CS251493B1 - High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits - Google Patents
High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits Download PDFInfo
- Publication number
- CS251493B1 CS251493B1 CS853593A CS359385A CS251493B1 CS 251493 B1 CS251493 B1 CS 251493B1 CS 853593 A CS853593 A CS 853593A CS 359385 A CS359385 A CS 359385A CS 251493 B1 CS251493 B1 CS 251493B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- output
- input
- level
- driver
- inputs
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 claims description 4
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 claims description 4
- 230000011664 signaling Effects 0.000 claims 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000004577 thatch Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
ČESKOSLOVENSKÁ SOCIALISTICKÁ R F P U R 1 I |f A POPIS VYNÁLEZU 251493 (11) (Bl) (19) K AUTORSKÉMU OSVEDČENIU yo) (22) Přihlášené £70 05 85(21) (PV 3593-85) (51) Int. Cl.4 G 01 R 35/00 i Ml) (40) Zverejnené 16 12 85 ÚŘAD PRO VYNÁLE2Y A OBJEVY (45) Vydané 15 08 88 í 75'
Autor vynalezu BOLEDOVIČ MARIÁN ing., PIEŠŤANY (54) Zapojenie vysakoúrovňavcj vývodovej elektroniky pre testovanieintegrovaných obvcdov 1
Vynález sa týká zapojenia vysokoúrovňo-vej vývodovej elektroniky pre testovanieintegrovaných obvodov. Vývodová elektronika pre jeden vývodintegrovaného obvodu sa nachádza na jed-nej doske a celkové zapojenie potřebnéhopočtu dosiek tvoří mernú hlavicu, ktorá u-možňuje styk testera s merauým obvodom.Doska vývodovej elektroniky pre každý vý-vod umožňuje budenie, sledovanie a kompa-ráciu s nastavenými úrovňami, prepínaniestavu budenia a sledovania, napájací režimi pripnutie jednotky přesného merania nameraný vývod integrovaného obvodu. Bude-nie zabezpečuje budič, sledovanie a kom-paráciu komparátor, prepínanie stavu bu-denia a sledovainia spínač a pripnutie jednot-ky přesného merania a celkové pripojeniedošky reléová jednotka.
Podobné zapojenie vysokoúrovňovej vý-vodovej elektroniky sa doteraz riešili roz-nymi prístupmi. Hlavnými nedostatkamitýchto riešení okrem vel'kej zložitosti aspotřebovaného výkonu a rozmerov súhlavně nedostatočné parametre v amplitu-dové], časovej a výkonovej oblasti. Tietoriešenia neumožňujú súčasne požadovanýrozkmit vstupných a výstupných impulzov,požadované doby náběhu a dobehu hránimpulzov, požadovanú maximálnu opakova- 2 ciu frekvenciu budiacich a sledovaných im-pulzov, ktorá je potřebná pre dodržanlerýchlosti testovania a požadovaný výstupnýodpor budiča a maximálny dodávaný prúd.
Zapojenie podl'a vynálezu spolupracuje stesterom integrovaných obvodov a umožňu-je tvorbu budiacich signálov v analógoveja časovej oblasti a tiež analogové a časovéspracovanie meraných impulzov z integro-vaného obvodu podlá hodnot parametrovvložených do programu pre riadenie testo-vacej postupnosti.
Podstata zapojenia vysokoúrovňovej vý-vodovej elektroniky podl’a vynálezu spočíváv tom, že výstup obvodov regenerácie im-pulzu je spojený s prvým vstupom úrovňo-vého prevodníka. Generátor testovacej po-stupnosti je připojený na druhý linkovýspínač. Výstup druhého linkového snímačaje připojený na vstup prepínača módu, kto-rého výstup je připojený na druhý vstupúrovňového prevodníka, ktorého výstupy súpřipojené na vstup budiča dolnej úrovně avstup budiča hornej úrovně. Výstup budiča dolnej úrovně je vstupomspínača dolnej úrovně a výstup budiča hor-nej úrovně je vstupom spínača hornej úrov-ně. Analogové vstupy spínačov sú připojenéna zosilňovač napatia dolnej úrovně a zo-silňovač napatia hornej úrovně. Výstupy 251493 251493 3 spínačov sú spojené do jedného bodu a při-pojené na obvody ochrany a obmedzeniasignálov, ktorých výstup je vstupom reléo-vej jednotky. Výstup reléovej jednotky je výstupom sa-motného budiča a vstupom kopiparátora,ktorý je cez reléovú jednotku s ňou spojenýa jeho ďalšie analogové vstupy impedanč-ných prevodníkov dolnej úrovně a hornejúrovně sú připojené na zdroje referenčnéhonapatia dolnej a hornej úrovně. Výstupy impedančných prevodníkov súpřipojené na vstupy prevodníkov dolnej ahornej úrovně. Výstupy prevodníkov úrovnísú připojené na vstupy vlastných kompará-torov dolnej a hornej úrovně, ktorých vý-stupy a výstup obvodov nastavenia onesko-renia nábcžnej a dobežnej hrany vstupnéhoimpulzu sú vstupmi multiplexora, ktoréhovýstup je připojený na vyhodnocovací vý-stup vývodovej elektroniky.
Zapojenie vysokoúrovňovej vývodovej e-lektroniky podl'a vynálezu je názorné vy-světlené pomocou blokovej schémy na ob-rázku 1. Celkové zapojenie možno rozdělitna dva funkčně celky, a to budič a kompa-rátor. Niektoré obvody sú spoločné pre obacelky, a to ochranné a obmedzovacie obvo-dy, reléová matica, vstupné obvody.
Generátor 324 testovacej postupnosti jepřipojený na linkový prímač 414. Jeho vý-stup 4142 je připojený na vstup 4131 obvo-dov 413 nastavenia oneskorenia nábežnej adobežnej hrany vstupného impulzu, ktorýchvýstup 4132 je spojený so vstupom 191 ob-vodov 13 regenerácie impulzu. Ich výstup192 je připojený na prvý vstup 111 úrovňo-vého prevodníka 11. Výstup 4112 druhéholinkového prímača 411 je připojený na vstup 1101 prepínača 110 módu, ktorého výstup 1102 je připojený na druhý vstup 112 úrov-ňového prevodníka 11. Jeho výstupy 113 a114 sú připojené na vstup 121 budiča 12dolnej úrovně a vstup 131 budiča 13 hornejúrovně. Výstup 122 budiča 12 dolnej úrovně jepřipojený na vstup 141 spínača 14 dolnejúrovně a výstup 132 budiča 13 hornej úrovněje připojený na vstup 151 spínača 15 hornejúrovně. Analogový vstup 142 spínača 14dolnej úrovně je připojený na zosilňovač314 napatia dolnej úrovně a analogový vstup152 spínača 15 hornej úrovně je připojenýna zosilňovač 315 napatia hornej úrovně. Výstup 143 spínača 14 dolnej úrovně jespojený s výstupom 153 spínača 15 hornejúrovně do jedného bodu 461, ktorý je při-pojený na obvody 46 ochrany a obmedzeniasignálov. Ich výstup 462 je připojený na re-léovú jednotku 47, ktorej výstup 472 je vý-stupom samotného budiča a vstupom kom-parátora. Analogový vstup 262 impedančné-ho prevodníka 28 dolnej úrovně je připojenýna zdroj 326 referenčného napatia dolnejúrovně a analogový vstup 272 impedančnéhoprevodníka 27 hornej úrovně je připojený 4 na zdroj 327 referenčného napatia hornejúrovně. Výstup 263 impedančného prevodníka 26dolnej úrovně je připojený na vstup 241prevodníka 24 úrovně dolnej a výstup 273impedančného prevodníka 27 hornej úrovněje připojený na vstup 251 prevodníka 25 ú-rovne hornej. Výstup 242 prevodníka 24úrovně dolnej je připojený na vstup 221vlastného komparátora 22 dolnej úrovně avýstup 252 prevodníka 25 úrovně hornej jepřipojený na vstup 231 vlastného kompará-tora 23 hornej úrovně. Výstup 222 vlastného komparátora 22 dol-nej úrovně je připojený na prvý vstup 211multiplexora 21, výstup 232 vlastného kom-parátora 23 hornej úrovně je připojený nadruhý vstup 212 multiplexora 21. Výstup4133 obvodov 413 nastavenia oneskorenianábežnej a dobežnej hrany vstupného im-pulzu je připojený na třetí vstup 213 multi-plexora 21. Výstup 214 multiplexora 21 jevstupom 281 obvodov 28 nastavenia onesko-renia nábežnej a dobežnej hrany výstupnéhoimpulzu, ktorých výstup 2E2 je připojenýna vstup 291. výstupného budiča 29, ktoréhovýstup 292 je připojený na vyhodnocovacívstup testera. Základnou funkciou budiča je tvorba bu-diacich signálov pre meraný obvod.
Vstupom budiča sú referenčně data, pri-vádzané z generátore 324 testovacej postup-nosti. Linkový prímač 414 spracuje datanášajúce časovú informáciu do požadova-ných logických úrovní, v obvodoch 413 na-stavenia oneskorenia nábežnej a dobežnejhrany vstupného impulzu sa vyrovnajú o-neskorenia prenosovej cesty a stavebnýchblokov a cez obvody 19 regenerácie impulzusa riadi úrovňový převodník 11, ktorý podfahodnoty druhého vstupu 112, ktorý je při-pojený na výstup 1102 prepínača HO módu,zabezpečuje alebo normálnu činnost budi-ča, číže generáciu hornej a dolnej úrovněimpulzu, alebo stav zvýšenej impedancie,kedy nie je definovaná dolná ani horná ú-roveň impulzu.
Podnět na prepnutie do stavu zvýšenejimpedancie prichádza z generátore 32,4 tes-tovacej postupnosti na linkový prímač 411,ktorého výstup 4112 riadi přepínač 110 mó-du. Úrovňový převodník 11 svojimi výstupmi113 a 114 ovládá budič 12 dolnej úrovně abudič 13 hornej úrovně, ktoré striedavospínajú spínač 14 dolnej úrovně alebo spí-nač 15 hornej úrovně.
Keďže výstupy 143 a 153 spínačov 14 a 15dolnej úrovně a hornej úrovně sú spojenédo jedného bodu 461, objavuje sa v tomtobode striedavo napatie zo zosilňovača 314napatia dolnej úrovně, alebo napatia zo zo-silňovača 315 napatia hornej úrovně. Tentoimpulzný priebeh prechádza cez ochrannéa obmedzovacie obvody 46 a reléovú jed-notku 47 na samotný výstup 472 budiča,ktorý je spojený s vývodom meraného ob-vodu.
Claims (1)
- 2 510 3 Základnou funkciou komparátora je sle-dovanie a porovnáváme napáťového priebe-hu na výstupe meraného obvodu s referenč-nými úrovňami a s referenčnými časovýmipriebehmi, ktoré sú spoločné aj pre budič,aj komparátor. Komparátor sa dá odpojitod meraného obvodu pomocou reléovej jed-notky 47. Napáťový priebeh z meraného ob-vodu po přechode cez reléová jednotku 47prichádza na vstup 261 impedančného pre-vodníka 26 dolnej úrovně a na vstup 271impedančného prevodníka 27 hornej úrov-ně. Tu sa porovnává s referenčným napatímdolnej úrovně, přivedeným zo zosilňovača327 napatia dolnej úrovně na vstup 262 a sreferenčným napatím hornej úrovně přive-deným zo zosilňovača 326 napatia hornejúrovně na vstup 272. Napatové priebehy na výstupoch 263 a273 impedančných prevodníkov 26 a 27 dol-nej a hornej úrovně po přechode prevodník-mi 24 a 25 úrovně dolnej a úrovně hornejsú spracované do logických úrovní vlastnýmkomparátorom 23 dolnej úrovně a vlastnýmkomparátorom 22 hornej úrovně. Kompará-cia v časovej oblasti — či vstupný napaťovýpriebeh odpovedá očakávanému priebehu,sa vykonává pomocou multiplexora 21, kto-rého výstup 214 sa spracováva v obvodoch28 nastavenia oneskorenia nábežnej a do-bežnej hrany výstupného impulzu, ktoréupravujú oneskorenie v obvodoch kompará- tóra a po přechode výstupným budičom 29sa výstup 292 komparátora privádza spaťdo testera na ďalšie spracovanie. Elektronické zapojenie popisovaného rie-šenia je obvodovo jednoduché, z běžnýchdostupných súčiastok, přitom dosahuje vý-borné frekvenčně vlastnosti a možnosti ma-ximálneho amplitúdového rozkmitu a maxi-málneho špičkového výkonu prekračujú svelkou rezervou požadované hodnoty. Přitomnie sú extrémně požiadavky na zastavenýpriestor a chladenie. Vhodné zapojenie obvodov budiča umožni-lo vypustit samostatný spínač do 3-ho sta-vu, běžný u doteraz známých riešení. Při-tom rýchlosť prepínania do 3-ho stavu sablíži k samotným frekvenčným vlastnostiambudiča. Možnosti rozkmitu vstupných a vý-stupných signálov, výkonové schopnosti bu-diča, přesnost a rýchlosť komparátora, do-voíujú použit tento typ vývodovej elektroni-ky pre tsstovanie všetkých doteraz známýchlogik integrovaných obvodov a umožňujúpoužitie vývodovej elektroniky aj v oblasti,kde sa požaduje potřeba elektronickéhoprogramovania polovodičových pamatí. Pa-rametre budiča umožňujú jeho použitie akobudiaci generátor pre meracie účely na bu-deme krokových motorov pre vysoké frek-vencie, na budenie výkonových optickýchsystémov, atď. PR E D Μ E T Zapojenie vysokoúrovňovej vývodovej e-lektroniky pretestovanie integrovaných ob-vodov vyznačuje sa tým, že výstup (192) ob-vodov (19) regenerácie impulzu je spojenýs prvým vstupom (111) úrovňového pre-vodníka (11), generátor (324) testovacejpostupnosti je připojený na druhý linkovýprímač (411), pričom jeho výstup (4112)je připojený na vstup (1101) prepínača(110) módu, ktorého výstup (1102) je při-pojený na druhý vstup (112) úrovňovéhoprevodníka (11), ktorého výstupy (113) a(114) sú připojené na vstup (121) budiča (12) dolnej úrovně a vstup (131) budiča (13) hornej úrovně, pričom výstup (122)budiča (12) dolnej úrovně je vstupom (141)spínača (14) dolnej úrovně a výstup (132)budiča (13) hornej úrovně je vstupom (151)spínača (15) hornej úrovně, ďalej ich ana-logové vstupy (142) a (152) sú připojenéna zosilňovač (314) napatia dolnej úrovněa zosilňovač (315) napatia hornej úrovně,pričom výstupy (143) a (153) spínačov (14)a (15) dolnej úrovně a hornej úrovně súspojené do jedného bodu (461) a připojené VYNÁLEZU na obvody (46) ochrany a obmedzenia sig-nálóv, ktorých výstup (462) je vstupom (471) reléovej jednotky (47), ktoréj výstup (472) je výstupom samotného budiča a tiežvstupom (472) komparátora, kíorý je cezreléovu jednotku (47) vstupmi (261) a(271) s ňou spojený a jeho ďalšie analogo-vé vstupy (262) a (272) impedančného pre-vodníka (26) dolnej úrovně a impedančné-ho prevodníka (27) hornej úrovně sú při-pojené na zdroj (326) referenčného napa-tia dolnej úrovně a zdroj (327) referenčné-ho napatia hornej úrovně, pričom výstupy(263) a (273) impedančných prevodníkovsú připojené na vstupy (241) a (251) pre-vodníkov (24) a (25) dolnej úrovně a hor-nej úrovně, pričom ich výstupy (242) a(252) sú připojené na vstupy (221) a (231)vlastných komparátorov (22) a (23) dolnejúrovně a hornej úrovně, ktorých výstupy(222) a (232) a výstup (4133) sú vstupmi(211), (212) a (213) multiplexora (21), kto-rého výstup (214) je připojený na výstupvývodovej elektroniky. 1 list výkresov
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS853593A CS251493B1 (en) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS853593A CS251493B1 (en) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS359385A1 CS359385A1 (en) | 1985-12-16 |
| CS251493B1 true CS251493B1 (en) | 1987-07-16 |
Family
ID=5376462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS853593A CS251493B1 (en) | 1985-05-20 | 1985-05-20 | High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS251493B1 (cs) |
-
1985
- 1985-05-20 CS CS853593A patent/CS251493B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS359385A1 (en) | 1985-12-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4881071A (en) | Transducer for measuring one or more physical quantities or electric variables | |
| EP0749210A3 (en) | Counting circuit for measuring pulse spacing, sampling circuit, skew adjusting circuit, and logic analyzing circuit | |
| EP0318575A1 (en) | Programmable level shifting interface device | |
| CS251493B1 (en) | High-level terminal electronics connection for testing of integrated circuits | |
| KR20050115246A (ko) | 전력 분배 네트워크의 전력 공급 노이즈 결정 회로 구조 및전력 공급 노이즈 결정 방법 | |
| US6489797B1 (en) | Test system including a test head with integral device for generating and measuring output having variable current or voltage characteristics | |
| US4115785A (en) | Open circuit detector for multipoint recorder | |
| SU1575264A1 (ru) | Способ вы влени асинхронного режима электропередачи | |
| SU1307404A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени импульсного тока | |
| SU1026015A2 (ru) | Ультразвуковой расходомер | |
| RU2006002C1 (ru) | Устройство для поверки частотно-импульсных расходомеров | |
| JP2914322B2 (ja) | 超伝導素子の動作試験装置 | |
| SU1448315A1 (ru) | Логический пробник | |
| RU2723968C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| SU1281926A1 (ru) | Устройство дл контрол исправности термоэлектрических преобразователей | |
| SU1108373A1 (ru) | Пробник дл проверки логических устройств на микросхемах эмиттерно-св занной логики | |
| SU1479900A1 (ru) | Способ контрол логических схем | |
| SU917144A1 (ru) | Логический пробник | |
| SU742825A1 (ru) | Компаратор сопротивлений дл контрол подгонки делителей напр жени | |
| JPS57169684A (en) | Testing system for integrated circuit element | |
| RU2006793C1 (ru) | Ультразвуковой преобразователь линейных перемещений | |
| SU1721503A2 (ru) | Ультразвуковое устройство дл контрол качества материалов | |
| JP2535751Y2 (ja) | Ic試験装置 | |
| SU1285413A1 (ru) | Устройство дл проверки логических микросхем | |
| SU1704113A1 (ru) | Способ контрол цифровых схем |