellentyp Daten,
die für den Zellentyp charakteristisch sind und zumindest zum
Teil darüber hinaus auch kennungsabhängig sind. Das heißt,
daß ein erster Datensatz, welcher einer logischen Zelle mit
einer ersten Kennung des gegebenen Zellentyps zugeordnet ist,
sich von einem zweiten Datensatz, welcher einer logischen
Zelle mit einer zweiten Kennung des gleichen Zellentyps zuge
ordnet ist, zumindest in einem Datenwert unterscheidet. Diese
Bedingung muß allerdings nicht für sämtliche Zellentypen er
füllt sein, da bei Zellentypen geringer Empfindlichkeit ge
genüber einer Änderung der Versorgungsspannung auch geringere
Anforderungen an die Genauigkeit der Analyse gestellt werden
können.
Der Zweck der Erstellung von Modellen aus der Netzliste be
steht darin, daß die spätere Gesamtanalyse der Schaltung auf
der Basis der Modelle anstelle der entsprechenden Netzlisten
der Objekte weitaus schneller und aufwandsgünstiger erfolgen
kann. Fig. 7 verdeutlicht die Zeitbögen, welche bezüglich der
Berechnung des Modells für die Signal-Übertragungszeiten zwi
schen jeweils zwei Eingangsanschlüssen beziehungsweise Ein
gangs- und Ausgangsanschlüssen ermittelt wurden. Fig. 6 zeigt
eine schematische Darstellung einer Netzliste des Modells,
dem der in Fig. 3 gezeigte Ausschnitt der Netzliste zugrunde
liegt.
In einem vierten Teilschritt S4.4 erfolgt dann die eigentli
che Analyse des Zeitverhaltens (entweder statisch oder ggf.
auch dynamisch im Rahmen einer Ereignis-Simulation) des ge
samten Schaltungsentwurfs.
Zunächst wird die Vorgehensweise zur Berechnung von Signal-
Übertragungszeiten (Schritt S4.2) nach dem Stand der Technik
erläutert.
Bisherige Technologie-Bibliotheken enthalten ausschließlich
Parameterdaten, die sich auf eine einzige, fest vorgegebene
Versorgungsspannung beziehen. Diese wird als Basisspannung
Ubas der betrachteten Technologie-Zellenbibliothek bezeich
net. Aus diesen Daten werden dann in Schritt S4.2 unter Ver
wendung der extrahierten RC-Werte die Übertragungszeiten für
die entsprechenden Eingangs-zu-Ausgangs-Verbindungen der Zel
le berechnet. Als Referenzspannung Uref für die Berechnung
wird in Schritt S4.2 üblicherweise die Basispannung Ubas ge
wählt.
Umfaßt ein Schaltungsentwurf Zellen oder Blöcke zu unter
schiedlichen Spannungen, werden zwangsläufig zumindest dieje
nigen Zellen beziehungsweise Blöcke in ihrem Zeitverhalten
falsch berechnet, die einer anderen Spannung zugeordnet sind.
Eine von der Basisspannung abweichende Versorgungsspannung
kann in bisherigen Entwurfskonzepten durch Derating-Korrek
turen berücksichtigt werden. Zu diesem Zweck wird ein soge
nannter k-Faktor, der auch als Derating-Parameter bezeichnet
wird, verwendet. Der k-Faktor ist ebenfalls in der betrachte
ten Technologie-Zellenbibliothek als Parameter für die be
trachtete Zelle (zur Basisspannung) abgespeichert.
Fig. 5 zeigt ein Schaubild zur Erläuterung des als solchen
bekannten Deratings. In dem Schaubild ist die Signal-Über
tragungszeit D für eine Eingang-zu-Ausgang-Verbindung einer
logischen Zelle über der Versorgungsspannung U aufgetragen.
Die tatsächlich auftretenden Übertragungszeiten sind mit
D*(1,5) für eine Versorgungsspannung von 1,5 V und D*(2,0)
für eine Versorgungsspannung von 2,0 V bezeichnet. Die
strichpunktiert gezeichnete Linie L* läuft durch die beiden
Punkte D*(1,5) und D*(2,0) und repräsentiert das Zeitverhal
ten des tatsächlichen Schaltungsobjekts.
In dem hier dargestellten Beispiel wird von einer Basisspan
nung Ubas = 2,0 V ausgegangen. Die ermittelte Verzögerungs
zeit bei 2,0 V ist in Fig. 5 mit D(2,0) bezeichnet und stellt
eine gute Schätzung für die tatsächlich auftretende Übertra
gungszeit D*(2, 0) dar.
Soll bei Zugrundelegung einer Technologie-Zellenbibliothek
zur Basisspannung 2,0 V die Zeitverzögerung für eine Zelle
oder einen Block bei einer davon abweichenden Versorgungs
spannung U von z. B. 1,5 V errechnet werden, erfolgt dies beim
Derating z. B. gemäß der folgenden Beziehung:
D(U) = Dbas.[1 + k.(U - Ubas)]
Bei der Berechnung wird für Uref der Wert für die Versor
gungsspannung U vorgegeben. In obiger Gleichung bezeichnet
Dbas die Übertragungszeitdauer für die Basisspannung Ubas,
d. h. hier Dbas = D(2,0). Dbas wird im folgenden als charakte
ristische Zeitdauer bezeichnet.
Der k-Faktor stellt die Steigung der Tangente an die Kurve L*
bei der Basisspannung Ubas dar. Wie aus Fig. 5 ersichtlich,
weicht die durch Derating gemäß der obigen Gleichung berech
nete Übertragungszeit D(1,5) für eine Versorgungsspannung von
1,5 V deutlich von dem tatsächlichen Wert D*(1,5) ab.
Auch wenn für das Derating ein Polynom höherer Ordnung mit
mehreren k-Faktoren herangezogen wird, bleibt der Spannungs
bereich, über den Derating zufriedenstellende Ergebnisse lie
fert, beschränkt.
Der Aufbau der modifizierten Technologie-Zellenbibliothek,
die dem erfindungsgemäßen Vorgehen zugrunde liegt, wird durch
die folgende Tabelle verdeutlicht:
Die erste Spalte der Tabelle betrifft die Basisspannung, wo
bei die Tabelle Zellen bezüglich mehrerer Basisspannungen
Ubas umfaßt. In der zweiten Spalte der Tabelle sind die Namen
(Zelltyp und Kennung) der logischen Zellen aufgelistet und
die dritte Spalte der Tabelle betrifft Technologie-Parameter
zu den einzelnen Zellen, wobei stellvertretend für einen Satz
von Technologieparametern lediglich die charakteristische
Zeitdauer und der k-Faktor für die entsprechende logische
Zelle aufgeführt sind. Die Tabelle verdeutlicht beispielhaft
und ausschnittsweise den Aufbau der erfindungsgemäßen Techno
logie-Zellenbibliothek.
Bezüglich der Basisspannung von 2,0 V entspricht der Aufbau
der Technologie-Zellenbibliothek dem Aufbau einer konventio
nellen auf dieser Spannung basierenden Bibliothek. Der Dera
ting-Parameter bzw. die charakteristische Zeitdauer für die
Zelle AND sind mit k bzw. D bezeichnet und der Derating-
Parameter bzw. die charakteristische Zeitdauer für die Zelle
OR sind mit k' bzw. D' angegeben.
Darüber hinaus umfaßt die Tabelle die den Basisspannungen von
1,5 und 2,5 V zugeordneten Zellen AND_d, OR_d beziehungsweise
AND_u, OR_u gleichen Zellentyps. Die zur Unterscheidung der
Zellen verwendeten Suffizes sind u (für up) und d (für down).
Der Zelle AND_u sind die Parameter D(2,5), k(2,5) sowie wei
tere nicht aufgeführte Parameter zugeordnet, der Zelle OR_u
sind die Parameter D'(2,5), k'(2,5) sowie weitere nicht auf
geführte Parameter zugeordnet, und so weiter.
Die Berechnung der Signal-Übertragungszeiten auf der Basis
der erfindungsgemäßen Technologie-Zellenbibliothek wird fol
gendermaßen durchgeführt.
Wie bereits erwähnt, muß im Schritt S4.2 eine bestimmte Refe
renzspannung Uref eingestellt werden, bezüglich der die Be
rechnung der Zeitbögen (d. h. der Signal-Übertragungszeiten)
erfolgt. Erfindungsgemäß kann nur für Uref ein beliebiger
Spannungswert gewählt werden. Der gewählte Wert hat keinen
Einfluß auf das Berechnungsergebnis, sofern zuvor die im fol
genden beschriebene Transformation oder Normierung der Tech
nologie-Zellenbibliothek auf die Referenzspannung Uref durch
geführt wird und bei der Zeitberechnung dann auf die normier
ten Technologie-Parameter zurückgegriffen wird.
Die Normierung der Parameterdaten in der Technologie-Zellen
bibliothek bezüglich der (beliebig gewählten) Referenzspan
nung Uref erfolgt für die charakteristische Zeitdauer und den
Derating-Parameter nach den folgenden Regeln:
Normierte charakteristische Zeitdauer Dn: In der normierten Technologie-Zellenbibliothek wird als charakteristische Zeit dauer Dn(Z) zu einer betrachteten Zelle Z (z. B. AND_u) ihr entsprechender Technologie-Parameter aus der Technologie- Zellenbibliothek (d. h. für AND_u der Wert D(2,5)) verwendet. Die entsprechende Normierungs-Transformation ist in Fig. 8 durch den Pfeil N1 dargestellt. Analog stellt der Pfeil N2 die Normierungs-Transformation für die Zelle AND_d dar.
Normierte charakteristische Zeitdauer Dn: In der normierten Technologie-Zellenbibliothek wird als charakteristische Zeit dauer Dn(Z) zu einer betrachteten Zelle Z (z. B. AND_u) ihr entsprechender Technologie-Parameter aus der Technologie- Zellenbibliothek (d. h. für AND_u der Wert D(2,5)) verwendet. Die entsprechende Normierungs-Transformation ist in Fig. 8 durch den Pfeil N1 dargestellt. Analog stellt der Pfeil N2 die Normierungs-Transformation für die Zelle AND_d dar.
Normierter Derating-Parameter kn: In der normierten Technolo
gie-Zellenbibliothek wird der Derating-Parameter kn(Z) der
Zelle Z durch die Normierungs-Transformation
kn(Z) = (Ubas(Z)/Uref).k(Z)
bestimmt.
Für Z = AND_u ergibt sich beispielsweise kn(AND_u) =
(2,5 V/Uref).k(2,5). Demzufolge ist kn(Z) von der bei der Nor
mierung verwendeten Referenzspannung Uref abhängig. Anschau
lich wird kn(Z) durch die Steigung der in Fig. 8 eingezeich
neten Geraden G1 (für die Zelle AND_u) und G2 (für die Zelle
AND_d) beschrieben.
Die Zeitberechnung in Schritt S4.2 wird nun auf der Basis der
normierten Technologie-Parameter durch Vorgabe der (der Nor
mierung zugrunde liegenden aber ansonsten beliebigen) Refe
renzspannung Uref durchgeführt. Dadurch wird erreicht, daß
für jede Zelle die richtigen Technologie-Parameter bei der
Berechnung in Schritt S4.2 verwendet werden, obwohl das in
Schritt S4.2 verwendete Werkzeug in konventioneller Weise nur
die Vorgabe einer einzigen schaltungseinheitlichen Spannung
Uref ermöglicht. Mit anderen Worten wird durch die Normierung
der Technologie-Zellenbibliothek erreicht, daß ein Multivol
tage-Schaltungsentwurf mit einem herkömmlichen Zeitanalyse-
Werkzeug berechnet werden kann.
Entsprechend der vorstehend geschilderten Vorgehensweise bei
der Analyse des Zeitverhaltens eines Schaltungsentwurfs kann
die der Erfindung zugrunde liegende Zuordnung zwischen Zellen
und Versorgungsspannungen auch zur Analyse anderer physikali
scher Größen ausgenutzt werden.
Claims (11)
1. Verfahren zum rechnergestützten Entwerfen einer Schaltung,
welche Abschnitte unterschiedlicher Versorgungsspannungen um
faßt, mit den Schritten:
- a) Erstellen eines Hardeware-Beschreibungscodes der Schal tung unter Verwendung von logischen Schaltungsblöcken (S1);
- b) Zuteilen einer Versorgungsspannung zu jedem Schaltungs block (S2);
- c) Übertragen des Hardeware-Beschreibungscodes in eine Netz liste, welche logische Zellen und deren Verbindungen um faßt, wobei eine logische Zelle einem Zellentyp ent spricht, dem eine eindeutige Kennung der Versorgungsspan nung, welcher die Zelle zugeordnet ist, hinzugefügt wird (S3); und
- d) Durchführen einer Analyse der Schaltung auf der Basis der Netzliste unter Berücksichtigung der Kennungen der Zellen (S4).
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
- - daß ein Einbau einer Schaltschwellen-Umsetzerzelle zwi schen zwei Zellen mit unterschiedlichen Kennungen erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß jedem Eingang und jedem Ausgang einer Zelle ein Verbin dungsattribut zugeordnet wird;
daß im Schritt (c) ein Ausgang einer ersten Zelle mit einem Eingang einer zweiten Zelle nur dann verbunden werden kann, wenn der Ausgang der ersten Zelle und der Eingang der zwei ten Zelle identische Verbindungsattribute aufweisen; und
daß die Zuweisung von Verbindungsattributen für Ein- und Ausgänge nach einer vorgegebenen Zuordnungsvorschrift zwi schen der Menge der Kennungen und der Menge der Verbin dungsattribute erfolgt.
daß jedem Eingang und jedem Ausgang einer Zelle ein Verbin dungsattribut zugeordnet wird;
daß im Schritt (c) ein Ausgang einer ersten Zelle mit einem Eingang einer zweiten Zelle nur dann verbunden werden kann, wenn der Ausgang der ersten Zelle und der Eingang der zwei ten Zelle identische Verbindungsattribute aufweisen; und
daß die Zuweisung von Verbindungsattributen für Ein- und Ausgänge nach einer vorgegebenen Zuordnungsvorschrift zwi schen der Menge der Kennungen und der Menge der Verbin dungsattribute erfolgt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß einer bestimmten Kennung genau ein nur dieser bestimm
ten Kennung zugeordnetes Verbindungsattribut zuordnet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß mehreren unterschiedlichen Kennungen ein und dasselbe
Verbindungsattribut zuordnet wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Ausgang einer ersten Zelle und dem Eingang
einer zweiten Zelle beim Schritt (c) automatisch eine
Schaltschwellen-Umsetzerszelle eingebaut wird, sofern das
dem Ausgang der ersten Zelle zugeordnete Verbindungsattri
but ungleich dem dem Eingang der zweiten Zelle zugeordneten
Verbindungsattribut ist.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß Schritt (d) eine Zeitablauf-Analyse der Schaltung be
trifft.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß Schritt (d) einen Berechnungsschritt (S4.2) zur Ermitt lung von Signal-Übertragungszeiten innerhalb von Zellen mit unterschiedlichen Kennungen umfaßt, und
daß hierfür auf in einer Technologie-Zellenbibliothek ent haltene kennungsabhängige Technologie-Informationen zu den Zellen zugegriffen wird.
daß Schritt (d) einen Berechnungsschritt (S4.2) zur Ermitt lung von Signal-Übertragungszeiten innerhalb von Zellen mit unterschiedlichen Kennungen umfaßt, und
daß hierfür auf in einer Technologie-Zellenbibliothek ent haltene kennungsabhängige Technologie-Informationen zu den Zellen zugegriffen wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
gekennzeichnet durch
die Schritte:
- - Wahl einer Referenzspannung (Uref);
- - Tranformieren der kennungsabhängigen Technologie-Informa tionen der Zellen in Abhängigkeit von der gewählten Refe renzspannung (Uref); und
- - Durchführen des Berechnungsschrittes für Zellen mit unter schiedlichen Kennungen unter Verwendung der transformierten Technologie-Informationen und der einen gewählten Referenz spannung (Uref).
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß in der Technologie-Zellenbibliothek kennungsabhängige
Derating-Parameter enthalten sind.
11. Verfahren nach Anspruch 9 und 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich ein transformierter Derating-Parameter einer Zelle
Z nach der Gleichung kn(Z) = (Ubas(Z)/Uref).k(Z) berechnet,
wobei Ubas die der Zelle zugeordnete Versorgungsspannung,
k(Z) der Derating-Parameter der Zelle Z bei der Versor
gungsspannung und Uref die Referenzspannung ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10100168A DE10100168A1 (de) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | Entwurf von Schaltungen mit Abschnitten unterschiedlicher Versorgungsspannung |
US10/040,230 US6668356B2 (en) | 2001-01-04 | 2002-01-04 | Method for designing circuits with sections having different supply voltages |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10100168A DE10100168A1 (de) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | Entwurf von Schaltungen mit Abschnitten unterschiedlicher Versorgungsspannung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10100168A1 true DE10100168A1 (de) | 2002-07-18 |
Family
ID=7669745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10100168A Ceased DE10100168A1 (de) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | Entwurf von Schaltungen mit Abschnitten unterschiedlicher Versorgungsspannung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6668356B2 (de) |
DE (1) | DE10100168A1 (de) |
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Publication number | Publication date |
---|---|
US20020124234A1 (en) | 2002-09-05 |
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