DE10043474A1 - Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung - Google Patents
Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender StrahlungInfo
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Abstract
Gemäß der vorliegenden Erfindung werden ein Detektor und ein Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung vorgeschlagen. DOLLAR A Ein Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung weist mehrere Detektoreinheiten (2), die eine Nachweisfläche (1) bilden, zum Detektieren der einfallenden Strahlung und zur Abgabe entsprechender Bildinformationen, eine Verarbeitungseinrichtung (10) zum Verarbeiten der von den Detektoreinheiten (2) abgegebenen Bildinformationen, eine Verschiebeeinrichtung (9) zum Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1), und mindestens ein relativ zur Verschiebung der von den Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1) ortsfestes Element (4), das von mindestens einer Detektoreinheit (2) im Rahmen der Detektion einfallender Strahlung nachweisbar ist, auf, wobei die Verarbeitungseinrichtung (10) ein erstes Einzelbild vor Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) und ein zweites Einzelbild oder auch mehrere Einzelbilder nach Verschieben der Nachweisfläche (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) aus von den Detektoreinheiten (2) ausgegebenen Bildinformationen erstellt, und daraufhin ein Gesamtbild aus wenigstens dem ersten und dem zweiten Einzelbild unter Verwendung von Abbildern des mindestens einen Elements (4) in den Einzelbildern zusammensetzt.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Detektor zum
Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung, der zum De
tektieren der einfallenden Strahlung und zur Abgabe ent
sprechender Bildinformationen mehrere Detektoreinheiten, die
zusammen eine Nachweisfläche bilden, aufweist.
In vielen Bereichen der Wissenschaft und des täglichen Lebens
werden vielfältige Messungen mit Hilfe von Strahlung durch
geführt.
Dabei werden bevorzugt Strahlungsarten verwendet, die Körper
zu durchdringen vermögen, da so Erkenntnisse über die Ver
teilung von Materie innerhalb des betrachteten Körpers gewon
nen werden können.
So ist z. B. die Verwendung von Röntgenstrahlung zu Mess
zwecken in der Werkstoffkunde, Flugsicherheit und Medizin
weit verbreitet. Auch radioaktive Strahlung und Licht (elekt
romagnetische Strahlung) finden Verwendung.
Nachteilig an der Verwendung von Körper durchdringender
Strahlung ist, dass diese ab einer bestimmten Intensität bio
logisches Gewebe zerstören kann. Deshalb ist es gerade in der
Medizin erstrebenswert, die für eine Messung erforderliche
Strahlendosis gering zu halten.
Üblicherweise macht man sich zum Nachweis von Strahlung zu
nutze, dass diese fotografische Schichten schwärzt.
Dieses Verfahren hat den Nachteil, dass die so gewonnenen
Aufnahmen zum Nachweis der Strahlung erst chemisch entwickelt
werden müssen und nicht sofort ausgewertet werden können.
Außerdem sind so gewonnenen Aufnahmen nicht direkt der digi
talen Verarbeitung zugänglich.
Ein weiterer Nachteil ist, dass die Auflösung und die Emp
findlichkeit einer fotografischen Schicht zueinander ungefähr
umgekehrt proportional sind: Eine höhere Empfindlichkeit hat
i. d. R. eine geringere Auflösung zur Folge.
Zudem weisen fotographische Schichten einen sehr kleinen Dy
namikbereich auf, wodurch Fehlbelichtungen begünstigt werden
und die Kontrasteigenschaften eingeschränkt sind.
Weiterhin wurden Nachweisverfahren für Strahlung in Form von
elektronischen Detektoreinheiten entwickelt, die sich den Ef
fekt zu Nutze machen, dass Strahlung in Materie Ladungen bzw.
Ladungsänderungen erzeugen kann.
Die bekannten elektronischen Detektoreinheiten weisen übli
cherweise eine hochauflösende Nachweisfläche von einigen mm2
bis zu einigen cm2 auf. Diese hochauflösenden Nachweisflächen
setzen sich wiederum aus Pixeln, d. h. kleinen Halbleiter
detektoren, die die einzelnen Bildpunkte der hochauflösenden
Nachweisfläche bilden, zusammen. Die Größe und Verteilung
("Dichte") dieser Pixel bestimmt die Auflösung der hochauf
lösenden Nachweisfläche. Üblicherweise liegen die Dimensionen
eines Pixel in einem Bereich zwischen einigen 10 µm2 bis zu
einigen 10000 µm2 Fläche.
Aus technischen Gründen ist die Zahl der dicht auf einer sol
chen hochauflösenden Nachweisfläche realisierbaren Pixel be
schränkt, so dass bekannte hochauflösende Nachweisflächen in
der Regel nur eine Fläche von bis zu einigen Quadratzentime
tern aufweisen.
Geeignet sind derartige elektronische Detektoreinheiten für
jede Art von Strahlung, die in Materie Ladung zu erzeugen
vermag, wie z. B. Röntgenstrahlung, radioaktive Strahlung oder
auch Licht (elektromagnetische Strahlung).
Vorteilhaft an von elektronischen Detektoreinheiten gebilde
ten Nachweisflächen ist zum einen, dass die gewonnenen Mess
ergebnisse sofort in digitalisierter Form zur Verfügung ste
hen.
Weiter lässt sich die für eine Messung benötigte Strahlungs
dosis durch die Verwendung elektronischer Detektoreinheiten
reduzieren, da diese eine sehr hohe Empfindlichkeit aufweisen
und alle Mittel der elektronischen Signalverarbeitung (z. B.
Verstärkung und Filterung) verwendet werden können.
Für bestimmte Anwendungen, wie z. B. die Röntgendiagnostik,
werden großformatige Nachweisflächen von einigen 100 cm2 bis
zu einigen 1000 cm2 benötigt, die gleichzeitig eine hohe Orts
auflösung aufweisen.
Derart große Nachweisflächen werden benötigt, da i. d. R. eine
Aufnahme des zu vermessenden Objektes im Maßstab 1 : 1 ge
wünscht wird.
Um eine solche großformatige Nachweisfläche eines Detektors
zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung zu
erstellen, ist es bekannt, diese aus einer Vielzahl von De
tektoreinheiten, die jeweils eine Nachweisfläche zum Detek
tieren der einfallenden Strahlung aufweisen, zusammen
zusetzen.
Eine solche, aus einer Vielzahl von kleinformatigen, Nach
weisflächen 3 einer Vielzahl von Detektoreinheiten 2 zusam
mengesetzte Nachweisfläche 1 ist in den Fig. 7, 8 abgebil
det. Die einzelnen Detektoreinheiten 2 sind dabei vorzugswei
se systematisch auf einer Platine angeordnet.
Da nur innerhalb der hochauflösenden Nachweisflächen 3 der
Detektoreinheiten 2 die Pixel dicht aneinander stoßen, und
die einzelnen Detektoreinheiten 2 aus technischen Gründen
nicht abstandsfrei in einer Ebene angeordnet werden können,
weist die so gebildete Nachweisfläche 1 Lücken in den Zwi
schenräumen zwischen den Nachweisflächen 3 auf.
Zum Erstellen eines lückenlosen, hochauflösenden, groß
formatigen Gesamtbildes mit Hilfe der Nachweisfläche 1 ist es
deshalb bekannt, das Gesamtbild aus mehreren geringfügig ge
geneinander verschobenen Einzelbildern zusammenzusetzen.
Dazu wird, wie in Fig. 8 gezeigt, die Nachweisfläche 1 des
ortsauflösenden Pixeldetektors nach Aufnahme eines ersten
Einzelbildes um ein genau definiertes Stück B (z. B. 60 Pixel
nach links, 50 Pixel nach unten) verschoben, so dass die Lü
cken in dem ersten Einzelbild zumindest weitgehend geschlos
sen werden.
An der neuen Position der Nachweisfläche 1' wird ein zweites
Einzelbild aufgenommen.
Da die Lücken in dem ersten Einzelbild aufgrund des Aufbaus
der Nachweisfläche 1 von vornherein bekannt sind (die Anord
nung der Detektoreinheiten 2 auf der Platine ist bekannt),
kann das gewünschte, hochauflösende, großformatige Gesamtbild
bei einer solchen Vorgehensweise dadurch erzeugt werden, dass
genau vorgegebene Pixel des zweiten Einzelbildes in die Lü
cken des ersten Einzelbildes eingeblendet werden (beispiels
weise werden die Pixel des zweiten Einzelbildes, die in den
Spalten 5-10, 20-25, . . . und in den Zeilen 7-14, 23-30, . . .
liegen, in die Lücken (Spalten 3-8, 18-23, . . ., Zeilen 2-9,
18-25, . . .) des ersten Einzelbildes eingeblendet).
Je nach Anordnung der die Nachweisfläche 1 bildenden Detek
toreinheiten 2 können auch, wie in dem in Fig. 8 gezeigten
Beispiel, mehr als zwei gegeneinander verschobene Einzelbil
der nötig sein, um ein lückenloses Gesamtbild der einfallen
den Strahlung zu erstellen.
Nachteilig an dem eben beschriebenen Stand der Technik sind
besonders die hohen mechanischen Anforderungen an die Ver
fahrmechanik des Detektors. Die oben beschriebene Vor
gehensweise erfordert eine Präzision und Reproduzierbarkeit
in der Verschiebung B der Nachweisfläche 1 des Detektors, die
kleiner ist als die Auflösung (Pixelgröße) der hochauf
lösenden Nachweisflächen 3 der Detektoreinheiten 2 (üblicher
weise ca. 100 µm2).
Bereits geringste Erschütterungen oder Verformungen infolge
von Wärme gefährden die exakte Reproduzierbarkeit der Ver
schiebebewegung und somit die exakte Wiedergabe des Gesamt
bildes.
Die aufwendige Verfahrmechanik schränkt auch das maximal zu
lässige Gewicht des zu verfahrenden Detektors ein. Weiter ist
in diesem Zusammenhang zu beachten, dass die Einzelbilder
möglichst zeitnah aufgenommen werden müssen, um Fehler auf
grund einer Bewegung des betrachteten Objektes gering zu hal
ten oder auszuschließen.
Hieraus folgen hohe Geschwindigkeits- und Beschleunigungs
anforderungen, die an die Verfahrmechanik zu stellen sind.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Detektor und
ein Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung zur Verfügung zu stellen, die in einfacher, genauer
und effizienter Weise die Erzeugung eines Gesamtbildes aus
mit einer Vielzahl von Detektoreinheiten erzeugten Einzel
bildern ermöglichen.
Die obige Aufgabe wird durch einen Detektor zum Erzeugen ei
nes Bildes aus einfallender Strahlung gelöst, der aufweist:
- - mehrere Detektoreinheiten, die eine Nachweisfläche bilden, zum Detektieren der einfallenden Strahlung und zur Abgabe entsprechender Bildinformationen,
- - eine Verarbeitungseinrichtung zum Verarbeiten der von den Detektoreinheiten abgegebenen Bildinformationen,
- - eine Verschiebeeinrichtung zum Verschieben der durch die Detektoreinheiten gebildeten Nachweisfläche,
- - mindestens ein relativ zur Verschiebung der von den Detek toreinheiten gebildeten Nachweisfläche ortsfestes Element, das von mindestens einer Detektoreinheit im Rahmen der Detek tion einfallender Strahlung nachweisbar ist,
wobei die Verarbeitungseinrichtung ein erstes Einzelbild vor
Verschieben der durch die Detektoreinheiten gebildeten Nach
weisfläche durch die Verschiebeeinrichtung und ein zweites
Einzelbild nach Verschieben der Nachweisfläche durch die Ver
schiebeeinrichtung aus von den Detektoreinheiten ausgegebenen
Bildinformationen erstellt, und daraufhin ein Gesamtbild aus
wenigstens dem ersten und dem zweiten Einzelbild unter Ver
wendung von Abbildern des mindestens einen Elements in den
Einzelbildern zusammensetzt.
Aufgrund des wenigstens einen, relativ zur Verschiebung der
Nachweisfläche ortsfesten Elements, das von zumindest einer
der Detektoreinheiten im Rahmen der Detektion einfallender
Strahlung nachweisbar ist, ist es möglich, für jedes der Ein
zelbilder, die durch Verschieben der Nachweisfläche zwischen
den Aufnahmezeitpunkten relativ zueinander verschoben sind,
mindestens einen örtlichen Referenzpunkt anzugeben und so ei
ne Beziehung zwischen den Einzelbildern herzustellen.
Weiter ist es mit einem Detektor gemäß der vorliegenden Er
findung möglich, Zonen einfallender Strahlung, die in einem
Einzelbild aufgrund der Anordnung der die Nachweisfläche bil
denden Detektoreinheiten nicht erfasst werden können (soge
nannte "tote Zonen"), mit Hilfe der in einem zweiten Einzel
bild enthaltenen Information zu erfassen, und die Einzelbil
der unter Verwendung von Abbildern der Elemente in den Ein
zelbildern so zu überlagern, dass ein lückenloses Gesamtbild
der einfallenden Strahlung erzeugt wird. Dabei muss das zwei
te Einzelbild gegen das erste Einzelbild verschobenen sein.
Zu beachten ist lediglich, dass in jedem Einzelbild mindes
tens ein identisches Element der Ebene sichtbar ist, so dass
die Einzelbilder mit Hilfe der detektierten Abbilder des we
nigstens einen Elements übereinander gelegt werden können.
Es ist besonders vorteilhaft, wenn mindestens drei von
einander beabstandete Elemente so angeordnet sind, dass sie
ein Dreieck aufspannen, da so nicht nur jede translatorische,
sondern auch jede rotatorische oder auch Kippbewegung der
Nachweisfläche zwischen den Aufnahmezeitpunkten der Einzel
bilder detektiert werden kann.
Bei einer solchen Anordnung der Elemente ist es bei Bedarf
(z. B. Verzerrung der Einzelbilder aufgrund einer Kippbewegung
der Nachweisfläche) auch möglich die Einzelbilder vor Bildung
des Gesamtbildes rechnerisch zu korrigieren.
In einer bevorzugten Ausführungsform sind eine Vielzahl von
voneinander beabstandeten Elementen vorgesehen, die in Form
einer periodischen Struktur angeordnet sind.
Sind die Elemente in Vielzahl vorhanden, so können Fehler
aufgrund defekter Elemente oder defekter Detektoreinheiten
minimiert werden.
Eine Anordnung der Elemente in Form periodischer Strukturen
ist von Vorteil, da diese bei einer geeigneten Transformation
der in den Einzelbildern enthaltenen Information deutlich als
Delta-Funktionen hervor treten. Somit können sie einfach de
tektiert und aus den Einzelbildern ohne Verlust gewünschter
Information entfernt werden.
Eine solche geeignete Transformation ist die Fouriertrans
formation.
Vorzugsweise erstrecken sich die Elemente über den ganzen
Verschiebebereich der von den Detektoreinheiten gebildeten
Nachweisfläche.
Dadurch kann ein Gesamtbild aus beliebig vielen sich über
lappenden Einzelbildern zusammengesetzt werden, da sich somit
immer Abbilder einer Teilmenge der Elemente in den Einzel
bildern nachweisen lassen.
Eine periodische Struktur, in deren Form die Elemente ange
ordnet sind, kann ein Gitter, vorzugsweise ein ideales, d. h.
punktförmiges Gitter oder ein Sinus-Gitter sein, da bei einer
geeigneten Transformation (z. B. Fouriertransformation) einer
solchen periodischen Struktur keine Oberwellen (z. B. im Fou
rierraum) auftreten.
Vorzugsweise ist die Anzahl der Elemente und die Maschenweite
des Gitters so gewählt, dass jeder der die Nachweisfläche
bildenden Detektoreinheiten mindestens ein Element zugeordnet
ist.
Dadurch ist sichergestellt, dass die von den Elementen gebil
dete Struktur auch dann identifiziert werden kann, wenn ein
zelne Elemente oder auch Bereiche der Detektoreinheiten aus
fallen.
Bei dem erfindungsgemäßen Detektor ist die Verschiebe
einrichtung vorzugsweise so ausgebildet, dass sie die durch
die Detektoreinheiten gebildete Nachweisfläche so verschiebt,
dass jeder der die Nachweisfläche bildenden Detektoreinheiten
auch nach der Verschiebung wenigstens ein Element zugeordnet
ist, das der Detektoreinheit bereits vor der Verschiebung zu
geordnet war.
Dadurch können die gegeneinander verschobenen Einzelbilder
mit Hilfe der Abbilder der Elemente in den Einzelbildern auch
ohne jede Kenntnis der Verschiebungsrichtung und Distanz sowie
ohne jede Kenntnis der Struktur der Anordnung der Elemen
te zu einem Gesamtbild zusammengesetzt werden.
Die Elemente haben dabei vorzugsweise eine Größe, die der
kleinsten von den Detektoreinheiten nachweisbaren Größe ent
spricht.
Durch diese Dimensionierung der Elemente wird einerseits ga
rantiert, dass diese zuverlässig identifiziert werden können,
und dass andererseits die einfallende Strahlung und somit die
gewünschte Messinformation nicht unnötig beeinträchtigt wird.
Es ist von besonderem Vorteil, wenn die Elemente in einer E
bene liegen, die ungefähr parallel zu der von den Detektor
einheiten gebildeten Nachweisfläche angeordnet ist, so dass
Verzerrungen der Abbilder der Elemente in den Einzelbildern
vermieden werden können.
Gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung bestehen die Elemente aus einer Substanz,
die einfallende Strahlung absorbiert.
Vorzugsweise sind die Elemente Bleikügelchen oder Indium
kügelchen.
Da die Elemente gemäß dem ersten bevorzugten Ausführungs
beispiel aus einer Substanz bestehen, die einfallende Strah
lung ganz oder teilweise absorbiert, können sie einfach und
zuverlässig in den Einzelbildern nachgewiesen werden.
Die Verwendung von Indium ist dabei besonders vorteilhaft, da
diese Substanz Röntgenstrahlung des in det Medizin üblichen
Energieniveaus nicht vollständig zu absorbieren vermag, und
somit die in der das Element treffenden Strahlung enthaltene.
Information nicht verloren geht, sondern von einer darunter
liegenden Detektoreinheit detektiert werden kann.
Gemäß einem zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung absorbieren die Elemente die einfallende
Strahlung nicht, und sind von einer Struktur umgeben, die die
einfallende Strahlung teilweise absorbiert.
Vorzugsweise handelt es sich bei der die Elemente umgebenden
Struktur um eine Absorptionsfolie, so dass die Elemente Lö
cher in dieser Absorptionsfolie sind.
Da das gezielte Einbringen von Löchern in eine Absorptions
folie technisch sehr einfach realisierbar ist, ist es gemäß
diesem Ausführungsbeispiel besonders einfach möglich, die E
lemente großflächig in Form einer periodischen Struktur anzu
ordnen.
Vorzugsweise wird die Absorptionsfolie in Form einer Alumini
umfolie realisiert.
Denkbar wäre aber auch, die die Elemente umgebende Struktur
durch Verwendung einer geeigneten, metallbedampften Glas
scheibe zu realisieren.
Die obige Aufgabe wird auch durch ein Verfahren zum Erzeugen
eines Bildes aus einfallender Strahlung gelöst, das die fol
genden Schritte umfasst:
- - Erstellen eines ersten Einzelbildes einfallender Strahlung mit Hilfe mehrerer Detektoreinheiten, die eine Nachweisfläche bilden,
- - Verschieben der von den Detektoreinheiten gebildeten Nach weisfläche,
- - Erstellen eines zweiten Einzelbildes der einfallenden Strahlung,
- - Identifizierung von Abbildern, die sich in den Einzel bildern aufgrund wenigstens eines Elements ergeben, wobei das wenigstens eine Element relativ zur Verschiebung der Nach weisfläche ortsfest ist, und von mindestens einer der Detek toreinheiten im Rahmen der Detektion einfallender Strahlung nachweisbar ist,
- - Erstellen eines Gesamtbildes durch Überlagerung der Einzel bilder anhand von in den Einzelbildern identifizierten Abbil dern, die auf ein identisches Element zurückzuführen sind,
- - Ausgabe des erstellten Gesamtbildes.
Vorzugsweise durchlaufen die Einzelbilder beim Erstellen des
Gesamtbildes eine geeignete Transformation, so dass ein auf
das wenigstens eine Elemente zurückzuführendes Abbild in den
Einzelbildern in Form einer Delta-Funktion identifiziert wer
den kann.
Bei dieser Transformation handelt es sich vorzugsweise um ei
ne Fouriertransformation.
Anhand der so gewonnenen Delta-Funktion können die auf die
Elemente zurückzuführenden Abbilder einfach und zuverlässig
identifiziert, die Einzelbilder anhand der identifizierten
Abbilder überlagert, und danach die Abbilder ohne Verlust an
gewünschter Information aus den Einzelbildern und somit auch
aus dem Gesamtbild entfernt werden.
In einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfin
dung wird das Gesamtbild aus so vielen gegeneinander verscho
benen Einzelbildern gewonnen, dass jeder Punkt des Gesamtbil
des in wenigstens zwei gegeneinander verschobenen Einzelbil
dern enthalten ist.
Dadurch ist sichergestellt, dass jeder Punkt des Gesamtbildes
von wenigstens zwei verschiedenen Detektoreinheiten oder Ab
schnitten/Bildpunkten (Pixel) einer Detektoreinheit auf
genommen wird. Fehler aufgrund einzelner schadhafter Ab
schnitte oder Bildpunkte (Pixel) der Detektoreinheiten lassen
sich so wirkungsvoll unterdrücken.
Auch graduelle Korrekturen von Teilinhomogenitäten der Detek
toreinheiten sind so möglich.
Wenn für jede Detektoreinheit mindestens ein Element vor
gesehen ist, ist es besonders vorteilhaft, wenn die Nachweis
fläche so verschoben wird, dass jeder Detektoreinheit stets
mindestens ein Element zugeordnet ist.
Auf Grund der großen Anzahl von Elementen können Fehler auf
grund defekter Elemente oder defekter Detektoreinheiten wir
kungsvoll unterdrückt und die von den Elementen gebildete
Struktur besonders leicht und sicher detektiert werden.
Vorzugsweise wird die Nachweisfläche so verschoben, dass je
der Detektoreinheit vor und nach dem Verschieben dasselbe
mindestens eine Element zugeordnet ist.
Dadurch ist es möglich, die Einzelbilder mit Hilfe der Abbil
der der Elemente auch ohne jede Kenntnis der Verschiebungs
richtung und Distanz sowie ohne jede Kenntnis der Struktur
der Anordnung der Elemente zu einem Gesamtbild zusammenge
setzt werden.
Vorzugsweise wird bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die von
den Detektoreinheiten gebildete Nachweisfläche nicht in dis
kreten Schritten, sondern konstant verschoben, und werden die
Einzelbilder bei genügend kurz gewählter Belichtungszeit wäh
rend der Verschiebung der Nachweisfläche erstellt.
Dadurch ist es möglich, die Einzelbilder sehr schnell hinter
einander aufzunehmen, da nicht erst eine neue Halteposition
für die Nachweisfläche angefahren werden muss. Dies ist be
sonders bei der Betrachtung von nicht statischen Objekten o
der sehr großen Objekten von Vorteil.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsbeispiele der vor
liegenden Erfindung unter Zuhilfenahme von Figuren beschrie
ben. In den Figuren sind gleiche Elemente mit den gleichen
Bezugszeichen versehen. Dabei zeigen:
Fig. 1 eine Aufsicht auf die Nachweisfläche eines Detektors
zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung
gemäß der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 den schematischen Messaufbau eines Detektors gemäß
der vorliegenden Erfindung,
Fig. 3 schematisch in Aufsicht eine Verschiebung der Nach
weisfläche gegenüber den ortsfesten Elementen zur
Aufnahme zweier Einzelbilder gemäß der vorliegenden
Erfindung,
Fig. 4 ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
bei dem ein Gesamtbild aus vier Einzelbildern gewon
nen wird,
Fig. 5 ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
bei dem das zu erstellende Gesamtbild sehr viel grö
ßer als die Nachweisfläche des Detektors ist,
Fig. 6 ein Ablaufdiagramm des erfindungsgemäßen Verfahrens
zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strah
lung,
Fig. 7 eine Aufsicht auf die Nachweisfläche eines Detektors
nach dem Stand der Technik, und
Fig. 8 schematisch in Aufsicht eine Verschiebung einer
Nachweisfläche eines Detektors nach dem Stand der
Technik zur Aufnahme zweier Einzelbilder.
Wie in Fig. 1 gezeigt, besteht eine Nachweisfläche 1 eines
erfindungsgemäßen Detektors zum Erzeugen eines Bildes aus
einfallender Strahlung aus einer Vielzahl kleinerer, zumeist
hochauflösender Nachweisflächen 3 einer Vielzahl zumeist dis
kret in einer Ebene angeordneter Detektoreinheiten 2.
Die Nachweisflächen 3 der Detektoreinheiten 2 bestehen vor
zugsweise wiederum aus systematisch angeordneten Halbleiter
detektoren, den einzelnen Bildpunkten, die im Folgenden Pixel
genannt werden.
Die Detektoreinheiten 2 sind in dem in Fig. 1 gezeigten Bei
spiel systematisch in Form eines Rasters auf einer Platine
angeordnet. Der Abstand zwischen den einzelnen hochauf
lösenden Nachweisflächen 3 der einzelnen Detektoreinheiten 2
ist dabei möglichst klein gewählt, so dass die Platine mög
lichst dicht mit Detektoreinheiten 2 bestückt ist, um die
Nachweisfläche 1 zu bilden.
Die Detektoreinheiten 2 weisen dabei jeweils vorzugsweise ei
ne Nachweisfläche 3 von einigen mm2 bis zu einigen cm2 auf.
Die Größe der die hochauflösenden Nachweisflächen 3 bildenden
Pixel beträgt zwischen 10 µm2 und 1000 µm2, vorzugsweise 100 µm2.
In den Fig. 3, 4 und 5 werden die Nachweisflächen 3 nicht
mehr eigens gezeigt.
Aufgrund der in Fig. 1 gezeigten Abstände zwischen den De
tektoreinheiten 2 existieren in den Bereichen zwischen den
einzelnen Nachweisflächen 3 der Detektoreinheiten 2, die die
Nachweisfläche 1 bilden, "tote" Zonen, in denen keine ein
fallende Strahlung nachgewiesen werden kann.
Somit kann aus einer einzigen Messung (Einzelbild) kein voll
ständiges Gesamtbild der einfallenden Strahlung gewonnen wer
den.
In soweit entspricht die Nachweisfläche des erfindungsgemäßen
Detektors dem in der Einleitung beschriebenen Stand der Tech
nik.
Der Nachweisfläche 1 des erfindungsgemäßen Detektors sind E
lemente 4 überlagert, die in einer zu der Nachweisfläche 1
ungefähr parallelen Ebene liegen, und relativ zu einer Ver
schiebung der Nachweisfläche 1 ortsfest sind.
In den folgenden Ausführungsbeispielen sind die Elemente 4 in
Form eines regelmäßigen Gitters angeordnet.
Es können aber auch andere, vorzugsweise flächig periodische
Anordnungen, wie z. B. ein Sinus-Gitter verwendet werden.
Auch ist für den erfindungsgemäßen Erfolg bereits ein einzi
ges Element 4 ausreichend.
Gemäß einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung bestehen die Elemente 4 aus einer Sub
stanz, die einfallende Strahlung absorbiert, und weisen vor
zugsweise eine Größe auf, die von den Detektoreinheiten gera
de noch nachweisbar ist. Bei den hier gezeigten, aus Pixel
(Bildpunkten) bestehenden Detektoreinheiten 2 liegt die Größe
der Elemente 4 somit im Bereich der Pixelgröße, d. h. vorzugs
weise zwischen 50 µm2 und 200 µm2.
In dem ersten Ausführungsbeispiel bestehen die Elemente 4 aus
Indium, da diese Substanz Röntgenstrahlung des für medizini
sche Anwendungen üblicherweise interessierenden Energieni
veaus nicht vollständig absorbieren kann. Die Verwendung von
Indium birgt damit den Vorteil, dass in den Einzelbildern
auch die Pixel der Detektoreinheiten 2 noch ein Messergebnis
liefern, die hinter einem Element 4 liegen.
Natürlich können für die Elemente 4 auch andere Substanzen
verwendet werden, die die betrachtete Strahlung ganz oder
teilweise absorbieren, wie z. B. Blei.
Getragen werden die Elemente von einem nicht abgebildeten
Tragelement, das aus einer Substanz besteht, die möglichst
keine Strahlung des interessierenden Energieniveaus absor
biert. In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist das Trag
element in Form einer Glasscheibe realisiert.
Gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er
findung absorbieren die Elemente 4 die einfallende Strahlung
nicht, sondern sind von einer Struktur umgeben, die einfal
lende Strahlung teilweise absorbiert.
Im vorliegenden zweiten Ausführungsbeispiel sind die Elemen
te 4 durch Löcher in einer Absorptionsfolie, die vorzugsweise
aus Aluminium besteht, realisiert.
Auch in diesem Ausführungsbeispiel weisen die Elemente 4 vor
zugsweise eine Größe im Bereich der Pixelgröße, d. h. vorzugs
weise zwischen 50 µm2 und 200 µm2 auf, so dass sie bezogen auf
das Auflösevermögen der Detektoreinheiten 2 gerade noch nach
weisbar sind.
Die Verwendung einer Aluminiumfolie geeigneter Dicke als Ab
sorptionsfolie ist von besonderem Vorteil, da diese Röntgen
strahlung des für medizinische Röntgendiagnostik interessie
renden Energieniveaus nur zu einem geringen Teil absorbieren
kann und somit zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung in Folge der Absorptionsfolie keine nennenswerte
Erhöhung der Strahlendosis notwendig ist.
Natürlich kann die die Elemente 4 umgebende Struktur auch an
ders als in Form einer Absorptionsfolie realisiert werden,
wie z. B. durch eine metallbedampfte Glasscheiben.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, sind die ortsfesten Elemente 4
bevorzugt in einer Ebene 5 angeordnet, die zu der von den De
tektoreinheiten 2 gebildeten Nachweisfläche 1 ungefähr paral
lel ist. Weiter liegt die von den Elementen 4 aufgespannte
Ebene 5 in dem in Fig. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel bezo
gen auf eine Strahlenquelle 6 zwischen einem betrachteten Ob
jekt 7 und der großformatigen Nachweisfläche 1.
Für den erfindungsgemäßen Erfolg könnte sich das betrachtete
Objekt 7 bezogen auf die Strahlenquelle 6 auch zwischen der
von den Elementen 4 aufgespannten Ebene 5 und der Nachweis
fläche 1 befinden.
Vorzugsweise sind die Elemente 4 jedoch in einer Ebene an
geordnet, die sich in der Nähe der Nachweisfläche 1 befindet,
um Störungen auf Grund von Streustrahlung zu reduzieren.
Um auch die oben im Zusammenhang mit Fig. 1 beschriebenen
"toten Zonen" erfassen zu können, weist der erfindungsgemäße
Detektor eine in Fig. 5 schematisch abgebildete Verschiebe
einrichtung 9 zum Verschieben der aus den Detektoreinheiten 2
gebildeten Nachweisfläche 1 auf.
Die Verschiebeeinrichtung 9 für die Nachweisfläche 1 ist ge
eignet, die in Fig. 3 gezeigte Nachweisfläche 1 um die Stre
cke A zu verschieben. In dem in Fig. 3 gezeigten Aus
führungsbeispiel findet die Verschiebung der Nachweisfläche 1
planar, d. h. innerhalb der Ebene statt, die die Nachweisflä
che 1 aufspannt.
Entscheidend bei der Verschiebung der Nachweisfläche 1 ist
jedoch lediglich, dass die nachzuweisende einfallende Strah
lung vorzugsweise ungefähr senkrecht auf die Nachweisfläche 1
des Detektors auftreffen sollte, um Verzerrungen zu vermei
den.
Die Elemente 4 werden bei einer Verschiebung der Nachweis
fläche 1 ausdrücklich nicht mitverschoben.
Der Detektor gemäß der vorliegenden Erfindung weist ferner
eine in Fig. 5 mit dem Bezugszeichen 10 versehene Ver
arbeitungseinrichtung 10 zum Verarbeiten der von den Detek
toreinheiten 2 abgegebenen Bildinformationen und zum Zusam
mensetzen eines hochauflösenden, großformatigen Gesamtbildes
aus wenigstens zwei Einzelbildern auf, wobei die Einzelbilder
relativ zueinander durch Verschiebung der Nachweisfläche 1
zwischen den jeweiligen Aufnahmezeitpunkten der Einzelbilder
verschoben sind.
In dem vorliegenden Ausführungsbeispiel ist die Verarbei
tungseinrichtung 10 in Form eines ausreichend leistungsstar
ken Computers realisiert.
Natürlich können für diese Aufgabe auch spezielle Mikro
prozessoren verwendet werden.
Wie aus Fig. 3 gut ersichtlich, liefert die Nachweisfläche 1
ein erstes Einzelbild und die großformatige Nachweisfläche 1'
ein zweites Einzelbild der einfallenden Strahlung. Die Nach
weisfläche 1' entspricht dabei der um die Strecke A ver
schobenen Nachweisfläche 1.
Da die ortsfesten Elemente 4 feste Referenzpunkte für die
Einzelbilder liefern, ist es ein leichtes, die Einzelbilder
mit Hilfe der auf die ortsfesten Elemente 4 zurückzuführenden
Abbildern (Einblendungen oder Ausblendungen) in den Einzel
bildern übereinanderzulegen und so ein Gesamtbild zu erstel
len, in dem zumindest ein Großteil der toten Zonen in den
beiden Einzelbilder eliminiert ist.
Im Gegensatz zu den in den Fig. 1, 3, 4 gezeigten Anord
nungen ist es von Vorteil, die Elemente 4 so anzuordnen, dass
sie den gesamten Bewegungsbereich der von den Detektor
einheiten gebildeten Nachweisfläche 1 abdecken, wie es in
Fig. 5 schematisch gezeigt ist.
Dies ist insbesondere dann notwendig, wenn der Verschiebe
bereich der Nachweisfläche 1 größer als die Nachweisfläche 1
ist.
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf Fig. 6 ein Verfahren
zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung gemäß
der vorliegenden Erfindung erläutert.
In Schritt S1 wird mit Hilfe mehrerer Detektoreinheiten 2,
die eine Nachweisfläche 1 bilden, ein erstes Einzelbild der
auf die Nachweisfläche 1 einfallenden Strahlung erstellt.
In Schritt S2 wird die Nachweisfläche 1 mit Hilfe einer Ver
schiebeeinrichtung 9 verschoben.
In Schritt S3 wird ein zweites Einzelbild der einfallenden
Strahlung erstellt.
Nun ist es möglich in D1 zu entscheiden, ob weitere Einzel
bilder erstellt werden sollen. Ist dies der Fall, so kehrt
das erfindungsgemäße Verfahren zu Schritt S2 zurück. Sollen
keine weiteren Einzelbilder erstellt werden, fährt das erfin
dungsgemäße Verfahren mit Schritt S4 fort.
In Schritt S4 werden mit Hilfe einer Verarbeitungseinrich
tung 10 Abbilder (Einblendungen bzw. Ausblendungen) identifi
ziert, die sich in den Einzelbildern aufgrund von Elementen 4
ergeben, wobei die Elemente 4 relativ zu der Verschiebung der
Nachweisfläche 1 ortsfest sind, und von mindestens einer De
tektoreinheit 2 im Rahmen der Detektion einfallender Strah
lung nachweisbar sind. Dazu werden die in den Einzelbildern
enthaltenen Messinformationen vorzugsweise so transformiert,
dass eine von den Elementen 4 gebildete Struktur deutlich in
Form einer Delta-Funktion hervortritt. Vorzugsweise wird da
bei eine Fouriertransformation verwendet.
In Schritt S5 werden die Einzelbilder unter Zuhilfenahme der
in den Einzelbildern identifizierten Abbildern der Elemente 4
von der Verarbeitungseinrichtung 10 rechnerisch überlagert,
in dem in den Einzelbilder jeweils auf dasselbe Element 4 der
Ebene zurückzuführende Abbilder übereinander gelegt werden.
Das erstellte Gesamtbild wird gegebenenfalls ein weiteres mal
transformiert und in Schritt S6 ausgegeben.
Durch die Transformation(en) ist es nicht nur möglich, auf
die Elemente 4 zurückzuführende Strukturen zu identifizieren,
sondern auch, diese ohne Verlust von gewünschter Messinforma
tion aus den Einzelbildern und dem Gesamtbild zu entfernen.
Voraussetzung hierfür ist jedoch natürlich, dass die Elemen
te 4 hinreichend klein sind.
Mit dem Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung ist es bei
geeignet kurzer Belichtungszeit auch möglich, die Einzel
bilder während der Verschiebung der Nachweisfläche 1 zu
erstellen.
Dies ist in dem in Fig. 4 gezeigten Ausführungsbeispiel
schematisch dargestellt, in dem ein Gesamtbild bei kontinu
ierlich verschobener Nachweisfläche 1 aus vier Einzelbildern
gewonnen wird.
Wie ersichtlich ist in diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel
zudem jeder Punkt des zu erstellenden Gesamtbildes in mindes
tens zwei Einzelbildern enthalten und wird dabei von mindes
tens zwei verschiedenen Bereichen/Bildpunkten (Pixel) eines
oder mehrerer Detektoreinheiten 2 detektiert. Dadurch kann
eine Beeinträchtigung der Qualität des Gesamtbildes durch de
fekte Bereiche/Bildpunkte der Detektoreinheiten 2 wirkungs
voll verhindert werden.
Ein Anfahren von dezidierten Haltepositionen zum Erstellen
der Einzelbilder ist bei dem hier beschriebenen Verfahren
ausdrücklich nicht nötig.
Im Gegensatz zu der in Fig. 4 gezeigten zyklischen Bewegung
AA-AB-AC-AD ist auch eine kreisförmige Bewegung oder eine exzentrische
Drehung der Nachweisfläche 1 vorstellbar, während
der die Einzelbilder erstellt werden.
Bei einem Detektor und einem Verfahren gemäß der vorliegenden
Erfindung ist es besonders vorteilhaft, das an die Verschie
beeinrichtung für die Nachweisfläche keine besonderen Anfor
derungen hinsichtlich ihrer mechanischen Verfahrens
genauigkeit gestellt werden.
Somit ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, einen
Detektor und ein Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus ein
fallender Strahlung zur Verfügung zu stellen, die in einfa
cher, genauer und effizienter Weise die Erzeugung eines Ge
samtbildes aus mit einer Vielzahl von Detektoreinheiten er
zeugten Einzelbildern ermöglichen.
Weiter ist es bei einer Vorrichtung und einem Verfahren gemäß
der vorliegenden Erfindung besonders vorteilhaft, dass die
ein Gesamtbild einfallender Strahlung bildenden Einzelbilder
in besonders kurzen zeitlichen Abständen erstellt werden kön
nen, da keine vorgegebenen Haltepunkte für die Nachweisfläche
mehr angefahren werden müssen.
Ein weiterer Vorteil bei einem Detektor und einem Verfahren
gemäß der vorliegenden Erfindung ist, dass ein beliebig gro
ßes Gesamtbild einfallender Strahlung aus beliebig vielen
sich überlappenden, relativ zueinander verschobenen Einzel
bildern zusammengesetzt werden kann, so dass beliebig große
Messobjekte erfasst werden können.
Claims (24)
1. Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strah
lung, aufweisend:
mehrere Detektoreinheiten (2), die eine Nachweisfläche (1) bilden, zum Detektieren der einfallenden Strahlung und zur Abgabe entsprechender Bildinformationen,
eine Verarbeitungseinrichtung (10) zum Verarbeiten der von den Detektoreinheiten (2) abgegebenen Bildinformationen,
eine Verschiebeeinrichtung (9) zum Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1),
mindestens ein relativ zur Verschiebung der von den Detek toreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1) ortsfestes E lement (4), das von mindestens einer Detektoreinheit (2) im Rahmen der Detektion einfallender Strahlung nachweisbar ist, wobei die Verarbeitungseinrichtung (10) ein erstes Einzelbild vor Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebilde ten Nachweisfläche (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) und ein zweites Einzelbild nach Verschieben der Nachweisflä che (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) aus von den De tektoreinheiten (2) ausgegebenen Bildinformationen erstellt, und daraufhin ein Gesamtbild aus wenigstens dem ersten und dem zweiten Einzelbild unter Verwendung von Abbildern des mindestens einen Elements (4) in den Einzelbildern zusammen setzt.
mehrere Detektoreinheiten (2), die eine Nachweisfläche (1) bilden, zum Detektieren der einfallenden Strahlung und zur Abgabe entsprechender Bildinformationen,
eine Verarbeitungseinrichtung (10) zum Verarbeiten der von den Detektoreinheiten (2) abgegebenen Bildinformationen,
eine Verschiebeeinrichtung (9) zum Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1),
mindestens ein relativ zur Verschiebung der von den Detek toreinheiten (2) gebildeten Nachweisfläche (1) ortsfestes E lement (4), das von mindestens einer Detektoreinheit (2) im Rahmen der Detektion einfallender Strahlung nachweisbar ist, wobei die Verarbeitungseinrichtung (10) ein erstes Einzelbild vor Verschieben der durch die Detektoreinheiten (2) gebilde ten Nachweisfläche (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) und ein zweites Einzelbild nach Verschieben der Nachweisflä che (1) durch die Verschiebeeinrichtung (9) aus von den De tektoreinheiten (2) ausgegebenen Bildinformationen erstellt, und daraufhin ein Gesamtbild aus wenigstens dem ersten und dem zweiten Einzelbild unter Verwendung von Abbildern des mindestens einen Elements (4) in den Einzelbildern zusammen setzt.
2. Detektor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass mindestens drei voneinander beabstandete Elemente (4) so
angeordnet sind, dass sie ein Dreieck aufspannen.
3. Detektor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass eine Vielzahl von voneinander beabstandeten Elemen
ten (4) vorgesehen ist, und
dass die Elemente (4) in Form einer periodischen Struktur an
geordnet sind.
4. Detektor nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet,
dass sich die Elemente (4) über den ganzen Verschiebebereich
der von den Detektoreinheiten (2) gebildeten Nachweis
fläche (1) erstrecken.
5. Detektor nach Anspruch 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) in Form eines Gitters angeordnet sind.
6. Detektor nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) in Form eines Sinus-Gitters angeordnet
sind.
7. Detektor nach Anspruch 5 oder 6,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Anzahl der Elemente (4) und die Maschenweite des
Gitters so gewählt ist, dass jeder der die Nachweisfläche (1)
bildenden Detektoreinheiten (2) mindestens ein Element (4)
zugeordnet ist.
8. Detektor nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Verschiebeeinrichtung (9) die durch die Detektor einheiten (2) gebildete Nachweisfläche (1) so verschiebt,
dass jeder der die Nachweisfläche (1) bildenden Detektor einheiten (2) auch nach der Verschiebung wenigstens ein Ele ment (4) zugeordnet ist, das der Detektoreinheit (2) bereits vor der Verschiebung zugeordnet war.
dass die Verschiebeeinrichtung (9) die durch die Detektor einheiten (2) gebildete Nachweisfläche (1) so verschiebt,
dass jeder der die Nachweisfläche (1) bildenden Detektor einheiten (2) auch nach der Verschiebung wenigstens ein Ele ment (4) zugeordnet ist, das der Detektoreinheit (2) bereits vor der Verschiebung zugeordnet war.
9. Detektor nach einem der vorangegangenen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) eine Größe aufweisen, die der kleinsten
von den Detektoreinheiten (2) nachweisbaren Größe entspricht.
10. Detektor nach einem der vorangegangenen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) in einer Ebene (5) liegen, die ungefähr
parallel zu der von den Detektoreinheiten (2) gebildeten
Nachweisfläche (1) angeordnet ist.
11. Detektor nach einem der vorangegangenen Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) aus einer Substanz bestehen, die ein
fallende Strahlung absorbiert.
12. Detektor nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) Bleikügelchen sind.
13. Detektor nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) Indiumkügelchen sind.
14. Detektor nach einem der Ansprüche 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Elemente (4) die einfallende Strahlung nicht absor bieren, und
dass die Elemente (4) von einer Struktur umgeben sind, die die einfallende Strahlung teilweise absorbiert.
dass die Elemente (4) die einfallende Strahlung nicht absor bieren, und
dass die Elemente (4) von einer Struktur umgeben sind, die die einfallende Strahlung teilweise absorbiert.
15. Detektor nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
dass es sich bei der die Elemente (4) umgebenden Struktur um
eine Absorptionsfolie handelt, und
dass die Elemente (4) Löcher in der Absorptionsfolie sind.
16. Detektor nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Absorptionsfolie eine Aluminiumfolie ist.
17. Detektor nach Anspruch 14,
dadurch gekennzeichnet,
dass die die Elemente 4 umgebende Struktur von einer metall
bedampften Glasscheibe gebildet wird.
18. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung, das die folgenden Schritte umfasst:
- - Erstellen eines ersten Einzelbildes (S1) einfallender Strahlung mit Hilfe mehrerer Detektoreinheiten (2), die eine Nachweisfläche (1) bilden,
- - Verschieben (S2) der von den Detektoreinheiten (2) gebilde ten Nachweisfläche (1),
- - Erstellen eines zweiten Einzelbildes (S3) der einfallenden Strahlung,
- - Identifizierung (S4) von Abbildern, die sich in den Einzel bildern aufgrund wenigstens eines Elements (4) ergeben, wobei das wenigstens eine Element relativ zur Verschiebung der Nachweisfläche (1) ortsfest ist, und von mindestens einer der Detektoreinheiten (2) im Rahmen der Detektion einfallender Strahlung nachweisbar ist,
- - Erstellen eines Gesamtbildes (S5) durch Überlagerung der Einzelbilder anhand von in den Einzelbildern identifizierten Abbildern, die auf ein identisches Element (4) zurückzuführen sind,
- - Ausgabe (S6) des erstellten Gesamtbildes.
19. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet
dass die Einzelbilder beim Erstellen des Gesamtbildes (S5)
eine geeignete Transformation durchlaufen, so dass ein auf
das wenigstens eine Elemente (4) zurückzuführendes Abbild in
den Einzelbildern in Form einer Delta-Funktion identifiziert
werden kann.
20. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach Anspruch 19,
dadurch gekennzeichnet,
dass es sich bei der Transformation um eine Fourier
transformation handelt.
21. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach einem der Ansprüche 18 bis 20,
dadurch gekennzeichnet,
dass das Gesamtbild aus so vielen gegeneinander verschobenen
Einzelbildern gewonnen wird, dass jeder Punkt des Gesamtbil
des in wenigstens zwei gegeneinander verschobenen Einzelbil
dern enthalten ist.
22. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach einem der Ansprüche 18 bis 21,
dadurch gekennzeichnet,
dass für jede Detektoreinheit (2) mindestens ein Element (4) vorgesehen ist, und
dass die Nachweisfläche (1) so verschoben (S2) wird, dass je der Detektoreinheit (2) stets mindestens ein Element (4) zu geordnet ist.
dass für jede Detektoreinheit (2) mindestens ein Element (4) vorgesehen ist, und
dass die Nachweisfläche (1) so verschoben (S2) wird, dass je der Detektoreinheit (2) stets mindestens ein Element (4) zu geordnet ist.
23. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach Anspruch 22,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Nachweisfläche (1) so verschoben (S2) wird, dass je
der Detektoreinheit (2) vor und nach dem Verschieben (S2) das
selbe mindestens eine Element (4) zugeordnet ist.
24. Verfahren zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender
Strahlung nach einem der Ansprüche 18 bis 23,
dadurch gekennzeichnet,
die Nachweisfläche (1) während des Verfahrens nicht in dis
kreten Schritten sondern konstant verschoben wird, und dass
die Einzelbilder bei genügend kurz gewählter Belichtungszeit
während der Verschiebung der Nachweisfläche (1) erstellt wer
den.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE2000143474 DE10043474B4 (de) | 2000-09-04 | 2000-09-04 | Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung |
Applications Claiming Priority (1)
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DE2000143474 DE10043474B4 (de) | 2000-09-04 | 2000-09-04 | Detektor zum Erzeugen eines Bildes aus einfallender Strahlung |
Publications (2)
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