CS268061B1 - Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení - Google Patents

Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení Download PDF

Info

Publication number
CS268061B1
CS268061B1 CS863106A CS310686A CS268061B1 CS 268061 B1 CS268061 B1 CS 268061B1 CS 863106 A CS863106 A CS 863106A CS 310686 A CS310686 A CS 310686A CS 268061 B1 CS268061 B1 CS 268061B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
layer
base
semiconductor material
transistor
main electrode
Prior art date
Application number
CS863106A
Other languages
English (en)
Other versions
CS310686A1 (en
Inventor
Libor Ing Kalenda
Ilja Prom Fyz Muller
Bohumil Ing Pina
Jaroslav Rndr Zamastil
Jaroslav Rndr Homola
Original Assignee
Kalenda Libor
Muller Ilja
Pina Bohumil
Zamastil Jaroslav
Homola Jaroslav
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kalenda Libor, Muller Ilja, Pina Bohumil, Zamastil Jaroslav, Homola Jaroslav filed Critical Kalenda Libor
Priority to CS863106A priority Critical patent/CS268061B1/cs
Publication of CS310686A1 publication Critical patent/CS310686A1/cs
Publication of CS268061B1 publication Critical patent/CS268061B1/cs

Links

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Abstract

Řešení se týká výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou proti přepětí anapětovému přetížení, tvořeného alespoň jedním stupněm. Podstata řešení spočívá v tom, že pod kontaktem báze, vodivě spojeným s třetí hlavní elektrodou je vymezena lokální oblast, v níž tloušťka vrstvy, základního polovodičového materiálu je o 10 % až 60 % menší než ve zbývající části průřezu téhož stupně tranzistoru.

Description

Vynález se týká výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou proti přepětí a napěťovému přetížení.
Nevýhodou stávajících konstrukcí výkonových tranzistorů je nízká odolnost tranzistoru proti přepětí a napěťovému přetížení jak v oblasti kontroly napiti u výrobce, tak v provozu.
U bípolárních tranzistorů se proto používají tzv. plovoucí ochrany nebo R-C-D ochrany, což jsou vnější obvodové ochrany, které zpomalují nárůst napětí Un_. ,
Nevýhodou těchto vnějších ochran je použití řady diskrétních součástek, což vede ke složitějším obvodům a dalším nárokům na zastavěný prostor v polovodičových aplikacích.
Řešení výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou pioti přepití a napěťovému přetížení podle vynálezu odstraňuje uvedené nevýhody a jeho podstata spočívá v tom, že pod kontaktem báze, vodivé spojeným s třetí hlavní elektrodou je vymezena lokální oblast, v níž tloušťka vrstvy základního polovodičového materiálu je o 10 až 60 % menší než ve zbývající části průřezu téhož stupni tranzistoru.
Příklad provedení výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou proti přepití a napěťovému přetížení podle vynálezu je znázorněn na výkresu, kde na obr. 1 je schéma náhradního zapojení vícestupňového bipolárního tranzistoru typu Darlington a na obr. 2 je řez strukturou jednoho stupni výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou proti přepití a napěťovému přetížení.
V Darlingtonově- zapojení podle obr. 1 je v náhradním schématu naznačen první a poslední tranzistorový stupin, přičemž k třetí hlavníelektrod? B prvního stupn? je zapojena anoda lavinové diody, jejíž katoda je spojena s první hlavní elektrodou K všech tranzistorových stupňů. t ,
Tranzistor obsahuje podle obr. 2 vrstvu 1 základního polovodičového materiálu, k jejíž jedné stran? přiléhá vnější vysoce dotovaná vrstva 2, která je spojena s první hlavní elektrodou K a která je stejného typu elektrické vodivosti jako vrstva 1 základního polovodičového materiálu, k jejíž druhé stran? přiléhá bázová vrstva 3 opačného typu elektrické vodivostí, která s ní tvoří p-n přechod. Bázová vrstva 3 je jednak na íásti plochy opatřena kontaktem 6 báze, vodivě spojeným s třetí hlavní elektrodou B a jednak na části průřezu emitórovou vrstvou 4, opatřenou kontaktem 5 emitoru. Kontakt 5 cmitoru je vodiví spojen s druhou hlavní elektrodou E nebo s kontaktem báze dalšího stupně tranzistoru.
Pod kontaktem 6 báze je vymezena lokální oblast 8, v níž tlouštka vrstvy 1 základního polovodičového materiálu je o 10 % menší než ve zbývající části průřezu. Funkce integrované ochrany proti přepětí a napěťovému přetížení je patrná z obr. 1, kde je schematickou značkou lavinové diody označeno místo s nejnižším průrazným napětím, které leží ve vymezené lokální oblasti 8 na obr. 2. Po překročení tohoto napětí při přiložení napětí mezi kolektorem a emitorem teče proud lavinovou diodou do báze tranzistoru, kde způsobí zapnutí tranzistoru. Po snížení přepětí pod hodnotu průrazného napětí ochranné oblasti tranzistor opět vypíná a vrací se do uzavřeného stavu.
Vymezená lokální oblast 8 má nejnižší napětí kolcktor-báze a zároveň nejnižší napětí kolektor-emitor,a vysokou proudovou zatížitelnost v závěrném směru. Při zatížení tranzistoru napětím kolektor-emitor vyšším, než je průrazné napětí vymezené lokální oblasti 8, teče proud od kolektoru K přes vysoce dotovanou vrstvu 2 a vymezenou oblastí 8 do bázové vrstvy 3 a dále přes emitorovou vrstvu 4 do kontaktu emitoru 5. Proud má stejný účinek jako bázový proud, který zapíná tranzistor. Po zapnutí tranzistoru dochází k růstu kolektorového proudu a ke snížení přepětí na tranzistoru.
. Technologicky je struktura výkonového bipolárního tranzistoru s integrovanou ochranou proti přepětí a napěťovému přetížení podle vynálezu vyrobena např. odleptáním části povrchové
- *2'
CS 268 061 Bl vrstvy tranzistoru před vytvořením koncentračního profilu p-báze nebo lokální difúzí difuzantu s vyšším difuzním koeficientem. ’ i
Oblastí využití vynálezu jsou zejména výkonové tranzistory pro vysoké napětí, určené pro provoz ve spínacím režimu s indukční zátěží.

Claims (1)

  1. I -------—— -PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napěťovému pře- í tížení, tvořený alespoň jedním tranzistorovým stupněm, obsahujícím vrstvu'základního polo- ' vodičového materiálu, který přiléhá z jedné strany k vnější vysoce dotované vrstvě, vodivě spojené s první hlavní elektrodou a stejného typu elektrické vodivosti jako vrstva základního polovodičového materiálu, zatímco z druhé strany přiléhá k vrstvě základního polovodičového materiálu bázová vrstva opačného typu elektrické vodivosti než vrstva základního polovodičového materiálu, přičemž bázová vrstva je na vnější ploše opatřena jednak kontaktem báze, vodivě spojeným s třetí hlavní elektrodou a jednak emitorovou vrstvou, opatřenou kontaktem emitoru, který je vodivě spojen s druhou hlavní elektrodou nebo s kontaktem báze dalšího tranzistorového stupně, vyznačující se tím, že pod kontaktem /6/ báze, vodivě spojeným s třetí hlavní elektrodou /B/, je vymezena lokální oblast /8/, v níž tloušťka vrstvy * /1/ základního polovodičového materiálu je o 10 až 60 menší než ve zbývající části pruřezu téhož stupně tranzistoru. -i
CS863106A 1986-04-29 1986-04-29 Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení CS268061B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS863106A CS268061B1 (cs) 1986-04-29 1986-04-29 Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS863106A CS268061B1 (cs) 1986-04-29 1986-04-29 Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS310686A1 CS310686A1 (en) 1989-08-14
CS268061B1 true CS268061B1 (cs) 1990-03-14

Family

ID=5370172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS863106A CS268061B1 (cs) 1986-04-29 1986-04-29 Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS268061B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS310686A1 (en) 1989-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5164802A (en) Power vdmosfet with schottky on lightly doped drain of lateral driver fet
US8803276B2 (en) Electrostatic discharge (ESD) device and method of fabricating
EP1033757B1 (en) Insulated gate bipolar transistor
US6888710B2 (en) Insulated gate bipolar transistor and electrostatic discharge cell protection utilizing insulated gate bipolar transistors
US5341003A (en) MOS semiconductor device having a main unit element and a sense unit element for monitoring the current in the main unit element
US5469103A (en) Diode circuit for high speed switching transistor
US5023692A (en) Power MOSFET transistor circuit
CN107528304A (zh) 瞬态电压保护电路、装置和方法
US20230152830A1 (en) Device design for short-circuit protection of transistors
KR20010102167A (ko) 개선된 esd 다이오드 구조
US4656491A (en) Protection circuit utilizing distributed transistors and resistors
EP0177665B1 (en) Self turnoff type semiconductor switching device
US4980741A (en) MOS protection device
EP0512605A1 (en) Power device having reverse-voltage protection
EP0385450A2 (en) Semiconductor device with MIS capacitor
JPH0282533A (ja) バイポーラ・トランジスタ
US5559347A (en) Insulated gate-type bipolar transistor
CS268061B1 (cs) Výkonový bipolární tranzistor s integrovanou ochranou proti přepětí a napětovému přetížení
Laur et al. A new circuit-breaker integrated device for protection applications
EP0045310A4 (en) CONTROL CIRCUIT USING A FLAP TRANSISTOR FOR HIGH VOLTAGE SEMICONDUCTOR SWITCHES.
KR890008979A (ko) 모놀리식 과전압 보호용 어셈블리
US6303964B1 (en) Circuit device for protection against electrostatic discharge, immune to the latch-up phenomenon
JPS63148671A (ja) 半導体集積回路装置の静電破壊防止装置
JPS61158175A (ja) プレ−ナ型トランジスタ装置
US8748255B2 (en) Method of manufacturing an electrostatic protection device