-
HINTERGRUND
DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
-
Die
vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen ein Verfahren und
eine Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen, und im
Besonderen ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Verwaltung von
Defektinformationen, die verwendet werden, um Defekte eines Speichermediums
in einem Magnetplattensystem zu lokalisieren.
-
2. Beschreibung der verwandten
Technik
-
1 zeigt schematisch ein
Magnetplattensystem, in dem Defektinformationen verarbeitet werden,
die verwendet werden, um Defekte eines Speichermediums zu lokalisieren.
-
Ein
typisches Beispiel für
das Magnetplattensystem ist ein Festplattenlaufwerk, das eine Anzahl von
Speicherplatten als Speichermedium enthält, wobei jede Speicherplatte
zwei Lese-/Schreibköpfe, nämlich einen
für jede
Seite erfordert.
-
Das
Magnetplattensystem 1 umfaßt im allgemeinen, wie in 1 gezeigt, eine Magnetplatte 2,
einen Spindelmotor 3, einen Lese-/Schreibkopf 4,
einen Kopfarm 5, einen Schwingspulenmotor [voice coil motor]
(VCM) 6, einen Rotationsschaft 7, einen Spindelschaft 8,
einen Motorcontroller/Treiber [motor controller/driver] (MC/D) 9,
eine Mikrosteuereinheit [micro control unit] (MCU) 10,
einen Nur-Lese-Flash-Speicher
[flash read-only memory] (Flash-ROM) 11, einen Festplattencontroller
[hard disk controller] (HDC) 12, eine Schnittstellenschaltung
[interface circuit] (I/F) 13, einen Datenpuffer 14 und
einen Lese-/Schreibkanal 15.
-
In
dem Magnetplattensystem 1 von 1 ist die Magnetplatte 2 ein
Speichermedium zum Aufzeichnen von Informationen. Auf die Magnetplatte 2 wird
durch den Lese-/Schreibkopf 4 zugegriffen, um Informationen
von der Magnetplatte 2 zu lesen oder Informationen auf
sie zu schreiben. Die Platte 2 ist an der Spindel 8 des
Spindelmotors 3 befestigt, und der Spindelmotor 3 rotiert
die Platte 2 um die Spindel 8.
-
Die
MCU 10 steuert den Spindelmotor 3 unter Verwendung
des Motorcontrollers/Treibers (MC/D) 9. Die MCU 10 steuert
den Lese-/Schreibkanal 15, um dem Lese-/Schreibkopf 4 ein
Lese-/Aufzeichnungssignal zuzuführen.
Der Lese-/Schreibkopf 4 ist über der Plattenoberfläche der
Magnetplatte 2 positioniert, die durch den Spindelmotor 3 rotiert
wird. Gemäß dem empfangenen
Lese-/Aufzeichnungssignal erzeugt der Lese-/Schreibkopf 4 Magnetfelder, um
Bitströme
auf der betreffenden Spur der Platte 2 zu lesen und aufzuzeichnen.
-
Der
Lese-/Schreibkopf 4 ist mit dem Kopfarm 5 verbunden,
und der Kopfarm 5 ist dem VCM 6 zugeordnet. Der
VCM 6 ist ein Betätigungsmechanismus,
der den Lese-/Schreibkopf 4 über der betreffenden Spur der
Platte 2 positioniert. Die MCU 10 steuert den
VCM 6 unter Verwendung des MC/D 9. Unter der Steuerung
durch die MCU 10 bewegt der VCM 6 den Lese-/Schreibkopf 4 in
einer radialen Richtung der Platte 2, so daß der Lese-/Schreibkopf 4 die
betreffende Spur der Platte 2 verfolgen kann.
-
Ein
Hostsystem (in 1 nicht
gezeigt) sendet ein Steuersignal über die I/F 13 zu
dem HDC 12. Der HDC 12 empfängt das Steuersignal und führt es der
MCU 10 zu, und die MCU 10 steuert das gesamte Plattensystem
als Reaktion auf das empfangene Steuersignal. Der Flash-ROM 11 speichert
Informationen, die durch die MCU 10 verarbeitet wurden.
-
Der
Datenpuffer 14 ist aus einem dynamischen Speicher mit wahlfreiem
Zugriff [dynamic random access memory] (DRAM) gebildet. Der Datenpuffer 14 speichert
temporär
Informationen, die durch die MCU 10 verarbeitet wurden.
Ferner sieht der Datenpuffer 14 einen Speicherbereich vor,
in dem die Defektinformationen angeordnet werden, die verwendet
werden, um Defekte des Speichermediums 2 zu lokalisieren.
-
2A und 2B zeigen eine Datenstruktur auf dem
Speichermedium des Magnetplattensystems von 1.
-
In
dem Magnetplattensystem von 1 wird der
Lese-/Schreibkopf 4 längs der
Plattenoberfläche der
Platte 2 bewegt, die durch den Motor 3 rotiert wird.
Ein kreisförmiger
Weg, den die Platte 2 unter dem Kopf 4 beschreibt,
wird als Spur bezeichnet. Die Magnetplatte 2 ist gewöhnlich eine
Metallplatte, die mit einem magnetischen Material zum Aufzeichnen von
Informationen bedeckt ist. Die Platte 2 enthält, wie
in 2A gezeigt, eine
Anzahl von Spuren "Tr1" bis "Trn" auf der Plattenoberfläche. Jede
Spur wird durch eine Spurnummer identifiziert. Ein Sektor ist eine
Einheit einer Spur, die zu derselben Zeit physikalisch gelesen oder
beschrieben wird. Bei dem Beispiel von 2A sind Spuren in eine Anzahl von Sektoren "S1" bis "Sm" geteilt. Jeder Sektor
wird durch eine Sektornummer identifiziert.
-
In
dem Fall, wenn die Magnetplatte 2 in der Form von einer
Anzahl von Speicherplatten gebildet ist (zum Beispiel ein Festplattenlaufwerk),
wird ein Zylinder definiert, der ein Stapel von Spuren an einer Betätigerposition
ist. Typischerweise ist das Speichermedium in solch einem Magnetplattensystem
in eine Anzahl von Zylindern geteilt, und jeder Zylinder wird durch
eine Zylindernummer identifiziert.
-
2B zeigt ein Datenformat
in jedem von der Anzahl von Sektoren "S1" bis "Sm" der Magnetplatte 2 für das Beispiel
von 2A. Jeder Sektor
ist aus einem Servoinformationsfeld "SB" und
einem Datenfeld "D" gebildet, wie in 2B gezeigt. Das Datenfeld
D enthält
Informationsbits, die in der Platte 2 aufgezeichnet sind.
Das Servoinformationsfeld SB enthält Servoinformationen, die
verwendet werden, um den Lese-/Schreibkopf 4 über einer
gewünschten Spur
der Magnetplatte 2 zu positionieren.
-
Um
jeweilige Defekte der Magnetplatte 2 zu identifizieren,
wird eine herkömmliche
Defektliste erzeugt. Sobald ein Defekt an irgendeiner Stelle der Platte 2 detektiert
wird, werden Defektinformationen, die die Stelle des Defektes auf
der Platte 2 angeben, in die herkömmliche Defektliste eingefügt. Wenn
die herkömmliche
Defektliste erzeugt wird, wird oft eine Layouttabelle verwendet,
die eine Anordnung von normalen Sektoren und defekten Sektoren auf
der Platte 2 zeigt.
-
3 zeigt eine herkömmliche
Layouttabelle, die verwendet wird, um eine Anordnung von normalen
Sektoren und defekten Sektoren auf einem Speichermedium zu zeigen.
-
In
der Layouttabelle von 3 ist
eine Kopfnummer vorgesehen, um eine der Reihen der Tabelle zu spezifizieren,
und sie gibt eine besondere Position auf dem Speichermedium an,
wo der Lese-/Schreibkopf 4 für eine entsprechende der Speicherplatten des
Speichermediums angeordnet ist. Bei dem gegenwärtigen Beispiel reichen die
Kopfnummern von 0 bis 3, und in dieser Tabelle sind vier Reihen
vorhanden. In der Layouttabelle von 3 ist
eine Sektornummer vorgesehen, um eine der Spalten der Tabelle zu
spezifizieren, und sie gibt eine besondere Position auf derselben
Spur des Speichermediums an. Bei dem gegenwärtigen Beispiel reichen die
Sektornummern von 0 bis 6, und in dieser Tabelle sind sieben Spalten
vorhanden.
-
Einer
der Einträge
in Spalten und Reihen der herkömmlichen
Layouttabelle von 3 wird
normalerweise durch einen Identifikator beschrieben, der im folgenden
als Logiksektoridentifikator bezeichnet wird.
-
Der
Logiksektoridentifikator in der Reihe von Kopf0 verändert sich
von 0 auf 6, wie in 3 gezeigt.
In der Reihe von Kopf0 ist kein Defektelement enthalten. Der Logiksektoridentifikator
in der Reihe von Kopf1 beginnt bei 7.
-
Wenn
als einer der Einträge
in der Layouttabelle von 3 ein
Defektelement enthalten ist, wird das Defektelement durch einen
anderen Identifikator beschrieben, der im folgenden als Defektidentifikator bezeichnet
wird. Bei dem gegenwärtigen
Beispiel werden zwei Defektarten berücksich tigt, die auf dem Speichermedium
vorkommen können:
Schlupfdefekte und alternative Defekte.
-
Falls
ein Schlupfdefekt in einem gewissen Sektor des Speichermediums existiert,
springt der Zugriff für
den defekten Sektor des Speichermediums von einem vorhergehenden
Sektor vor dem defekten Sektor auf einen folgenden Sektor nach dem
defekten Sektor. Der Defektidentifikator für Schlupfdefekte ist aus dem
Zeichen "S" und einer fortlaufenden Nummer
gebildet. In der Layouttabelle von 3 lauten
die Einträge
an den Stellen (Kopf1, Sektor1) und (Kopf2, Sektor5) "S1" und "S3", was darauf hinweist, daß an diesen
Stellen des Speichermediums die Schlupfdefekte (die ersten und dritten
Defekte) vorhanden sind. Das Defektelement "S1" ist
in der Reihe von Kopf1 enthalten, und der Logiksektoridentifikator in
der Reihe von Kopf1 verändert
sich von 7 auf 12, wobei der Sektor "S1" mit
dem Schlupfdefekt nicht berücksichtigt
wird.
-
Falls
ein alternativer Defekt in einem gewissen Sektor des Speichermediums
vorhanden ist, springt der Zugriff für den defekten Sektor des Speichermediums
auf einen anderen, einen Sekundärsektor
des Speichermediums. Der Defektidentifikator für alternative Defekte ist aus
dem Zeichen "R" und einer fortlaufenden
Nummer gebildet. Der Identifikator für einen Sekundärsektor
bei einem alternativen Defekt wird der Logiksektoridentifikator
für die
Stelle des alternativen Defektes.
-
In 3 bezeichnet "SP" einen Ersatzsektor [spare
sector] in dem Speichermedium. In der Layouttabelle von 3 lautet der Eintrag an
der Stelle (Kopf2, Sektor3) "R2", was darauf hinweist,
daß der alternative
Defekt (der zweite Defekt) an dieser Stelle des Speichermediums
vorhanden ist. Der Eintrag an der Stelle (Kopf3, Sektor4) lautet "16" und bedeutet, daß der Sekundärsektor
an der Stelle des Speichermediums vorhanden ist.
-
4 zeigt eine herkömmliche
Defektliste, die verwendet wird, um die Stelle von jedem der Defekte
eines Speichermediums zu identifizieren.
-
Die
herkömmliche
Defektliste von 4 ist unter
Verwendung der herkömmlichen
Layouttabelle von 3 erzeugt
worden. In der herkömmlichen
Defektliste von 4 liegt
der Schlupfdefekt "S1" an der Stelle (Kopf1,
Sektor1) des Speichermediums. Der alternative Defekt "R2" liegt an der Primärstelle (Kopf2,
Sektor3), und die Sekundärstelle
für den
alternativen Defekt R2 ist (Kopf3, Sektor4). Ferner liegt der Schlupfdefekt "S3" an der Stelle (Kopf2,
Sektor5).
-
Wie
aus 4 hervorgeht, enthalten
die Defektelemente in der herkömmlichen
Defektliste für "Schlupf"-Defekt nur einen
Satz aus der Kopfnummer und Sektornummer, aber die Defektelemente
für den "alternativen" Defekt enthalten
zwei Sätze
aus der Kopfnummer und Sektornummer, um die Primär- und Sekundärstellen zu bezeichnen.
-
Beim
Erzeugen der herkömmlichen
Defektliste werden die oben beschriebenen Defektelemente für Schlupf
defekte und alternative Defekte in einem der Zylinder des Speichermediums
zuerst gespeichert, und danach wird die Kopfnummer und Sektornummer
für jeden
Wert des Logiksektoridentifikators in demselben Zylinder sequentiell
bestimmt.
-
5 zeigt einen herkömmlichen
Prozeß zum
Hinzufügen
von neuen Defektelementen zu der herkömmlichen Defektliste, die auf
obige Weise erzeugt wurde.
-
In 5 wird angenommen, daß eine herkömmliche
Defektliste (in 5 durch
(A) bezeichnet) schon erzeugt wurde, um jeweilige Stellen von Primärdefekten
auf dem Speichermedium (oder der Magnetplatte 2) zu identifizieren.
Die Primärdefekte des
Speichermediums wurden bei dem Herstellungsprozeß detektiert. Falls andere
Defekte auf dem Speichermedium nach dem Herstellungsprozeß detektiert
werden, werden solche Defekte andererseits als Sekundärdefekte
bezeichnet. Die herkömmliche Defektliste
enthält
anfangs Primärdefektelemente
für alle
Zylinder des Speichermediums und kann verwendet werden, um die Primärdefekte
des Speichermediums zu lokalisieren.
-
Die
Primärdefektelemente
in der herkömmlichen
Defektliste sind gemäß der Zylindernummer (Zylinder0,
Zylinder1, ..., Zylinder"n") gruppiert. Genauer
gesagt, die Primärdefektelemente
sind aus Zylinder0-Defektelementen, Zylinder1-Defektelementen,...,
Zylinder"n"-Defektelementen
gebildet, die in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet
sind.
-
In 5 bezeichnet Bezugszeichen 21 die Zylinder0-Defektelemente, die
am Anfang der Liste stehen, bezeichnet Bezugszeichen 22 ein
neues Defektelement, das zu der Liste hinzugefügt wurde, und bezeichnet Bezugszeichen 23 die
Startposition der Defektelemente nachfolgender Zylinder (oder der Zylinder2-
bis Zylinder"n"-Defektelemente).
-
Falls
zum Beispiel ein Sekundärdefekt
in dem Zylinder0 des Speichermediums detektiert wird, nachdem die
herkömmliche
Defektliste erzeugt wurde, ist es erforderlich, das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 zu
der herkömmlichen
Defektliste hinzuzufügen,
die nur die Primärdefektelemente
enthält.
-
Gemäß dem herkömmlichen
Prozeß wird das
Zylinder0-Sekundärdefektelement 22,
wie durch (B) in 5 gezeigt,
am Ende der existierenden Zylinder0-Defektelemente in die Liste
eingefügt. Nachdem
das Sekundärdefektelement 22 eingefügt ist,
werden die Defektelemente von nachfolgenden Zylindern (die bei diesem
Beispiel die Zylinder1- bis Zylinder"n"-Defektelemente
sind) alle an das Ende des hinzugefügten Sekundärdefektelementes 22 verlegt.
-
6 ist ein Flußdiagramm
zum Erläutern eines
herkömmlichen
Defektinformationshinzufügungsprozesses.
-
Zu
Beginn des herkömmlichen
Defektinformationshinzufügungsprozesses
wird, wie in 6 gezeigt,
eine entsprechende Adresse der herkömmlichen Defektliste für den Beginn eines
neues Defektelementes, das zu der Liste hinzuzufügen ist, unter Verwendung der
herkömmlichen
Layouttabelle von
-
3 bestimmt (S100). Um diese
Adresse zu erhalten, ist es erforderlich, eine Zylindernummer zu
detektieren, zu der das neue Defektelement gehört, sowie eine Adresse der
herkömmlichen
Defektliste für
das Ende der existierenden Defektelemente mit derselben Zylindernummer.
-
Nachdem
der Schritt S100 ausgeführt
ist, wird eine entsprechende Adresse der herkömmlichen Defektliste für das Ende
des neuen Defektelementes unter Verwendung einer Größe (oder
der Anzahl von Bits) des neuen Defektelementes bestimmt (S101).
-
Nachdem
der Schritt S101 ausgeführt
ist, wird das neue Defektelement zu der herkömmlichen Defektliste an der
Stelle von ihr hinzugefügt,
die durch die Beginnadresse bezeichnet wird (S102).
-
Nachdem
der Schritt S102 ausgeführt
ist, werden die Defektelemente der nachfolgenden Zylinder alle an
die Stelle der Liste verlegt, die durch die Endadresse des neuen
Defektelementes bezeichnet wird (S103).
-
Der
oben erwähnte
Defektinformationshinzufügungsprozeß erfordert
das Verlegen von allen Defektinformationen nachfolgender Zylinder,
wenn die neuen Defektinformationen zu der Defektliste hinzugefügt werden.
Durch das Verlegen aller Defektinformationen nachfolgender Zylinder
wird die Effektivität der
Datenverarbeitung durch das herkömmliche
Verfahren beträchtlich
verringert. Bei dem herkömmlichen
Verfahren ist es schwierig, eine schnelle und effektive Verwaltung
der Defektliste vorzusehen, wenn neue Defektinformationen zu ihr
hinzugefügt
werden.
-
WO
84/00628 A1 offenbart ein Verfahren zum Verwalten von Defektinformationen
bei dem die Defekttabelle in den Speicher gelesen oder expandiert
wird.
-
ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
-
Um
die oben beschriebenen Probleme zu überwinden, sehen bevorzugte
Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung ein verbessertes Defektinformationsverwaltungsverfahren
und eine verbesserte Defektinformationsverwaltungsvorrichtung vor,
durch die die Verwaltung von Defektinformationen in einem Magnetplattensystem
schnell und effektiv ausgeführt
wird, ohne daß die
Verlegung von allen Defektinformationen nachfolgender Zylinder erforderlich
ist, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
-
Gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung enthält
ein Defektinformationsverwaltungsverfahren die folgenden Schritte: Vorsehen
einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste, die eine
Folge von Sätzen
von ersten Defektelementen mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen
enthält,
wobei jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten
Defekten auf einem Speichermedium angibt und jede der Versetzungsadressen,
ausschließlich
der letzten, eine relative Stelle eines folgenden des entsprechenden
Satzes von ersten Defektelementen für die Versetzungsadresse in
der Folge ab einem Beginn der Defektliste angibt; Hinzufügen eines
zweiten Defektelementes an einem Ende der Defektliste, wenn ein
zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert
wird, der eine Stelle enthält,
die durch einen der Sätze
von ersten Defektelementen identifiziert wird; Berechnen einer relativen
Stelle des zweiten Defektelementes ab Beginn der Defektliste; und
Verändern
der Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen
für die
berechnete Stelle des zweiten Defektelementes, so daß der zweite
Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert werden
kann.
-
Das
Defektinformationsverwaltungsverfahren der obigen bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen
nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Erfindung
ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von
Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem
effektiv.
-
Gemäß einer
anderen bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung enthält
ein Defektinformationsverwaltungsverfahren die folgenden Schritte:
Vorsehen einer auf einer Magnetplatte gespeicherten Defektliste,
die eine Folge von Sätzen von
ersten Defektelementen enthält,
wobei die Sätze von
ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern
eines Speichermediums angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen,
und jedes erste Defektelement eine Stelle von einem von ersten Defekten
auf dem Speichermedium angibt; Bestimmen, wenn ein zweiter Defekt
in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird, der eine
Stelle enthält,
die durch einen der Sätze
von ersten Defektelementen identifiziert wird, eines zweiten Defektelementes
sowie eines nächsten
Satzes von ersten Defektelementen, die dem einen der Sätze von
ersten Defektelementen in der Folge folgen; Berechnen einer Größe des nächsten Satzes
von ersten Defektelementen und einer Größe des zweiten Defektelementes;
Verlegen des nächsten
Satzes von ersten Defektelementen von seiner ursprünglichen Stelle
an ein Ende der Defektliste, um einen freien Bereich in der Defektliste
an der ursprünglichen
Stelle zu bilden; und Hinzufügen
des zweiten Defektelementes an der ursprünglichen Stelle der Defektliste, wenn
die Größe des nächsten Satzes
von ersten Defektelementen größer als
die Größe des zweiten
Defektelementes ist.
-
Das
Defektinformationsverwaltungsverfahren der obigen bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen
nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Erfindung
ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von
Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
-
Gemäß einer
anderen bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung enthält
eine Defektinformationsverwaltungsvorrichtung: eine auf einer Magnetplatte
gespeicherten Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen mit
ihren jeweiligen Versetzungsadressen enthält, wobei jedes erste Defektelement
eine Stelle von einem von ersten Defekten auf einem Speichermedium angibt
und jede der Versetzungsadressen, ausschließlich der letzten, eine relative
Stelle von einem folgenden des entsprechenden Satzes von ersten Defektelementen
für die
Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste angibt;
eine Defektelementhinzufügungseinheit,
die ein zweites Defektelement an einem Ende der Defektliste hinzufügt, wenn
ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert
wird, der eine Stelle enthält, die
durch einen der Sätze
von ersten Defektelementen identifiziert wird; eine Berechnungseinheit
einer relativen Stelle, die eine relative Stelle des zweiten Defektelementes
ab Beginn der Defektliste berechnet; und eine Versetzungsadressenveränderungseinheit,
die die Versetzungsadresse des einen der Sätze von ersten Defektelementen
für die
berechnete Stelle des zweiten Defektelementes verändert, so
daß der zweite
Defekt unter Verwendung der resultierenden Defektliste lokalisiert
werden kann.
-
Die
Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der obigen bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen
nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung
ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von
Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
-
Gemäß einer
anderen bevorzugten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung enthält
eine Defektinformationsverwaltungsvorrichtung: eine auf einer Magnetplatte
gespeicherte Defektliste, die eine Folge von Sätzen von ersten Defektelementen
enthält,
wobei die Sätze
von ersten Defektelementen in sequentieller Reihenfolge von Zylindernummern
eines Speichermediums angeordnet sind, die den jeweiligen Sätzen entsprechen,
und jedes erste Defekt element eine Stelle von einem von ersten Defekten
auf dem Speichermedium angibt; eine Bestimmungseinheit, die dann,
wenn ein zweiter Defekt in einem Abschnitt des Speichermediums detektiert wird,
der eine Stelle enthält,
die durch einen der Sätze
der ersten Defektelemente identifiziert wird, ein zweites Defektelement
sowie einen nächsten
Satz von ersten Defektelementen bestimmt, die dem einen der Sätze von
ersten Defektelementen in der Folge folgen; eine Berechnungseinheit,
die eine Größe des nächsten Satzes
von ersten Defektelementen und eine Größe des zweiten Defektelementes
berechnet; eine Verlegungseinheit, die den nächsten Satz von ersten Defektelementen
von seiner ursprünglichen
Stelle an ein Ende der Defektliste verlegt, um einen freien Bereich
in der Defektliste an der ursprünglichen
Stelle zu bilden; und eine Hinzufügungseinheit, die das zweite
Defektelement an der ursprünglichen
Stelle der Defektliste hinzufügt,
wenn die Größe des nächsten Satzes
von ersten Defektelementen größer als
die Größe des zweiten
Defektelementes ist.
-
Die
Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der obigen bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung erfordert nicht die Verlegung aller Defektinformationen
nachfolgender Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden.
Die Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der vorliegenden Erfindung
ist beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von
Defektinformationen in dem Magnetplattensystem effektiv.
-
KURZE BESCHREIBUNG DER
ZEICHNUNGEN
-
Andere
Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus
der folgenden eingehenden Beschreibung in Verbindung mit den beiliegenden
Zeichnungen hervor, in denen:
-
1 ein
Blockdiagramm eines Magnetplattensystems ist;
-
2A und 2B Diagramme
sind, die eine Datenstruktur auf einem Speichermedium des Magnetplattensystems
zeigen;
-
3 ein
Diagramm ist, das eine herkömmliche
Layouttabelle zeigt, die verwendet wird, um eine Anordnung von normalen
Sektoren und defekten Sektoren auf dem Speichermedium darzustellen;
-
4 ein
Diagramm ist, das eine herkömmliche
Defektliste zeigt, die verwendet wird, um jede der Stellen von Defekten
auf dem Speichermedium zu identifizieren;
-
5 ein
Diagramm zum Erläutern
eines herkömmlichen
Prozesses zum Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu der herkömmlichen Defektliste ist;
-
6 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
eines herkömmlichen
Defektinformationshinzufügungsprozesses
ist;
-
7 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Prozesses zum Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
ersten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung ist;
-
8 ein
Diagramm ist, das eine Defektliste gemäß der ersten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung zeigt;
-
9 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung ist;
-
10 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird,
wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird;
-
11 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten
bevorzugten Ausführungsform
ist, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird;
-
12 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Prozesses zum Speichern der neuen Defektinformationen in einem
nichtflüchtigen
Speicher ist, der ausgeführt
wird, nachdem die neuen Defektinformationen hinzugefügt wurden;
-
13 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten
bevorzugten Ausführungsform
ist;
-
14 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Prozesses zum Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
zweiten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung ist;
-
15 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten bevorzugten
Ausführungsform
ist;
-
16 ein
Diagramm ist, das eine Primärdefektliste
zeigt, die durch das Defektinformationsverwaltungsverfahren der
zweiten bevorzugten Ausführungsform
verwendet wird;
-
17 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten
bevorzugten Ausführungsform ist;
-
18 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Prozesses zum Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
dritten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung ist;
-
19 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
eines Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung ist;
-
20 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird,
nachdem ein freier Bereich bei dem Defektinformationshinzufügungsprozeß gebildet wurde;
-
21 ein
Flußdiagramm
zum Erläutern
einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten
bevorzugten Ausführungsform
ist; und
-
22 ein
Diagramm zum Erläutern
eines Optimierungsprozesses der Defektliste ist, der ausgeführt wird,
nachdem der freie Bereich bei dem Defektinformationshinzufügungsprozeß gebildet wurde.
-
EINGEHENDE
BESCHREIBUNG VON BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
-
Nun
folgt eine Beschreibung von bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden
Erfindung unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen.
-
Bei
den folgenden Ausführungsformen
werden das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen
der Erfindung auf das Magnetplattensystem von 1 angewendet,
um das Verstehen der Unterschiede zwischen der vorliegenden Erfindung
und der verwandten Technik zu erleichtern. Dies bedeutet nicht,
daß die
vorliegende Erfindung auf die Konfiguration von 1 begrenzt ist.
Die Elemente in den folgenden Ausführungsformen, die im wesentlichen
dieselben wie die entsprechenden Elemente von 1 sind,
sind mit denselben Bezugszeichen versehen, und eine Beschreibung
von ihnen wird weggelassen.
-
7 zeigt
einen Prozeß zum
Hinzufügen von
neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
ersten bevorzugten Ausführungsform der
Erfindung.
-
Die
Defektliste der vorliegenden Ausführungsform, die in 7 durch
(A) gekennzeichnet wird, ist in der Magnetplatte 2 des
Magnetplattensystems von 1 gespeichert. Ferner wird die
gespeicherte Defektliste für
den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Nun wird angenommen,
daß die
Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen
mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde. Die Sätze der
Primärdefektelemente in
der Defektliste sind in der sequentiellen Reihenfolge der Zylindernummer
angeordnet. Jedes Primärdefektelement
bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2.
Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der letzten) bezeichnet
eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden Satzes von
Primärdefektelementen
für die Versetzungsadresse
in der Folge ab Beginn der Defektliste.
-
Der
Hinzufügungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform
wird durch die MCU 10 ausgeführt. Die Schritte/Einheiten
zur Defektelementhinzufügung,
zur Berechnung der relativen Stelle, zur Versetzungsadressenveränderung
und zur Hinzufügung neuer
Defektelemente bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren und
der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden
durch Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert
sind.
-
In 7 bezeichnet
Bezugszeichen 21 die Zylinder0-Defektelemente, die am Anfang der Liste stehen,
bezeichnet Bezugszeichen 22 ein Sekundärdefektelement, das zu der
Liste hinzugefügt
wurde, und bezeichnet Bezugszeichen 25 eine Versetzungsadresse
der Zylinder1-Defektelemente ab Beginn der Liste.
-
Falls
zum Beispiel ein Sekundärdefekt
in dem Zylinder0 des Speichermediums detektiert wird, nachdem die
Defektliste erstellt wurde, ist es erforderlich, das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 zu der
Defektliste hinzuzufügen,
die nur die Primärdefektelemente
enthält.
-
Gemäß dem Prozeß zum Hinzufügen der vorliegenden
Ausführungsform
wird das Zylinder0-Sekundärdefektelement 22 am
Ende der Defektliste eingefügt,
wie es durch (B) in 7 gezeigt ist. Eine Versetzungsadresse 27 des
Sekundärdefektelementes 22 wird
dem Sekundärdefektelement 22 beigefügt. Es wird
angenommen, daß der tatsächliche
Sekundärdefekt
für das
Sekundärdefektelement 22 in
dem Zylinder0 der Magnetplatte 2 detektiert wurde.
-
Nachdem
die Versetzungsadresse 27 beigefügt ist, wird die Versetzungsadresse 25 der Zylinder0-Defektelemente 21 in
eine Versetzungsadresse 26 verändert, die eine relative Stelle
des hinzugefügten
Sekundärdefektelementes 22 ab
Beginn der Defektliste bezeichnet. Da die Versetzungsadresse 26 (oder
die relative Stelle des Sekundärdefektelementes 22)
durch den Prozeß des
Hinzufügens
der vorliegenden Ausführungsform
vorgesehen wird, ist es nicht erforderlich, alle Defektelemente
von Zylinder1 bis Zylinder"n" an das Ende des
Sekundärdefektelementes 22 zu
verlegen. Der Sekundärdefekt auf
der Magnetplatte 2 kann unter Verwendung der resultierenden
Defektliste lokalisiert werden.
-
8 zeigt
eine Defektliste gemäß der vorliegenden
Ausführungsform.
-
Die
Defektliste von 8 wird unter Verwendung der
Layouttabelle von 3 erzeugt. In der Defektliste
von 8 existiert der Schlupf defekt "S1" an der Stelle (Kopf1,
Sektor1) der Magnetplatte 2. Der alternative Defekt "R2" existiert an der
Primärstelle
(Kopf2, Sektor3), und die Sekundärstelle
für den
alternativen Defekt R2 ist (Kopf3, Sektor4). Ferner existiert der
Schlupf defekt "S3" an der Stelle (Kopf2,
Sektor5).
-
Eine
eindeutige Adresse der Defektliste ist jeder der Kopfnummern und
Sektornummern für
die Zylinder der Magnetplatte 2 zugeordnet, wie es durch das
Element 30 in 8 gekennzeichnet ist. Die Defektelemente
in der Defektliste werden gemäß der Art von
Defekten gruppiert. Bei dem vorliegenden Beispiel sind die Defektelemente
für die
Schlupfdefekte S1 und S3 zuerst als (S1, Kopf1, Sektor1) und (S3, Kopf2,
Sektor5) am Anfang der Defektliste aufgelistet, und die Defektelemente
für den
alternativen Defekt R2 sind als (R2, 1, Kopf2, Sektor3) und (R2,
2, Kopf3, Sektor4) nach dem Ende der Schlupfdefektelemente aufgelistet.
Eine Versetzungsadresse 31 ist den Schlupfdefektelementen
beigefügt,
und eine Versetzungsadresse 32 ist den alternativen Defektelementen
beigefügt,
wie es durch die Elemente 31 und 32 in 8 gezeigt
ist.
-
Genauer
gesagt, die Versetzungsadresse 31 für die Schlupfdefektelemente
bezeichnet eine relative Stelle der alternativen Defektelemente
(oder der nachfolgenden Defektelemente) ab Beginn der Defektliste.
Falls die alternativen Defektelemente die letzten in der Defektliste
sind, bezeichnet die Versetzungsadresse 32 für die letzten
Defektelemente die Stelle des Beginns des Defektliste. Bei dem vorliegenden Beispiel
ist die Versetzungsadresse 32 für das alternative Defektelemente
auf -1 eingerichtet.
-
9 zeigt
ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der ersten bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren bei der
vorliegenden Ausführungsform
ist ein Prozeß zum
Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu der Defektliste. Bei diesem Hinzufügungsprozeß wird die
oben beschriebene Defektliste von 8 verwendet.
-
Es
wird angenommen, daß ein
zweiter Defekt in einem gewissen Zylinder der Magnetplatte 2 detektiert
wurde, der eine Stelle enthält,
die durch einen der Sätze
der ersten Defektelemente bezeichnet wurde, und der Hinzufügungsprozeß von 9 zu
jener Zeit startet, um ein zweites Defektelement zu der Defektliste
hinzuzufügen.
-
Zu
Beginn des Hinzufügungsprozesses
wird das zweite Defektelement am Ende der Defektliste hinzugefügt, wie
in 9 gezeigt, und eine relative Stelle des hinzugefügten Defektelementes
ab Beginn der Defektliste wird berechnet (S30).
-
Nachdem
Schritt S30 ausgeführt
ist, wird bestimmt, ob die ersten Defektelemente in demselben Zylinder
wie dem des zweiten Defektelementes in der Defektliste existieren
(S31). Wenn das Resultat bei Schritt S31 negativ ist, wird eine
Versetzungsadresse des Zylinders des zweiten Defektes in der Layouttabelle
für die
berechnete Stelle verändert
(S33). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann
unter Verwendung der berechneten Stelle lokalisiert werden.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S31 bejahend ist, existieren die ersten
Defektelemente in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in
der Defektliste. Es wird bestimmt, ob das alternative Defektelement
in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in der
Defektliste existiert (S32). Wenn das Resultat bei Schritt S32 negativ
ist, sind alle ersten Defektelemente des Zylinders in der Defektliste
die Schlupfdefektelemente. Die Versetzungsadresse von einem der
Sätze von
ersten Defektelementen für
denselben Zylinder in der Defektliste wird für die berechnete Stelle des
zweiten Defektelementes verändert
(S34). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann
unter Verwendung der resultierenden Defektliste (der berechneten Stelle)
lokalisiert werden.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S32 bejahend ist, existiert das alternative
Defektelement in demselben Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes in
der Defektliste. Die Versetzungsadresse des alternativen Defektelementes
für denselben
Zylinder in der Defektliste wird für die berechnete Stelle des zweiten
Defektelementes verändert
(S35). Der zweite Defekt in dem Zylinder der Magnetplatte 2 kann unter
Verwendung der resultierenden Defektliste (der berechneten Stelle)
lokalisiert werden. Nachdem jeder der Schritte 33, 34 und 35 ausgeführt ist,
endet der Hinzufügungsprozeß.
-
Das
Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen
der vorliegenden Ausführungsform
erfordern nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender
Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Verfahren und
die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden
Erfindung sind beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung
von Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem
effektiv.
-
10 zeigt
einen Optimierungsprozeß der Defektliste,
der ausgeführt
wird, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird.
-
Der
Optimierungsprozeß von 10 für die Defektliste
startet, wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird, nachdem
der Hinzufügungsprozeß von 7 ausgeführt wurde.
Die Defektliste, die durch (A) in 10 gekennzeichnet
ist, ist dieselbe wie jene, die durch (B) in 7 gekennzeichnet
ist.
-
Es
wird angenommen, daß ein
Initialisierungsbefehl (Formateinheit) nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses
ausgegeben wurde. Zuerst wird als Reaktion auf den Initialisierungsbefehl
bestimmt, ob das hinzugefügte
Defektelement 22 in der Defektliste vorhanden ist. Eine
entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des Satzes von ersten
Defektelementen 21 wird erhalten, der in demselben Zylinder
wie dem des hinzugefügten
Defektelementes 22 liegt. Eine entsprechende Adresse der
Defektliste für
das Ende des hinzugefügten
Defektelementes 22 wird unter Verwendung einer Größe des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten.
Die Defektelemente nachfolgender Zylinder werden an die Stelle der Defektliste
verlegt, die durch die Endadresse des hinzugefügten Defektelementes 22 bezeichnet
wird.
-
Dann
wird das hinzugefügte
Defektelement 22 an das Ende des ersten Defektelementesatzes
in der Defektliste verlegt, wie es durch (B) in 10 gezeigt
ist. Die Versetzungsadresse 26, die dem Satz von ersten
Defektelementen beigefügt
ist, wird in die Versetzungsadresse 28 verändert, die
dem hinzugefügten
Defektelement 22 nach dem Verlegen beigefügt wird.
Die Versetzungsadresse 27 an der ursprünglichen Stelle in der Defektliste
wird eliminiert. In der resultierenden Defektliste sind wieder alle
Sätze der
Defektelemente in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet.
Daher wird dieser Prozeß als
Optimierung der Defektliste bezeichnet.
-
11 zeigt
eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten
bevorzugten Ausführungsform,
wenn ein Initialisierungsbefehl ausgegeben wird. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren
in der vorliegenden Ausführungsform ist
ein Prozeß zum
Optimieren der Defektliste. Bei dem Optimierungsprozeß wird die
oben beschriebene Defektliste von 8 verwendet.
-
Es
wird angenommen, daß ein
Initialisierungsbefehl nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses ausgegeben wurde
und der Optimierungsprozeß von 11 zu
jener Zeit startet, um die Defektliste zu optimieren.
-
Zu
Beginn des Optimierungsprozesses wird bestimmt, wie in 11 gezeigt,
ob das hinzugefügte Defektelement 22 in
der Defektliste vorhanden ist (S40). Wenn das Resultat bei Schritt
S40 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S40 bejahend ist, wird eine entsprechende
Adresse der Defektliste für
das Ende des Satzes von ersten Defektelementen 21 in demselben
Zylinder wie dem des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten
(S41). Ferner wird eine entsprechende Adresse der Defektliste für das Ende des
hinzugefügten
Defektelementes 22 unter Verwendung einer Größe des hinzugefügten Defektelementes 22 erhalten
(S41).
-
Nachdem
Schritt S41 ausgeführt
ist, werden die Defektelemente nachfolgender Zylinder an die Stelle
der Defektliste verlegt, die durch die Endadresse des hinzugefügten Defektelementes 22 bezeichnet
wird (S42).
-
Nachdem
Schritt S42 ausgeführt
ist, wird das hinzugefügte
Defektelement 22 an das Ende des ersten Defektelementesatzes
in der Defektliste verlegt (S43). Ferner wird die Versetzungsadresse 26,
die dem Satz von ersten Defektelementen beigefügt ist, in die Versetzungsadresse 28 geändert, die
dem hinzugefügten
Defektelement 22 beigefügt
wird (S43). Ferner wird die Versetzungsadresse 27 an der
ursprünglichen
Stelle in der Defektliste eliminiert (S43).
-
Nachdem
Schritt S43 ausgeführt
ist, endet der Optimierungsprozeß. In der resultierenden Defektliste
sind alle Sätze
der Defektelemente, wie oben beschrieben, wieder in sequentieller
Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet, wie es durch (B) in 10 gezeigt
ist.
-
Demzufolge
kann durch das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von
Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform die Defektliste
auf die in 7 gezeigte Weise aktualisiert
werden, wenn der Hinzufügungsprozeß von 9 ausgeführt wird,
und dann die Defektliste auf die in 10 gezeigte
weise neu geordnet werden, wenn der Optimierungsprozeß von 11 als
Reaktion auf den Initialisierungsbefehl ausgeführt wird.
-
12 zeigt
einen Prozeß zum
Aufzeichnen der neuen Defektinformationen in einem nichtflüchtigen
Speicher, der ausgeführt
wird, nachdem die neuen Defektinformationen zu der Defektliste hinzugefügt wurden.
Bei dem Aufzeichnungsprozeß werden die
neuen Defektinformationen (oder das hinzugefügte Defektelement und die Versetzungsadresse)
in dem Flash-Speicher 11 oder dem Systemspeicher der MCU 10 in
dem Magnetplattensystem von 1 aufgezeichnet.
-
Der
Aufzeichnungsprozeß von 12 für den nichtflüchtigen
Speicher 11 oder den Systembereich der MCU 10 startet
nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses
von 7. Die Defektliste, die durch (A) in 12 gekennzeichnet
ist, ist dieselbe wie jene, die durch (A) in 7 gekennzeichnet
ist.
-
Nach
dem Ende des Hinzufügungsprozesses
werden die Versetzungsadresse 26, das hinzugefügte Defektelement 22 und
die Versetzungsadresse 27 in der Defektliste erneuert,
wie durch (B) in 12 gezeigt. Während des
Aufzeichnungsprozesses werden die neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen
Speicher 11 oder dem Systembereich der MCU 10 aufgezeichnet.
Daher kann das Magnetplattensystem nach dem Ende des Aufzeichnungsprozesses
die neuen Defektinformationen auch dann halten, wenn die Energie
von dem System plötzlich weggenommen
wird.
-
13 zeigt
eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der ersten
bevorzugten Ausführungsform.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist
ein Prozeß zum
Aufzeichnen der neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen
Speicher 11. Bei dem Aufzeichnungsprozeß wird die Defektliste verwendet,
die durch (B) in 12 gekennzeichnet ist.
-
Zu
Beginn des Aufzeichnungsprozesses wird die Versetzungsadresse 27 des
hinzugefügten Defektelementes 22 in
den nichtflüchtigen
Speicher 11 geschrieben, wie in 13 gezeigt
(S50).
-
Nachdem
Schritt S50 ausgeführt
ist, wird bestimmt, ob die ersten Defektelemente in demselben Zylinder
wie dem des hinzugefügten
Defektelementes 22 in der Defektliste existieren (S51).
Wenn das Resultat bei Schritt S51 bejahend ist, wurde die Versetzungsadresse
der ersten Defektelemente in demselben Zylinder erneuert. Die Versetzungsadresse 26 der
ersten Defektelemente 21 wird in den nichtflüchtigen
Speicher 11 geschrieben (S52).
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S51 negativ ist, wird Schritt S52 nicht
ausgeführt,
und der nächste Schritt
S53 wird ausgeführt.
Alternativ wird der nächste
Schritt S53 ausgeführt,
nachdem Schritt S52 ausgeführt
ist. Bei Schritt S53 wird das hinzugefügte Defektelement 22 in
den nichtflüchtigen
Speicher 11 geschrieben. Nachdem Schritt S53 ausgeführt ist, endet
der Aufzeichnungsprozeß von 13.
-
Gemäß dem Defektinformationsverwaltungsverfahren
der vorliegenden Ausführungsform werden
die neuen Defektinformationen in dem nichtflüchtigen Speicher 11 oder
dem Systembereich der MCU 10 aufgezeichnet. Daher kann
das Magnetplattensystem nach dem Ende des Aufzeichnungsprozesses
die neuen Defektinformationen auch dann halten, wenn die Energie
von dem System plötzlich weggenommen
wird.
-
Als
nächstes
zeigt 14 einen Prozeß zum Hinzufügen von
neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
zweiten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung. Ähnlich
wie bei der vorherigen Ausführungsform
von 7 wird der Prozeß des Hinzufügens bei
der vorliegenden Ausführungsform
durch die MCU 10 ausgeführt.
-
Die
Defektliste in der vorliegenden Ausführungsform, die durch (A) in 14 gekennzeichnet ist,
ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert.
Ferner wird die gespeicherte Defektliste für den Zugriff zum Datenpuffer 14 übertragen.
Es wird angenommen, daß die
Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen
mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde.
-
Anders
als bei der Defektliste der Ausführungsform
von 7 sind die Sätze
der Primärdefektelemente
in der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform ungeachtet der Art
der Defekte in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummer, der Kopfnummer
und der Sektornummer angeordnet, wo der Primärdefekt lokalisiert ist, und
die Versetzungsadresse ist jedem Defektelement beigefügt. Ein
geeigneter Identifikator ist jedem Defektelement zugeordnet, wie
etwa Nr. 1, Nr. 2,..., Nr. "n". Jedes Primärdefektelement
bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2.
Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der letzten) bezeichnet
eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden Satzes von
Primärdefektelementen
für die
Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste.
-
Falls
zum Beispiel ein zweiter Defekt zwischen der Stelle Nr. 1 und der
Stelle Nr. 2 in der Magnetplatte 2 detektiert wird, ist
es erforderlich, das zweite Defektelement zu der Defektliste hinzufügen, die
anfangs nur die Primärdefektelemente
enthält.
-
Gemäß dem Hinzufügungsprozeß der vorliegenden
Erfindung wird das zweite Defektelement am Ende der Defektliste
eingefügt,
wie es durch (B) in 14 gekennzeichnet ist. Bei dem
vorliegenden Beispiel existiert der neu detektierte zweite Defekt zwischen
der Stelle Nr. 1 und der Stelle Nr. 2 in der Magnetplatte 2.
Der Identifikator "Nr.
2" wird dem hinzugefügten Defektelement
zugeordnet. Der Identifikator für
jedes der nachfolgenden Defektelemente wird auf Nr. 3, ..., Nr. "n + 1" inkrementiert. Eine
neue Versetzungsadresse wird dem hinzugefügten Defektelement (Nr. 2)
beigefügt.
-
Die
Versetzungsadresse des Defektelementes Nr. 1 wird verändert, um
eine relative Stelle des hinzugefügten Defektelementes ab Beginn
der Defektliste zu bezeichnen. Die Versetzungsadresse des hinzugefügten Defektelementes
(die neue Nr. 2) am Ende der Defektliste bezeichnet eine relative
Stelle des Defektelementes Nr. 3 ab Beginn der Defektliste.
-
15 zeigt
ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der zweiten bevorzugten
Ausführungsform.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform
ist ein Prozeß zum
Finden eines Zieldefektelementes in der Defektliste. Bei dem Findungsprozeß wird die
Defektliste verwendet, die durch (B) in 14 gekennzeichnet
ist.
-
Zu
Beginn des Findungsprozesses wird, wie in 15 gezeigt,
der gegebene Logiksektoridentifikator der Defektliste in eine Anfangsadresse
konvertiert (Kopfnummer, Sektornummer) (S600). Ein nächstes Defektelement
in der Defektliste wird erhalten, das an der ersten Stelle ab der
Anfangsadresse vorhanden ist (S601).
-
Es
wird bestimmt, ob das nächste
Defektelement an der ersten Stelle erhalten werden kann (S602).
Wenn das Resultat bei Schritt S602 negativ ist, wird bestimmt, daß das Defektelement
an der Anfangsadresse das Ziel ist (S603). Nachdem Schritt S603
ausgeführt
ist, endet der Findungsprozeß.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S602 bejahend ist, wird bestimmt, ob die
relative Stelle des erhaltenen Defektelementes kleiner als die Anfangsadresse
ist (S604). Wenn das Resultat bei Schritt S604 bejahend ist, wird
bestimmt, ob das erhaltene Defektelement ein Schlupfdefektelement
ist (S605). Im Falle eines Schlupfdefektelementes wird die Anfangsadresse
inkrementiert (S606). Anderenfalls wird Schritt S606 nicht ausgeführt. Nachdem
Schritt S606 oder Schritt S605 ausgeführt ist, wird ein nächstes Defektelement in
der Defektliste erhalten, das an der nächsten Stelle ab der Anfangsadresse vorhanden
ist (S607). Nachdem Schritt S607 ausgeführt ist, werden die obigen
Schritte S602 bis S606 wiederholt.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S604 negativ ist, ist die relative Stelle
des erhaltenen Defektelementes gleich oder größer als die Anfangsadresse. Es
wird bestimmt, ob die relative Stelle des erhaltenen Defektelementes
der Anfangsadresse gleich ist (S608). Wenn das Resultat bei Schritt
S608 negativ ist, wird bestimmt, daß das Defektelement an der
Anfangsadresse das Ziel ist (S609). Nachdem Schritt S609 ausgeführt ist,
endet der Findungsprozeß.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S608 bejahend ist, ist die relative Stelle
des erhaltenen Defektelementes der Anfangsadresse gleich. Es wird
bestimmt, ob das erhaltene Defektelement ein alternatives Defektelement
ist (S610). Wenn das Resultat bei Schritt S610 bejahend ist, wird
bestimmt, daß das Defektelement
an der zweiten Stelle des alternativen Defektelementes das Ziel
ist (S611). Nachdem Schritt S611 ausgeführt ist, endet der Findungsprozeß.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S610 negativ ist, ist das erhaltene Defektelement
ein Schlupfdefektelement. Die Anfangsadresse wird inkrementiert (S612).
Dann wird bestimmt, daß das
Defektelement an der veränderten
Anfangsadresse das Ziel ist (S613). Nachdem Schritt S613 ausgeführt ist,
endet der Findungsprozeß.
-
Demzufolge
ist das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden
Ausführungsform
beim Vorsehen eines leichten, effizienten Findungsprozesses effektiv,
bei dem das Zieldefektelement in der Defektliste unter Verwendung
der Defektliste gefunden wird, die durch (B) in 14 gekennzeichnet
ist.
-
16 zeigt
eine Primärdefektliste,
die bei einer Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens
der zweiten bevorzugten Ausführungsform
verwendet wird.
-
Die
Primärdefektliste
bei der vorliegenden Ausführungsform,
die in 16 gezeigt ist, ist in der Magnetplatte 2 des
Magnetplattensystems von 1 gespeichert. Ferner wird die
gespeicherte Defektliste für
den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Es wird angenommen,
daß die
Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen
mit ihren jeweiligen Versetzungsadressen erzeugt wurde.
-
Ähnlich wie
bei der Defektliste der Ausführungsform
von 7 sind die Sätze
der Primärdefektelemente
in der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform in sequentieller
Reihenfolge der Zylindernummer angeordnet. Jedes Primärdefektelement bezeichnet
eine Stelle von einem der Primärdefekte auf
der Magnetplatte 2. Jede der Versetzungsadressen (ausschließlich der
letzten) bezeichnet eine relative Stelle des folgenden des entsprechenden
Satzes von Primärdefektelementen
für die
Versetzungsadresse in der Folge ab Beginn der Defektliste.
-
17 zeigt
eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der zweiten
bevorzugten Ausführungsform.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform
ist ein Prozeß zum
Finden eines Zieldefektelementes in der Defektliste. Bei dem Findungsprozeß wird die
Defektliste verwendet, die in 16 gezeigt
ist. Die Schritte des Findungsprozesses von 17 sind
im wesentlichen dieselben wie entsprechende Schritte des Findungsprozesses
von 15, und eine Beschreibung von ihnen wird zum Vermeiden
einer doppelten Beschreibung weggelassen.
-
Es
versteht sich ohne weiteres, daß das Defektinformationsverwaltungsverfahren
der vorliegenden Ausführungsform
beim Vorsehen eines einfachen, effizienten Findungsprozesses effektiv
ist, bei dem das Zieldefektelement in der Defektliste unter Verwendung
der Defektliste von 16 gefunden wird.
-
Als
nächstes
zeigt 18 einen Prozeß zum Hinzufügen von
neuen Defektinformationen zu einer Defektliste gemäß einer
dritten bevorzugten Ausführungsform
der Erfindung.
-
Die
Defektliste der vorliegenden Ausführungsform, die durch (A) in 18 gekennzeichnet ist,
ist in der Magnetplatte 2 des Magnetplattensystems von 1 gespeichert
und wird für
den Zugriff zu dem Datenpuffer 14 übertragen. Es wird angenommen,
daß die
Defektliste mit einer Folge von Sätzen von Primärdefektelementen
erzeugt wurde. Die Sätze
der Primärdefektelemente
in der Defektliste sind in sequentieller Reihenfolge der Zylindernummern
der Magnetplatte 2 angeordnet, die den jeweiligen Sätzen entsprechen.
Eine eindeutige Zylindernummer ist jedem der Sätze der Primärdefektelemente
zugeordnet, wie etwa Zylinder0,..., Zylinder"n".
Jedes Primärdefektelement
bezeichnet eine Stelle von einem der Primärdefekte auf der Magnetplatte 2.
-
Der
Hinzufügungsprozeß der vorliegenden Ausführungsform
wird durch die MCU 10 ausgeführt. Die Schritte/Einheiten
zum Bestimmen, Berechnen, Verlegen und Hinzufügen bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren
und der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden durch
Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert
sind.
-
Gemäß dem Prozeß des Hinzufügens der vorliegenden
Ausführungsform
wird das Zylinder0-Sekundärdefektelement
an der ursprünglichen
Stelle des nächsten
Satzes (Zylinder1) von Primärdefektelementen
in der Defektliste eingefügt,
wie es durch (B) in 18 gekennzeichnet ist. Um dies zu
erreichen, wird der nächste
Satz von Primärdefektelementen
(die Zylinder1-Primärdefektelemente) an
das Ende der Defektliste verlegt, um einen freien Bereich in der
Defektliste an der ursprünglichen
Stelle zu bilden. Wenn die Größe der bewegten
Primärdefektelemente
größer als
die Größe des Sekundärdefektelementes
ist, wird dann das Sekundärdefektelement
an der ursprünglichen
Stelle der bewegten Primärdefektelemente hinzugefügt. Der
freie Bereich ab dem Ende des hinzugefügten Defektelementes bleibt
unverändert.
-
19 zeigt
ein Defektinformationsverwaltungsverfahren der dritten bevorzugten
Ausführungsform
der Erfindung. Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden
Ausführungsform ist
ein Prozeß zum
Hinzufügen
von neuen Defektinformationen zu der Defektliste. Bei diesem Hinzufügungsprozeß wird die
Defektliste von 18 verwendet, die oben beschrieben
wurde.
-
Es
wird angenommen, daß ein
zweiter Defekt in einem gewissen Zylinder der Magnetplatte 2 detektiert
wurde, der eine Stelle enthält,
die durch einen der Sätze
der ersten Defektelemente bezeichnet ist, und der Hinzufügungsprozeß von 19 zu
jener Zeit startet, um ein zweites Defektelement zu der Defektliste
hinzuzufügen.
-
Wie
in 19 gezeigt, werden zu Beginn des Hinzufügungsprozesses
das zweite Defektelement und die ersten Defektelemente der nächsten Stelle
an einer Stelle, die der Stelle der ersten Defektelemente in demselben
Zylinder wie dem des zweiten Defektelementes folgen, unter Verwendung
der Layouttabelle bestimmt (S80).
-
Nachdem
Schritt S80 ausgeführt
ist, werden eine Größe des hinzuzufügenden zweiten
Defektelementes und eine Größe der ersten
Defektelemente der nächsten
Stelle berechnet (S81). Dieser Schritt wird ausgeführt, um
eine Größe des freien
Bereiches zu prüfen,
der nach dem Hinzufügen
des zweiten Defektelementes erzeugt wird.
-
Nachdem
Schritt S81 ausgeführt
ist, wird bestimmt, ob die Größe der ersten
Defektelemente der nächsten
Stelle kleiner als die Größe des zweiten
Defektelementes ist (S82). Wenn das Resultat bei Schritt S82 bejahend
ist, ist es erforderlich, die Größe der ersten
Defektelemente der nächsten
Stelle zu vergrößern. Die
ersten Defektelemente der nächsten Stelle
werden an das Ende der Defektliste verlegt (S83). Die Versetzungsadresse
der ersten Defektelemente der nächsten
Stelle in der Layouttabelle wird verändert, um mit der Verlegung übereinzustimmen (S84).
Nachdem Schritt S84 ausgeführt
ist, werden die obigen Schritte S80 bis S83 wiederholt, bis das Resultat
bei Schritt S82 eine negative Antwort ergibt.
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S82 negativ ist, reicht die Größe der ersten
Defektelemente der nächsten
Stelle aus, um das zweite Defektelement hinzuzufügen. Dann wird das zweite Defektelement an
der ursprünglichen
Stelle der bewegten ersten Defektelemente hinzugefügt (S85).
Der freie Bereich ab dem Ende des hinzugefügten Defektelementes bleibt unverändert. Nachdem
Schritt S85 ausgeführt
ist, endet der Hinzufügungsprozeß.
-
Das
Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen
der vorliegenden Ausführungsform
erfordern nicht die Verlegung aller Defektinformationen nachfolgender
Zylinder, wenn neue Defektinformationen hinzugefügt werden. Das Verfahren und
die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen der vorliegenden
Ausführungsform
sind beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von
Defektinformationen des Speichermediums in einem Magnetplattensystem
effektiv.
-
20 zeigt
einen Optimierungsprozeß der Defektliste,
der ausgeführt
wird, nachdem ein freier Bereich bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet wurde.
-
In
der Defektliste der vorliegenden Ausführungsform können freie
Bereiche zwischen zwei benachbarten der Sätze von ersten Defektelementen nach
dem Ende des Hinzufügungsprozesses
bestehenbleiben, wie in 18 gezeigt.
Es wird angenommen, daß die
Defektliste, die durch (A) in 20 gekennzeichnet
ist, in solch einem Zustand ist. Bei dem Beispiel von 20 wird
der erstere der zwei benachbarten Sätze von ersten Defektelementen
mit "p" bezeichnet, und
der letztere wird mit "q" bezeichnet. Die
freien Bereiche werden nach dem Ende des Hinzufügungsprozesses von 19 erzeugt.
-
Der
Optimierungsprozeß von 20 dient dazu,
den ersten Defektelementesatz "q" an das Ende des
ersten Defektelementesatzes "p" zu verlegen, um
einen der freien Bereiche mit einem anderen in der Defektliste zu
vereinigen, wie es durch (B) in 20 gezeigt
ist. Der Optimierungsprozeß der
vorliegenden Ausführungsform
wird durch die MCU 10 ausgeführt, und der Schritt und die
Einheit zum zweiten Verlegen bei dem Defektinformationsverwaltungsverfahren
und der Defektinformationsverwaltungsvorrichtung der Ansprüche werden
durch Programmsteuerinstruktionen verwirklicht, die in der MCU 10 gespeichert
sind.
-
Der
Optimierungsprozeß der
vorliegenden Ausführungsform
ist beim Vergrößern des
Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen
verfügbar
ist.
-
21 zeigt
eine Variante des Defektinformationsverwaltungsverfahrens der dritten
bevorzugten Ausführungsform.
Das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform ist
ein Prozeß zum
Optimieren der Defektliste im oben erwähnten Zustand nach dem Ende
des Hinzufügungsprozesses.
Bei diesem Optimierungsprozeß wird
die oben beschriebene Defektliste von 20 verwendet.
-
Zu
Beginn des Optimierungsprozesses werden die Defektelemente "p" an der ersten Stelle in der Defektliste
erhalten oder ausgelesen, wie in 21 gezeigt
(S90). Es wird bestimmt, ob die Defektelemente der ersten Stelle "p" in der Defektliste erfolgreich erhalten
werden können
(S91).
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S91 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort.
Wenn das Resultat bei Schritt S91 bejahend ist, können die
Defektelemente der ersten Stelle "p" erhalten
werden. Dann werden die Defektelemente "q" an
der nächsten
Stelle in der Defektliste erhalten oder ausgelesen (S92). Es wird
bestimmt, ob die Defektelemente der nächsten Stelle "q" in der Defektliste erfolgreich erhalten
werden können
(S93).
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S93 negativ ist, endet der Optimierungsprozeß sofort.
Wenn das Resultat bei Schritt S93 bejahend ist, wird bestimmt, ob
ein freier Bereich zwischen den Defektelementen der ersten Stelle "p" und den Defektelementen der nächsten Stelle "q" in der Defektliste existiert (S94).
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S94 bejahend ist, werden die Defektelemente "q" (der letztere der zwei benachbarten
Sätze von
ersten Defektelementen in der Defektliste) an das Ende der Defektelemente "p" (der erstere Satz) verlegt (S95). Die
Adresse der Defektelemente "q" in der Defektliste
wird nach der Bewegung in die neue verändert (S96). Nachdem Schritt
S96 ausgeführt
ist, wird der Wert "q" durch den Wert "p" zur Verarbeitung einer folgenden Stelle
in der Defektliste ersetzt (S97).
-
Wenn
das Resultat bei Schritt S94 negativ ist, werden die obigen Schritte
S95 und S96 nicht ausgeführt
und wird nur der Schritt S97 ausgeführt. Nachdem Schritt S97 ausgeführt ist,
werden die obigen Schritte S92 bis S96 wiederholt, bis die Verarbeitung
der letzten Stelle in der Defektliste vollendet ist.
-
Das
Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen
der vorliegenden Ausführungsform
sind beim Vergrößern des
Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen
zur Verfügung
steht. Ferner erfordern das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung
von Defektinformationen der vorliegenden Ausführungsform nicht das Verlegen
aller Defektinformationen der nachfolgenden Stellen, wenn neue Defektinformationen
hinzugefügt
werden. Das Verfahren und die Vorrichtung zur Verwaltung von Defektinformationen
der vorliegenden Ausführungsform sind
beim Vorsehen einer schnellen und effizienten Verwaltung von Defektinformationen
des Speichermediums in einem Magnetplattensystem effektiv.
-
22 zeigt
einen Optimierungsprozeß der Defektliste,
der ausgeführt
wird, nachdem ein freier Bereich bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet wurde.
-
Es
wird angenommen, daß ein
erster freier Bereich zwischen den Zylinder0-Defektelementen und
den Zylinder2-Defektelementen
und ein zweiter freier Bereich nach dem Ende der Zylinder2-Defektelemente
bei dem Hinzufügungsprozeß gebildet
wurden, wie es durch (A) in 22 gezeigt
ist. Der Optimierungsprozeß der
vorliegenden Ausführungsform dient
dazu, den zweiten freien Bereich mit dem ersten freien Bereich zu
vereinigen, indem die Zylinder2-Defektelemente an eine nachfolgende Stelle
in der Defektliste verlegt werden, wie es durch (B) in 22 gezeigt
ist. Daher kann der Speicherraum (oder der Datenpuffer 14 in
dem Magnetplattensystem von 1), der
zur Verfügung
steht, mit dem vereinigten freien Bereich vergrößert werden. Infolge des vereinigten
freien Bereiches ermöglicht
es das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden Ausführungsform,
die Zylinder3-Defektelemente von dem Ende der Defektliste an das
Ende der Zylinder0-Defektelemente zu verlegen, wie es durch (C)
in 22 gezeigt ist.
-
Daher
ist das Defektinformationsverwaltungsverfahren der vorliegenden
Ausführungsform beim
Vergrößern des
Speicherraumes effektiv, der zum Hinzufügen von neuen Defektinformationen
zur Verfügung
steht.
-
Die
vorliegende Erfindung ist nicht auf die oben beschriebenen bevorzugten
Ausführungsformen
begrenzt, und Veränderungen
und Abwandlungen können
vorgenommen werden, ohne den Schutzumfang der vorliegenden Erfindung
zu verlassen.
-
Ferner
basiert die vorliegende Erfindung auf der japanischen Prioritätsanmeldung
Nr. 11-192313, eingereicht am 6. Juli 1999, deren gesamter Inhalt hierin
durch Bezugnahme enthalten ist.