DD241643A1 - Messverfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen durchmesserbestimmung duenner draehte - Google Patents

Messverfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen durchmesserbestimmung duenner draehte Download PDF

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3932376A1 (de) * 1989-09-28 1991-04-11 Henkel Kgaa Vorrichtung zum messen nicht kreisfoermiger faserquerschnitte
US5283628A (en) * 1991-12-31 1994-02-01 Corning Incorporated Method for measuring diameters of non-circular fibers
CA2083969A1 (en) * 1991-12-31 1993-07-01 Leslie James Button Measurement of fiber diameters and detection of defects
DE19604440A1 (de) * 1996-02-07 1997-08-14 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Verfahren und Vorrichtung zur Beurteilung eines Ziehsteins
DE202008001018U1 (de) * 2008-01-29 2009-06-25 Pepperl + Fuchs Gmbh Sensor zum Nachweis von Objekten durch Lichtbeugung
CN112082450B (zh) * 2020-09-21 2022-05-03 北京世纪东方智汇科技股份有限公司 圆柱体直径测量方法及装置
CN112902852A (zh) * 2021-01-25 2021-06-04 上海兰宝传感科技股份有限公司 一种微小物体尺寸检测装置及检测方法
CN113720266B (zh) * 2021-08-27 2022-10-14 西安电子科技大学 基于光学傅里叶变换的电路板过孔沉铜质量检测方法
CN114935315B (zh) * 2022-05-13 2024-01-16 浙江工业大学 一种通过频域计算细丝衍射条纹的直径测量方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1229739B (de) * 1964-02-21 1966-12-01 Bundesrep Deutschland Vorrichtung zur kontinuierlichen Bestimmung des Durchmessers eines duennen Drahtes
DE1925587C3 (de) * 1969-05-20 1974-02-21 Ernst Leitz Gmbh, 6330 Wetzlar Optisches Verfahren zum berührungslosen Bestimmen der Dicke oder des Durchmessers von Ggenständen sehr kleiner Abmessungen
US3709610A (en) * 1970-05-20 1973-01-09 Holobeam Method and apparatus for measuring and controlling the thickness of a filament or the like
US3937580A (en) * 1974-07-11 1976-02-10 Recognition Systems, Inc. Electro-optical method for measuring gaps and lines
JPS52149149A (en) * 1976-06-06 1977-12-12 Asahi Optical Co Ltd Measuring apparatus for diameter of fine wire
JPS5513525A (en) * 1978-07-13 1980-01-30 Seiko Instr & Electronics Ltd Composite piezo-vibrator unit
JPS59174737A (ja) * 1983-03-25 1984-10-03 Toshiba Corp 粒径測定装置
FR2549952B1 (fr) * 1983-07-26 1986-12-19 Guillaume Michel Dispositif de mesure de la dimension bord a bord d'un objet par voie optique
DD222109A1 (de) * 1983-08-23 1985-05-08 Dresden Ing Hochschule Anordnung zur beruehrungslosen optischen faserdickenkontrolle in echtzeit

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