DE10016832C2 - Substrat zur Sichtbarmachung von daran angelagerten Partikeln und/oder Materialschichten - Google Patents
Substrat zur Sichtbarmachung von daran angelagerten Partikeln und/oder MaterialschichtenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Substrat zur Sichtbarma
chung von daran angelagerten Partikeln und/oder Ma
terialschichten. Sie kann insbesondere für die Bewer
tung von unterschiedlichsten Gegenständen und Reini
gungsmitteln, wie sie insbesondere für die Reinigung
in Reinstraumbereichen mit den Techniken des wischen
den Reinigens eingesetzt werden, benutzt werden.
So ist aus WO 87/07024 A1 ein Verfahren und eine Vor
richtung für die Erkennung von Oberflächenverunreini
gungen bekannt. Bei dieser Vorrichtung soll eine
Nachweisplatte, die ein optischer Spiegel oder eine
Glasplatte sein kann, gemeinsam mit einer optischer
Detektionseinrichtung Verwendung finden.
Es ist Aufgabe der Erfindung in einfacher Form und
reproduzierbar eine Bewertung von unterschiedlichen
Artikeln und Reinigungsflüssigkeiten bezüglich Rein
heit und Reinigungs-Effizienz vornehmen zu können.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einem Substrat
nach Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungs
formen und Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich
mit den in den untergeordneten Ansprüchen genannten
Merkmalen.
Das erfindungsgemäße Substrat besteht aus einem
schwarzen oder dunkelfarbigem Material, wobei zumin
dest eine Oberfläche dieses Substrates schwarz oder
dunkelfarbig ausgebildet ist. Dabei sollte zumindest
diese Oberfläche einen Absorptionsgrad von mindestens
90% von einfallenden Licht erreichen.
Auf die Oberfläche des Substrates wird eine Beschichtung
aufgebracht, deren spektrale Reflexion, die im
Zentrum der Beschichtung bei Bestrahlung mit Licht im
Wellenlängenbereich zwischen 400 und 700 nm, bevor
zugt zwischen 430 und 660 nm, bei einem Einfallswin
kel des Lichtes zwischen 0 und 15°, unterhalb 1,5%,
bevorzugt unterhalb 1% liegt.
Eine solche Beschichtung kann ein im Vakuum aufge
brachtes Dünnschichtsystem sein, das beispielsweise
unter dem Handelsnamen "IRALIN 85" von der Firma Bal
zers Thin Films erhältlich ist.
Das Substrat kann ein plattenförmiges, ebenes Gebil
de, aber auch ein flexibles Flächengebilde, in Form
einer Folie sein.
Das erfindungsgemäße Substrat kann in verschiedenster
Form zur Bestimmung und Bewertung eingesetzt werden.
So ist es möglich, den Reinheitsgrad von Flüssigkei
ten mit einem erfindungsgemäßen Substrat zu bestim
men. Dabei wird in einer Alternative ein Tropfen ei
ner Flüssigkeit, möglichst mit bekanntem Volumen auf
die Beschichtung des Substrates aufgegeben. Die Flüs
sigkeit wird verdampft und der verbliebene Feststoff-
Rückstand kann bei schräg geneigt einfallendem und
reflektierten Licht visuell, mikroskopisch, bildana
lytisch, spektralanalytisch quantitativ und/oder
qualitativ erfasst oder analysiert werden, wobei
Licht mit bekannter Wellenlänge, bekanntem Spektrum
und bekannter Intensität für die Bestrahlung einge
setzt werden sollte. Die Auswertung erfolgt durch
Messung von reflektiertem Licht.
Dabei kann so verfahren werden, dass die flächigen
Ablagerungen des Feststoff-Rückstandes mittels eines
schräg zur Substratebene einfallenden, möglichst
stark gebündelten Lichtstrahls in linearer, oberflä
chenparalleler Relativbewegung zum Substrat abgetas
tet werden. Während dieses Abtastvorganges wird
ortsaufgelöst entlang zumindest einer Achse reflek
tiertes Licht optoelektronisch gemessen und die Mess
werte können entsprechend aufgezeichnet werden. Es
ergibt sich ein Diagramm, welches unter der jeweili
gen Messachse (Messgerade) das Reflexionsprofil rela
tiv zum abgetasteten Weg beschreiben kann. Dadurch
kann eine Aussage zumindest über die flächige Vertei
lung des Feststoff-Rückstandes im linearen Bereich
mindestens einer Messgeraden erhalten werden. Selbst
verständlich können mehrere solcher Abtastprofile
mittels elektronischer Bildverarbeitung aneinander
gereiht, auch eine Information über die Ausbreitung
des Feststoff-Rückstandes auf dem im erfindungsgemä
ßen Substrat in mindestens einer aber auch in zwei
Ebenen erhalten werden.
Mit dem erfindungsgemäßen Substrat kann aber auch ein
Nachweis von Schichtablagerungen auf Oberflächen er
folgen. Hierzu wird das Substrat mit seiner beschich
teten Oberfläche an die jeweils zu prüfende Oberflä
che angepresst. Auf dieser Oberfläche gegebenenfalls
vorhandene Schichtablagerungen werden durch Kontakt
übertragung auf die Beschichtung des Substrates über
tragen. Nach der Übertragung der Schichtablagerung
erfolgt die Auswertung mittels schräg geneigt einfal
lendem und reflektierten Licht. Sie kann rein visu
ell, mikroskopisch, bildanalytisch, spektralanaly
tisch quantitativ und/oder qualitativ erfasst oder
analysiert werden.
Das Kontrastverhältnis kann erhöht werden, indem vor
der Kontaktübertragung von gegebenenfalls vorhandenen
Schichtablagerungen die Beschichtung des Substrates
teilweise mit einer entfernbaren Abdeckfolie bedeckt
wird, die vor der optoelektronischen Messung wieder
entfernt wird.
Mit dem erfindungsgemäßen Substrat kann aber auch das
Vorhandensein von auf der inneren Oberfläche poröser
Materialien befindlicher lösbarer Stoffe nachgewiesen
werden. Solche porösen Materialien können textile
Reinigungsmittel, wie Wischtücher oder Vliese sein.
Ein solches poröses Material kann flächenschlüssig
auf die beschichtete Oberfläche des Substrats aufge
legt werden. Dann wird eine bekannte Menge eines
flüssigen Lösungsmittels von einem Reinheitsgrad
oberhalb 99% aufgegeben. Das Lösungsmittel gelangt
durch das poröse Material hindurch und wird mit den
gelösten Stoffen angereichert. Nachdem dem Entfernen
des porösen Materials vom Substrat und dem Verdampfen
des Lösungsmittels kann der auf der Beschichtung des
Substrates verbliebene Feststoff-Rückstand mit schräg
einfallendem und reflektierten Licht wieder visuell,
mikroskopisch, bildanalytisch, spektralanalytisch
quantitativ und/oder qualitativ erfasst oder analy
siert werden.
Das Aufgeben des Lösungsmittels durch das poröse Ma
terial auf die Beschichtung des Substrates kann mit
Hilfe eines Hohlprofils erfolgen. Das Hohlprofil wird
mit einer offenen Stirnseite auf die Oberfläche des
porösen Materials aufgesetzt und das in das Hohlpro
fil eingefüllte Lösungsmittel gelangt infolge Kapil
larkraft- und Gravitationskraftwirkung durch das po
röse Material auf die beschichtete Oberfläche des
Substrates, so dass ein bestimmtes Lösungsmittelvolu
men unter definierten reproduzierbaren Bedingungen
eingesetzt werden kann.
Eine andere Möglichkeit zur Ermittlung des Vorhanden
seins von auf inneren Oberflächen poröser Materialien
befindlicher lösbarer Stoffe besteht darin, einen
Abschnitt mit zumindest bekannter Fläche, möglichst
auch bekanntem Volumen, des zu untersuchenden porösen
Materials zu einem stangenförmigen Wickel zu formen.
Dieser Wickel wird flächenschlüssig mit deren inneren
Wandungen in eine Rohrhülse eingebracht. Durch die
offenen Stirnseiten dieser Rohrhülse kann mittels
dort vorhanden Schlauchtüllen ein flüssiges Lösungs
mittel mit einem Reinheitsgrad oberhalb 99% ein- und
wieder abgeführt werden, so dass das in der Rohrhülse
befindliche poröse Material, die im porösen Material
befindlichen lösbaren Stoffe vom porösen Material
lösen kann. Dabei sollte das Lösungsmittel durch die
Rohrhülse und das dort befindliche poröse Material
mit möglichst bekanntem, konstanten Druck, mit be
kanntem Volumen und möglichst in einem bestimmbaren,
definierten Zeitraum hindurchgespült werden. Das Lö
sungsmittel, in dem die vorab im porösen Material
befindlichen lösbaren Stoffe gelöst worden sind, wird
aufgefangen und das entsprechend angereicherte Lö
sungsmittel kann auf die Beschichtung des erfindungs
gemäßen Substrates aufgegeben werden, wobei möglichst
ein bekanntes Volumen aufgegeben werden sollte.
Im Anschluß daran werden die flüchtigen Anteile des
Lösungsmittels verdampft und der auf der Beschichtung
des Substrates verbliebene Stoffrückstand mit schräg
einfallendem und reflektierten Licht visuell, mikro
skopisch, bildanalytisch, spektralanalytisch quantitativ
und/oder qualitativ erfasst und/oder analy
siert.
Das erfindungsgemäße Substrat ist auch zur Ermittlung
der Reinigungs-Effizienz von Reinigungstüchern geeig
net. Hierzu wird die beschichtete und zuvor gereinig
te Substratoberfläche in definierter Form verunrei
nigt. Die verunreinigte Fläche wird anschließend mit
dem jeweils zu prüfenden Reinigungstuch wischend ge
reinigt. Im Anschluss an diese Reinigung, die bei
möglichst konstantem Anpressdruck mit einer definier
ten Reinigungstuchfläche erfolgen sollte, wird die
gereinigte Fläche mit schräg zur Substratoberfläche
einfallendem und reflektierten Licht wieder visuell,
mikroskopisch, bildanalytisch, spektralanalytisch
quantitativ und/oder qualitativ erfasst, analysiert
oder einer vergleichenden Betrachtung unterzogen.
Claims (12)
1. Substrat zur Sichtbarmachung von daran angela
gerten Partikeln und/oder Materialschichten, wobei das
Substrat aus einem schwarzen oder dunkelfarbigen
Material besteht oder zumindest eine solche
Oberfläche hat,
dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche mit
einer Beschichtung versehen ist, deren spektrale
Reflexion, im Zentrum der Beschichtung bei Bestrahlung
mit Licht im Wellenlängenbereich zwischen 400
und 700 nm, bei einem Einfallswinkel des Lichtes
zwischen 0 und 15°, unterhalb 1,5% liegt.
2. Substrat nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung
ein im Vakuum aufgebrachtes Dünnschichtsystem
ist.
3. Substrat nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat ein
flexibles Flächengebilde ist.
4. Substrat nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat eine
Folie ist.
5. Verfahren zur Bestimmung des Reinheitsgrades von
Flüssigkeiten, unter Einsatz eines Substrates
nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass auf die Substrat-
Beschichtung ein Tropfen einer Flüssigkeit von
bekanntem Volumen aufgegeben, nach dem Verdamp
fen der Flüssigkeit der verbliebene Feststoff-
Rückstand bei schräg geneigt einfallendem und
reflektierten Licht visuell, mikroskopisch,
bildanalytisch, spektralanalytisch quantitativ
und/oder qualitativ erfasst oder analysiert
wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat, auf
dem sich die flächigen Ablagerungen des Fest
stoff-Rückstands befinden, mittels eines schräg
zur Substratebene einfallenden, stark gebündel
ten Lichtstrahls in linearer, oberflächenparal
leler Relativbewegung zum Substrat abgetastet
wird und die bei diesem Abtastvorgang reflek
tierte Lichtmenge optoelektronisch gemessen und
aufgezeichnet wird, so dass sich ein Diagramm
ergibt, welches das unter der jeweiligen Mess
geraden befindliche Reflexionsprofil relativ zum
abgetasteten Weg beschreibt und somit die Aus
sage zumindest über die flächige Verteilung des
Feststoff-Rückstands im linearen Bereich der
Messgeraden erlaubt, wobei eine Vielzahl solcher
Abtastprofile mittels elektronischer Bildverar
beitung aneinandergereiht, eine Information über
die Ausbreitung des Feststoff-Rückstands auf dem
erfindungsgemäßen Substrat in mindestens zwei
Ebenen ermöglicht.
7. Verfahren zum Nachweis von Schichtablagerungen
auf Oberflächen unter Verwendung eines Substra
tes nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat mit
seiner beschichteten Oberfläche an die zu prü
fende Oberfläche angepresst, auf dieser Oberflä
che vorhandene Schichtablagerungen durch Kon
taktübertragung auf die Beschichtung übertragen,
die Beschichtung mit schräg geneigt einfallendem
und reflektierten Licht und visuell, mikrosko
pisch, bildanalytisch, spektralanalytisch, quan
titativ und/oder qualitativ erfasst oder analy
siert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, dass die Beschichtung
vor der Kontaktübertragung mit einer entfernba
ren Abdeckfolie teilweise bedeckt wird.
9. Verfahren zur Ermittlung des Vorhandenseins auf
der inneren Oberfläche poröser Materialien be
findlicher lösbarer Stoffe unter Einsatz eines
Substrats nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass auf das poröse Ma
terial, welches flächenschlüssig auf die be
schichtete Oberfläche des Substrats aufgelegt
ist, eine bekannte Menge eines flüssigen Lö
sungsmittels von einem Reinheitsgrad < 99% auf
gegeben wird und nachdem das Lösungsmittel durch
das poröse Material hindurch, zunehmend mit den
gelösten Stoffen angereichert, bis zur Substrat
oberfläche hindurchgesickert ist, nach Entfernen
desselben vom Substrat und nach Verdampfen des
dort befindlichen Lösungsmittels der auf dem
Substrat verbliebene Feststoff-Rückstand mit
schräg einfallendem und reflektierten Licht vi
suell, mikroskopisch, bildanalytisch, spektral
analytisch quantitativ und/oder qualitativ er
fasst oder analysiert wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, dass das Lösungsmittel
durch ein auf die Oberfläche des pastösen Materials
mit einer offenen Stirnseite aufgesetztes
Hohlprofil aufgegeben wird.
11. Verfahren zur Ermittlung des Vorhandenseins auf
den inneren Oberflächen poröser Materialien be
findlicher lösbarer Stoffe unter Einsatz eines
Substrats nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass ein Abschnitt des
zu untersuchenden porösen Materials zu einem
stangenförmigen Wickel geformt, flächenschlüssig
mit deren inneren Wandungen in eine Rohrhülse
eingebracht wird, welche an ihren beiden Enden
mit Schlauchtüllen versehen ist und ein flüssi
ges Lösungsmittel von einem Reinheitsgrad < 99%
durch das in der Rohrhülse befindliche poröse
Material unter Druck in einem lösungsprozess
angepassten, bestimmbaren Zeitraum hindurchge
spült wird, wodurch die in dem porösen Material
befindlichen lösbaren Stoffe sicher gelöst wer
den und das mit den gelösten Stoffen angerei
cherte Lösungsmittel auf das erfindungsgemäße
Substrat gegeben wird, so dass nach Verdampfen
der flüchtigen Anteile desselben der auf dem
Substrat verbliebene Stoffrückstand mit schräg
einfallendem und reflektierten Licht visuell,
mikroskopisch, bildanalytisch, spektralanaly
tisch quantitativ und/oder qualitativ erfasst
und/oder analysiert wird.
12. Verfahren zur Ermittlung der Reinigungs-Effi
zienz von Reinigungstüchern, unter Einsatz eines
Substrates nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, dass die beschichtete
zuvor gereinigte Substratoberfläche definiert
verunreinigt, die verunreinigte Fläche mit dem
zu prüfenden Tuch wischend gereinigt und nach
der Reinigung die gereinigte Fläche mit schräg
zur Substratoberfläche einfallendem und reflek
tierten Licht visuell, mikroskopisch, bildanaly
tisch, spektralanalytisch quantitativ und/oder
qualitativ erfasst, analysiert oder einer ver
gleichenden Betrachtung unterzogen wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000116832 DE10016832C2 (de) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | Substrat zur Sichtbarmachung von daran angelagerten Partikeln und/oder Materialschichten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000116832 DE10016832C2 (de) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | Substrat zur Sichtbarmachung von daran angelagerten Partikeln und/oder Materialschichten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10016832A1 DE10016832A1 (de) | 2001-10-18 |
DE10016832C2 true DE10016832C2 (de) | 2002-06-20 |
Family
ID=7637618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2000116832 Expired - Lifetime DE10016832C2 (de) | 2000-04-03 | 2000-04-03 | Substrat zur Sichtbarmachung von daran angelagerten Partikeln und/oder Materialschichten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10016832C2 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2295749T3 (es) * | 2004-09-10 | 2008-04-16 | Cognis Ip Management Gmbh | Procedimiento para la medida cuantitativa de los depositos sobre superficies solidas. |
DE102020001874B4 (de) | 2020-03-23 | 2021-09-30 | Winfried Labuda | Vorrichtung zur Visualisierung von Partikeln, Faserfragmenten und anderen Materialteilchen und Materialschichten |
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---|---|---|---|---|
WO1987007024A1 (en) * | 1986-05-05 | 1987-11-19 | Hughes Aircraft Company | Method and apparatus for identifying particulate matter |
-
2000
- 2000-04-03 DE DE2000116832 patent/DE10016832C2/de not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO1987007024A1 (en) * | 1986-05-05 | 1987-11-19 | Hughes Aircraft Company | Method and apparatus for identifying particulate matter |
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Publication number | Publication date |
---|---|
DE10016832A1 (de) | 2001-10-18 |
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