DD288885A5 - Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten - Google Patents

Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten Download PDF

Info

Publication number
DD288885A5
DD288885A5 DD33415089A DD33415089A DD288885A5 DD 288885 A5 DD288885 A5 DD 288885A5 DD 33415089 A DD33415089 A DD 33415089A DD 33415089 A DD33415089 A DD 33415089A DD 288885 A5 DD288885 A5 DD 288885A5
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
receiver
spectral
registration
registering
spectra
Prior art date
Application number
DD33415089A
Other languages
English (en)
Inventor
Winfried Quillfeldt
Hans-Juergen Dobschal
Original Assignee
Veb Carl Zeiss Jena,De
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Veb Carl Zeiss Jena,De filed Critical Veb Carl Zeiss Jena,De
Priority to DD33415089A priority Critical patent/DD288885A5/de
Publication of DD288885A5 publication Critical patent/DD288885A5/de

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Empfaengeranordnung zur Registrierung von Spektrenabschnitten, insbesondere fuer fotoelektrisch registrierende Spektrometer mit groszem Spektralbereich und hohen Anforderungen an die spektrale Bandbreite. Neben einem ersten Empfaengerteil zur Spektrenregistrierung ist mindestens ein weiterer Empfaengerteil zur Ortsbestimmung fuer eine Bezugslinie vorgesehen. Beide Teile sind auf einem gemeinsamen Traeger befestigt. Mit der Erfindung wird trotz ausschnittsweiser Spektrenerfassung eine eindeutige Zuordnung von bestimmten Wellenlaengen zu bestimmten Pixeln gewaehrleistet, auch wenn im Meszbereich keine markanten Bezugslinien eines Grundelements vorhanden sind. Figur{Empfaenger; Empfaengeranordnung; Spektrum; Spektrenabschnitt; Spektrometer; Wellenlaenge; Empfaengerzeile; Zeilenempfaenger; Flaechenempfaenger}

Description

Hierzu 1 Seite Zeichnung
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung ist besonders für fotoelektrisch registrierende Spektrometer mit großem Spektralbertiich und hohen
Anforderungen an die spektrale Bandbreite, ζ. B. Emlsslonsspoktrometor, verwendbar. Die erfindungsgemäßo Anordnung ist bei solchen Spektrometer weckmäßig, die einen im Verhältnis zum Gesamtspektralbereich kurzen Zeilenempfänger
verwenden.
Neben Emissionsspektrometern können auch alle anderen Spektrometer, die auf der Basis der optischen Dispersion arbeiten, wie Atomabsorptionsspekttometer, Spoktralphotometer oder Detektoren für Chromatographie, die Erfindung nutzen.
Charakteristik des bekannton Standes der Technik
Bekannt ist die Anwendung von Flächenempfängern oder Zeilenempfängern als Nachweisempfänger in der
Emissionsspektralanalyse. So wird in Applied Spectroscopy 40 (1986) 6,813 ein kommerzielles ICP-Spektrometer vorgestellt,
dessen kompliziertes dispergierendes optisches System (DOS) so gestaltet ist, daß alle analytisch relevanten Spektrallinien auf eine relativ kurze Empfängerzeile abgebildet werden. Die nichtrelevanten Spektrallinien werden ausgeblendet.
Andere Anordnungen verwenden einfache DOS mit dem Nachteil, daß die Spektren nur ausschnittsweise vom Zeilenempfänger erfaßt werden können. Um einen größeren Spektralbereich zu erfassen, ist es erforderlich, kleine Spektralbereiche nacheinander aufzunehmen. Dazu kann entweder die Empfängerzeile relativzum DOS verschoben werden oder optische Bauelemente (Gitter, Spiegel) worden so verstellt, daß nacheinander kleine Spektralbereiche auf den Empfänger treffen. Letzteres kann für die Qualität der Spektralbereiche günstiger sein.
Durch die mechanischen Verstellungen, die immer nur mit bestimmten Toleranzen möglich sind, geht die eindeutige Zuordnung von bestimmten Wellenlängen zu ganz bestimmten Elementen des Empfängers (Pixel) verloren. Der gleiche Effekt kann auch bei Änderung der Umgebungseinflüsse eintreten.
Es ist deshalb notwendig, von einer sicher identifizierbaren Spektrallinie, i.a. einer Spektrallinie des Grundelements der Probe, auszugehen und den Abstand zu den relevanten Spektrallinien zu bestimmen und diesen Abstand auf die Wellenlänge der
relevanten Spektrallinie umzurechnen.
Bestimmte chemische Elemente, wie Ag, Au, Ca, Cu oder Zn, besitzen nur wenig markante Spektrallinien zur Abstandsermittlung, sind aber oft Grundelemente von Legierungen oder Gemischan. So kann es bei dem o.g. Wechsel der Spektralbereiche
vorkommen, daß keine markanten Linien des Grundelementes, sondern eine Vielzahl von Spektrallinien dor Legierungselemente auf die Empfängerzeile fällt, die i.a. identifiziert werden sollen und damit für Abstandsmossungen ausfallen.
So ist es z. B. bei der Vorwechslungsprüfung von Kupferlegierungen ausreichend, die drei Spektralbereiche 248-268nm,
28O-310nm und 311-335nm aufzunehmen. Markante Kupferlinien liegen aber nur in dem letzten Spektralbere'ch.
Ziel der Erfindung
Ziel der Erfindung ist es, mit geringem technischen und Kostenaufwand eine hohe Meßsicherheit und -genauigkeit zu gewährleisten.
Darlegung des Wesens der Erfindung
Die Aufgabe besteht darin, trotz ausschnittsweiser Spektrenerfnssung, eine eindeutige Zuordnung von bestimmten Wellenlängenzu bestimmten Pixeln des Empfängerszu gewährleisten, auch wenn im Meßbereich keine markanten Bezugslinien eines Grundelements vorhanden sinu.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch eine Empfängeranordnung zur Registrierung von Spektrenabschnitten mit benachbart angeordneten, ortsabhängig messenden Empfängerelementen gelöst, indem neben einem ersten Empfängerteil zur Spektrenregistrierung mindestens ein weiterer Empfängerteil zur Ortsbestimmung für eine Bezugslinie vorgesehen ist und beide Teile auf einem gemeinsamen Träger befestigt sind.
-2- 208 885
Da der weitere Empfängerteil lediglich zur Ortsbestimmung der Bezugslinie dient, sind kolno hohen Anforderungen an Empfindlichkeit, Rauschen und ähnliche Parametor zu stollen. Ee kann ein Empfänger geringer räumlicher Ausdehnung eingesetzt werden. Durch äußore Einflüsse ändern sich die Orte der Spektrallinien auf beldon Empfängertoiion In gleicherweise, dei Abstand zwoior Linien bleibt aber konstant.
Vorteilhaft ist es, wenn der Träger einen Ausdehnungskoeffizienten besitzt, dor Veränderungen der Spoktromoterdisporsion durch Abstandsänderung zwischen boidon Empfängertollen ausgleicht.
Ausführungsbeispiel Die Erfindung soll nachstehend anhand der schematischon Zeichnung nähor orläutort werden. Die Figur zeigt eine Abordnung
mit einem Empfänger, in der relevante Analysenlinion eines Spektralberoiches auf einen Empfängerteil und nicht Im
Spektralboroich liegende Bezugslinion auf einen weiteren Empfängertoll gerichtet sind. Ein vor einer Anregungsquelle 1 durch einen Spoktrometer-Eintrittsspalt 2 fallendes Llchtbündol 3 trifft auf oin um olne Achse x-x
drehbar gelagertes Gitter 4, das dor Zerlegung des Lichtes in spektrale Anteile -Analysenlinien 5 und Bezugslinien 6-dient. Die
Analysenlinion 5 werden mittels eines Zoilonompfängors 7, die Bezugslinien 6 mittels oinor Referenzzeile 8 empfangen. Beide Zeilen 7,8 sind auf einem gemeinsamen tomporaturkompensierenden Träger 9 befestigt, Bei Lagoänderungon des Gitters 4 ändern sich die Linienorte auf beiden Zeilen 7,8 gleichzeitig.

Claims (2)

1. Empfängeranordnung zur Registrierung vnn Spektrenabschnitten mit benachbart angeordneten,
ortsabhängig messenden Empfängerelementon, gekennzeichnet dadurch, daß neben einem ersten Empfängerteil zur Spektrenregistrierung mindestens ein weiterer Empfängerteil zur
Ortsbestimmung für mindestens eine Bezugslinie vorgesehen ist und beide Teile auf einem
gemeinsamen Träger befestigt sind.
2. Empfänger nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß der Träger einen
Ausdehnungskoeffizienten besitzt, der Veränderungen der Spektrometerdispersion durch
Abstandsänderung zwischen beiden Empfängerteilen ausgleicht.
DD33415089A 1989-11-02 1989-11-02 Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten DD288885A5 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD33415089A DD288885A5 (de) 1989-11-02 1989-11-02 Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD33415089A DD288885A5 (de) 1989-11-02 1989-11-02 Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DD288885A5 true DD288885A5 (de) 1991-04-11

Family

ID=5613476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD33415089A DD288885A5 (de) 1989-11-02 1989-11-02 Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten

Country Status (1)

Country Link
DD (1) DD288885A5 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19620807B4 (de) * 1995-06-07 2006-07-27 Varian, Inc., Palo Alto Festkörperdetektor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19620807B4 (de) * 1995-06-07 2006-07-27 Varian, Inc., Palo Alto Festkörperdetektor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0683384B1 (de) Einrichtung zur Ermittlung des Farbwerts eines Lichtstroms
DE3811923C2 (de) Atomemissionsspektrometer mit Untergrundkompensation
DE102004028001A1 (de) Echelle-Spektrometer mit verbesserter Detektorausnutzung
EP0442596B1 (de) Echelle-Polychromator
DE19961481B4 (de) Zentriertes Sphärenspektrometer
DE102016216842B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben eines Spektrometers
DE102011117678A1 (de) Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten
DD288885A5 (de) Empfaengeranordnung zur registrierung von spektrenabschnitten
DE4138679C2 (de) Gerät zur Bestimmung visueller Oberflächeneigenschaften
DE102009046740B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Lokalisieren von modulierten, optischen Strahlungsquellen
DE102004058408A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung von Oberflächeneigenschaften
WO2004106853A1 (de) Anordnung und ein verfahren zur erkennung von schichten, die auf oberflächen von bauteilen angeordnet sind, und bestimmung deren eigenschaften
DE102017104872A1 (de) ATR Spektrometer und Verfahren zum Analysieren der chemischen Zusammensetzung einer Probe
EP0886772B1 (de) Analysensystem
EP1524512B1 (de) Leuchtenprüfeinrichtung für Fahrzeuge, vorzugsweise für Kraftfahrzeuge
DE4143284A1 (de) Integrierter halbleitersensor fuer spektrometer
DE4139368A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der radioaktivitaetsverteilung auf einer flaechigen probe
DE102004026373B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren
DE69107776T2 (de) Monochromator mit speziell geformten Spalten.
DE10207742B4 (de) Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer
DE3884983T2 (de) Polychromator zur Mehrelementenanalyse.
DE19900308A1 (de) Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor
DE102022110651B4 (de) Kompaktes optisches Spektrometer
DE102015107942A1 (de) Spektrometer und Gasanalysator
DE19814660C1 (de) Gitterspektrometer und Verfahren zur Messung spektraler Intensitäten von weißem Licht

Legal Events

Date Code Title Description
ENJ Ceased due to non-payment of renewal fee