CZ28139U1 - Interferometrický systém - Google Patents

Interferometrický systém Download PDF

Info

Publication number
CZ28139U1
CZ28139U1 CZ2014-30127U CZ201430127U CZ28139U1 CZ 28139 U1 CZ28139 U1 CZ 28139U1 CZ 201430127 U CZ201430127 U CZ 201430127U CZ 28139 U1 CZ28139 U1 CZ 28139U1
Authority
CZ
Czechia
Prior art keywords
diffraction grating
output
branch
radiation
interferometric system
Prior art date
Application number
CZ2014-30127U
Other languages
English (en)
Inventor
Pavel Kolman
Radim ChmelĂ­k
Original Assignee
Vysoké Učení Technické V Brně
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vysoké Učení Technické V Brně filed Critical Vysoké Učení Technické V Brně
Priority to CZ2014-30127U priority Critical patent/CZ28139U1/cs
Publication of CZ28139U1 publication Critical patent/CZ28139U1/cs

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

Předkládané technické řešení se týká interferometrického systému k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.
Dosavadní stav techniky
V současnosti je známo několik uspořádání interferometrických systémů založených na mřížkovém interferometru.
Příklady takových uspořádání jsou uvedeny například v užitných vzorech CZ 8547, CZ 19150 a v patentu CZ PV 302491. Tyto systémy využívají interference dvou vzájemně koherentních svazků, přičemž jeden je ovlivněn pozorovaným předmětem a druhý prochází zcela mimo předmět. Dva vzájemně koherentní svazky vzniknou rozdělením osvětlovacího svazku vycházejícího z externího zdroje.
V těchto uspořádáních dosud nebylo možné využít výhod holografického zobrazení pro fluoreskující předměty. V případě fluorescence je zdrojem světla sám vzorek, který mohl být dosud umístěn pouze v jedné větvi, a jím emitované záření nebylo koherentní se zářením v referenční větvi a nemohl tedy vzniknout interferenční obraz (interferogram). Předchozí systémy přihlašovatele umožňují zobrazovat pomocí záření emitovaného pozorovaným předmětem pouze tak, jako v běžném (nekonfokálním) fluorescenčním mikroskopu, tedy tak, že se k zobrazování využívá pouze jedna větev interferometru, v rovině detektoru nevzniká hologram a v každém okamžiku se zobrazuje intenzita zdrojů záření z celého objemu předmětu bez možnosti získat úplnou informaci o předmětové vlně, tj. její amplitudu a fázi a bez možnosti hloubkového rozlišení, tj. nevznikají optické řezy.
Pro vytvoření optického řezu v celém zorném poli se běžně využívají konfokální mikroskopy, u nichž je nutné rastrovat jedním bodem, nebo skupinou vzájemně dostatečné vzdálených bodů, což je časově nevýhodné. Navíc zde není možnost získat kvantitativní fázové zobrazení.
Další příklady jsou uvedeny v patentových dokumentech US 5671085 a US 2008158551.
V těchto dokumentech je interferometr v osovém uspořádání, kde osy obou svazků jsou v rovině detektoru rovnoběžné a sjednocené. Zařízení popsaná v těchto dokumentech jsou achromatická, takže zdroj záření může být polychromatický. Hlavní nevýhodou těchto zařízení je, že pro získání úplné informace o předmětové vlně (amplitudy a fáze) je nutno zaznamenat množství interferogramů (alespoň tři) lišících se rozdílem dob šíření emitovaného záření v první a v druhé větvi. Metod pro záznam a rekonstrukci je několik, liší se počtem interferogramů, které je třeba zaznamenat a diferencí rozdílu dob šíření - při menším počtu záznamů musí být velikost diference mezi jednotlivými interferogramy známá a přesně nastavená hodnota (chyba nastavení negativně ovlivňuje přesnost získané informace - zejména fáze), při větším počtu záznamů není nutné dodržet přesnou hodnotu diference mezi jednotlivými interferogramy. Pro nastavení diference se používá různých zařízení umožňujících změnu optické délky větve (zrcadlo, soustava zrcadel, soustava klínových destiček, atd.).
Zařízení dle US 5671085 má pouze jeden detektor, takže je možné snímat pouze v časové posloupnosti, což prakticky omezuje použití takového zařízení na statické objekty.
Přesnost přístroje (přesnost získané informace - zejména fáze) ovlivňuje také proudění vzduchu a prostředí obklopujícího vzorek, protože rozdíl dob šíření vlnění procházejícího první větví a vlnění procházejícího druhou větví se v čase náhodně mění (navíc různě pro různé obrazové elementy interferogramů), čímž je do vstupních dat (interferogramů) pro výpočet amplitudy a fáze vnesena náhodná a neznámá funkce, která zvyšuje nepřesnost (chybu) výpočtu.
Systém uvedený v patentovém dokumentu US 2008158551 využívá kombinačního členu (děliče), který rozdělí svazky z první a z druhé větve a přivede je současně k několika detektorům. Kom-1 CZ 28139 U1 binační člen zajistí časově neměnnou diferenci rozdílu dob šíření emitovaného záření v první a v druhé větvi, různou pro různé detektory. Všechny detektory mohou snímat synchronně. Oproti zařízení dle (US 5671085) není přesnost měření ovlivněna prouděním okolního prostředí. Nevýhodou tohoto systému je, že použitý kombinační člen může vnášet do zobrazení vady související s jeho konstrukcí, např. poměr intenzit záření dopadajícího na různé detektory může záviset na vlnové délce (dle konstrukce interferenčních vrstev na dělicích plochách - výroba vrstev je finančně náročná, vrstvy jsou navrženy na omezený spektrální interval, propustnost/odrazivost není na daném intervalu konstantní). Další nevýhodou je to, že všechny detektory musí zobrazovat tutéž rovinu (nutno nastavit posunutí ve směru kolmém k rovině detektoru a náklon roviny detektoru), totéž zorné pole (nutno nastavit posunutí ve směru rovnoběžném s rovinou detektoru) a pro všechny detektory musí být zaručeno i shodné zvětšení mezi předmětovou rovinou a rovinou detektoru, což je prakticky velmi obtížně splnitelné. Nedokonalosti nastavení lze částečně korigovat numerickým předzpracováním, což zvyšuje časovou náročnost výpočtu.
Podstata technického řešení
Uvedené nedostatky odstraňuje interferometrický systém zahrnující externí zdroj záření, první větev a druhou větev, soustavu odražečů a detektor umístěný ve výstupní obrazové rovině, kde první větev zahrnuje první vstupní zobrazovací soustavu a první výstupní zobrazovací soustavu a druhá větev zahrnuje druhou vstupní zobrazovací soustavu, přičemž první vstupní zobrazovací soustava a druhá vstupní zobrazovací soustava jsou umístěny v jedné ose proti sobě tak, že mají společnou předmětovou rovinu opticky sdruženou s výstupní obrazovou rovinou spočívající v tom, že v rovině opticky sdružené s předmětovou rovinou dále zahrnuje alespoň jednu difrakční mřížku pro vytvoření achromatického hologramu s prostorovou nosnou frekvencí ve výstupní obrazové rovině.
Ve výhodném provedení je soustava odražečů uzpůsobena tak, že je na detektor směrován nenulový difrakční řád záření difraktovaného na zmíněné difrakční mřížce.
Interferometrický systém může pro získání obrazové informace využívat záření z externího zdroje, které interagovalo se vzorkem nebo obrazovou informaci ze záření emitovaného vzorkem.
V dalších provedeních může zahrnovat různé typy difrakční mřížky, které je navíc možné realizovat jako vyměnitelné.
Další přednosti a výhody tohoto technického řešení budou zřejmé po důkladném přečtení příkladů provedení s odpovídajícími odkazy na průvodní obrázky.
Objasnění výkresů
Obr. 1 je schematické znázornění příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 2 je schematické znázornění druhého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 3 je schematické znázornění třetího příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 4 je schematické znázornění čtvrtého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 5 je schematické znázornění pátého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 6 je schematické znázornění šestého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 7 je schematické znázornění sedmého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
-2 CZ 28139 U1
Obr. 8 je schematické znázornění osmého příkladu výhodného provedení interferometrického systému
Obr. 9 je příklad zpracování holografického záznamu za účelem získání zobrazení amplitudy (modul komplexní amplitudy) a fáze (argument komplexní amplitudy)
Obr. 10 je znázornění posuvného panelu pro výměnu difřakčních mřížek
Obr. 11 je znázornění otočného panelu pro výměnu difřakčních mřížek
Obr. 12a) schematické znázornění optických drah první a druhé větve zobrazovacího interferometru s vloženým předmětem, b) posunutí předmětu o dz;, c) průběh indexu lomu ve zvoleném obrazovém elementu podél osy z a průměrný index lomu ň; na intervalu Δζι, d) průběh rozdílu fází φ mezi první a druhou větví v závislosti na poloze předmětu podél osy z, e) průběh funkce φ — mod27r(</>), která značí zbytek po dělení rozdílu fází φ hodnotou 2π, f) navzorkované hodnoty funkce φ
Příklady provedení technického řešení
Příklad výhodného provedení interferometrického systému je schematicky znázorněn na obr. 1. Jedná se o interferometrický systém pro vytvoření hologramu luminiscenčního vzorku I nebo vzorku I nasvíceného vhodným externím zdrojem záření.
Luminiscenční vzorek I je obvykle vzorek fluorescenční, tj. luminiscenčními částicemi jsou částice fluorescenčního barviva obsažené ve vzorku i. Další možné příklady luminiscenčního vzorku 1 zahrnují např. autofluorescenci nebo fosforescenci. Vhodnými příklady takového vzorku I jsou rostlinné i živočišné buňky, shluky buněk, mikroorganizmy anebo technické mikroobjekty. Sledování luminiscenčních částic vzorku zde tedy probíhá až po jeho excitaci (ozáření) externím zdrojem záření. Dále v příkladech provedení budou uvedeny příklady s fluorescenčním barvivém. Předpokládá se, že odborník znalý této oblasti techniky je schopen aplikovat uvedené příklady i na ostatní typy luminiscence.
V případě vzorku I nasvíceného vhodným externím zdrojem záření je vzorek ozařován např. časově a prostorově nekoherentním externím zdrojem záření, přičemž je zkoumáno záření, které interagovalo se vzorkem 1. Za interakci se považují například odraz, ohyb, rozptyl, absorpce a fázový posun. To se využije u vzorků i, které nevykazují luminiscenci.
Na obr. 1 se nachází příklad interferometrického systému tvořený externím zdrojem záření (není na obrázku), první větví 9.1, druhou větví 92, přenosovou soustavou odražečů a detektorem 5.
První a druhá větev (9.1, 9.2) začínají v předmětové rovině 8.1 a končí ve výstupní obrazové rovině 82. První a druhá větev (9.1, 92) obecně v různých provedeních obsahují množinu optických prvků, zahrnující například odražeč nebo čočku a také složitější optické prvky, jako je objektiv, prvek s měnitelnou ohniskovou vzdáleností, vychylovací prvek, soustava odražečů, prvek s pevnou optickou délkou či prodlužovací prvky.
Předmětová rovina 8.1 prochází vzorkem I. První větev 9.1 a druhá větev 92 mají přibližně stejnou optickou délku a přibližně stejné zvětšení, a to od začátku po konec větví. Rozdíl mezi dobou šíření záření v první větvi 9.1 a ve druhé větvi 92 je tedy menší než koherenční doba použitého záření. Toto může být v systému z obr. 1 provedeno tak, že jsou optické délky komponent v obou větvích voleny tak, aby kompenzovaly různé geometrické délky větví a použití odlišných zobrazovacích soustav, nebo lze pro nastavení shodných optických délek využít prodlužovací prvek
4.1 (42). jak je uvedeno v dalších provedeních. Zvětšení v první větvi 9.1 a v druhé větvi 92 od předmětové roviny 8,1 až po výstupní obrazovou rovinu 82 je přibližně stejné a první výstupní obraz vytvořený první větví 9.1 ve výstupní obrazové rovině 82 a druhý výstupní obraz vytvořený druhou větví 92 ve výstupní obrazové rovině 8.2 se v podstatě překrývají, čímž je zajištěna interference záření z obou těchto větví.
Externí zdroj záření je připojen tak, aby umožnil ozáření vzorku i umístěného v předmětové rovině 8.1. Toto může být provedeno například ozářením skrze jednu vstupní zobrazovací soustavu,
-3CZ 28139 U1 nebo současně skrze obě vstupní zobrazovací soustavy, přičemž proti sobě jdoucí záření z externího zdroje v okolí předmětové roviny 8.1 konstruktivně interferuje, nebo ozářením vzorku 1 světelným listem (light-sheet) vně vstupních zobrazovacích soustav, přímo v předmětové rovině 8.1. Externí zdroj záření, ozařující vzorek I může být zdroj s libovolným stupněm časové i prostorové koherence. Šipka na obrázku znázorňuje libovolné záření z externího zdroje 6.
V první větvi 9.1 je umístěna první vstupní zobrazovací soustava 2.1 a první výstupní zobrazovací soustava 3.1. První primární obrazová rovina 8.3 je opticky konjugovaná s předmětovou rovinou 8.1 skrze první vstupní zobrazovací soustavu 2.1 a s výstupní obrazovou rovinou 8.2 skrze první výstupní zobrazovací soustavu 3.1.
V druhé větvi 9.2 je umístěna druhá vstupní zobrazovací soustava 2.2. Výstupní obrazová rovina
8.2 je opticky konjugovaná s předmětovou rovinou 8.1 skrze druhou vstupní zobrazovací soustavu 2.2. Uvedené vstupní zobrazovací soustavy jsou v tomto provedení sestaveny z objektivů zobrazujících v nekonečnu a z objektivů zobrazujících v konečné vzdálenosti. V jiných provedeních může být využit pouze jeden z uvedených typů objektivů nebo jejich libovolná kombinace. Objektivem chápeme první zobrazovací prvek umístěný za sledovaným objektem, který vytváří jeho obraz buď v konečné nebo nekonečné vzdálenosti za tímto zobrazovacím prvkem, nebo komponentu k tomuto účelu určenou. První vstupní zobrazovací soustava 2,1 a druhá vstupní zobrazovací soustava 2,2 jsou umístěny v jedné ose proti sobě tak, že mají společnou předmětovou rovinu 8.1. Optické osy první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 a druhé vstupní zobrazovací soustavy 2.2 jsou v rovině detektoru sjednocené a rovnoběžné s normálou detektoru. V tomto provedení je první výstupní zobrazovací soustava 3.1 složena ze dvou optických prvků, mezi nimiž je umístěn odražeč, jak je znázorněno na obr. 1. Např.: první optický prvek první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 je umístěn tak, že jeho předmětové ohnisko leží v blízkosti první primární obrazové roviny 8.3 a druhý optický prvek první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 je umístěn tak, že jeho obrazové ohnisko leží v blízkosti výstupní obrazové roviny 8.2.
Nejdůležitějším prvkem interferometrického systému je první difrakční mřížka Tri, která je v tomto provedení umístěna v první primární obrazové rovině 8.3.
Svazek záření v první větvi 9.1. jehož osa je sjednocena s osou první vstupní zobrazovací soustavy 2.1, vychází z této zobrazovací soustavy 2.1 a směřuje do první primární obrazové roviny 8.3, difraktuje na první difrakční mřížce 7.1 a dále se šíří směrem k první výstupní zobrazovací soustavě 3.1.
Osa svazkuje za difrakční mřížkou 7.1 v obecném případě odkloněna od osy první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 o úhel ax, pro který platí: sin^-J = s λ f, kde s je celé číslo a značí difrakční řád, λ je vlnová délka difřaktovaného záření a f je prostorová frekvence difrakční mřížky (hustota vrypů).
V případě nultého difrakčního řádu je s = 0, tj. také a! = 0 a osa svazku v nultém difrakčním řádu li je za difrakční mřížkou sjednocena s osou první výstupní zobrazovací soustavy 3.1. Zrcadlo 12 je zároveň umístěno pod takovým úhlem, že kdyby bylo větší tak, aby odráželo i svazek v nultém difrakčním řádu, byla by osa tohoto svazku rovnoběžná s normálou výstupní obrazové roviny 8.2. Protože je ovšem žádoucí směrovat na detektor 5 pouze jeden difrakční řád, a to jiný než nultý, tj. např. první, je velikost a poloha zrcadla volena tak, aby svazky ostatních difrakčních řádů včetně nultého odfiltrovalo, jak je zřejmé z obrázků. To lze alternativně řešit i pomocí utlumovacích prvků umístěných v dráze svazku.
V případě prvního difrakčního řáduje s = 1, tj. a1 Ψ 0 a osa svazku v prvním difrakčním řáduje za difrakční mřížkou různoběžná s osou první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 a svírá s ní nenulový úhel a±. Svazek záření difraktovaný difrakční mřížkou 7.1 pod nenulovým úhlem tedy vstupuje do první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 s osou odkloněnou rovněž o úhel ar vzhledem k optické ose první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 a vystupuje z výstupní zobrazovací soustavy 3.1 s osou odkloněnou o nenulový úhel βγ vzhledem k optické ose první výstupní zobrazovací soustavy 3.1 a poté vstupuje do výstupní obrazové roviny 8.2 interferometru s osou odkloněnou rovněž o úhel βτ vzhledem k normále výstupní obrazové roviny 82.
-4CZ 28139 Ul
Mezi úhly a βΎ platí vztah sin^) = sin(a1)/m1, kde je zvětšení první výstupní zobrazovací soustavy 3.1.
Ostatní difrakční řády, zejména nultý a druhý se obecně za difrakční mřížkou vyskytují a jejich relativní intenzita se mění s vlnovou délkou, ale pro zobrazování v tomto provedení nejsou využity. Naopak jsou pro zvýšení kvality zobrazení odfiltrovávány. V alternativním provedení ovšem lze pracovat s jiným, například druhým difrakčním řádem a odstraňovat řády ostatní.
Svazek záření v druhé větvi 92, jehož osa je sjednocena s osou druhé vstupní zobrazovací soustavy 22, vychází z této zobrazovací soustavy 2.2 a směřuje do výstupní obrazové roviny 82. Normála výstupní obrazové roviny 82 je rovnoběžná s osou druhé vstupní zobrazovací soustavy 22
Osa svazku první větve 9.1 a osa svazku druhé větve 9.2 spolu ve výstupní obrazové rovině 8.2 svírají obecně nenulový úhel /?1; pro nějž platí: sin^) = sin(~gl') = Svazek první větve 9,1
771X 771 χ a svazek druhé větve 92 jsou vzájemně koherentní, interferují spolu a ve výstupní obrazové ro5 f vině 8.2 vzniká interferogram s prostorovou nosnou frekvencí —, nezávislou na vlnové délce
771 χ (tj. interferogram je achromatický). Prostorová nosná frekvence interferogramu není závislá na poloze zdroje záření v předmětové rovině 8.1, tj. předkládaný interferometrický systém je prostorově invariantní. Ve výstupní obrazové rovině 8.2 se nachází detektor 5.
V jiných provedeních může být difrakční mřížka 7 umístěna ve druhé větvi 9.2, případně ve větvích obou. Frekvence f difrakční mřížky 7 musí být větší než čtyřnásobek převrácené hodnoty násobku minimální vlnové délky Amin, pro kterou je difrakční mřížka 7 určena a numerické aper4 tury NAd svazku dopadajícího na difrakční mřížku 7, tedy musí splňovat vztah f > --.
AminNAd
Interferogram je pak hologramem.
V provedení na obr. 1 je využita difrakční mřížka 7 transmisní, alternativně však lze využít i reflexní difrakční mřížku 7.
V příkladu na obr. 2 se jedná o analogii výše popsaného systému znázorněného na obr. 1 s tím rozdílem, že první výstupní zobrazovací soustava 3.1 zobrazuje v nekonečnu a je přidána společná zobrazovací soustava 10, kterou může být například objektiv s měnitelnou ohniskovou vzdáleností.
V dalším příkladu na obr. 3 se jedná o obdobný systém jako na obr. 1 s tím rozdílem, že je použita první výstupní zobrazovací soustava 3.1 zobrazující v konečné vzdálenosti.
Na obr. 4 se nachází analogie výše popsaného systému znázorněného na obr. 3. První větev 9.1 a druhá větev 9.2 začínají v předmětové rovině 8.1, ve které leží vzorek i a končí ve výstupní obrazové rovině 82. V první větvi 9.1 je umístěna první vstupní zobrazovací soustava 2.1 a první výstupní zobrazovací soustava 3.1 a prodlužovací prvek 4.1. První primární obrazová rovina 8.3 je opticky konjugovaná s předmětovou rovinou 8.1 skrze první vstupní zobrazovací soustavu 2.1 a s výstupní obrazovou rovinou 8.2 skrze první výstupní zobrazovací soustavu 3.1.
Prodlužovací prvek 4.1 slouží k nastavení shodných optických délek obou větví a optickou délku může prodlužovat i zkracovat, takže je zřejmé, že v jiném provedení technického řešení může být prodlužovací prvek 4.1 umístěn pouze ve druhé větvi 92 nebo ve větvích obou.
Ve druhé větvi 9.2 je umístěna druhá vstupní zobrazovací soustava 2.2 a druhá výstupní zobrazovací soustava 3.2. Druhá primární obrazová rovina 8.4 je opticky konjugovaná s předmětovou rovinou 8.1 skrze druhou vstupní zobrazovací soustavu 2.2 a s výstupní obrazovou rovinou 8.2 skrze druhou výstupní zobrazovací soustavu 3.2.
Uvedené zobrazovací soustavy jsou sestaveny z objektivů zobrazujících v nekonečnu nebo zobrazujících v konečné vzdálenosti nebo z jejich libovolné kombinace. Jak bude uvedeno dále v popisu technického řešení, výstupní zobrazovací soustavy (3,1 a 3.2) obou větví mohou mít některé prvky společné. V tomto příkladu provedení mají společnou zobrazovací soustavu 10, kterou může být například objektiv s měnitelnou ohniskovou vzdáleností (nazýváno též transfo-5CZ 28139 U1 kátor, nebo zoom). První vstupní zobrazovací soustava 2,1 a druhá vstupní zobrazovací soustava
2.2 jsou umístěny v jedné ose proti sobě tak, že mají společnou předmětovou rovinu 8.1.
V příkladu na obr. 5 se jedná o analogii výše popsaného systému znázorněného na obr. 4 s tím rozdílem, že v druhé větvi je umístěn prodlužovací prvek 42.
V příkladu na obr. 6 se jedná o příklad jiného prostorového uspořádání systému znázorněného na obr. 4, s tím rozdílem, že první větev 9.1 kromě první vstupní zobrazovací soustavy 2.1, difrakční mřížky 7.1 a první výstupní zobrazovací soustavy 3.1, zahrnuje také první prodlužovací prvek 4,1 tvořený přenosovou soustavou odražečů. Dále už shodně druhá větev 9.2 zahrnuje druhou vstupní zobrazovací soustavu 2.2 a druhou výstupní zobrazovací soustavu 32. Obě soustavy zahrnují společnou zobrazovací soustavu 10, která směruje záření z obou větví na detektor 5.
Další příklad provedení interferometrického systému je uveden na obr. 7. Jedná se o analogií výše popsaného systému znázorněného na obr. 6 s tím rozdílem, že v obou větvích, tedy v první i druhé, je zařazena difrakční mřížka (7.1 a 72). Jedná se tedy o uspořádání, kdy je v blízkosti první primární obrazové roviny 8.3 umístěna první difrakční mřížka 7.1 a v blízkosti druhé primární obrazové roviny 8.4 je umístěna druhá difrakční mřížka 7.2. Prodlužovací prvky 4.1 a 4.2 mohou být realizovány mnoha způsoby. V tomto provedení jsou tvořeny přenosovými soustavami odražečů.
Mezi úhly a2 a β2 platí obdobný vztah jako mezi úhly a± a βΎ popsaný výše v příkladu provedení z obr. 1.
Další příklad provedení interferometrického systému je uveden na obr. 8. Jedná se o analogii výše popsaného systému znázorněného na obr. 6 s tím rozdílem, že je v druhé větvi 9.2 použit druhý prodlužovací prvek 42 jiného typu a že transmisní difrakční mřížka 7.1 je nahrazena difrakční mřížkou 7.1 reflexní. Reflexní difrakční mřížku 7.1 lze využít i u všech dříve uvedených příkladů provedení.
Relativní intenzita difrakčních řádů závisí na vlnové délce difraktovaného záření. Difrakční mřížku 7 je vhodné navrhnout tak, aby účinnost mřížky byla maximální pro využívaný difrakční řád (např. blejzované mřížky). To platí pouze pro jednu vlnovou délku, pro ostatní vlnové délky účinnost využívaného difrakčního řádu klesá a naopak roste relativní intenzita nevyužívaných řádů. Je proto výhodné, aby difrakční mřížka 7 byla uložena vyměnitelně, aby bylo možno interferometrický systém přizpůsobit vlnové délce záření dopadajícího na difrakční mřížku.
Difrakční mřížka 7 je ve výhodném provedení umístěna na panelu obdélníkového tvaru, na kterém je možno umístit několik difrakčních mřížek 7. Výměna difrakční mřížky 7 je pak provedena posunutím panelu s difrakčními mřížkami 7, a to buď ručně, nebo s pomocí libovolného pohonu. Na obr. 9 je uveden příklad posuvného panelu difrakční mřížky 7.
V dalším provedení je difrakční mřížka 7 umístěna na panelu kruhového tvaru, na něhož je možno umístit několik difrakčních mřížek 7. Výměna difrakční mřížky 7 je pak provedena otočením panelu s difrakčními mřížkami 7, a to také buď ručně, nebo s pomocí libovolného pohonu. Na obr. 10 je uveden příklad otočného panelu difrakční mřížky 7.
Při práci ve fluorescenčním režimu jsou částice fluorescenčního barviva obsažené ve vzorku i vloženém mezi první vstupní zobrazovací soustavou 2.1 a druhou vstupní zobrazovací soustavou
2.2 v předmětové rovině 8,1 excitovány externím zdrojem záření a poté emitují záření vlastní. Záření emitované částicemi fluorescenčního barviva ve vzorku I je časově nekoherentní. Jeho spektrální šířka je v řádu jednotek až desítek nanometrů. Jednotlivé částice fluorescenčního barviva navíc emitují vzájemně nekoherentní záření. Fluorescenční vzorek I se tedy makroskopicky chová jako širokopásmový (časově nekoherentní) objemový prostorově nekoherentní zdroj záření. Emitované záření se šíří do všech směrů, prochází první větví 9.1 a druhou větví 9.2 a dopadá na detektor 5, kde spolu záření z obou větví interferuje a detektor 5 snímá výsledný interferogram, který je díky konstrukci interferometrického systému achromatickým, mimoosovým hologramem. Interferometrický systém je prostorově invariantní vtom smyslu, že vytvářený hologram má prostorovou nosnou frekvenci nezávislou na poloze zdroje záření.
-6CZ 28139 Ul
Výstupní přenosová soustava odražečů 12 (viz obr. 8) usměrňuje záření na detektor 5. Tato soustava může být provedena mnoha způsoby. Detektor 5 bývá obvykle provedený jako plošný detektor 5, např. jako CCD čip. Jak bylo zdůrazněno v popisu výše, interference může nastat pouze v případě, že záření emitované částicemi fluorescenčního barviva má v obou větvích interferometrického systému rozdíl optických drah menší než je koherenční délka tohoto záření. K detektoru 5 je připojena výpočetní jednotka (není na obrázku), která může být provedena jako standardní počítač.
Například s využitím výše popsaných příkladů interferometrického systému lze realizovat způsob měření prostorového rozložení indexu lomu. Na detektoru 5 se tedy nejdříve zaznamená intenzita interference první a druhé větve 9.1 a 9.2, tj. interferogram, který je dále uložen do výpočetní jednotky. U interferenčního systému podle příkladu provedení je zaznamenaný interferogram hologramem, tj. obsahuje úplnou informaci o předmětové vlně (o její amplitudě a fázi). U jiných systémů známých ze stavu techniky je třeba získat interferogramů několik a z nich až následně rekonstruovat předmětovou vlnu (její amplitudu a fázi).
Rekonstrukci amplitudy a fáze předmětové vlny lze provést několika způsoby, které se liší především dle použitého interferenčního systému a zároveň lze pro jeden typ interferometrického systému použít různé numerické metody. U interferenčního systému podle příkladu provedení se využívá např. filtrace spektra prostorových frekvencí hologramu ve fourierovském prostoru. Spektrum prostorových frekvencí hologramu lze získat např. využitím 2D diskrétní Fourierovy transformace. V postranním pásmu spektra prostorových frekvencí se provede výřez oblasti okolo prostorové nosné frekvence hologramu a na výřezu se provede zpětná 2D diskrétní Fourierova transformace. Prostorová nosná frekvence je frekvence, ve které nabývá frekvenční spektrum v postranním pásmu svého maxima. Velikost výřezu je dána kružnicí se středem v nosné frekvenci a poloměrem úměrným 2A^° , kde NA0 je numerická apertura objektivu, 2mjn je minim -min mální vlnová délka emitovaného záření a m je celkové zvětšení mezi předmětovou rovinou 8.1 a výstupní obrazovou rovinou 8.2.
Výsledkem inverzní Fourierovy transformace je komplexní amplituda předmětové vlny, jejíž modul udává reálnou amplitudu předmětové vlny a argument komplexní amplitudy udává fázi předmětové vlny. Vypočtené hodnoty fáze jsou omezeny na interval < — π; π >. Pro správné zobrazení a interpretaci fáze je nutné fázové skoky odstranit (tzv. navázat fázi) přičtením celých násobků hodnoty 2π. Obr. 11 popisuje právě zpracování holografického signálu popsaného výše.
Holografický signál lze tedy odvodit z teorie interference záření, a to např. postupem popsaným výše. Shmeme-li výše uvedený postup, tak se numerickým zpracováním získá fázové zobrazení a amplitudové zobrazení. Numerické zpracování zahrnuje operace Fourierova transformace, filtrace spektra prostorových frekvencí, inverzní Fourierova transformace. Výsledkem je komplexní amplituda signálu, jejíž modul představuje amplitudu a argument jeho fázi.
Ostatní způsoby výpočtu amplitudy a fáze předmětové vlny není třeba popisovat, protože jsou v oboru dobře známé. Dále už se bude u různých systémů postupovat obdobně.
V dalším kroku se vzorek i posune ve směru osy z a zachytí se druhý interferogram, který je dále uložen do výpočetní jednotky. Takovým posouváním vzorku I ve směru optické osy z po intervalech délky dZj, lze tedy získat sérii N hologramů, přičemž index i = 1,2, ...,N — 1 značí pořadové číslo intervalu posunutí mezi i. a (i + 1). snímkem hologramu. Velikost posunutí se může lišit pro různé snímky, proto se rozlišují indexem i. Amplitudové zobrazení vytváří optický řez. Zobrazuje pouze tu část vzorku I, která leží v blízkém okolí společné předmětové roviny 8.1. Ze série těchto řezů (sada N obrazů) lze zrekonstruovat prostorové rozložení částic fluorescenčního barviva ve vzorku I. Ze série fázových zobrazení lze získat prostorové rozložení indexu lomu uvnitř měřeného vzorku I.
Na obr. 12a) je schematické znázornění optických drah první větve 9.1 a druhé větve 9.2 interferometrického systému s vloženým vzorkem i. První větev 9.1 je od předmětové roviny 8.1 směrem k detektoru 5 nalevo, druhá větev směrem k detektoru 5 napravo. Obě větve mají shodnou délku.
-7CZ 28139 U1
Částice fluorescenčního barviva umístěná na optické ose z v bodě 0^ + D emituje záření do všech směrů. Paprsek jdoucí proti směru osy z, tj. první větví 9.1 směrem k detektoru 5 nalevo, projde optickou dráhu OPL/x, y) danou vztahem:
0PLť(x,y) = /^.nocřz+ f“i+° n(x> y> 2^>dz·
Paprsek jdoucí po směru osy z, tj. druhou větví 9.2 směrem k detektoru 5 napravo, projde optickou dráhu danou vztahem:
OPR^x.y) = f^+Dn(x,y,z)dz + Jr aí+2Dn0dz.
Rozdíl optických drah mezi prvou a druhou větví je pak dán vztahem:
OPD/x.y) = OPLi(x,y) - OPR^x.y) = rl rCli+D rT rd^^D = I nodz + I n(x,y,z)dz - I n{x,y,z)dz - I nodz. Jai Jl Ja.i+D Jr
Posuneme-li vzorek I vůči předmětové rovině 8.1 o Azř, tj. z polohy + D do polohy aí+1 + jak je znázorněno na obrázku 12b), změní se OPD; na OPDi+1. Změna rozdílu optických drah ΔΟΡΰ/χ, y) je rovna:
ΔΟΡΰ^χ,γ) = OPDi+1(x,ý) - OPD^x.y) = 2 f“^+D n(x,y,z) - nodz.
Pak AOPZ)ž(x,y) odpovídá dvojnásobku vyšrafované plochy v obr. 12c). Na obr. 12c) je zakreslen průběh indexu lomu n(z) ve zvoleném obrazovém elementu v místě o určitých souřadnicích (x,y) podél osy z. Obrazový element je tedy například pixel CCD čipu nebo jde o libovolnou část interferogramu, tedy skupinu pixelů. Průměrný index lomu ňz(x,y) na intervalu Δζι je:
ih(x,y)
AOPDjíxy)
2ΔΖί + n0.
Rozdíl optických drah 0PD(x, y) lze přepočítat na rozdíl fází φ podle vztahu Φ = ~r OPD, kde λ je vlnová délka emitovaného záření. Průběh φ(ζ) pro index lomu n(z) z obrázku 12c) je zakreslen na obrázku 12d). Pro ΔΟΡΰ/χ,γ) platí:
ΔΟΡΡ^χ,γ) = ΔφΑχ,γ)-^-, kde Δφί = φί+1 — φι je rozdíl mezi rozdílem fází vypočteným z prvního interferenčního obrazu a rozdílem fází vypočteným z druhého interferenčního obrazu a vyjadřuje změnu rozdílu fází na intervalu Δζ;, tj. mezi polohami ai + Daa;+1 + D vzorku 1.
Fázová informace rekonstruovaná např. výše popsaným postupem z digitálního záznamu hologramu je diskrétním souborem hodnot <p/, které vzorkují funkci φ = mod27r(0), která značí zbytek po dělení rozdílu fází φ hodnotou 2π. Grafické zobrazení funkce 0(z) je na obrázku 12e). Navzorkované hodnoty ψι jsou znázorněny na obrázku 12f). Vzorkovaní musí být dostatečné, tj. interval Δζι dostatečně malý, aby bylo možné navzorkovanou funkci φ spolehlivě navázat (odstranit skoky o 2π), tedy získat funkci ψ = φ + p 2π, kde p je neznámé celé číslo. Nejkratší interval m, na kterém se φ změní o 2n, určíme z podmínky:
ΔΦί = Φί+ι ~Φί = y ΔΟΡΰί < 2π ’ přičemž levá strana nerovnice bude největší pro λ — Ámin an = nmax. Po úpravě dostáváme:
žmín m = ai+1 — Oj <
2(nn
-n0) '
-8CZ 28139 Ul
Maximální interval vzorkování Δζ^ volíme menší než m/3 a tedy Δζ < *min—
6(Pmax nol
Navazování funkce φ se provádí v prostoru (x,y,z). Hodnotu parametru p není nutné znát, protože pro výpočet prostorového rozložení indexu lomu uvnitř měřeného vzorku 1, tj. průměrné hodnoty indexu lomu ňi(x,y) na každém intervalu Zzí; je potřeba znát změnu rozdílu fází Δφ( a jelikož platí: Δφι = Δψι,ΐ& tedy:
ň£(x,y)
Δψιίχ,γ') λ 4π Δζι + η0.
Fázového zobrazení lze využít také k upřesnění polohy částic fluorescenčního barviva ve směru optické osy.
Průmyslové využití interferometrického systému dle technického řešení je např, pro kvantitativní monitorování změn prostorového rozložení buněčné hmoty v čase v závislosti na vnějších podmínkách, tj. pozorování např. živých buněčných kultur a mikroorganizmů a jejich reakci na různé vnější podněty např. tlak, teplota, toxické látky, léčiva apod. Index lomu buněčných struktur je totiž přímo úměrný hustotě hmoty v těchto strukturách obsažené.
NÁROKY NA OCHRANU

Claims (13)

  1. NÁROKY NA OCHRANU
    1. Interferometrický systém zahrnující externí zdroj záření, první větev (9.1) a druhou větev (9.2), soustavu odražečů a detektor (5) umístěný ve výstupní obrazové rovině (8.2), kde první větev (9.1) zahrnuje první vstupní zobrazovací soustavu (2.1) a první výstupní zobrazovací soustavu (3.1) a druhá větev (9.2) zahrnuje druhou vstupní zobrazovací soustavu (2.2), přičemž první vstupní zobrazovací soustava (2.1) a druhá vstupní zobrazovací soustava (2.2) jsou umístěny v jedné ose proti sobě tak, že mají společnou předmětovou rovinu (8.1) opticky sdruženou s výstupní obrazovou rovinou (8.2), vyznačující se tím, že v rovině opticky sdružené s předmětovou rovinou (8.1) dále zahrnuje alespoň jednu difrakční mřížku (7) pro vytvoření achromatického hologramu s prostorovou nosnou frekvencí ve výstupní obrazové rovině (8.2).
  2. 2. Interferometrický systém podle nároku 1, zahrnující prodlužovací prvek (4.1) pro nastavení shodných optických délek obou větví.
  3. 3. Interferometrický systém podle nároku 1 nebo 2, zahrnující druhou výstupní zobrazovací soustavu (3.2).
  4. 4. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků 1 až 3, vyznačující se tím , že soustava odražečů je uzpůsobena tak, že je na detektor (5) směrován nenulový difrakční řád záření difraktovaného na zmíněné difrakční mřížce (7).
  5. 5. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků laž4, vyznačující se tím, že pro získání obrazové informace využívá záření z externího zdroje, které interagovalo se vzorkem (1).
  6. 6. Interferometrický systém podle nároku laž4, vyznačující se tím, že získává obrazovou informaci ze záření emitovaného vzorkem (1).
  7. 7. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků lažó, vyznačující se tím, že stupeň koherence detekovaného záření je nízký.
  8. 8. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků laž7, vyznačující se tím, že první výstupní zobrazovací soustava (3.1) a druhá výstupní zobrazovací soustava (3.2) mají alespoň jeden optický prvek společný.
    -9CZ 28139 Ul
  9. 9. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků laž8, vyznačující se tím, že difrakční mřížka (7) je provedena jako transmisní amplitudová difrakční mřížka (7) nebo transmisní fázová difrakční mřížka (7).
  10. 10. Interferometrický systém, podle kteréhokoliv z nároků laž8, vyznačující se tím, že difrakční mřížka (7) je provedena jako reflexní amplitudová difrakční mřížka (7) nebo reflexní fázová difrakční mřížka (7).
  11. 11. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků lažlO, vyznačující se tím, že zahrnuje alespoň jeden prvek s měnitelnou ohniskovou vzdáleností.
  12. 12. Interferometrický systém kteréhokoliv z nároků 1 až 11, vyznačující se tím, že difrakční mřížka (7) je vyměnitelná.
  13. 13. Interferometrický systém podle kteréhokoliv z nároků lažl2, vyznačující se tím, že k detektoru (5) je připojena výpočetní jednotka pro numerické zpracování výstupu.
    7 výkresů
    Seznam vztahových značek:
    I vzorek
    2.1 první vstupní zobrazovací soustava
    2.2 druhá vstupní zobrazovací soustava
    3.1 první výstupní zobrazovací soustava
    3.2 druhá výstupní zobrazovací soustava
    4.1 první prodlužovací prvek
    4.2 druhý prodlužovací prvek
    5 detektor
    6 záření z externího zdroje
    7 difrakční mřížka
    7.1 první difrakční mřížka
    7.2 druhá difrakční mřížka
    8.1 předmětová rovina
    8.2 výstupní obrazová rovina
    8.3 první primární obrazová rovina
    8.4 druhá primární obrazová rovina
    9.1 první větev
    9.2 druhá větev
    10 společná zobrazovací soustava
    II osa svazku v nultém difrakčním řádu
    12 výstupní soustava odražečů.
CZ2014-30127U 2014-10-20 2014-10-20 Interferometrický systém CZ28139U1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2014-30127U CZ28139U1 (cs) 2014-10-20 2014-10-20 Interferometrický systém

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CZ2014-30127U CZ28139U1 (cs) 2014-10-20 2014-10-20 Interferometrický systém

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CZ28139U1 true CZ28139U1 (cs) 2015-04-28

Family

ID=53266809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CZ2014-30127U CZ28139U1 (cs) 2014-10-20 2014-10-20 Interferometrický systém

Country Status (1)

Country Link
CZ (1) CZ28139U1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Slabý et al. Off-axis setup taking full advantage of incoherent illumination in coherence-controlled holographic microscope
JP6438054B2 (ja) 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法
JP6622154B2 (ja) 波面制御器を用いた3次元屈折率映像撮影および蛍光構造化照明顕微鏡システムと、これを利用した方法
CN106415354B (zh) 显微镜装置以及图像获取方法
US7924432B2 (en) Three-dimensional interferometric microscopy
US20160124208A1 (en) Method and apparatus for combination of localization microscopy and structured illumination microscopy
US20150292941A1 (en) Modal decomposition of a laser beam
US20170322151A1 (en) Interferometric System and Method of Measurement of Refractive Index Spatial Distribution
KR20150087578A (ko) 회절 위상 현미경 시스템 및 이를 이용한 측정방법
CN112798564A (zh) 随机光学重建与结构光照明复合超分辨成像系统
EP0835432B1 (en) Imaging and characterisation of the focal field of a lens by spatial autocorrelation
CN115096857A (zh) 一种基于艾里光片线扫描的oct成像方法和装置
CZ302491B6 (cs) Interferometrický systém s prostorovou nosnou frekvencí zobrazující v polychromatickém zárení
JP2018072111A (ja) 光画像計測装置、光画像計測方法
CZ28139U1 (cs) Interferometrický systém
JP4698992B2 (ja) 試料計測装置及び計測方法
JP6623029B2 (ja) 光学的距離計測装置
Machikhin et al. Single-shot multi-spectral digital holographic imaging through acousto-optic wavelength scanning
RU2673784C1 (ru) Двухкомпонентный интерферометр общего пути
Yuan et al. Optical diffraction tomography based on quadriwave lateral shearing interferometry
Seniya A flexible low-cost quantitative phase imaging microscopy system for label-free imaging of multi-cellular biological samples
Schnitzler et al. Holographic imaging of particles with Lloyd’s mirror interferometer
de Leon Optical design of volume holographic imaging systems for microscopy
Borisov et al. Modulation spectra of volume holograms recorded in additively colored fluorite crystals
Müller et al. Differential interferometric particle tracking on the subnanometer-and submillisecond-scale

Legal Events

Date Code Title Description
FG1K Utility model registered

Effective date: 20150428

ND1K First or second extension of term of utility model

Effective date: 20181009

MK1K Utility model expired

Effective date: 20211020