DE10003679A1 - Verfahren und Vorrichtungen zum Erfassen von Fehlern der Beschichtung eines Trägermaterials - Google Patents

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und Vorrichtungen zum Erfassen von Fehlern (F1-F6) einer auf mindestens einer Oberfläche (O¶1¶, O¶2¶) eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials (S) aufgebrachten Beschichtung (B¶11¶, B¶12¶, B¶21¶, B¶22¶), deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials (S) unterscheidet, bei dem mittels einer Kapazitätsmeßeinrichtung (1) die Kapazität (C1, C2, C3) erfaßt wird, welche nach dem Eintreten des beschichteten Trägermaterials (S) in die Kapazitätsmeßeinrichtung (1) in deren Bereich vorhanden ist, die erfaßte Kapazität (C1, C2, C3) mit einem Sollwert (C¶Soll¶, C¶Sollges¶) verglichen wird und eine über einen Toleranzbereich hinausgehende Abweichung der erfaßten Kapazität (C2, C2, C3) von dem Sollwert (C¶Soll¶, C¶Sollges¶) als Signal für das Vorliegen eines Fehlers (F1-F6) der Beschichtung (B¶11¶, B¶12¶, B¶21¶, B¶22¶) gewertet wird. Das erfindungsgemäße Verfahren und die Vorrichtungen ermöglichen eine sichere kontinuierliche Kontrolle der Qualtität einer Beschichtung von Trägermaterialien bei laufender Fertigung.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und Vorrichtungen zum Erfassen von Fehlern einer auf mindestens einer Oberfläche eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials aufgebrachten Beschichtung, deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials unterscheidet. Bei derartigen Trägermaterialien handelt es sich beispielsweise um metallische Bänder oder Bleche, die mit einer organischen oder metallischen, leitfähigen oder nicht leitenden Beschichtung versehen werden.

Diese Trägermaterialien werden beispielsweise zur Verbesserung ihrer äußeren Erscheinung, zur Verbesserung des Korrosionsschutzes oder zum Zwecke der Isolierung mit einer Beschichtung versehen. Dabei erfolgt die Beschichtung in der Regel im Zuge der Weiterverarbeitung der Trägermaterialen, bevor aus diesen Materialien ein Bauteil geformt oder in einer anderen Weise hergestellt wird.

Durch die Beschichtung wird nicht nur die optische Wirkung des Trägermaterials beeinflußt, sondern auch dessen Schweißeignung und die Leitfähigkeit des aus Trägermaterial und Beschichtung gebildeten Systems. So wird beispielsweise die isolierende Wirkung der Beschichtung bei einem unzureichend gleichmäßigen, fehlerhaften Auftrag beeinträchtigt. Auch kann es bei einer ungleichförmigen Verteilung der leitfähigen Bestandteile der Beschichtung zu einer Verminderung der Schweißeignung des beschichteten Materials kommen. Daher werden insbesondere im Bereich des Automobilbaus an die Qualität der Beschichtung besonders hohe Anforderungen gestellt.

In der Praxis zeigt sich jedoch, daß die erforderliche Qualität der Beschichtungen nicht mit ausreichender Sicherheit kontrolliert werden kann. So kommt es immer wieder zu erheblichen Störungen von Produktionsabläufen aufgrund der Verwendung von Materialien, deren Beschichtung fehlerhaft sind.

Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren und eine Vorrichtung anzugeben, die eine sichere kontinuierliche Kontrolle der Qualität einer Beschichtung von Trägermaterialien bei laufender Fertigung ermöglicht.

Diese Aufgabe wird in Bezug auf ein Verfahren zum Erfassen von Fehlern einer auf mindestens einer Oberfläche eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials aufgebrachten Beschichtung, deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials unterscheidet, dadurch gelöst, daß mittels einer Kapazitätsmeßeinrichtung die Kapazität erfaßt wird, welche nach dem Eintreten des beschichteten Trägermaterials in die Kapazitätsmeßeinrichtung in deren Bereich vorhanden ist, daß die erfaßte Kapazität mit einem Sollwert verglichen wird und daß eine über einen Toleranzbereich hinausgehende Abweichung der erfaßten Kapazität von dem Sollwert als Signal für das Vorliegen eines Fehlers der Beschichtung gewertet wird.

Die Erfindung macht sich den Umstand zunutze, daß Fehler der Beschichtung eines kontiniuerlich geförderten, leitfähigen Trägermaterials Veränderungen der im Bereich einer geeigneten Meßeinrichtung erfaßten Kapazität hervorrufen. Bei einem fehlerfrei beschichteten Band ist demgegenüber eine bestimmte, den ordungsgemäßen Zustand der Beschichtung kennzeichnende Kapazität meßbar. Diese wird durch die Leitfähigkeit bzw. den Widerstand des Trägermaterials und der Beschichtung selbst bestimmt. Treten Fehler auf, wie beispielsweise ein bereichsweise unvollständiger Kontakt zwischen der Beschichtung und dem Trägermaterial, Löcher in der Beschichtung oder, im Fall einer leitfähige Bestandteile enthaltenden Beschichtung, ein inhomogener Beschichtungsaufbau, so führt dies zu einer Änderung der Kapazität, welche durch die Meßeinrichtung erfaßt wird. Weicht die erfaßte Kapazität signifikant von dem den ordungsgemäßen Zustand der Beschichtung charakterisierenden Sollwert ab, so zeigt dies einen Fehler der Beschichtung an. Auf diese Weise stellt die Erfindung ein eindeutiges, auf einfache Weise zu ermittelndes Kriterium zur Verfügung, anhand dessen eine sichere Beurteilung der Qualität der Beschichtung des Trägermaterials erfolgen kann.

Beispielsweise in Kombination mit einer optischen Überwachung oder anderen, die Oberflächenqualität des beschichteten Trägermaterials überwachenden Einrichtungen ist es mit der Erfindung möglich, den Zustand der auf ein Trägermaterial aufgebrachten Beschichtung kontinuierlich und lückenlos automatisch zu erfassen.

Insbesondere eignet sich die Erfindung zur automatisierten Erfassung und Selektion der Qualität von auf Metallbändern aufgebrachten Beschichtungen. So ist es bei erfindungsgemäßer Vorgehensweise möglich, bei laufendem Produktionsprozeß die durch die Qualität der Beschichtung unmittelbar beeinflußte Schweißeignung einer metallhaltigen und/oder organischen Beschichtung ortsbezogen auszuwerten. Auch kann der Ort von Fehlern der Beschichtung präzise angegeben werden.

Mit der Erfindung lassen sich Folgekosten ausschließen, welche im Stand der Technik bisher aufgrund mangelhafter Beschichtungen in Kauf genommen werden mußten. So führten bisher im Produktionsprozeß unerkannte Fehler der Beschichtung zu Mängeln der aus den beschichteten Trägermaterialien erzeugten Endprodukte. Die nachträglich erkannten Fehler hatten dann Unterbrechungen des Produktionsprozesses zur Folge. Indem die jeweiligen Materialien entsprechend dem Ergebnis der erfindungsgemäßen Qualitätsüberwachung selektiert werden, können derartige Folgen nun sicher vermieden werden. Gleichzeitig können durch die erfindungsgemäß ermöglichte gezielte Auswahl der beschichteten Materialien unnötige Transportwege und Stillstandzeiten der Produktionsanlagen umgangen werden.

Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß eine Meßelektrode der Kapazitätsmeßeinrichtung durch das leitfähige Trägermaterial gebildet ist, während die zweite Meßelektrode der Kapazitätsmeßeinrichtung in einem Abstand von der mit der Beschichtung versehenen Oberfläche angeordnet ist. Indem das Trägermaterial selbst als Elektrode verwendet wird, lassen sich Mängel der Beschichtung eindeutig einer bestimmten Oberfläche des Trägermaterials zuordnen. Eine umfassende Überprüfung und Zuordnung der Mängel der auf verschiedenen Oberflächen des Trägermaterials aufgebrachten Beschichtung kann in diesem Zusammenhang dadurch bewerkstelligt werden, daß jeder beschichteten Oberfläche des Trägermaterials jeweils eine in einem bestimmten Abstand angeordnete Meßelektrode zugeordnet ist.

Ist es ausreichend, die Mängel der Beschichtung ohne direkten Bezug auf die jeweilige Oberfläche des Trägermaterials zu erfassen, so kann dies dadurch erfolgen, daß das beschichtete Trägermaterial durch einen zwischen zwei gegenüberliegend angeordneten Meßelektroden der Kapazitätsmeßeinrichtung vorhandenen Raum geleitet wird. Diese Ausgestaltung der Erfindung zeichnet sich durch eine besonders einfache, robuste und damit sichere Funktionsweise aus und hat den Vorteil, daß eine in Abhängigkeit von den jeweiligen Betriebsbedingungen unter Umständen problematische Kontaktierung des kontinuierlich geförderten Trägermaterials unterbleiben kann.

Die Zuverlässigkeit des Meßergebnisses kann allgemein dadurch verbessert werden, daß der Abstand zwischen dem Trägermaterial und der Meßelektrode bzw. den Meßelektroden im wesentlichen konstant gehalten wird. Dies kann bei Trägermaterialen mit einer in ihrer Förderrichtung veränderlichen Dicke beispielsweise dadurch gewährleistet werden, daß die Meßelektroden entsprechend der Dickenänderung relativ zur Oberfläche des Trägermaterials bewegt werden.

Alternativ kann die sich mit einer Änderung des Abstands zwischen dem Trägermaterial bzw. der Beschichtung und der Meßelektrode einhergehende Änderung der erfaßten Kapazität auch dadurch ausgeglichen werden, daß die Dickenänderung des beschichteten Trägermaterials erfaßt wird und daß eine rechnerische Korrektur der mit der Dickenänderung einhergehenden Veränderung der erfaßten Kapazität durchgeführt wird.

Besonders geeignet ist das erfindungsgemäße Verfahren zur Erfassung von Fehlern der Beschichtung von Metallbänden, insbesondere Stahlbändern. Die Beschichtung kann dabei im wesentlichen aus organischen Bestandteilen gebildet sein. Des Weiteren kann die Beschichtung metallische Bestandteile aufweisen. Ebenso ist das erfindungsgemäße Verfahren jedoch geeignet, Fehler von nicht leitenden Beschichtungen, beispielsweise Lacke oder Folien, zu detektieren.

In Bezug auf eine Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern einer auf mindestens einer Oberfläche eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials aufgebrachten Beschichtung, deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials unterscheidet, wird die weiter oben genannte Aufgabe dadurch gelöst, daß eine solche Vorrichtung mit mindestens einer Elektrode, die der beschichteten Oberfläche des Trägermaterials zugeordnet und an eine Meßeinrichtung angeschlossen ist, mit einer Kontaktiereinrichtung, über welche das Trägermaterial mit der Meßeinrichtung verbunden ist, und mit einer Auswerteinrichtung ausgestattet ist, welche die von der Meßeinrichtung erfaßte Kapazität zwischen dem Trägermaterial und der Elektrode auswertet und im Fall einer über einen Toleranzbereich hinausgehenden Abweichung der erfaßten Kapazität von einem Sollwert ein Signal abgibt. Aufgrund ihrer erfindungsgemäßen Ausstattung eignet sich eine solche Vorrichtung insbesondere zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Dabei ist es, wenn das Trägermaterial mehrseitig beschichtet ist, vorteilhaft, wenn jeder beschichteten Oberfläche des Trägermaterials eine mit der Meßeinrichtung verbundene Elektrode. Diese Anordnung von Elektroden ermöglicht bei gleichzeitiger Nutzung des Trägermaterials selbst als Elektrode die eindeutige Zuordnung der Mängel der Beschichtung zu einer bestimmten Oberfläche des Materials. Durch die jeweiligen Meßelektroden kann die Kapazität zwischen der jeweiligen Elektrode und dem als "Gegenelektrode" dienenden Trägermaterial erfaßt werden.

Eine alternative Ausführung einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern der Beschichtung eines beidseitig beschichteten, kontinuierlich geförderten Trägermaterials, welches eine Leitfähigkeit besitzt, die sich von der Leitfähigkeit der Beschichtung unterscheidet, ist mit einer ersten Elektrode, die der einen beschichteten Oberfläche des Trägermaterials zugeordnet und an eine Meßeinrichtung angeschlossen ist, mit einer zweiten Elektrode, die der zweiten beschichteten Oberfläche des Trägermaterials zugeordnet und an die Meßeinrichtung angeschlossen ist, und mit einer Auswerteinrichtung ausgestattet, welche die von der Meßeinrichtung erfaßte Kapazität zwischen den Elektroden auswertet und im Fall einer über einen Toleranzbereich hinausgehenden Abweichung der erfaßten Kapazität von einem Sollwert ein Signal abgibt. Eine solche Vorrichtung ermöglicht zwar nicht die Zuordnung der jeweiligen Fehler zu einer bestimmten Oberfläche des Trägermaterials. Sie zeichnet sich jedoch durch eine besonders hohe Funktionssicherheit aus, da auf eine elektrische Kontaktierung des laufend geförderten Trägermaterials verzichtet werden kann.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand einer Ausführungsbeispiele darstellenden Zeichnung näher erläutert. Es zeigen in schematischer Darstellung:

Fig. 1 eine Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern einer beidseitig auf ein Stahlband aufgebrachten organischen, leitfähigen Beschichtung zu einem ersten Zeitpunkt des Produktionsablaufs im Längsschnitt;

Fig. 2 eine alternative Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern einer beidseitig auf einem Stahlband aufgebrachten Folie im Längsschnitt.

Die in den Figuren gezeigten Vorrichtungen V1 bzw. V2 dienen zum Erfassen von Fehler von Beschichtungen B₁₁, B₁₂ bzw. B₂₁, B₂₂, die in einer nicht dargestellten Beschichtungseinrichtung beidseitig auf die Oberflächen O₁, O₂ jeweils eines Stahlbandes S aufgebracht worden sind, welches ein leitfähiges Trägermaterial darstellt und kontinuierlich in Förderrichtung F gefördert wird. Die Beschichtungen B₁₁, B₁₂ bzw. B₂₁, B₂₂ bestehen beispielsweise aus organischen Materialien und sind nicht oder nur schwach leitfähig.

Zum Erfassen der Fehler der Beschichtungen B₁₁, B₁₂ bzw. B₂₁, B₂₂ sind die Vorrichtungen V1, V2 jeweils mit einer Meßeinrichtung 1 ausgestattet. Die Meßeinrichtung 1 ist mit zwei zum Erfassen einer Kapazität geeigneten Meßelektroden 2, 3 ausgestattet, von denen die erste Meßelektrode 2 mit einem Abstand d zu der Oberfläche O₁ und die zweite Meßelektrode 3 mit demselben Abstand d zur Oberfläche O₂ des Stahlbandes S angeordnet ist. Über elektrische Leitungen 4, 5 sind die Meßelektroden 2, 3 an die Meßeinrichtung 1 angeschlossen. Gleichzeitig ist die Meßeinrichtung 1 mit einer Auswerteinrichtung 6 verbunden, welche die von der Meßeinrichtung 1 erfaßten Meßwerte auswertet.

Der Ort der Anordnung der Meßelektroden 2, 3 ist so gewählt, daß das Ergebnis der mit Hilfe der Meßelektroden 2, 3 durchgeführten Messung nicht durch benachbart angeordnete, leitfähige Bauelemente beeinflußt wird.

Beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 ist an die Meßeinrichtung 1 zusätzlich zu den Meßelektroden 2, 3 eine Kontaktiereinrichtung 7 angeschlossen, deren eine Kontaktrolle 8 vor der nicht gezeigten Beschichtungseinrichtung so angeordnet ist, daß sie auf der an dieser Stelle noch blanken Oberfläche O₁ des Stahlbandes S abrollt. Auf diese Weise ist das Stahlband S elektrisch mit der Meßeinrichtung 1 verbunden und bildet eine Gegenelektrode zu den Meßelektroden 2, 3. Dementsprechend wird zwischen der Meßelektrode 2 und dem Stahlband S die Kapazität C1 erfaßt, während zwischen der Meßelektrode 3 und dem Stahlband S die Kapazität C2 gemessen wird.

Zur Überwachung der Qualität der Beschichtungen B₁₁, B₁₂ wird zunächst an einem einwandfreien Musterstück die Dielektrizitätszahl er für die Beschichtungen B₁₁, B₁₂ bestimmt und die sich aus dieser Dielektrizitätszahl er, der Meßfläche A der Meßelektroden 2, 3 und dem jeweiligen Abstand d der Meßelektroden 2, 3 zu dem Stahlband S ergebende Soll-Kapazität C_Soll = e₀ e_r A/d (e₀ = Dielektrizitätszahl für Luft) ermittelt. Anschließend wird im laufenden Betrieb kontiuierlich durch ein geeignetes Meßverfahren, beispielsweise durch eine Messung der Impendanz der durch die jeweilige Meßelektrode 2 oder 3 und das Stahlband S als jeweilige Gegenelektrode gebildeten Meßanordnung, die jeweils tatsächlich vorhandene Kapazität C2 bzw. C3 ermittelt.

Bei ordnungsgemäßer Beschichtung B₁₁, B₁₂ entsprechen die auf diese Weise erfaßten Kapazitäten C2, C3, abgesehen von in einem Toleranzbereich liegenden Abweichungen, der Soll-Kapazität C_Soll. Weisen die Beschichtung B₁₁ oder B₁₂ dagegen fehlerhafte Bereiche F1, F2 auf, in dem kein ordungsgemäßer Kontakt zwischen dem Stahlband S und der Beschichtung vorhanden ist, so führt dies zu einer Änderung der erfaßten Kapazitäten C2 bzw. C3. Deren Abweichung von der Soll-Kapazität C_Soll ist so stark, daß die Auswerteinrichtung 6 ein entsprechendes Signal abgibt. Genauso führen Bereiche F3, in denen keine Beschichtung vorhanden ist, zu einer charakteristischen Abweichung der erfaßten Kapazitäten C2 bzw. C3 von der Soll-Kapazität C_Soll. Auch dieser Fehler wird als solcher von der Auswerteinrichtung 6 erkannt, die daraufhin wiederum ein entsprechendes Signal abgibt. Da die Erfassung der Kapazitäten C2, C3 unabhängig voneinander erfolgt, kann dabei exakt angegeben werden, auf welcher der Oberflächen O₁, O₂ des Stahlbandes S der jeweilige Fehler vorliegt.

Beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 ist eine elektrische Kontaktierung des Stahlbands S nicht vorgesehen. Bei dieser Anordnung wird daher lediglich die Kapazität C3 gemessen, die zwischen den beiden Meßelektroden 2, 3 vorhanden ist. Wie beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1 wird im laufenden Betrieb die Kapazität C3 erfaßt und mit einer Soll- Kapazität C_sollges verglichen, die für das mit ordnungsgemäßen Beschichtungen B₂₁, B₂₂ versehene Stahlband S bestimmt worden ist. Bei Auftreten von fehlerhaft mit dem Stahlband S verbundenen Bereichen F4, F5 oder unbeschichteten Abschnitten F6 der Beschichtungen B₂₁, B₂₂ stellt sich eine charakteristische Veränderung der erfaßten Kapazität C3 ein. Diese wird von der Auswerteinrichtung 6 erfaßt, welche daraufhin ein entsprechendes Signal abgibt.

Die Genauigkeit, mit der erfindungsgemäß die Qualität der Beschichtungen B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂ erfaßt wird, hängt ab von der Leistungsfähigkeit der Signalverarbeitung sowie von der geometrischen Anordnung und den Abmessungen der Meßelektroden 2, 3. So können zur Verbesserung der örtlichen Auflösung des Meßergebnisses eine Vielzahl von Meßelektroden 2, 3 mit eng begrenzten Meßflächen eingesetzt werden, die in regelmäßigen Abständen über die Breite des Stahlbandes verteilt angeordnet sind.

Die von der Auswerteinrichtung 6 zur Verfügung gestellten, die Art des Fehlers und, beim Beispiel gemäß Fig. 1, die örtliche Zuordnung zu der jeweiligen Oberfläche O₁, O₂ angebenden Signale können einerseits genutzt werden, um den Produktionsablauf der Beschichtung zu korrigieren. Andererseits kann anhand dieser Daten eine Zeit- und/oder längenbezogene Auswertung der Qualität der Beschichtung B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂ erzeugt werden. Eine gezielte Nachbearbeitung des Stahlbandes S und/oder eine Selektion vor dem Versand ist damit problemlos möglich.

BEZUGSZEICHEN

1

Meßeinrichtung

2

,

3

Meßelektroden

4

,

5

elektrische Leitungen

6

Auswerteinrichtung

7

Kontaktiereinrichtung

8

Kontaktrolle
A Meßfläche der Meßelektroden

2

,

3

B₁₁

, B₁₂

bzw. B₂₁

, B₂₂

Beschichtungen
C1, C2, C3 Kapazitäten
d Abstände
F Förderrichtung
F1, F2, F3, F4, F5, F6 fehlerhafte Bereiche
O₁

, O₂

;Oberflächen
S Stahlband
V1, V2 Vorrichtungen

Claims (12)

1. Verfahren zum Erfassen von Fehlern (F1-F6) einer auf mindestens einer Oberfläche (O₁, O₂) eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials (S) aufgebrachten Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂), deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials (S) unterscheidet, bei dem

• - mittels einer Kapazitätsmeßeinrichtung (1) die Kapazität (C1, C2, C3) erfaßt wird, welche nach dem Eintreten des beschichteten Trägermaterials (S) in die Kapazitätsmeßeinrichtung (1) in deren Bereich vorhanden ist,
• - die erfaßte Kapazität (C1, C2, C3) mit einem Sollwert (C_Soll, C_Sollges) verglichen wird und
• - eine über einen Toleranzbereich hinausgehende Abweichung der erfaßten Kapazität (C2, C2, C3) von dem Sollwert (C_Soll, C_Sollges) als Signal für das Vorliegen eines Fehlers (F1-F6) der Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) gewertet wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Meßelektrode der Kapazitätsmeßeinrichtung (1) durch das leitfähige Trägermaterial (1) gebildet ist, während die zweite Meßelektrode (2, 3) der Kapazitätsmeßeinrichtung (1) in einem Abstand (d) von der mit der Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) versehenen Oberfläche (O₁, O₂) angeordnet ist.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß jeder beschichteten Oberfläche (O₁, O₂) des Trägermaterials (S) jeweils eine in einem bestimmten Abstand (d) angeordnete Meßelektrode (2, 3) zugeordnet ist.

4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das beschichtete Trägermaterial (S) durch einen zwischen zwei gegenüberliegend angeordnete Meßelektroden (2, 3) der Kapazitätsmeßeinrichtung (1) vorhandenen Raum geleitet wird.

5. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand (d) zwischen dem Trägermaterial (S) und der Meßelektrode bzw. den Meßelektroden (2, 3) im wesentlichen konstant gehalten wird.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Dickenänderung des beschichteten Trägermaterials (S) erfaßt wird und daß eine rechnerische Korrektur der mit der Dickenänderung einhergehenden Veränderung der erfaßten Kapazität (C1, C2, C3) durchgeführt wird.

7. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Trägermaterial ein Metallband (S) ist.

8. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) im wesentlichen aus organischen Bestandteilen gebildet ist.

9. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) leitfähige metallische oder nichtmetallische Bestandteile aufweist.

10. Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern einer auf mindestens einer Oberfläche (O₁, O₂) eines leitfähigen, kontinuierlich geförderten Trägermaterials aufgebrachten Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂), deren Leitfähigkeit sich von der Leitfähigkeit des Trägermaterials (S) unterscheidet,

• - mit mindestens einer Elektrode (2, 3), die der beschichteten Oberfläche (O₁, O₂) des Trägermaterials (S) zugeordnet und an eine Meßeinrichtung (1) angeschlossen ist,
• - mit einer Kontaktiereinrichtung (7), über welche das Trägermaterial (S) mit der Meßeinrichtung (1) verbunden ist, und
• - mit einer Auswerteinrichtung (6), welche die von der Meßeinrichtung (1) erfaßte Kapazität (C1, C2, C3) zwischen dem Trägermaterial (S) und der Elektrode (2, 3) auswertet und im Fall einer über einen Toleranzbereich hinausgehenden Abweichung der erfaßten Kapazität (C1, C2, C3) von einem Sollwert (C_Soll, C_Sollges) ein Signal abgibt.

11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß jeder beschichteten Oberfläche (O₁, O₂) des Trägermaterials (S) eine mit der Meßeinrichtung (1) verbundene Elektrode (2, 3) zugeordnet ist.

12. Vorrichtung zum Erfassen von Fehlern der Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) eines beidseitig beschichteten, kontinuierlich geförderten Trägermaterials (S), welches eine Leitfähigkeit besitzt, die sich von der Leitfähigkeit der Beschichtung (B₁₁, B₁₂, B₂₁, B₂₂) unterscheidet,

• - mit einer ersten Elektrode (2, 3), die der einen beschichteten Oberfläche (O₁, O₂) des Trägermaterials (S) zugeordnet und an eine Meßeinrichtung (1) angeschlossen ist,
• - mit einer zweiten Elektrode (2, 3), die der zweiten beschichteten Oberfläche (O₁, O₂) des Trägermaterials (S) zugeordnet und an die Meßeinrichtung (1) angeschlossen ist,
• - mit einer Auswerteinrichtung (6), welche die von der Meßeinrichtung (1) erfaßte Kapazität (C1, C2, C3) zwischen den Elektroden (2, 3) auswertet und im Fall einer über einen Toleranzbereich hinausgehenden Abweichung der erfaßten Kapazität (C1, C2, C3) von einem Sollwert (C_Soll, C_Sollges) ein Signal abgibt.