CS272641B1 - Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction - Google Patents

Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction Download PDF

Info

Publication number
CS272641B1
CS272641B1 CS51889A CS51889A CS272641B1 CS 272641 B1 CS272641 B1 CS 272641B1 CS 51889 A CS51889 A CS 51889A CS 51889 A CS51889 A CS 51889A CS 272641 B1 CS272641 B1 CS 272641B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
interferometer
image
holographic
objectives
observation
Prior art date
Application number
CS51889A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS51889A1 (en
Inventor
Milan Csc Drzik
Original Assignee
Milan Csc Drzik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Milan Csc Drzik filed Critical Milan Csc Drzik
Priority to CS51889A priority Critical patent/CS272641B1/cs
Publication of CS51889A1 publication Critical patent/CS51889A1/cs
Publication of CS272641B1 publication Critical patent/CS272641B1/cs

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

1 CS 272641 B1
Vynález sa týká holografického interferometra na meranie premiestnení kolmých nasměr pozorovania na povrchoch difúzne odrážajúcich objektov,
Doteraz známe optické metody založené na vlastnostiach koherentného světla využí-vají! na meranie pol’a premiestnení pri deformácii difúzne. odrážajúcich objektov bu5 ho-lografické bezšoSovkové schémy, alebo dvojexpozičné fotografovanie v kóherentnom svět-le tzv. „speckle interferometria". nevýhodami holografických bezšošovkových schém súnajma velká citlivost1 na nežiadúce vonkajšie vplyvy a komplikované vyhodnotenie získá-nej informácie, Siršiemu využitiu speckle interferenčných technik v technickej a labo-ratorně j praxi bránia také problémy, ako je nízká dosiahnutelná citlivost’ merania naj-menších premiestnení, ktorá je řádové nižšia ako pri holografickej interferometr!!,malý rozsah meraných hodnot premiestnení a značná nepřesnost merania zaviněná limitova-nou technickou kvalitou objektívov s velkou uhlovou aperturou.
Uvedené nedostatky v podstatnej miere odstraňuje holografický interferometer nameranie premiestnení kolmých na směr pozorovania podl'a vynálezu, ktorého podstata spo-čívá v tom, že v predmetovej vzdialenosti od difúzne odrážajúceho objektu sú symetric-ky vedla seba a navzájom rovnoběžnými optickými osami umiestnené dva identické objek-tivy a zrkadlá alebo hranoly, ktoré sú umiestnené v střede optických dráh objekt -- obraz, pričom spoločný obraz hologramu sa nachádza v obrazovej rovině objektívov.
Holografický interferometer na meranie premiestnení kolmých na směr pozorovaniapodía vynálezu umožňuje na rozdiel od obvyklej schémy speckle interferometrie priamesnímanie interferenčných čiar premiestnení na povrchu objektu s až 5-násobne vyššou cit-livosťou merania najmenších premiestnení a súčasne s podstatné menšími chybami zapří-činěnými nedokonalosťou objektívov. Citlivost’ merania najmenších premiestnení je limi-tovaná iba najvačším zorným uhlom objektívov. Dčsledkom toho je aj zlepšená možnost*merania rozměrných konštrukcií, keSže na rozdiel od klasickej speckle interferometriehranica citlivosti holografického interferometre podlá vynálezu nie je obmedzená aper-túrou a teda fyzickou velkosťou zobrazujúceho objektivu. lnou výhodou holografickéhointerferometre podlá vynálezu je možnost’ snímania interferogramov v reálnom čase.z to-hoto dovodu tiež holografický interferometer umožňuje uskutočniť namiesto fotografic-kého snímania informácie snímanie pomocou televíznej kamery. Interferometer podlá vy-nálezu možno použit’ aj na priamy optický záznam poměrných deformácii na meranom povr-chu tak, že sa snímá záznam nepatrné navzájom posunutých obrazov objektu, pričom sazískajú izočiary poměrných deformácii. fialšou výhodou holografického interferometrepodlá vynálezu je schopnost’ potlačenia javu dekorelácie dvojexpozičných záznamov pomo-cou zmenšovania apertúrnych otvorov zobrazujúcich objektívov. Takto sa obmedzí neŽia-dúci vplyv nekontrolovaného premiestnenia objektu ako celku pri snímaní premiestnení.Interferometer možno tiež použiť v jednoexpozlčnom režime v podobě kompaktnej kameryna záznam zobrazovacích hologramov dovolujúcich rekonstrukciu v bielom svetle.
Ha priloženom výkrese je znázorněná základná optická schéma holografického inter-ferometrů.
Holografický interferometer na meranie premiestnení kolmých na směr pozorovaniapodlá vynálezu je založený na využití vzájomnej interferencie světelných lúčov, ktorésa odrazili od difúzne rozptylujúceho povrchu objektu 1 v dvoch róznych smeroch. lúšepo odraze od objektu _1 prechádžajú dvorná kanálmi optického zápisu informácie, z kte-rých každý obsahuje objektiv 2, 3 a optický prvok ako zrkadlo, hranol 4, 5, apod, za-bezpečujúei nasmerovanie zobrazujúcich lúčov do spoločnej obrazovej roviny. Tu sa vy-tvára překrýváním obrazov premietnutých oboma objektívmi £, 3 spoločný obraz meranéhoobjektu 1. luče prichádzajúce z dvoch roznych smerov vzájomne interferujú a vytvárajúhologram 6. Pri premiestnení uvažovaného bodu objektu 1 v smere kolmom na směr pozoro-vania prichádza k zmene dráhového (fázového) rozdielu lúčov idúcich prvým a druhým ka-nálom. Tieto fázové změny vytvoria potom při rekonštrukcii dvojexpozičného hologramu

Claims (1)

  1. CS 272641 B1 2 interferenčný obrazec. Jeho čiary sú izočiarami premiestnení bodov povrchu objektu 1.v smere súhlasnom so spojnicou stredov zobrazujúcich objektívov 2, 3. Holografický interferometer na meranie premiestnení kolmých na směr pozorovaniasa može využit’ pri riešení problémov základného a aplikovaného výskumu-z hlediska pružnosti a pevnosti materiálov. Jeho využitie je možné pri testovaní a defektoskopickýchskúškach v strojárstve, v elektrotechnike, jemnej mechanike i optike a všade tam, kdesú potřebné merania mikroskopických deformácií. Relativné velká odolnosť voči vonkaj-'ším nepriaznivým vplyvom dovoluje použiť holografický interferometer podl’a vynálezu voformě špeciálnej kamery aj v podmienkach továrenskej a dielenskej výroby. PREDMET VYNÁLEZU Holografický interferometer na meranie premiestnení kolmých na směr pozorovaniapomocou dvojexpozičného snímania v koherentnom svetle, vyznačujúci sa tým, že v pred-metovej vzdialenosti od difúzne odrážajúceho objektu (1) sú symetricky vedla seba snavzájom rovnoběžnými optickými osami umiestnené dva identické objektivy (2, 3) a zr-kadlá alebo hranoly (4, 5), ktoré sú umiestnené v střede optických dráh objekt - ob-raz, pričom spoločný obraz hologramu (6) sa nachádza v obrazovej rovině objektívov(2, 3). 1 výkres
CS51889A 1989-01-26 1989-01-26 Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction CS272641B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS51889A CS272641B1 (en) 1989-01-26 1989-01-26 Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS51889A CS272641B1 (en) 1989-01-26 1989-01-26 Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS51889A1 CS51889A1 (en) 1990-05-14
CS272641B1 true CS272641B1 (en) 1991-02-12

Family

ID=5337399

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS51889A CS272641B1 (en) 1989-01-26 1989-01-26 Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS272641B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS51889A1 (en) 1990-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4884697A (en) Surface profiling interferometer
US5493398A (en) Device for observing test-piece surfaces by the speckle-shearing-method for the measurement of deformations
An Industrial applications of speckle techniques
EP0549516B1 (en) Method and apparatus for measuring optical properties of optical devices
US4577940A (en) Moire microscope
Takacs et al. Surface profiling interferometer
Tay et al. The measurement of slope using shearography
CS272641B1 (en) Holographical interferometer for measuring displacements normal to observation direction
KR101050071B1 (ko) 측정 대상물을 측정하기 위한 거울 장치를 포함하는 간섭측정 장치
JP4286001B2 (ja) 干渉計におけるコヒーレントアーティファクトの低減
JPH0447222A (ja) 高精度位置比較装置
De Backer In-plane displacement measurement by speckle interferometry
JPH0755638A (ja) 光学系の焦点距離測定装置及び測定方法
Accardo et al. The use of speckle interferometry in the study of large works of art
RU1836622C (ru) Способ записи двухэкспозиционной голографической интерферограммы
JPH07311117A (ja) 多眼レンズ位置測定装置
JPS62106310A (ja) 平行平面板の平行度測定装置
JPH01235807A (ja) 深さ測定装置
JPS6242327Y2 (cs)
Munnerlyn The design and application of a surface-measuring interferometer
JPH02242103A (ja) 多種の用途に独立かつ選択的に操作可能な光学的検査装置
JPH08122238A (ja) ビッカース硬さ試験機
JPS63223510A (ja) 面形状測定装置
Wyant Optical Gauging Principles
JPH0755640A (ja) 光学系の焦点距離測定装置および測定方法