DE10020190B4 - Verfahren und Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen in einem Plattensystem - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen in einem Plattensystem Download PDF

Info

Publication number
DE10020190B4
DE10020190B4 DE10020190A DE10020190A DE10020190B4 DE 10020190 B4 DE10020190 B4 DE 10020190B4 DE 10020190 A DE10020190 A DE 10020190A DE 10020190 A DE10020190 A DE 10020190A DE 10020190 B4 DE10020190 B4 DE 10020190B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
defect
elements
list
storage medium
location
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10020190A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10020190A1 (de
Inventor
Masami Kawasaki Tashiro
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Storage Device Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of DE10020190A1 publication Critical patent/DE10020190A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10020190B4 publication Critical patent/DE10020190B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1883Methods for assignment of alternate areas for defective areas
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00Record carriers by type
    • G11B2220/20Disc-shaped record carriers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/012Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/02Recording, reproducing, or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B5/09Digital recording

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

Bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Erfindung enthält eine Defektliste eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen, wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf einem Speichermedium angibt und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative Stelle eines folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab einem Beginn der Defektliste angibt. Ein zweites Defektelement wird an einem Ende der Defektliste hinzugefügt, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird. Eine Versetzungsadresse des zweiten Defektelementes bezüglich des Beginn der Defektliste wird berechnet. Die Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen wird für die berechnete Versetzungsadresse des zweiten Defektelementes verändert, so daß der zweite Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden kann.

Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen, und im Besonderen ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen, die verwendet werden, um Defekte eines Speichermediums in einem Magnetplattensystem zu lokalisieren.
  • 2. Beschreibung der verwandten Technik
  • 1 zeigt schematisch ein Magnetplattensystem, in dem Defektinformationen verarbeitet werden, die verwendet werden, um Defekte eines Speichermediums zu lokalisieren.
  • Ein typisches Beispiel für das Magnetplattensystem ist ein Festplattenlaufwerk, das eine Anzahl von Speicherplatten als Speichermedium enthält, wobei jede Speicherplatte zwei Lese-/Schreibköpfe, nämlich einen für jede Seite erfordert.
  • Das Magnetplattensystem 1 umfaßt im allgemeinen, wie in 1 gezeigt, eine Magnetplatte 2, einen Spindelmotor 3, einen Lese-/Schreibkopf 4, einen Kopfarm 5, einen Schwingspulenmotor [voice coil motor] (VCM) 6, einen Rotationsschaft 7, einen Spindelschaft 8, einen Motorcontroller/Treiber [motor controller/driver] (MC/D) 9, eine Mikrosteuereinheit [micro control unit] (MCU) 10, einen Nur-Lese-Flash-Speicher [flash read-only memory] (Flash-ROM) 11, einen Festplattencontroller [hard disk controller] (HDC) 12, eine Schnittstellenschaltung [interface circuit] (I/F) 13, einen Datenpuffer 14 und einen Lese-/Schreibkanal 15.
  • In dem Magnetplattensystem 1 von 1 ist die Magnetplatte 2 ein Speichermedium zum Aufzeichnen von Informationen. Auf die Magnetplatte 2 wird durch den Lese-/Schreibkopf 4 zugegriffen, um Informationen von der Magnetplatte 2 zu lesen oder Informationen auf sie zu schreiben. Die Platte 2 ist an der Spindel 8 des Spindelmotors 3 befestigt, und der Spindelmotor 3 rotiert die Platte 2 um die Spindel 8.
  • Die MCU 10 steuert den Spindelmotor 3 unter Verwendung des Motorcontrollers/Treibers (MC/D) 9. Die MCU 10 steuert den Lese-/Schreibkanal 15, um dem Lese-/Schreibkopf 4 ein Lese-/Aufzeichnungssignal zuzuführen. Der Lese-/Schreibkopf 4 ist über der Plattenoberfläche der Magnetplatte 2 positioniert, die durch den Spindelmotor 3 rotiert wird. Gemäß dem empfangenen Lese-/Aufzeichnungssignal erzeugt der Lese-/Schreibkopf 4 Magnetfelder, um Bitströme auf der betreffenden Spur der Platte 2 zu lesen und aufzuzeichnen.
  • Der Lese-/Schreibkopf 4 ist mit dem Kopfarm 5 verbunden, und der Kopfarm 5 ist dem VCM 6 zugeordnet. Der VCM 6 ist ein Betätigungsmechanismus, der den Lese-/Schreibkopf 4 über der betreffenden Spur der Platte 2 positioniert. Die MCU 10 steuert den VCM 6 unter Verwendung des MC/D 9. Unter der Steuerung durch die MCU 10 bewegt der VCM 6 den Lese-/Schreibkopf 4 in einer radialen Richtung der Platte 2, so daß der Lese-/Schreibkopf 4 die betreffende Spur der Platte 2 verfolgen kann.
  • Ein Hostsystem (in 1 nicht gezeigt) sendet ein Steuersignal über die I/F 13 zu dem HDC 12. Der HDC 12 empfängt das Steuersignal und führt es der MCU 10 zu, und die MCU 10 steuert das gesamte Plattensystem als Reaktion auf das empfangene Steuersignal. Der Flash-ROM 11 speichert Informationen, die durch die MCU 10 verarbeitet wurden.
  • Der Datenpuffer 14 ist aus einem dynamischen Speicher mit wahlfreiem Zugriff [dynamic random access memory] (DRAM) gebildet. Der Datenpuffer 14 speichert temporär Informationen, die durch die MCU 10 verarbeitet wurden. Ferner sieht der Datenpuffer 14 einen Speicherbereich vor, in dem die Defektinformationen angeordnet werden, die verwendet werden, um Defekte des Speichermediums 2 zu lokalisieren.
  • 2A und 2B zeigen eine Datenstruktur auf dem Speichermedium des Magnetplattensystems von 1.
  • In dem Magnetplattensystem von 1 wird der Lese-/Schreibkopf 4 längs der Plattenoberfläche der Platte 2 bewegt, die durch den Motor 3 rotiert wird. Ein kreisförmiger Weg, den die Platte 2 unter dem Kopf 4 beschreibt, wird als Spur bezeichnet. Die Magnetplatte 2 ist gewöhnlich eine Metallplatte, die mit einem magnetischen Material zum Aufzeichnen von Informationen bedeckt ist. Die Platte 2 enthält, wie in 2A gezeigt, eine Anzahl von Spuren "Tr1" bis "Trn" auf der Plattenoberfläche. Jede Spur wird durch eine Spurnummer identifiziert. Ein Sektor ist eine Einheit einer Spur, die zu derselben Zeit physikalisch gelesen oder beschrieben wird. Bei dem Beispiel von 2A sind Spuren in eine Anzahl von Sektoren "S1" bis "Sm" geteilt. Jeder Sektor wird durch eine Sektornummer identifiziert.
  • In dem Fall, wenn die Magnetplatte 2 in der Form von einer Anzahl von Speicherplatten gebildet ist (zum Beispiel ein Festplattenlaufwerk), wird ein Zylinder definiert, der ein Stapel von Spuren an einer Betätigerposition ist. Typischerweise ist das Speichermedium in solch einem Magnetplattensystem in eine Anzahl von Zylindern geteilt, und jeder Zylinder wird durch eine Zylindernummer identifiziert.
  • 2B zeigt ein Datenformat in jedem von der Anzahl von Sektoren "S1" bis "Sm" der Magnetplatte 2 für das Beispiel von 2A. Jeder Sektor ist aus einem Servoinformationsfeld "SB" und einem Datenfeld "D" gebildet, wie in 2B gezeigt. Das Datenfeld D enthält Informationsbits, die in der Platte 2 aufgezeichnet sind. Das Servoinformationsfeld SB enthält Servoinformationen, die verwendet werden, um den Lese-/Schreibkopf 4 über einer gewünschten Spur der Magnetplatte 2 zu positionieren.
  • Um jeweilige Defekte der Magnetplatte 2 zu identifizieren, wird eine herkömmliche Defektliste erzeugt. Sobald ein Defekt an irgendeiner Stelle der Platte 2 detektiert wird, werden Defektinformationen, die die Stelle des Defektes auf der Platte 2 angeben, in die herkömmliche Defektliste eingefügt. Wenn die herkömmliche Defektliste erzeugt wird, wird oft eine Layouttabelle verwendet, die eine Anordnung von normalen Sektoren und defekten Sektoren auf der Platte 2 zeigt.
  • 3 zeigt eine herkömmliche Layouttabelle, die verwendet wird, um eine Anordnung von normalen Sektoren und defekten Sektoren auf einem Speichermedium zu zeigen.
  • In der Layouttabelle von 3 ist eine Kopfnummer vorgesehen, um eine der Reihen der Tabelle zu spezifizieren, und sie gibt eine besondere Position auf dem Speichermedium an, wo der Lese-/Schreibkopf 4 für eine entsprechende der Speicherplatten des Speichermediums angeordnet ist. Bei dem gegenwärtigen Beispiel reichen die Kopfnummern von 0 bis 3, und in dieser Tabelle sind vier Reihen vorhanden. In der Layouttabelle von 3 ist eine Sektornummer vorgesehen, um eine der Spalten der Tabelle zu spezifizieren, und sie gibt eine besondere Position auf derselben Spur des Speichermediums an. Bei dem gegenwärtigen Beispiel reichen die Sektornummern von 0 bis 6, und in dieser Tabelle sind sieben Spalten vorhanden.
  • Einer der Einträge in Spalten und Reihen der herkömmlichen Layouttabelle von 3 wird normalerweise durch einen Identifikator beschrieben, der im folgenden als Logiksektoridentifikator bezeichnet wird.
  • Der Logiksektoridentifikator in der Reihe von Kopf0 verändert sich von 0 auf 6, wie in 3 gezeigt. In der Reihe von Kopf0 ist kein Defektelement enthalten. Der Logiksektoridentifikator in der Reihe von Kopf1 beginnt bei 7.
  • Wenn als einer der Einträge in der Layouttabelle von 3 ein Defektelement enthalten ist, wird das Defektelement durch einen anderen Identifikator beschrieben, der im folgenden als Defektidentifikator bezeichnet wird. Bei dem gegenwärtigen Beispiel werden zwei Defektarten berücksich tigt, die auf dem Speichermedium vorkommen können: Schlupfdefekte und alternative Defekte.
  • Falls ein Schlupfdefekt in einem gewissen Sektor des Speichermediums existiert, springt der Zugriff für den defekten Sektor des Speichermediums von einem vorhergehenden Sektor vor dem defekten Sektor auf einen folgenden Sektor nach dem defekten Sektor. Der Defektidentifikator für Schlupfdefekte ist aus dem Zeichen "S" und einer fortlaufenden Nummer gebildet. In der Layouttabelle von 3 lauten die Einträge an den Stellen (Kopf1, Sektor1) und (Kopf2, Sektor5) "S1" und "S3", was darauf hinweist, daß an diesen Stellen des Speichermediums die Schlupfdefekte (die ersten und dritten Defekte) vorhanden sind. Das Defektelement "S1" ist in der Reihe von Kopf1 enthalten, und der Logiksektoridentifikator in der Reihe von Kopf1 verändert sich von 7 auf 12, wobei der Sektor "S1" mit dem Schlupfdefekt nicht berücksichtigt wird.
  • Falls ein alternativer Defekt in einem gewissen Sektor des Speichermediums vorhanden ist, springt der Zugriff für den defekten Sektor des Speichermediums auf einen anderen, einen Sekundärsektor des Speichermediums. Der Defektidentifikator für alternative Defekte ist aus dem Zeichen "R" und einer fortlaufenden Nummer gebildet. Der Identifikator für einen Sekundärsektor bei einem alternativen Defekt wird der Logiksektoridentifikator für die Stelle des alternativen Defektes.
  • In 3 bezeichnet "SP" einen Ersatzsektor [spare sector] in dem Speichermedium. In der Layouttabelle von 3 lautet der Eintrag an der Stelle (Kopf2, Sektor3) "R2", was darauf hinweist, daß der alternative Defekt (der zweite Defekt) an dieser Stelle des Speichermediums vorhanden ist. Der Eintrag an der Stelle (Kopf3, Sektor4) lautet "16" und bedeutet, daß der Sekundärsektor an der Stelle des Speichermediums vorhanden ist.
  • 4 zeigt eine herkömmliche Defektliste, die verwendet wird, um die Stelle von jedem der Defekte eines Speichermediums zu identifizieren.
  • Die herkömmliche Defektliste von 4 ist unter Verwendung der herkömmlichen Layouttabelle von 3 erzeugt worden. In der herkömmlichen Defektliste von 4 liegt der Schlupfdefekt "S1" an der Stelle (Kopf1, Sektor1) des Speichermediums. Der alternative Defekt "R2" liegt an der Primärstelle (Kopf2, Sektor3), und die Sekundärstelle für den alternativen Defekt R2 ist (Kopf3, Sektor4). Ferner liegt der Schlupfdefekt "S3" an der Stelle (Kopf2, Sektor5).
  • Wie aus 4 hervorgeht, enthalten die Defektelemente in der herkömmlichen Defektliste für "Schlupf"-Defekt nur einen Satz aus der Kopfnummer und Sektornummer, aber die Defektelemente für den "alternativen" Defekt enthalten zwei Sätze aus der Kopfnummer und Sektornummer, um die Primär- und Sekundärstellen zu bezeichnen.
  • Beim Erzeugen der herkömmlichen Defektliste werden die oben beschriebenen Defektelemente für Schlupf defekte und alternative Defekte in einem der Zylinder des Speichermediums zuerst gespeichert, und danach wird die Kopfnummer und Sektornummer für jeden Wert des Logiksektoridentifikators in demselben Zylinder sequentiell bestimmt.
  • 5 zeigt einen herkömmlichen Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektelementen zu der herkömmlichen Defektliste, die auf obige Weise erzeugt wurde.
  • In 5 wird angenommen, daß eine herkömmliche Defektliste (in 5 durch (A) bezeichnet) schon erzeugt wurde, um jeweilige Stellen von Primärdefekten auf dem Speichermedium (oder der Magnetplatte 2) zu identifizieren. Die Primärdefekte des Speichermediums wurden bei dem Herstellungsprozeß detektiert. Falls andere Defekte auf dem Speichermedium nach dem Herstellungsprozeß detektiert werden, werden solche Defekte andererseits als Sekundärdefekte bezeichnet. Die herkömmliche Defektliste enthält anfangs Primärdefektelemente für alle Zylinder des Speichermediums und kann verwendet werden, um die Primärdefekte des Speichermediums zu lokalisieren.
  • Die Primärdefektelemente in der herkömmlichen Defektliste sind gemäß der Zylindernummer (Zylinder0, Zylinder1, ..., Zylinder"n") gruppiert. Genauer gesagt, die Primärdefektelemente sind aus Zylinder0-Defektelementen, Zylinder1-Defektelementen,..., Zylinder"n"-Defektelementen gebildet, die in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet sind.
  • In 5 bezeichnet Bezugszeichen 21 die Zylinder0-Defektelemente, die am Anfang der Liste stehen, bezeichnet Bezugszeichen 22 ein neues Defektelement, das zu der Liste hinzugefügt wurde, und bezeichnet Bezugszeichen 23 die Startposition der Defektelemente nachfolgender Zylinder (oder der Zylinder2- bis Zylinder"n"-Defektelemente).
  • Falls zum Beispiel ein Sekundärdefekt in dem Zylinder0 des Speichermediums detektiert wird, nachdem die herkömmliche Defektliste erzeugt wurde, ist es erforderlich, das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 zu der herkömmlichen Defektliste hinzuzufügen, die nur die Primärdefektelemente enthält.
  • Gemäß dem herkömmlichen Prozeß wird das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22, wie durch (B) in 5 gezeigt, am Ende der existierenden Zylinder0-Defektelemente in die Liste eingefügt. Nachdem das Sekundärdefektelement 22 eingefügt ist, werden die Defektelemente von nachfolgenden Zylindern (die bei diesem Beispiel die Zylinder1- bis Zylinder"n"-Defektelemente sind) alle an das Ende des hinzugefügten Sekundärdefektelementes 22 verlegt.
  • 6 ist ein Flußdiagramm zum Erläutern eines herkömmlichen Defektinformationshinzufügungsprozesses.
  • Zu Beginn des herkömmlichen Defektinformationshinzufügungsprozesses wird, wie in 6 gezeigt, eine entsprechende Adresse der herkömmlichen Defektliste für den Beginn eines neues Defektelementes, das zu der Liste hinzuzufügen ist, unter Verwendung der herkömmlichen Layouttabelle von
  • 3 bestimmt (S100). Um diese Adresse zu erhalten, ist es erforderlich, eine Zylindernummer zu detektieren, zu der das neue Defektelement gehört, sowie eine Adresse der herkömmlichen Defektliste für das Ende der existierenden Defektelemente mit derselben Zylindernummer.
  • Nachdem der Schritt S100 ausgeführt ist, wird eine entsprechende Adresse der herkömmlichen Defektliste für das Ende des neuen Defektelementes unter Verwendung einer Größe (oder der Anzahl von Bits) des neuen Defektelementes bestimmt (S101).
  • Nachdem der Schritt S101 ausgeführt ist, wird das neue Defektelement zu der herkömmlichen Defektliste an der Stelle von ihr hinzugefügt, die durch die Beginnadresse bezeichnet wird (S102).
  • Nachdem der Schritt S102 ausgeführt ist, werden die Defektelemente der nachfolgenden Zylinder alle an die Stelle der Liste verlegt, die durch die Endadresse des neuen Defektelementes bezeichnet wird (S103).
  • Der oben erwähnte Defektinformationshinzufügungsprozeß erfordert das Verlegen von allen Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn die neuen Defektinformationen zu der Defektliste hinzugefügt werden. Durch das Verlegen aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder wird die Effektivität der Datenverarbeitung durch das herkömmliche Verfahren beträchtlich verringert. Bei dem herkömmlichen Verfahren ist es schwierig, eine schnelle und effektive Verwaltung der Defektliste vorzusehen, wenn neue Defektinformationen zu ihr hinzugefügt werden.
  • WO 84/00628 A1 offenbart ein Verfahren zum Verwalten von Defektinformationen bei dem die Defekttabelle in den Speicher gelesen oder expandiert wird.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Um die oben beschriebenen Probleme zu überwinden, sehen bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ein verbessertes Defektinformationsverwaltungsverfahren und eine verbesserte Defektinformationsverwaltungsvorrichtung vor, durch die die Verwaltung von Defektinformationen in einem Magnetplattensystem schnell und effektiv ausgeführt wird, ohne daß die Verlegung von allen Defektinformationen nachfolgender Zylinder erforderlich ist, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung enthält ein Defektinformationsverwaltungsverfahren die folgenden Schritte: Vorsehen einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen enthält, wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf einem Speichermedium angibt und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative Stelle eines folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab einem Beginn der Defektliste angibt; Hinzufügen eines zweiten Defektelementes an einem Ende der Defektliste, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird; Berechnen einer relativen Stelle des zweiten Defektelementes ab Beginn der Defektliste; und Verändern der Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes, so daß der zweite Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden kann.
  • Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der obigen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Erfindung ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem effektiv.
  • Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung enthält ein Defektinformationsverwaltungsverfahren die folgenden Schritte: Vorsehen einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen enthält, wobei die Sätze von ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern eines Speichermediums angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen, und jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf dem Speichermedium angibt; Bestimmen, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird, eines zweiten Defektelementes sowie eines nächsten Satzes von ersten Defektelementen, die dem einen der Sätze von ersten Defektelementen in der Folge folgen; Berechnen einer Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen und einer Größe des zweiten Defektelementes; Verlegen des nächsten Satzes von ersten Defektelementen von seiner ursprünglichen Stelle an ein Ende der Defektliste, um einen freien Bereich in der Defektliste an der ursprünglichen Stelle zu bilden; und Hinzufügen des zweiten Defektelementes an der ursprünglichen Stelle der Defektliste, wenn die Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen größer als die Größe des zweiten Defektelementes ist.
  • Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der obigen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Erfindung ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
  • Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung enthält eine Defektinformationsverwaltungsvorrichtung: eine auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen enthält, wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf einem Speichermedium angibt und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative Stelle von einem folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste angibt; eine Defektelementhinzufügungseinheit, die ein zweites Defektelement an einem Ende der Defektliste hinzufügt, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird; eine Berechnungseinheit einer relativen Stelle, die eine relative Stelle des zweiten Defektelementes ab Beginn der Defektliste berechnet; und eine Versetzungsadressenveränderungseinheit, die die Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes verändert, so daß der zweite Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden kann.
  • Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der obigen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
  • Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung enthält eine Defektinformationsverwaltungsvorrichtung: eine auf einer Magnetplatte gespeicherte Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen enthält, wobei die Sätze von ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern eines Speichermediums angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen, und jedes erste Defekt element eine Stelle von einem von ersten Defekten auf dem Speichermedium angibt; eine Bestimmungseinheit, die dann, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze der ersten Defektelemente identifiziert wird, ein zweites Defektelement sowie einen nächsten Satz von ersten Defektelementen bestimmt, die dem einen der Sätze von ersten Defektelementen in der Folge folgen; eine Berechnungseinheit, die eine Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen und eine Größe des zweiten Defektelementes berechnet; eine Verlegungseinheit, die den nächsten Satz von ersten Defektelementen von seiner ursprünglichen Stelle an ein Ende der Defektliste verlegt, um einen freien Bereich in der Defektliste an der ursprünglichen Stelle zu bilden; und eine Hinzufügungseinheit, die das zweite Defektelement an der ursprünglichen Stelle der Defektliste hinzufügt, wenn die Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen größer als die Größe des zweiten Defektelementes ist.
  • Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der obigen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Andere Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus der folgenden eingehenden Beschreibung in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen hervor, in denen:
  • 1 ein Blockdiagramm eines Magnetplattensystems ist;
  • 2A und 2B Diagramme sind, die eine Datenstruktur auf einem Speichermedium des Magnetplattensystems zeigen;
  • 3 ein Diagramm ist, das eine herkömmliche Layouttabelle zeigt, die verwendet wird, um eine Anordnung von normalen Sektoren und defekten Sektoren auf dem Speichermedium darzustellen;
  • 4 ein Diagramm ist, das eine herkömmliche Defektliste zeigt, die verwendet wird, um jede der Stellen von Defekten auf dem Speichermedium zu identifizieren;
  • 5 ein Diagramm zum Erläutern eines herkömmlichen Prozesses zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu der herkömmlichen Defektliste ist;
  • 6 ein Flußdiagramm zum Erläutern eines herkömmlichen Defektinformationshinzufügungsprozesses ist;
  • 7 ein Diagramm zum Erläutern eines Prozesses zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 8 ein Diagramm ist, das eine Defektliste gemäß der ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung zeigt;
  • 9 ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 10 ein Diagramm zum Erläutern eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird;
  • 11 ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten Ausführungsform ist, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird;
  • 12 ein Diagramm zum Erläutern eines Prozesses zum Speichern der neuen Defektinformationen in einem nichtflüchtigen Speicher ist, der ausgeführt wird, nachdem die neuen Defektinformationen hinzugefügt wurden;
  • 13 ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten Ausführungsform ist;
  • 14 ein Diagramm zum Erläutern eines Prozesses zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer zweiten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 15 ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten bevorzugten Ausführungsform ist;
  • 16 ein Diagramm ist, das eine Primärdefektliste zeigt, die durch das Defektinformationsverwaltungsverfahren der zweiten bevorzugten Ausführungsform verwendet wird;
  • 17 ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten bevorzugten Ausführungsform ist;
  • 18 ein Diagramm zum Erläutern eines Prozesses zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer dritten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 19 ein Flußdiagramm zum Erläutern eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist;
  • 20 ein Diagramm zum Erläutern eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird, nachdem ein freier Bereich bei dem Defektinformationshinzufügungsprozeß gebildet wurde;
  • 21 ein Flußdiagramm zum Erläutern einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten bevorzugten Ausführungsform ist; und
  • 22 ein Diagramm zum Erläutern eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird, nachdem der freie Bereich bei dem Defektinformationshinzufügungsprozeß gebildet wurde.
  • EINGEHENDE BESCHREIBUNG VON BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Nun folgt eine Beschreibung von bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen.
  • Bei den folgenden Ausführungsformen werden das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der Erfindung auf das Magnetplattensystem von 1 angewendet, um das Verstehen der Unterschiede zwischen der vorliegenden Erfindung und der verwandten Technik zu erleichtern. Dies bedeutet nicht, daß die vorliegende Erfindung auf die Konfiguration von 1 begrenzt ist. Die Elemente in den folgenden Ausführungsformen, die im wesentlichen dieselben wie die entsprechenden Elemente von 1 sind, sind mit denselben Bezugszeichen versehen, und eine Beschreibung von ihnen wird weggelassen.
  • 7 zeigt einen Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung.
  • Die Defektliste der vorliegenden Ausführungsform, die in 7 durch (A) gekennzeichnet wird, ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert. Ferner wird die gespeicherte Defektliste für den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Nun wird angenommen, daß die Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde. Die Sätze der Primärdefektelemente in der Defektliste sind in der sequentiellen Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet. Jedes Primärdefektelement bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2. Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der letzten) bezeichnet eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden Satzes von Primärdefektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste.
  • Der Hinzufügungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform wird durch die MCU 10 ausgeführt. Die Schritte/Einheiten zur Defektelementhinzufügung, zur Berechnung der relativen Stelle, zur Versetzungsadressenveränderung und zur Hinzufügung neuer Defektelemente bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren und der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden durch Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert sind.
  • In 7 bezeichnet Bezugszeichen 21 die Zylinder0-Defektelemente, die am Anfang der Liste stehen, bezeichnet Bezugszeichen 22 ein Sekundärdefektelement, das zu der Liste hinzugefügt wurde, und bezeichnet Bezugszeichen 25 eine Versetzungsadresse der Zylinder1-Defektelemente ab Beginn der Liste.
  • Falls zum Beispiel ein Sekundärdefekt in dem Zylinder0 des Speichermediums detektiert wird, nachdem die Defektliste erstellt wurde, ist es erforderlich, das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 zu der Defektliste hinzuzufügen, die nur die Primärdefektelemente enthält.
  • Gemäß dem Prozeß zum Hinzufügen der vorliegenden Ausführungsform wird das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 am Ende der Defektliste eingefügt, wie es durch (B) in 7 gezeigt ist. Eine Versetzungsadresse 27 des Sekundärdefektelementes 22 wird dem Sekundärdefektelement 22 beigefügt. Es wird angenommen, daß der tatsächliche Sekundärdefekt für das Sekundärdefektelement 22 in dem Zylinder0 der Magnetplatte 2 detektiert wurde.
  • Nachdem die Versetzungsadresse 27 beigefügt ist, wird die Versetzungsadresse 25 der Zylinder0-Defektelemente 21 in eine Versetzungsadresse 26 verändert, die eine relative Stelle des hinzugefügten Sekundärdefektelementes 22 ab Beginn der Defektliste bezeichnet. Da die Versetzungsadresse 26 (oder die relative Stelle des Sekundärdefektelementes 22) durch den Prozeß des Hinzufügens der vorliegenden Ausführungsform vorgesehen wird, ist es nicht erforderlich, alle Defektelemente von Zylinder1 bis Zylinder"n" an das Ende des Sekundärdefektelementes 22 zu verlegen. Der Sekundärdefekt auf der Magnetplatte 2 kann unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden.
  • 8 zeigt eine Defektliste gemäß der vorliegenden Ausführungsform.
  • Die Defektliste von 8 wird unter Verwendung der Layouttabelle von 3 erzeugt. In der Defektliste von 8 existiert der Schlupf defekt "S1" an der Stelle (Kopf1, Sektor1) der Magnetplatte 2. Der alternative Defekt "R2" existiert an der Primärstelle (Kopf2, Sektor3), und die Sekundärstelle für den alternativen Defekt R2 ist (Kopf3, Sektor4). Ferner existiert der Schlupf defekt "S3" an der Stelle (Kopf2, Sektor5).
  • Eine eindeutige Adresse der Defektliste ist jeder der Kopfnummern und Sektornummern für die Zylinder der Magnetplatte 2 zugeordnet, wie es durch das Element 30 in 8 gekennzeichnet ist. Die Defektelemente in der Defektliste werden gemäß der Art von Defekten gruppiert. Bei dem vorliegenden Beispiel sind die Defektelemente für die Schlupfdefekte S1 und S3 zuerst als (S1, Kopf1, Sektor1) und (S3, Kopf2, Sektor5) am Anfang der Defektliste aufgelistet, und die Defektelemente für den alternativen Defekt R2 sind als (R2, 1, Kopf2, Sektor3) und (R2, 2, Kopf3, Sektor4) nach dem Ende der Schlupfdefektelemente aufgelistet. Eine Versetzungsadresse 31 ist den Schlupfdefektelementen beigefügt, und eine Versetzungsadresse 32 ist den alternativen Defektelementen beigefügt, wie es durch die Elemente 31 und 32 in 8 gezeigt ist.
  • Genauer gesagt, die Versetzungsadresse 31 für die Schlupfdefektelemente bezeichnet eine relative Stelle der alternativen Defektelemente (oder der nachfolgenden Defektelemente) ab Beginn der Defektliste. Falls die alternativen Defektelemente die letzten in der Defektliste sind, bezeichnet die Versetzungsadresse 32 für die letzten Defektelemente die Stelle des Beginns des Defektliste. Bei dem vorliegenden Beispiel ist die Versetzungsadresse 32 für das alternative Defektelemente auf -1 eingerichtet.
  • 9 zeigt ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren bei der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu der Defektliste. Bei diesem Hinzufügungsprozeß wird die oben beschriebene Defektliste von 8 verwendet.
  • Es wird angenommen, daß ein zweiter Defekt in einem gewissen Zylinder der Magnetplatte 2 detektiert wurde, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze der ersten Defektelemente bezeichnet wurde, und der Hinzufügungsprozeß von 9 zu jener Zeit startet, um ein zweites Defektelement zu der Defektliste hinzuzufügen.
  • Zu Beginn des Hinzufügungsprozesses wird das zweite Defektelement am Ende der Defektliste hinzugefügt, wie in 9 gezeigt, und eine relative Stelle des hinzugefügten Defektelementes ab Beginn der Defektliste wird berechnet (S30).
  • Nachdem Schritt S30 ausgeführt ist, wird bestimmt, ob die ersten Defektelemente in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in der Defektliste existieren (S31). Wenn das Resultat bei Schritt S31 negativ ist, wird eine Versetzungsadresse des Zylinders des zweiten Defektes in der Layouttabelle für die berechnete Stelle verändert (S33). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann unter Verwendung der berechneten Stelle lokalisiert werden.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S31 bejahend ist, existieren die ersten Defektelemente in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in der Defektliste. Es wird bestimmt, ob das alternative Defektelement in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in der Defektliste existiert (S32). Wenn das Resultat bei Schritt S32 negativ ist, sind alle ersten Defektelemente des Zylinders in der Defektliste die Schlupfdefektelemente. Die Versetzungsadresse von einem der Sätze von ersten Defektelementen für denselben Zylinder in der Defektliste wird für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes verändert (S34). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann unter Verwendung der resultierenden Defektliste (der berechneten Stelle) lokalisiert werden.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S32 bejahend ist, existiert das alternative Defektelement in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in der Defektliste. Die Versetzungsadresse des alternativen Defektelementes für denselben Zylinder in der Defektliste wird für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes verändert (S35). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann unter Verwendung der resultierenden Defektliste (der berechneten Stelle) lokalisiert werden. Nachdem jeder der Schritte 33, 34 und 35 ausgeführt ist, endet der Hinzufügungsprozeß.
  • Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform erfordern nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Erfindung sind beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem effektiv.
  • 10 zeigt einen Optimierungsprozeß der Defektliste, der ausgeführt wird, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird.
  • Der Optimierungsprozeß von 10 für die Defektliste startet, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird, nachdem der Hinzufügungsprozeß von 7 ausgeführt wurde. Die Defektliste, die durch (A) in 10 gekennzeichnet ist, ist dieselbe wie jene, die durch (B) in 7 gekennzeichnet ist.
  • Es wird angenommen, daß ein Initialisierungsbefehl (Formateinheit) nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses ausgegeben wurde. Zuerst wird als Reaktion auf den Initialisierungsbefehl bestimmt, ob das hinzugefügte Defektelement 22 in der Defektliste vorhanden ist. Eine entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des Satzes von ersten Defektelementen 21 wird erhalten, der in demselben Zylinder wie dem des hinzugefügten Defektelementes 22 liegt. Eine entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des hinzugefügten Defektelementes 22 wird unter Verwendung einer Größe des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten. Die Defektelemente nachfolgender Zylinder werden an die Stelle der Defektliste verlegt, die durch die Endadresse des hinzugefügten Defektelementes 22 bezeichnet wird.
  • Dann wird das hinzugefügte Defektelement 22 an das Ende des ersten Defektelementesatzes in der Defektliste verlegt, wie es durch (B) in 10 gezeigt ist. Die Versetzungsadresse 26, die dem Satz von ersten Defektelementen beigefügt ist, wird in die Versetzungsadresse 28 verändert, die dem hinzugefügten Defektelement 22 nach dem Verlegen beigefügt wird. Die Versetzungsadresse 27 an der ursprünglichen Stelle in der Defektliste wird eliminiert. In der resultierenden Defektliste sind wieder alle Sätze der Defektelemente in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet. Daher wird dieser Prozeß als Optimierung der Defektliste bezeichnet.
  • 11 zeigt eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten Ausführungsform, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren in der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Optimieren der Defektliste. Bei dem Optimierungsprozeß wird die oben beschriebene Defektliste von 8 verwendet.
  • Es wird angenommen, daß ein Initialisierungsbefehl nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses ausgegeben wurde und der Optimierungsprozeß von 11 zu jener Zeit startet, um die Defektliste zu optimieren.
  • Zu Beginn des Optimierungsprozesses wird bestimmt, wie in 11 gezeigt, ob das hinzugefügte Defektelement 22 in der Defektliste vorhanden ist (S40). Wenn das Resultat bei Schritt S40 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S40 bejahend ist, wird eine entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des Satzes von ersten Defektelementen 21 in demselben Zylinder wie dem des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten (S41). Ferner wird eine entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des hinzugefügten Defektelementes 22 unter Verwendung einer Größe des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten (S41).
  • Nachdem Schritt S41 ausgeführt ist, werden die Defektelemente nachfolgender Zylinder an die Stelle der Defektliste verlegt, die durch die Endadresse des hinzugefügten Defektelementes 22 bezeichnet wird (S42).
  • Nachdem Schritt S42 ausgeführt ist, wird das hinzugefügte Defektelement 22 an das Ende des ersten Defektelementesatzes in der Defektliste verlegt (S43). Ferner wird die Versetzungsadresse 26, die dem Satz von ersten Defektelementen beigefügt ist, in die Versetzungsadresse 28 geändert, die dem hinzugefügten Defektelement 22 beigefügt wird (S43). Ferner wird die Versetzungsadresse 27 an der ursprünglichen Stelle in der Defektliste eliminiert (S43).
  • Nachdem Schritt S43 ausgeführt ist, endet der Optimierungsprozeß. In der resultierenden Defektliste sind alle Sätze der Defektelemente, wie oben beschrieben, wieder in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet, wie es durch (B) in 10 gezeigt ist.
  • Demzufolge kann durch das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform die Defektliste auf die in 7 gezeigte Weise aktualisiert werden, wenn der Hinzufügungsprozeß von 9 ausgeführt wird, und dann die Defektliste auf die in 10 gezeigte weise neu geordnet werden, wenn der Optimierungsprozeß von 11 als Reaktion auf den Initialisierungsbefehl ausgeführt wird.
  • 12 zeigt einen Prozeß zum Aufzeichnen der neuen Defektinformationen in einem nichtflüchtigen Speicher, der ausgeführt wird, nachdem die neuen Defektinformationen zu der Defektliste hinzugefügt wurden. Bei dem Aufzeichnungsprozeß werden die neuen Defektinformationen (oder das hinzugefügte Defektelement und die Versetzungsadresse) in dem Flash-Speicher 11 oder dem Systemspeicher der MCU 10 in dem Magnetplattensystem von 1 aufgezeichnet.
  • Der Aufzeichnungsprozeß von 12 für den nichtflüchtigen Speicher 11 oder den Systembereich der MCU 10 startet nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses von 7. Die Defektliste, die durch (A) in 12 gekennzeichnet ist, ist dieselbe wie jene, die durch (A) in 7 gekennzeichnet ist.
  • Nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses werden die Versetzungsadresse 26, das hinzugefügte Defektelement 22 und die Versetzungsadresse 27 in der Defektliste erneuert, wie durch (B) in 12 gezeigt. Während des Aufzeichnungsprozesses werden die neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen Speicher 11 oder dem Systembereich der MCU 10 aufgezeichnet. Daher kann das Magnetplattensystem nach dem Ende des Aufzeichnungsprozesses die neuen Defektinformationen auch dann halten, wenn die Energie von dem System plötzlich weggenommen wird.
  • 13 zeigt eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten Ausführungsform. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Aufzeichnen der neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen Speicher 11. Bei dem Aufzeichnungsprozeß wird die Defektliste verwendet, die durch (B) in 12 gekennzeichnet ist.
  • Zu Beginn des Aufzeichnungsprozesses wird die Versetzungsadresse 27 des hinzugefügten Defektelementes 22 in den nichtflüchtigen Speicher 11 geschrieben, wie in 13 gezeigt (S50).
  • Nachdem Schritt S50 ausgeführt ist, wird bestimmt, ob die ersten Defektelemente in demselben Zylinder wie dem des hinzugefügten Defektelementes 22 in der Defektliste existieren (S51). Wenn das Resultat bei Schritt S51 bejahend ist, wurde die Versetzungsadresse der ersten Defektelemente in demselben Zylinder erneuert. Die Versetzungsadresse 26 der ersten Defektelemente 21 wird in den nichtflüchtigen Speicher 11 geschrieben (S52).
  • Wenn das Resultat bei Schritt S51 negativ ist, wird Schritt S52 nicht ausgeführt, und der nächste Schritt S53 wird ausgeführt. Alternativ wird der nächste Schritt S53 ausgeführt, nachdem Schritt S52 ausgeführt ist. Bei Schritt S53 wird das hinzugefügte Defektelement 22 in den nichtflüchtigen Speicher 11 geschrieben. Nachdem Schritt S53 ausgeführt ist, endet der Aufzeichnungsprozeß von 13.
  • Gemäß dem Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform werden die neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen Speicher 11 oder dem Systembereich der MCU 10 aufgezeichnet. Daher kann das Magnetplattensystem nach dem Ende des Aufzeichnungsprozesses die neuen Defektinformationen auch dann halten, wenn die Energie von dem System plötzlich weggenommen wird.
  • Als nächstes zeigt 14 einen Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer zweiten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. Ähnlich wie bei der vorherigen Ausführungsform von 7 wird der Prozeß des Hinzufügens bei der vorliegenden Ausführungsform durch die MCU 10 ausgeführt.
  • Die Defektliste in der vorliegenden Ausführungsform, die durch (A) in 14 gekennzeichnet ist, ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert. Ferner wird die gespeicherte Defektliste für den Zugriff zum Datenpuffer 14 übertragen. Es wird angenommen, daß die Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde.
  • Anders als bei der Defektliste der Ausführungsform von 7 sind die Sätze der Primärdefektelemente in der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform ungeachtet der Art der Defekte in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer, der Kopfnummer und der Sektornummer angeordnet, wo der Primärdefekt lokalisiert ist, und die Versetzungsadresse ist jedem Defektelement beigefügt. Ein geeigneter Identifikator ist jedem Defektelement zugeordnet, wie etwa Nr. 1, Nr. 2,..., Nr. "n". Jedes Primärdefektelement bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2. Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der letzten) bezeichnet eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden Satzes von Primärdefektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste.
  • Falls zum Beispiel ein zweiter Defekt zwischen der Stelle Nr. 1 und der Stelle Nr. 2 in der Magnetplatte 2 detektiert wird, ist es erforderlich, das zweite Defektelement zu der Defektliste hinzufügen, die anfangs nur die Primärdefektelemente enthält.
  • Gemäß dem Hinzufügungsprozeß der vorliegenden Erfindung wird das zweite Defektelement am Ende der Defektliste eingefügt, wie es durch (B) in 14 gekennzeichnet ist. Bei dem vorliegenden Beispiel existiert der neu detektierte zweite Defekt zwischen der Stelle Nr. 1 und der Stelle Nr. 2 in der Magnetplatte 2. Der Identifikator "Nr. 2" wird dem hinzugefügten Defektelement zugeordnet. Der Identifikator für jedes der nachfolgenden Defektelemente wird auf Nr. 3, ..., Nr. "n + 1" inkrementiert. Eine neue Versetzungsadresse wird dem hinzugefügten Defektelement (Nr. 2) beigefügt.
  • Die Versetzungsadresse des Defektelementes Nr. 1 wird verändert, um eine relative Stelle des hinzugefügten Defektelementes ab Beginn der Defektliste zu bezeichnen. Die Versetzungsadresse des hinzugefügten Defektelementes (die neue Nr. 2) am Ende der Defektliste bezeichnet eine relative Stelle des Defektelementes Nr. 3 ab Beginn der Defektliste.
  • 15 zeigt ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der zweiten bevorzugten Ausführungsform. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Finden eines Zieldefektelementes in der Defektliste. Bei dem Findungsprozeß wird die Defektliste verwendet, die durch (B) in 14 gekennzeichnet ist.
  • Zu Beginn des Findungsprozesses wird, wie in 15 gezeigt, der gegebene Logiksektoridentifikator der Defektliste in eine Anfangsadresse konvertiert (Kopfnummer, Sektornummer) (S600). Ein nächstes Defektelement in der Defektliste wird erhalten, das an der ersten Stelle ab der Anfangsadresse vorhanden ist (S601).
  • Es wird bestimmt, ob das nächste Defektelement an der ersten Stelle erhalten werden kann (S602). Wenn das Resultat bei Schritt S602 negativ ist, wird bestimmt, daß das Defektelement an der Anfangsadresse das Ziel ist (S603). Nachdem Schritt S603 ausgeführt ist, endet der Findungsprozeß.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S602 bejahend ist, wird bestimmt, ob die relative Stelle des erhaltenen Defektelementes kleiner als die Anfangsadresse ist (S604). Wenn das Resultat bei Schritt S604 bejahend ist, wird bestimmt, ob das erhaltene Defektelement ein Schlupfdefektelement ist (S605). Im Falle eines Schlupfdefektelementes wird die Anfangsadresse inkrementiert (S606). Anderenfalls wird Schritt S606 nicht ausgeführt. Nachdem Schritt S606 oder Schritt S605 ausgeführt ist, wird ein nächstes Defektelement in der Defektliste erhalten, das an der nächsten Stelle ab der Anfangsadresse vorhanden ist (S607). Nachdem Schritt S607 ausgeführt ist, werden die obigen Schritte S602 bis S606 wiederholt.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S604 negativ ist, ist die relative Stelle des erhaltenen Defektelementes gleich oder größer als die Anfangsadresse. Es wird bestimmt, ob die relative Stelle des erhaltenen Defektelementes der Anfangsadresse gleich ist (S608). Wenn das Resultat bei Schritt S608 negativ ist, wird bestimmt, daß das Defektelement an der Anfangsadresse das Ziel ist (S609). Nachdem Schritt S609 ausgeführt ist, endet der Findungsprozeß.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S608 bejahend ist, ist die relative Stelle des erhaltenen Defektelementes der Anfangsadresse gleich. Es wird bestimmt, ob das erhaltene Defektelement ein alternatives Defektelement ist (S610). Wenn das Resultat bei Schritt S610 bejahend ist, wird bestimmt, daß das Defektelement an der zweiten Stelle des alternativen Defektelementes das Ziel ist (S611). Nachdem Schritt S611 ausgeführt ist, endet der Findungsprozeß.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S610 negativ ist, ist das erhaltene Defektelement ein Schlupfdefektelement. Die Anfangsadresse wird inkrementiert (S612). Dann wird bestimmt, daß das Defektelement an der veränderten Anfangsadresse das Ziel ist (S613). Nachdem Schritt S613 ausgeführt ist, endet der Findungsprozeß.
  • Demzufolge ist das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform beim Vorsehen eines leichten, effizienten Findungsprozesses effektiv, bei dem das Zieldefektelement in der Defektliste unter Verwendung der Defektliste gefunden wird, die durch (B) in 14 gekennzeichnet ist.
  • 16 zeigt eine Primärdefektliste, die bei einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten bevorzugten Ausführungsform verwendet wird.
  • Die Primärdefektliste bei der vorliegenden Ausführungsform, die in 16 gezeigt ist, ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert. Ferner wird die gespeicherte Defektliste für den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Es wird angenommen, daß die Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde.
  • Ähnlich wie bei der Defektliste der Ausführungsform von 7 sind die Sätze der Primärdefektelemente in der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet. Jedes Primärdefektelement bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2. Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der letzten) bezeichnet eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden Satzes von Primärdefektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste.
  • 17 zeigt eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten bevorzugten Ausführungsform. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Finden eines Zieldefektelementes in der Defektliste. Bei dem Findungsprozeß wird die Defektliste verwendet, die in 16 gezeigt ist. Die Schritte des Findungsprozesses von 17 sind im wesentlichen dieselben wie entsprechende Schritte des Findungsprozesses von 15, und eine Beschreibung von ihnen wird zum Vermeiden einer doppelten Beschreibung weggelassen.
  • Es versteht sich ohne weiteres, daß das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform beim Vorsehen eines einfachen, effizienten Findungsprozesses effektiv ist, bei dem das Zieldefektelement in der Defektliste unter Verwendung der Defektliste von 16 gefunden wird.
  • Als nächstes zeigt 18 einen Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer dritten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung.
  • Die Defektliste der vorliegenden Ausführungsform, die durch (A) in 18 gekennzeichnet ist, ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert und wird für den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Es wird angenommen, daß die Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen erzeugt wurde. Die Sätze der Primärdefektelemente in der Defektliste sind in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummern der Magnetplatte 2 angeordnet, die den jeweiligen Sätzen entsprechen. Eine eindeutige Zylindernummer ist jedem der Sätze der Primärdefektelemente zugeordnet, wie etwa Zylinder0,..., Zylinder"n". Jedes Primärdefektelement bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2.
  • Der Hinzufügungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform wird durch die MCU 10 ausgeführt. Die Schritte/Einheiten zum Bestimmen, Berechnen, Verlegen und Hinzufügen bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren und der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden durch Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert sind.
  • Gemäß dem Prozeß des Hinzufügens der vorliegenden Ausführungsform wird das Zylinder0-Sekundärdefektelement an der ursprünglichen Stelle des nächsten Satzes (Zylinder1) von Primärdefektelementen in der Defektliste eingefügt, wie es durch (B) in 18 gekennzeichnet ist. Um dies zu erreichen, wird der nächste Satz von Primärdefektelementen (die Zylinder1-Primärdefektelemente) an das Ende der Defektliste verlegt, um einen freien Bereich in der Defektliste an der ursprünglichen Stelle zu bilden. Wenn die Größe der bewegten Primärdefektelemente größer als die Größe des Sekundärdefektelementes ist, wird dann das Sekundärdefektelement an der ursprünglichen Stelle der bewegten Primärdefektelemente hinzugefügt. Der freie Bereich ab dem Ende des hinzugefügten Defektelementes bleibt unverändert.
  • 19 zeigt ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der dritten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zu der Defektliste. Bei diesem Hinzufügungsprozeß wird die Defektliste von 18 verwendet, die oben beschrieben wurde.
  • Es wird angenommen, daß ein zweiter Defekt in einem gewissen Zylinder der Magnetplatte 2 detektiert wurde, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze der ersten Defektelemente bezeichnet ist, und der Hinzufügungsprozeß von 19 zu jener Zeit startet, um ein zweites Defektelement zu der Defektliste hinzuzufügen.
  • Wie in 19 gezeigt, werden zu Beginn des Hinzufügungsprozesses das zweite Defektelement und die ersten Defektelemente der nächsten Stelle an einer Stelle, die der Stelle der ersten Defektelemente in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes folgen, unter Verwendung der Layouttabelle bestimmt (S80).
  • Nachdem Schritt S80 ausgeführt ist, werden eine Größe des hinzuzufügenden zweiten Defektelementes und eine Größe der ersten Defektelemente der nächsten Stelle berechnet (S81). Dieser Schritt wird ausgeführt, um eine Größe des freien Bereiches zu prüfen, der nach dem Hinzufügen des zweiten Defektelementes erzeugt wird.
  • Nachdem Schritt S81 ausgeführt ist, wird bestimmt, ob die Größe der ersten Defektelemente der nächsten Stelle kleiner als die Größe des zweiten Defektelementes ist (S82). Wenn das Resultat bei Schritt S82 bejahend ist, ist es erforderlich, die Größe der ersten Defektelemente der nächsten Stelle zu vergrößern. Die ersten Defektelemente der nächsten Stelle werden an das Ende der Defektliste verlegt (S83). Die Versetzungsadresse der ersten Defektelemente der nächsten Stelle in der Layouttabelle wird verändert, um mit der Verlegung übereinzustimmen (S84). Nachdem Schritt S84 ausgeführt ist, werden die obigen Schritte S80 bis S83 wiederholt, bis das Resultat bei Schritt S82 eine negative Antwort ergibt.
  • Wenn das Resultat bei Schritt S82 negativ ist, reicht die Größe der ersten Defektelemente der nächsten Stelle aus, um das zweite Defektelement hinzuzufügen. Dann wird das zweite Defektelement an der ursprünglichen Stelle der bewegten ersten Defektelemente hinzugefügt (S85). Der freie Bereich ab dem Ende des hinzugefügten Defektelementes bleibt unverändert. Nachdem Schritt S85 ausgeführt ist, endet der Hinzufügungsprozeß.
  • Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform erfordern nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform sind beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem effektiv.
  • 20 zeigt einen Optimierungsprozeß der Defektliste, der ausgeführt wird, nachdem ein freier Bereich bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet wurde.
  • In der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform können freie Bereiche zwischen zwei benachbarten der Sätze von ersten Defektelementen nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses bestehenbleiben, wie in 18 gezeigt. Es wird angenommen, daß die Defektliste, die durch (A) in 20 gekennzeichnet ist, in solch einem Zustand ist. Bei dem Beispiel von 20 wird der erstere der zwei benachbarten Sätze von ersten Defektelementen mit "p" bezeichnet, und der letztere wird mit "q" bezeichnet. Die freien Bereiche werden nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses von 19 erzeugt.
  • Der Optimierungsprozeß von 20 dient dazu, den ersten Defektelementesatz "q" an das Ende des ersten Defektelementesatzes "p" zu verlegen, um einen der freien Bereiche mit einem anderen in der Defektliste zu vereinigen, wie es durch (B) in 20 gezeigt ist. Der Optimierungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform wird durch die MCU 10 ausgeführt, und der Schritt und die Einheit zum zweiten Verlegen bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren und der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden durch Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert sind.
  • Der Optimierungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform ist beim Vergrößern des Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen verfügbar ist.
  • 21 zeigt eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten bevorzugten Ausführungsform. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist ein Prozeß zum Optimieren der Defektliste im oben erwähnten Zustand nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses. Bei diesem Optimierungsprozeß wird die oben beschriebene Defektliste von 20 verwendet.
  • Zu Beginn des Optimierungsprozesses werden die Defektelemente "p" an der ersten Stelle in der Defektliste erhalten oder ausgelesen, wie in 21 gezeigt (S90). Es wird bestimmt, ob die Defektelemente der ersten Stelle "p" in der Defektliste erfolgreich erhalten werden können (S91).
  • Wenn das Resultat bei Schritt S91 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort. Wenn das Resultat bei Schritt S91 bejahend ist, können die Defektelemente der ersten Stelle "p" erhalten werden. Dann werden die Defektelemente "q" an der nächsten Stelle in der Defektliste erhalten oder ausgelesen (S92). Es wird bestimmt, ob die Defektelemente der nächsten Stelle "q" in der Defektliste erfolgreich erhalten werden können (S93).
  • Wenn das Resultat bei Schritt S93 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort. Wenn das Resultat bei Schritt S93 bejahend ist, wird bestimmt, ob ein freier Bereich zwischen den Defektelementen der ersten Stelle "p" und den Defektelementen der nächsten Stelle "q" in der Defektliste existiert (S94).
  • Wenn das Resultat bei Schritt S94 bejahend ist, werden die Defektelemente "q" (der letztere der zwei benachbarten Sätze von ersten Defektelementen in der Defektliste) an das Ende der Defektelemente "p" (der erstere Satz) verlegt (S95). Die Adresse der Defektelemente "q" in der Defektliste wird nach der Bewegung in die neue verändert (S96). Nachdem Schritt S96 ausgeführt ist, wird der Wert "q" durch den Wert "p" zur Verarbeitung einer folgenden Stelle in der Defektliste ersetzt (S97).
  • Wenn das Resultat bei Schritt S94 negativ ist, werden die obigen Schritte S95 und S96 nicht ausgeführt und wird nur der Schritt S97 ausgeführt. Nachdem Schritt S97 ausgeführt ist, werden die obigen Schritte S92 bis S96 wiederholt, bis die Verarbeitung der letzten Stelle in der Defektliste vollendet ist.
  • Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform sind beim Vergrößern des Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zur Verfügung steht. Ferner erfordern das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform nicht das Verlegen aller Defektinformationen der nachfolgenden Stellen, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform sind beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem effektiv.
  • 22 zeigt einen Optimierungsprozeß der Defektliste, der ausgeführt wird, nachdem ein freier Bereich bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet wurde.
  • Es wird angenommen, daß ein erster freier Bereich zwischen den Zylinder0-Defektelementen und den Zylinder2-Defektelementen und ein zweiter freier Bereich nach dem Ende der Zylinder2-Defektelemente bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet wurden, wie es durch (A) in 22 gezeigt ist. Der Optimierungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform dient dazu, den zweiten freien Bereich mit dem ersten freien Bereich zu vereinigen, indem die Zylinder2-Defektelemente an eine nachfolgende Stelle in der Defektliste verlegt werden, wie es durch (B) in 22 gezeigt ist. Daher kann der Speicherraum (oder der Datenpuffer 14 in dem Magnetplattensystem von 1), der zur Verfügung steht, mit dem vereinigten freien Bereich vergrößert werden. Infolge des vereinigten freien Bereiches ermöglicht es das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform, die Zylinder3-Defektelemente von dem Ende der Defektliste an das Ende der Zylinder0-Defektelemente zu verlegen, wie es durch (C) in 22 gezeigt ist.
  • Daher ist das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform beim Vergrößern des Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen zur Verfügung steht.
  • Die vorliegende Erfindung ist nicht auf die oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen begrenzt, und Veränderungen und Abwandlungen können vorgenommen werden, ohne den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung zu verlassen.
  • Ferner basiert die vorliegende Erfindung auf der japanischen Prioritätsanmeldung Nr. 11-192313, eingereicht am 6. Juli 1999, deren gesamter Inhalt hierin durch Bezugnahme enthalten ist.

Claims (8)

  1. Verfahren zur Verwaltung von Defektinformationen, die verwendet werden, um jeweilige Stellen von Defekten auf einem Speichermedium zu identifizieren, mit den folgenden Schritten: Vorsehen einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen enthält, wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf dem Speichermedium (2) angibt und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative Stelle eines folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab einem Beginn der Defektliste angibt; Hinzufügen (S30) eines zweiten Defektelementes an einem Ende der Defektliste, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird; Berechnen (S30) einer relativen Stelle des zweiten Defektelementes ab Beginn der Defektliste; und Verändern (S34) der Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes, so daß der zweite Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden kann.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren ferner den Schritt zum Hinzufügen (S31, S33) eines neuen Defektelementes und seiner Versetzungsadresse an dem Ende der Defektliste umfaßt, wenn keiner der ersten Defekte in einem Abschnitt des Speichermediums existiert, der eine Stelle enthält, die durch das neue Defekt element identifiziert wird, wobei die Versetzungsadresse des neuen Defektelementes, das an dem Ende der Defektliste hinzugefügt wurde, eine relative Stelle des neuen Defektelementes ab Beginn der Defektliste angibt.
  3. Verfahren zur Verwaltung von Defektinformationen, die verwendet werden, um jeweilige Stellen von Defekten auf einem Speichermedium zu identifizieren, mit den folgenden Schritten: Vorsehen einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen enthält, wobei die Sätze von ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern eines Speichermediums (2) angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen, und jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf dem Speichermedium angibt; Bestimmen (S80), wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird, eines zweiten Defektelementes sowie eines nächsten Satz von ersten Defektelementen, die dem einen der Sätze von ersten Defektelementen in der Folge folgen; Berechnen (S81) einer Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen und einer Größe des zweiten Defektelementes; Verlegen (S83) des nächsten Satzes von ersten Defektelementen von seiner ursprünglichen Stelle an ein Ende der Defektliste, um einen freien Bereich in der Defektliste an der ursprünglichen Stelle zu bilden; und Hinzufügen (S84, S85) des zweiten Defektelementes an der ursprünglichen Stelle der Defektliste, wenn die Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen größer als die Größe des zweiten Defektelementes ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren ferner den Schritt umfaßt zum Verlegen (S94, S95), wenn freie Bereiche zwischen zwei benachbarten der Sätze von ersten Defektelementen in der Defektliste verbleiben, des letzteren der zwei benachbarten Sätze an ein Ende des ersteren der zwei benachbarten Sätze, um einen der freien Bereiche mit einem anderen in der Defektliste zu vereinigen.
  5. Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen, die verwendet werden, um jeweilige Stellen von Defekten auf einem Speichermedium zu identifizieren, mit: einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen enthält, wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf einem Speichermedium (2) angibt und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative Stelle von einem folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste angibt; einer Defektelementhinzufügungseinheit (S30), die ein zweites Defektelement an einem Ende der Defektliste hinzufügt, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird; einer Berechnungseinheit einer relativen Stelle (S30), die eine relative Stelle des zweiten Defektelementes ab Beginn der Defektliste berechnet; und einer Versetzungsadressenveränderungseinheit (S34), die die Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen für die berechnete Stelle des zweiten Defektelementes verändert, so daß der zweite Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden kann.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung ferner eine Hinzufügungseinheit von neuen Defektelementen (S31, S33) umfaßt, die ein neues Defektelement und seine Versetzungsadresse an dem Ende der Defektliste hinzufügt, wenn keiner der ersten Defekte in einem Abschnitt des Speichermediums existiert, der eine Stelle enthält, die durch das neue Defektelement identifiziert wird, welche Versetzungsadresse des neuen Defektelementes, das an dem Ende der Defektliste hinzugefügt wurde, eine relative Stelle des neuen Defektelementes ab Beginn der Defektliste angibt.
  7. Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen, die verwendet werden, um jeweilige Stellen von Defekten auf einem Speichermedium zu identifizieren, mit: einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste (14), die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen enthält, wobei die Sätze von ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern des Speichermediums (2) angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen, und jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten auf dem Speichermedium angibt; einer Bestimmungseinheit (S80), die dann, wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine Stelle enthält, die durch einen der Sätze von ersten Defektelementen identifiziert wird, ein zweites Defektelement sowie einen nächsten Satz von ersten Defektelementen bestimmt, die dem einen der Sätze von ersten Defektelementen in der Folge folgen; einer Berechnungseinheit (S81), die eine Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen und eine Größe des zweiten Defektelementes berechnet; einer Verlegungseinheit (S83), die den nächsten Satz von ersten Defektelementen von seiner ursprünglichen Stelle an ein Ende der Defektliste verlegt, um einen freien Bereich in der Defektliste an der ursprünglichen Stelle zu bilden; und einer Hinzufügungseinheit (S84, S85), die das zweite Defektelement an der ursprünglichen Stelle der Defektliste hinzufügt, wenn die Größe des nächsten Satzes von ersten Defektelementen größer als die Größe des zweiten Defektelementes ist.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung ferner eine zweite Verlegungseinheit (S94, S95) umfaßt, die dann, wenn freie Bereiche zwischen zwei benachbarten der Sätze von ersten Defektelementen in der Defektliste verbleiben, den letzteren der zwei benachbarten Sätze an ein Ende des ersteren der, zwei benachbarten Sätze verlegt, um einen der freien Bereiche mit einem anderen in der Defektliste zu vereinigen.
DE10020190A 1999-07-06 2000-04-25 Verfahren und Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen in einem Plattensystem Expired - Fee Related DE10020190B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11192313A JP2001023314A (ja) 1999-07-06 1999-07-06 欠陥情報管理方法及び情報記憶装置
JP11-192313 1999-07-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10020190A1 DE10020190A1 (de) 2001-01-18
DE10020190B4 true DE10020190B4 (de) 2005-05-04

Family

ID=16289213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10020190A Expired - Fee Related DE10020190B4 (de) 1999-07-06 2000-04-25 Verfahren und Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen in einem Plattensystem

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6701465B1 (de)
JP (1) JP2001023314A (de)
DE (1) DE10020190B4 (de)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4053234B2 (ja) * 2000-12-11 2008-02-27 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ ディスク装置
KR100498459B1 (ko) * 2002-11-19 2005-07-01 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브의 디펙트 리스트 탐색 방법
JP4074806B2 (ja) * 2002-11-20 2008-04-16 ヒタチグローバルストレージテクノロジーズネザーランドビーブイ 不良セクタの探索方法、データ記録装置、プログラム
JP4568273B2 (ja) * 2003-06-23 2010-10-27 パナソニック株式会社 記録可能領域を探索する装置および方法、記録管理情報を更新する装置および方法、集積回路、追記型情報記録媒体
JP4299809B2 (ja) 2005-06-21 2009-07-22 日本電気株式会社 欠陥情報管理方法、情報記録再生装置、及び情報再生装置
US7995301B2 (en) 2009-01-14 2011-08-09 Marvell World Trade Ltd. Method and apparatus for determining a location of a defect on a storage medium
CN106504779A (zh) * 2015-09-08 2017-03-15 株式会社东芝 对记录介质上的缺陷进行管理的缺陷管理方法以及盘装置
US10408764B2 (en) 2017-09-13 2019-09-10 Applied Materials Israel Ltd. System, method and computer program product for object examination
US11138105B2 (en) * 2018-12-18 2021-10-05 Seagate Technology Llc Large range defect allocation system and method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1984000628A1 (en) * 1982-07-30 1984-02-16 Western Electric Co Management of defects in storage media

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5146571A (en) * 1988-03-28 1992-09-08 Emc Corporation Remapping defects in a storage system through the use of a tree structure
JPH02278572A (ja) 1989-04-20 1990-11-14 Fujitsu Ltd 交代ブロック処理方式
US5935258A (en) * 1997-03-04 1999-08-10 Micron Electronics, Inc. Apparatus for allowing data transfers with a memory having defective storage locations
US6385736B1 (en) * 1997-12-23 2002-05-07 Lg Electronics, Inc. Method and apparatus for managing defect areas of recording medium using sector number comparison techniques
KR100433606B1 (ko) * 1998-10-22 2004-05-31 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 정보 기록 매체, 및 이의 결함을 관리하는 방법 및 장치
US6279089B1 (en) * 1999-04-12 2001-08-21 Western Digital Technologies, Inc. Defective data site management through a shared defect management table

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1984000628A1 (en) * 1982-07-30 1984-02-16 Western Electric Co Management of defects in storage media

Also Published As

Publication number Publication date
US6701465B1 (en) 2004-03-02
JP2001023314A (ja) 2001-01-26
DE10020190A1 (de) 2001-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60309364T2 (de) Informationsaufzeichnungsmedium, Gerät und Verfahren zur Aufzeichnung und Wiedergabe
DE19755371B4 (de) Festplattenlaufwerk und Verfahren für einen Schreib- oder Lesezugriff auf eine magnetische Platte
DE69722991T2 (de) Aufzeichnungsbereichsverwaltungsverfahren und Speichergerät
DE69927349T2 (de) Verfahren zur echtzeitigen datenaufzeichnung/wiedergabe auf ein optisches oder aus einem optischen aufzeichnungsmedium und dateiverwaltungsverfahren für diese daten
DE69125862T2 (de) Plattenantriebssystem und Methode zur Zugriffssteuerung einer physikalischen Speicherstelle darin
DE3721027C2 (de)
DE102013022051B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Austausch defekter Sektoren bei SMR-Festplatten
DE3932474A1 (de) Platten-steuervorrichtung und plattenzugriff-steuerverfahren
DE10020190B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen in einem Plattensystem
DE3614795A1 (de) Schreibverfahren fuer dateidaten in einen einmal beschreibbaren speicher
DE102014003205A1 (de) Verfahren und Vorrichtung für effiziente, verteilte Schreibzugriffe bei Speichervorrichtungen mit überlappenden Datenspuren
DE19721719B4 (de) Verfahren zum erneuten Schreiben von Servoinformation auf Platten eines Festplattengeräts
DE1499607C2 (de) Zugriffschaltung für Umlaufspeicher in einer Datenverarbeitungsanlage
DE19633648A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Speicherung von Diktaten bei einem digitalen Diktiergerät
DE69118803T2 (de) Anordnnung zur Spurverfolging durch den Wandlerknopf in einem Plattenspeichersystem
DE19646193A1 (de) Festplattenlaufwerk mit verkleinertem Servofeld und Antriebsverfahren dafür
EP0195324A1 (de) Kontrolleinheit für einen Magnetplattenspeicher
DE60037004T2 (de) Aufzeichnungsmedium mit schreibgeschützter defektliste
DE19835897B4 (de) Verfahren und Vorrichtung für das Wiedereinschreiben von Servoinformation auf eine Platte in einer Festplattenvorrichtung
DE19721319B4 (de) Verfahren zum Anordnen von Adressinformation
EP0151789B1 (de) Speicherungsverfahren für eine in Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen eingesetzte Speichereinrichtung
DE69629229T2 (de) Informationsaufzeichnungsverfahren und Informationswiedergabeverfahren
DE3928213C2 (de) Subsystem mit einer externen Speichervorrichtung und Datenverarbeitungsverfahren
EP0051308B1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Formatierung einer Magnetspeicherplatte
DE68923568T2 (de) Informationsspeichermedium und Aufzeichnungs-/Wiedergabegerät damit.

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: TOSHIBA STORAGE DEVICE CORP., TOKYO, JP

8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: SEEGER SEEGER LINDNER PARTNERSCHAFT PATENTANWAELTE

8339 Ceased/non-payment of the annual fee