DE05767033T1 - Vorrichtung und vefahren zum ziehen von siliciumeinkristallen - Google Patents

Vorrichtung und vefahren zum ziehen von siliciumeinkristallen Download PDF

Info

Publication number
DE05767033T1
DE05767033T1 DE05767033T DE05767033T DE05767033T1 DE 05767033 T1 DE05767033 T1 DE 05767033T1 DE 05767033 T DE05767033 T DE 05767033T DE 05767033 T DE05767033 T DE 05767033T DE 05767033 T1 DE05767033 T1 DE 05767033T1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
coil
diameter
chamber
silicon
single crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE05767033T
Other languages
English (en)
Inventor
Senlin Fu
Naoki Ono
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumco Corp
Original Assignee
Sumco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumco Corp filed Critical Sumco Corp
Publication of DE05767033T1 publication Critical patent/DE05767033T1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/30Mechanisms for rotating or moving either the melt or the crystal
    • C30B15/305Stirring of the melt
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1032Seed pulling
    • Y10T117/1072Seed pulling including details of means providing product movement [e.g., shaft guides, servo means]

Abstract

Vorrichtung zum Ziehen eines Siliziumeinkristalls, umfassend:
einen Quarztiegel, welcher in einer Kammer installiert ist und eine Siliziumschmelze speichert, und mit einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit gedreht wird, während ein Siliziumeinkristall, der von der Siliziumschmelze gezogen wird, mit einer vorbestimmten Geschwindigkeit gedreht wird; und
eine erste Spule und eine zweite Spule, die mit einem vorbestimmten Abstand in vertikaler Richtung dazwischen so installiert sind, dass eine Mitte von jeder Spule auf eine Drehachse des Quarztiegels eingestellt ist, um ein magnetisches Feld zwischen der ersten und der zweiten Spule durch unter Strom setzen von sowohl der ersten Spule als auch der zweiten Spule in der gleichen Richtung zu erzeugen, während der Siliziumeinkristallingot gezogen wird,
wobei die erste Spule außerhalb der Kammer installiert ist, und die zweite Spule innerhalb der Kammer installiert ist.

Claims (4)

  1. Vorrichtung zum Ziehen eines Siliziumeinkristalls, umfassend: einen Quarztiegel, welcher in einer Kammer installiert ist und eine Siliziumschmelze speichert, und mit einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit gedreht wird, während ein Siliziumeinkristall, der von der Siliziumschmelze gezogen wird, mit einer vorbestimmten Geschwindigkeit gedreht wird; und eine erste Spule und eine zweite Spule, die mit einem vorbestimmten Abstand in vertikaler Richtung dazwischen so installiert sind, dass eine Mitte von jeder Spule auf eine Drehachse des Quarztiegels eingestellt ist, um ein magnetisches Feld zwischen der ersten und der zweiten Spule durch unter Strom setzen von sowohl der ersten Spule als auch der zweiten Spule in der gleichen Richtung zu erzeugen, während der Siliziumeinkristallingot gezogen wird, wobei die erste Spule außerhalb der Kammer installiert ist, und die zweite Spule innerhalb der Kammer installiert ist.
  2. Vorrichtung zum Ziehen eines Siliziumeinkristalls nach Anspruch 1, wobei ein Abstand T zwischen der ersten Spule und der zweiten Spule größer als 0 und kleiner oder gleich 10000 mm ist, ein Durchmesser D1 der ersten Spule 100 mm oder mehr und 10000 mm oder weniger beträgt, ein Durchmesser D2 der zweiten Spule 5 mm oder mehr und 5000 mm oder weniger beträgt, ein Verhältnis des Durchmessers D1 der ersten Spule zu dem Durchmesser D2 der zweiten Spule 1 oder mehr und 2000 oder weniger beträgt, und eine Differenz zwischen dem Durchmesser D1 der ersten Spule und dem Durchmesser D2 der zweiten Spule nicht weniger als 2t beträgt, wobei t eine Dicke einer Wand in Umfangsrichtung der Kammer bezeichnet.
  3. Verfahren zum Ziehen eines Siliziumeinkristalls, umfassend: Drehen eines Quarztiegels, der in einer Kammer installiert ist und eine Siliziumschmelze speichert mit einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit; Drehen eines Siliziumeinkristallingots, der von der Siliziumschmelze gezogen wird, mit einer vorbestimmten Drehgeschwindigkeit; Installieren einer ersten Spule, die einen Durchmesser aufweist, welcher größer ist als ein Durchmesser der Kammer, außerhalb der Kammer, so dass eine Mitte der ersten Spule einer Drehachse des Quarztiegels entspricht; Installieren einer zweiten Spule, die einen Durchmesser aufweist, welcher kleiner ist als der Durchmesser der Kammer, innerhalb der Kammer mit einem vorbestimmten Abstand T in vertikaler Richtung von der ersten Spule, so dass eine Mitte der zweiten Spule einer Drehachse des Quarztiegels entspricht; Erzeugen eines magnetischen Feldes zwischen der ersten und der zweiten Spule durch unter Strom setzen von sowohl der ersten Spule als auch der zweiten Spule in der gleichen Richtung; und Ziehen des Einkristallingots, wobei eine mittlere Position des vorbestimmten Abstands T zwischen der ersten Spule und der zweiten Spule so gesteuert wird, dass sie sich auf demselben oder einem niedrigeren Niveau als die Oberfläche der Siliziumschmelze befindet, so dass 0 mm ≤ |H| ≤ 10000 mm erfüllt wird, wobei H ein Abstand der mittleren Position von der Oberfläche der Siliziumschmelze ist.
  4. Verfahren zum Ziehen eines Siliziumeinkristallingots nach Anspruch 3, unter Strom setzen der ersten Spule und der zweiten Spule, so dass I1 und I2 in dem Bereich von 0,1 bis 1030 A gesteuert werden und 0,001 ≤ (I1/I2) ≤ 1 erfüllen, wobei I1 einen Strom bezeichnet, unter den die erste Spule gesetzt wurde, und I2 einen Strom bezeichnet, unter den die zweite Spule gesetzt wurde, und Steuern einer magnetischen Flussdichte bei einer Position auf dem gleichen Niveau wie die mittlere Position und innerhalb des inneren Durchmessers des Quarztiegels auf 0,001 bis 0,1 T (Wb/m2).
DE05767033T 2005-07-27 2005-07-27 Vorrichtung und vefahren zum ziehen von siliciumeinkristallen Pending DE05767033T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2005/013715 WO2007013148A1 (ja) 2005-07-27 2005-07-27 シリコン単結晶引上装置及びその方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE05767033T1 true DE05767033T1 (de) 2008-07-31

Family

ID=37683056

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE05767033T Pending DE05767033T1 (de) 2005-07-27 2005-07-27 Vorrichtung und vefahren zum ziehen von siliciumeinkristallen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20100126410A1 (de)
EP (1) EP1908861A1 (de)
DE (1) DE05767033T1 (de)
WO (1) WO2007013148A1 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100906284B1 (ko) * 2007-11-02 2009-07-06 주식회사 실트론 산소농도 특성이 개선된 반도체 단결정의 제조방법
JP5302556B2 (ja) 2008-03-11 2013-10-02 Sumco Techxiv株式会社 シリコン単結晶引上装置及びシリコン単結晶の製造方法
JP4307516B1 (ja) * 2008-11-25 2009-08-05 佑吉 堀岡 結晶成長装置及び結晶成長方法
KR101680213B1 (ko) * 2015-04-06 2016-11-28 주식회사 엘지실트론 실리콘 단결정 잉곳의 성장 방법
US10711367B2 (en) 2017-10-30 2020-07-14 Raytheon Technoiogies Corporation Multi-layer susceptor design for magnetic flux shielding in directional solidification furnaces
US10589351B2 (en) 2017-10-30 2020-03-17 United Technologies Corporation Method for magnetic flux compensation in a directional solidification furnace utilizing an actuated secondary coil
US10760179B2 (en) 2017-10-30 2020-09-01 Raytheon Technologies Corporation Method for magnetic flux compensation in a directional solidification furnace utilizing a stationary secondary coil

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61266393A (ja) * 1985-05-20 1986-11-26 Agency Of Ind Science & Technol 半導体単結晶への不純物混入防止方法
JPH10279393A (ja) * 1997-03-31 1998-10-20 Sumitomo Sitix Corp 単結晶育成装置及び方法
JP2005306669A (ja) * 2004-04-22 2005-11-04 Sumco Corp シリコン単結晶の引上げ装置及びその方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007013148A1 (ja) 2007-02-01
EP1908861A1 (de) 2008-04-09
US20100126410A1 (en) 2010-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE05767033T1 (de) Vorrichtung und vefahren zum ziehen von siliciumeinkristallen
EP0527477B1 (de) Verfahren zur Regelung des Sauerstoffgehaltes in Siliciumkristallen
EP0462741B1 (de) Verfahren zur Ziehung von Halbleitereinkristallen
DE102006060359A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Halbleiterscheiben aus Silicium
DE10045770A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Schneiden einer Seltenerdmetall-Legierung
DE102009034076A1 (de) Verfahren zur in-situ-Bestimmung von thermischen Gradienten an der Kristallwachstumsfront
DE112005000350T5 (de) Verfahren zum Herstellen eines Einkristall-Halbleiters
JPS61222984A (ja) 単結晶の製造装置
EP0504929B1 (de) Verfahren zum Züchten eines einkristallinen Siliziumstabes
DE102010041061B4 (de) Kristallisationsanlage und Kristallisationsverfahren zur Herstellung eines Blocks aus einem Material, dessen Schmelze elektrisch leitend ist
DE10393635B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Siliziumwafers
KR100271504B1 (ko) 실리콘 단결정 성장 방법 및 그 장치
WO2010060802A2 (de) Verfahren zum erstarren einer nichtmetall-schmelze
DE112005000397T5 (de) Verfahren zum Herstellen von Einkristall-Halbleitern
TW201716646A (zh) 單晶矽的製造方法及單晶矽
DE1583601A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kuehlen eines schmelzfluessigen Metallstranges
CN203599494U (zh) 垂直连铸空心铸管的专用设备
EP3523465A1 (de) Verfahren zum ziehen eines einkristalls aus halbleitermaterial aus einer schmelze, die in einem tiegel enthalten ist
DE1243641B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiterstaeben durch Ziehen aus der Schmelze
DE485213C (de) Verfahren zur selbsttaetigen Regelung von mit Lageaenderungen von Koerpern verknuepften physikalischen Vorgaengen auf elektromagnetischem Wege
DE3938937A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung von siliciumstaeben mit hohem sauerstoffgehalt durch tiegelfreies zonenziehen, dadurch erhaeltliche siliciumstaebe und daraus hergestellte siliciumscheiben
DE19806949A1 (de) Verfahren zum Steuern von Kristallzüchtungsprozessen
DE69403950T3 (de) Magnetisches Rühren mittels Wechselstrom für das kontinuierliche Gießen von Metallen
KR100476064B1 (ko) 지하수 정화용 반응 벽체의 형성 방법 및 시스템
WO2021018502A1 (de) Verfahren zum ziehen eines einkristalls aus silizium gemäss der czochralski-methode aus einer schmelze