DD137022B1 - Integriert-optische Anordnung - Google Patents
Integriert-optische Anordnung Download PDFInfo
- Publication number
- DD137022B1 DD137022B1 DD20570678A DD20570678A DD137022B1 DD 137022 B1 DD137022 B1 DD 137022B1 DD 20570678 A DD20570678 A DD 20570678A DD 20570678 A DD20570678 A DD 20570678A DD 137022 B1 DD137022 B1 DD 137022B1
- Authority
- DD
- German Democratic Republic
- Prior art keywords
- integrated
- waveguide
- optical arrangement
- photoreceiver
- mode
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/10—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
- G02B6/12—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
- G02B6/12004—Combinations of two or more optical elements
Description
—i-
Titel der Erfindung: Integriert-optische Anordnung
Die Erfindung betrifft eine integriert-optische Anordnung zur inkrementalen Längen- oder Winkelmessung,
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen; Es ist bereits eine integriert-optische Anordnung zur Interferenzmessung bekannt geworden. Dabei wird ein einfallender Lichtstrahl innerhalb einer Wellenleiterschicht
tO durch ein erstes teildurchlässiges Element in zwei Anteile zerlegt, die durch reflektierende Elemente an einer Stelle geführt werden, an der sich ein zweites teildurchlässiges Element zur Zusammenführung der beiden Strahlenteile und damit zur Ermöglichung der Interferenz befindet.
Die Herstellung einer derartigen Anordnung ist mit der notwendigen definierten Genauigkeit der Reflexions- bzw. Transmissionseigenschaften der einzelnen Elemente nur mit hohem Aufwand zu realisieren. Außerdem ist für die Punktion der Meßanordnung die relative Lage der reflektierenden Elemente zu den teildurchlässigen Elementen entscheidend. Daraus resultieren technologische Schwierigkeiten.
Die Erfindung verfolgt das Ziel, eine integriert-optische Anordnung zur Interferenzmessung zu entwickeln, die gegenüber makrooptischen Ausführungen den Vorteil geringer Bau-
3311
größe, Herstellungskosten, Erschütterungs- und Temperaturempfindlichkeit und geringen Energiebedarfs aufweisen.
. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, durch Anwendung einer integriert-optischen Anordnung die genannten Mängel des Standes der Technik zu beseitigen. Die Anordnung soll zur Messung von Längen, Winkeln, Temperaturänderungen usw. universell einsetzbar sein
Diese Aufgabe wird durch eine integriert-optische Anordnung, die aus einem zwischen einem Träger und einer dielektrischen Schicht sich befindenen Mehrmoden-Wellenleiter besteht, erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß auf der dielektrischen Schicht eine Reihe von Photoempfängern (7...16), die zueinander um jeweils 11/20yyversetzt sind, energetisch an den Wellenleiter angekoppelt sind.
Erfindungsgemäß ist ea von Vorteil, daß zum ersten Photoempfänger (7) der Photoempfängereihe (7...16) ein weiterer Photoempfänger um eine viertel Interferenzperiode versetzt angeordnet ist.
Ausführungsbeispiel:
An Hand eines von mehreren möglichen in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen soll das Wesen der Erfindung näher erläutert werden. Auf einen Träger 1 befindet sich ein Zwei-Moden-Wellenleiter 2, der von einer dielektrischen Schicht 3 bedeckt ist, deren Brechkraft kleiner ist als die des Wellenleiters· An einem Ende des Wellenleiters befindet sich ein Einkoppelgitter 4. Ein erster Laserstrahl 5, der die TEQ-Mode enthält, trifft unter dem Synchronwinkel für diese Mode auf das Einkoppelgitter 4, so daß der TE -Mode im Wellemieiter 2 angeregt wird. Ein zweiter Laserstrahl 6, der die TE1-Mode enthält, wird unter dem Synchronwinkel für diese Mode auf das Einkoppelgitter 4 geführt. Im
3311
Wellenleiter 2 wird also gleichzeitig die TE..-Mode angeregt. Der Wellenleiter 2 muß solche Eigenschaften besitzen, daß sich die effektiven Brechungsindices für die TEQ-Mode und TE.-Mode nur sehr gering unterscheiden.
Als Beispiel können folgende Werte angegeben werden:
= zo = 1,51152 о ü
kz = 0,0157,
wobei neff ^en wir^samen Brechungsindex in Ausbreitungsrichtung der Laserenergie,
к die Wellenzahl in z-Richtung, к die Wellenzahl des Laserlichtes und
Δ к die Differenz der Wellenzahlen in z-Richtung bedeuten, ζ
Wenn sich, wie im vorliegenden Beispiel, die к -Werte um 0,0157 unterscheiden, dann entsteht im 7/ellenleiter ein Interferenzmuster, das in z-Richtung einer Periode von 400 /um aufweist
Auf der Oberfläche des 7/ellenleiters sind im Abstand von jeweils 420 ,um schmale Auskoppelgitter mit einer Breite von etwa 20/um aufgebracht. Diese Gitter, die in der Zeichnung nicht dargestellt sind, besitzen eine niedrige Auskoppeleffektivität. Die durch diese Gitter ausgekoppelte Energie trifft auf Photodioden 7...16, die z.B. auf die dielektrische Schicht 3 aufgeklebt sind. Auf Grund der seitlichen Versetzung der Photodioden gegenüber den Intensitätsmaxima nimmt die registrierte Intensität im
3311
gewählten Beispiel in z-Richtung stetig ab. Wird ein Laserstrahl 5 und der Laserstrahl 6 durch die +1. und die - 1. BeugungsOrdnung eines bestrahlten Gittermaßstabes gebildet, dann bewegt sich das Interferenz-Streifenmuster im Wellenleiter in z-Richtung um 2A, wenn das Meßgitter um eine Gitterperiode verschoben wird. Mit Hilfe des ersten Photoempfängers 7 erfolgt eine inkrementale Zählung in Einheiten der halben Periode des Meßgitters. Die Photoempfänger 7...16, die zueinander um jeweils 11/20./\.versetzt sind, bilden in ihrer Gesamtheit einen optischen Nonius, so daß als Maßeinheit 1/20 der Meßgitterperiode angegeben werden kann.
Wird neben dem ersten Photoempfänger 7 ein weiterer in der Zeichnung nicht dargestellter Photoempfänger angebracht, der um -=j— gegenüber dem ersten versetzt ist, dann kann eine Vorwärts- und Rückwärtsbewegung des Meßgitters unterschieden werden.
Die im Wellenleiter eingezeichnete Linie stellt schematisch die Intensitätsverteilung dar.
Claims (2)
- -S-Erfindungsanspruch:1. Integriert-optische Anordnung, die aus einem zwischen einem Träger und einer dielektrischen Schicht sich befindenden Mehrmoden-Wellenleiter besteht, dadurch gekennzeichnet, daß auf der dielektrischen Schicht eine Reihe von Photoempfängern (7...16), die zueinander um jeweils 11/20Д, versetzt sind, energetisch an den Wellenleiter angekoppelt sind.
- 2. Anordnung nach Punkt 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum ersten Photoempfänger (7) der Photoempfängerreihe (7..И6) ein weiterer Photoempfänger um eine viertel Interferenzperiode versetzt angeordnet ist.Hierzu 1 Seite Zeichnungen3311
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD20570678A DD137022B1 (de) | 1978-06-01 | 1978-06-01 | Integriert-optische Anordnung |
SU797770573A SU1003004A1 (ru) | 1978-06-01 | 1979-05-16 | Оптико-интегрирующее устройство |
US06/040,935 US4324492A (en) | 1978-06-01 | 1979-05-21 | Method of and arrangement for performing optical interference measurements |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD20570678A DD137022B1 (de) | 1978-06-01 | 1978-06-01 | Integriert-optische Anordnung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DD137022A1 DD137022A1 (de) | 1979-08-08 |
DD137022B1 true DD137022B1 (de) | 1981-07-29 |
Family
ID=5512863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DD20570678A DD137022B1 (de) | 1978-06-01 | 1978-06-01 | Integriert-optische Anordnung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4324492A (de) |
DD (1) | DD137022B1 (de) |
SU (1) | SU1003004A1 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2613826B1 (fr) * | 1987-04-07 | 1990-10-26 | Commissariat Energie Atomique | Capteur de deplacement en optique integree |
EP1221581A1 (de) * | 2001-01-04 | 2002-07-10 | Universität Stuttgart | Interferometer |
US6856733B2 (en) * | 2001-12-07 | 2005-02-15 | Intel Corporation | 1xN fanout waveguide photodetector |
WO2012170352A2 (en) * | 2011-06-06 | 2012-12-13 | The Regents Of The University Of California | Multiplex fluorescent particle detection using spatially distributed excitation |
CN104081175A (zh) * | 2012-04-25 | 2014-10-01 | 惠普发展公司,有限责任合伙企业 | 通过模式干涉来分析光 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3560724A (en) * | 1968-08-19 | 1971-02-02 | Us Navy | Optical correlators |
US3674335A (en) * | 1970-05-25 | 1972-07-04 | Bell Telephone Labor Inc | Light wave coupling into thin film light guides |
-
1978
- 1978-06-01 DD DD20570678A patent/DD137022B1/de active IP Right Grant
-
1979
- 1979-05-16 SU SU797770573A patent/SU1003004A1/ru active
- 1979-05-21 US US06/040,935 patent/US4324492A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SU1003004A1 (ru) | 1983-03-07 |
DD137022A1 (de) | 1979-08-08 |
US4324492A (en) | 1982-04-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3611852C2 (de) | ||
DE2142263C3 (de) | Lichtwellenkopplungsanordnung in Dünnfilm-Lichtleiter | |
DE2944977C2 (de) | Optischer Wellenmodenmischer | |
DE69627086T2 (de) | Wellenlängenselektive Bauteile mit SOI-Halbleiter | |
DE4027024A1 (de) | Faserkreisel | |
DE2819590A1 (de) | Vorrichtung zur messung der in einem festen koerper vorliegenden spannung | |
EP0095673A1 (de) | Faseroptischer Sensor zur Messung physikalischer Grössen | |
DE60021689T2 (de) | Multifunktioneller integriert-optischer Chip mit verbessertem Polarisationsauslöschungsverhältnis | |
DE3609507A1 (de) | Faseroptisches interferometer | |
EP0187979A2 (de) | Monolithisch integrierter WDM-Demultiplexmodul und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls | |
DE69818461T2 (de) | Einrichtung zum lesen von spektrallinien in einem optischen spektrum | |
DD137022B1 (de) | Integriert-optische Anordnung | |
EP0160784A2 (de) | Auflichtphasengitter und Verfahren zur Herstellung eines Auflichtphasengitters | |
DE2822571A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines beugungsgitters | |
DE3024104C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer integrierten mikrooptischen Vorrichtung zur Verwendung mit Multimode-Lichtfasern | |
DE102009014478B4 (de) | Vorrichtung zum Umsetzen eines optischen Eingangssignals in ein elektrisches Ausgangssignal und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung | |
DE2331497A1 (de) | Anordnung zum einkoppeln von laserstrahlen in optische fasern | |
DE10037981B4 (de) | Verschiebungsmessvorrichtung | |
WO1995019581A1 (de) | Integriert optisches bauelement und verfahren zur herstellung eines integriert optischen bauelementes | |
DE60113910T2 (de) | Herstellungsverfahren für eine Lichtwellenleiter-Sonde in einem optischen Nahfeld-Rastermikroskop | |
EP0231538B1 (de) | Optischer Weg-Sensor mit einem Filter | |
DE2930252A1 (de) | Verfahren und anordnung zur optischen interferenzmessung | |
DE3429592A1 (de) | Faseroptisches gyroskop | |
DE69636489T2 (de) | Polarisationsunabhängige Struktur mit zwei optischen Wellenleitern und Herstellungsverfahren | |
WO2017081316A1 (de) | Optische komponente und verfahren zu deren herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
UW | Conversion of economic patent into exclusive patent |