CS243229B1 - Zapojení adresového přepínače - Google Patents

Zapojení adresového přepínače Download PDF

Info

Publication number
CS243229B1
CS243229B1 CS849245A CS924584A CS243229B1 CS 243229 B1 CS243229 B1 CS 243229B1 CS 849245 A CS849245 A CS 849245A CS 924584 A CS924584 A CS 924584A CS 243229 B1 CS243229 B1 CS 243229B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
terminal
output
circuit
address
input
Prior art date
Application number
CS849245A
Other languages
English (en)
Other versions
CS924584A1 (en
Inventor
Miroslav Pechoucek
Karel Exner
Original Assignee
Miroslav Pechoucek
Karel Exner
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miroslav Pechoucek, Karel Exner filed Critical Miroslav Pechoucek
Priority to CS849245A priority Critical patent/CS243229B1/cs
Publication of CS924584A1 publication Critical patent/CS924584A1/cs
Publication of CS243229B1 publication Critical patent/CS243229B1/cs

Links

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Adresový přepínač řeší problém zadávání řádkové a sloupcové adresy při testování dynamických paměťových obvodů. Adresové bity jsou zadávány jako kladné nebo záporné impulsy s logickými úrovněmi, které se mění u všech bitů v předepsaných čtyřech časových okamžicích. Zapojení je řízeno dvěma programovatelnými generátory Časovačích impulsů a umožňuje úplné dynamické protestování paměťového obvodu. Zapojení adresového přepínače je určeno zejména pro použití v adaptérech pro testování dynamických paměťových obvodů, tvo­ řících součást systému pro testování pamě­ ťových obvodů.

Description

(54) Zapojení adresového přepínače
Adresový přepínač řeší problém zadávání řádkové a sloupcové adresy při testování dynamických paměťových obvodů. Adresové bity jsou zadávány jako kladné nebo záporné impulsy s logickými úrovněmi, které se mění u všech bitů v předepsaných čtyřech časových okamžicích.
Zapojení je řízeno dvěma programovatelnými generátory Časovačích impulsů a umožňuje úplné dynamické protestování paměťového obvodu.
Zapojení adresového přepínače je určeno zejména pro použití v adaptérech pro testování dynamických paměťových obvodů, tvořících součást systému pro testování paměťových obvodů.
Zapojení adresového přepínače řeší problém zadávání řádkové a sloupcové adresy pří testování dynamických paměťových obvodů. Pro testování dynamických parametrů vnitřního registru řádkové adresy a registru sloupcové adresy paměťového obvodu je totiž potřeba, aby jednotlivé zadané adresové bity měly předepsaný minimální předstih a přesah vzhledem k aktivním hranám výběrových signálů RAS a CAS, jimiž se adresa do· těchto registrů nahrává. To znamená, že adresové bity je nutno zadávat jako kladné nebo záporné impulsy s logickými úrovněmi, které se mění u všech bitů v předepsaných čtyřech časových okamžicích.
Až dosud bylo možno tento problém obejít jednoduchým adresovým přepínačem ovládaným ták, že v první části testovacího taktu trvala na jeho výstupech například 8-bitová řádková adresa a v druhé části taktu pak například 8-bitová sloupcová adresa. Následkem toho však nebyly dodrženy uvedené čtyři dynamické parametry a paměťový obvod nebyl po< stránce dynamické protestován úplně. Další možností až dosud bylo vybavit testovací systém samostatným programovatelným generátorem impulsů pro každý bit zadávané adresy a tyto generátory programovat a řídit tak, aby se v první části testovacího taktu měnilo například 8 nižších adresových bitů ve dvou časových okamžicích, určujících předstih a přesah řádkové adresy, a v druhé části testovacího taktu pak například 8 vyšších adresových bitů v dalších dvou časových okamžicích, určujících předstih a přesah sloupcové adresy. Nevýhodou tohoto způsobu by však byl příliš velký počet programovatelných generátorů a jejich složité řízení.
(Nevýhody dosud známých řešení uvedeného· problému odstraňuje zapojení adresového přepínače podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že k výstupní svorce prvního až n-tého součinově-součtového· obvodu je svou vstupní svorkou připojen první až n-tý výstupní vyrovnávací obvod, první vstupní svorky prvních součtových sekcí všech součinově součtových obvodů jsou připojeny k přímé výstupní svorce prvního vstupního vyrovnávacího obvodu, k jehož negační výstupní svorce jsou připojeny první vstupní svorky druhé a čtvrté součtové sekce všech součinově-součtových obvodů, první vstupní svorky třetích součtových sekcí všech součinově-součtových obvodů jsou připojeny k přímé výstupní svorce druhého vstupního· vyrovnávacího obvodu, ik jehož negační výstupní svorce jsou připojeny druhé vstupní svorky druhých a čtvrtých součtových sekcí všech součinově-součtových obvodů, přičemž druhá vstupní svorka první součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu je přes první invertor připojena k první až n-té adresové svorce, s níž je spojena i třetí vstupní svorka druhé součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu, přičemž druhá vstupní svorka třetí součtové sekce prvního ař n-tého součinově-sučtového obvodu je přes druhý invertor připojena ke druhé až 2n-té adresové svorce, s níž je spojena i třetí vstupní svorka čtvrté součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu, přičemž vstupní svorka prvního a druhého vstupního vyrovnávacího obvodu tvoří první a druhou časovači svorku adresového přepínače.
Podstata vynálezu také spočívá v tom, že výstupní svorka prvního až n-tého výstupního vyrovnávacího obvodu je spojena s první vstupní svorkou prvního až n-tého výstupního multiplexoru, jehož druhá vstupní svorka tvoří až n-tou pomocnou adresovou svorku, přičemž výběrové svorky všech výstupních multiplexorů jsou spojeny a připojeny ke společným svorkám.
Podstatou vynálezu je i to, že první až n-tý výstupní multiplexor je tvořen výstupním hradlem prvního až n-tého výstupního vyrovnávacího obvodu a jeho pomocnou adresovou svorku tvoří první vstupní svorka třetí součtové sekce tohoto výstupního hradla.
Zapojení podle vynálezu má tyto výhody: je materiálově úsporné, je řízeno pouze dvěma programovatelnými generátory časovačích impulsů a dovoluje úplné dynamické protestování paměťového obvodu.
Příklady zapojení podle vynálezu jsou znázorněny na připojených vyobrazeních, kde na obr. 1 je znázorněno možné provedení celého adresového přepínače podle vynálezu, na obr. 2 je jeho časový diagram a na obr. 3 je jedno možné provedení výstupního multiplexoru v adresovém přepínači podle vynálezu.
Zapojení na obr. 1 obsahuje první a druhý vstupní vyrovnávací obvod 2 a 3, jejichž vstupní svorky tvoří první a druhou časovači svorku 21 a 31 adresového přepínače. Vnitřní zapojení obou vyrovnávacích obvodů je stejné a známé, shodné například se zapojením vyrovnávacího obvodu podle PV 1. Vhodnou volbou obou odboček na zpožďovacím prvku, například 24 je zajištěno, že zpoždění vzestupné hrany impusů na přímé výstupní svorce 22 je zpoždění sestupné hrany impulsů na negační výstupní svorce 23 proti vzestupné hraně časovacího impulsu na časovači svorce 21 je stejné. Rovněž tak stejné zpoždění sestupné hrany impulsu na přímé výstupní svorce 22 a zpoždění vzestupné hrany impulsu na negační výstupní svorce 23 proti sestupné hraně časovacího impulsu na časovači svorce ,21.
Přímá výstupní svorka 22 vyrovnávacího obvodu 2 je spojena se vstupní svorkou 101 prvního součinově-součtového obvodu 1 a se vstupní svorkou 801 n-tého součinově-součtového obvodu 1 a se vstupní svorkou 801- n-tého součinově-součtového obvodu 8. Negační výstupní svorka 23 vyrovnávacího obvodu 2 je spojena se vstupní svorkou 102 a 103 prvního součinově-součtového obvodu a se vstupní svorkcu 802 a 803 n-tého soucinově-součtového obvodu 8. Přímá výstupní svorka 32 vyrovnávacího obvodu 3 je spojena se vstupní svorkou 104 prvního součtově-součtového obvodu 1 a se vstupní svorkou 804 n-tého součinově-součtového obvodu 8. Negační výstupní svorka 33 vyrovnávacího obvodu 3 je spojena se vstupními svorkami 105, 10S prvního součinově-součtového obvodu 1 a se vstupními svorkami 805, 806 n-tého součinově-součtového obvodu 8. První adresová svorka 11 je spojena se vstupní svorkou 108 a přes ínvertor 111 i se vstupní svorkou 107 prvního součinového-součtového obvodu 1, n-tá adresová svorka 81 je spojena se vstupní svorkou 8B8 a přes ínvertor 811 se vstupní svorkou 807 n-tého součinově-součtového obvodu 8, (n + lj-tá adresová svorka -2 je spojena se se vstupní svorkou 110 a přes ínvertor 112 se vstupní svorkou 109 součinově-součtového obvodu 1, 2n-tá adresová svorka 8.2 je spojena se vstupní svorkou 810 a přes ínvertor 812 se vstupní svorkou 809 n-tého součinově-sučtového obvodu 1 je spojena se vstupní svorkou 114 prvního výstupního vyrovnávacího obvodu 113, výstupní svorka 800 n-tého součinově-součtového obvodu 8 je spojena se vstupní svorkou 814 n-tého výstupního vyrovnávacího obvodu 813. Vnitřní zapojení obou vyrovnávacích obvodů 113, 813 je stejné. Výstupní svorka 115 výstupního vyrovnávacího obvodu 113 je spojena se vstupní svorkou 116 výstupního multiplexeru 13. Výstupní svorka 815 výstupního vyrovnávacího obvodu 813 je spojena se vstupní svorkou 816 výstupního multiplexeru 83. Výstupní svorky těchto multiplexorů tvoří výstupní svorky adresového přepínače, které jsou případně přes neznázorněné budiče s programovatelnými úrovněmi připojeny k rovnž neznázorněným adresovým svorkám testovaného paměťového obvodu. Zbývající vstupní svorky výstupních multiplexerů 13 a 83 jsou známým způsobem spojeny a společně připojeny k výběrovým svorkám 41, 42. Adresové svorky 11, 12, 81, 82 jsou připojeny k adresovým výstupům neznázorněné základní jednotky testovacího systému. Pomocné adresové vstupní svorky 117, 817 jsou připojeny k neznázorněnému generátoru obnovovacích adres, který tvoří součást rovněž neznázorněného adaptéru pro testování dynamických paměťových obvodů, jehož řadič ovládá výběrové svorky 41, 42 adresového přepínače.
Vhodnou volbou odboček, například na zpožďovacím prvku 120 výstupního vyrovnávacího obvodu 113, je celkové zpoždění vzniklé průchodem vzestupné hrany impulsu z přímé výstupní svorky 22 vstupního vyrovnávacího obvodu 2 na výstupní svorku 130 výstupního multiplexoru 13, případně až na příslušnou adresovou svorku testovaného paměťového obvodu, nastaveno na stejnou maximální hodnotu tmax jako celkové zpoždění vzniklé průchodem sestupné hrany tohoto impulsu na tutéž výstupní svorku 130.
Je-li součinově-součtový obvod 1 v integrovaném provedení, například typu 74S64, vykazují všechny jeho součtové sekce stejné zpoždění, a tím je zajištěno, že i celkové zpoždění vzniklé průchodem vzestupné a sestupné hrany impulsu z negační výstupní svorky 23 na výstupní svorku 130 je nastaveno na touž hodnotu tma; a i celkové zpoždění vzniklé průchodem vzestupné a sestupné hrany impusu z přímé i z negační výstupní svorky 32, 33 vstupního vyrovnávacího obvodu 3 je nastaveno na touž hodnotu tma;. Podobně jsou vyrovnávána vyrovnávacím obvodem 813 i obdobná celková zpoždění z výstupních svorek obou vstupních vyrovnávacích obvodů na výstupní svorku 830 výstupního multiplexeru 83. Jsou-li mezi výstupní svorky 130 a 830 a mezi jim odpovídající adresové svorky neznázorněného paměťového obvodu vřazeny rovněž neznázorněné budiče s programovatelnými výstupními úrovněmi, jsou všechna uvedená zpoždění vyrovnána na stejnou maximální hodnotu zahrnující i zpoždění těchto budičů.
Činnost adresového přepínače z obrázku 1 je zřejmá z časového diagramu na obrázku 2, kde jsou znázorněny průběhy napětí pro výstupní svorku 130 a adresové svorky 11, 12. Průběhy 021, 031, 022, 023, 032, 033, 011, 012 a 0130, znázorňující napětí na svorkách 21, 31, 22, 23, 32, 33, 11, 12 a 130 adresového přepínače, a to ve čtyřech testovacích taktech daných čtyřmi možnými kombinacemi adresového bitu, například Ao na adresové svorce 11 a adresového bitu, například Az na adresové svorce 12.
V prvním tesovacím taktu je z neznázorněné základní jednotky testovacího systému přivedena kombinace AO = H,A7 = L. Tím je uzavřena první a čtvrtá součtová sekce obvodu 1, takže na výstupní svorce 130 výstupního multiplexoru 13 vznikne kladný impuls stejné šířky jako je šířka časovacího impulsu 0,21 na první časovači svorce 21 adresového přepínače. V druhém testovacím taktu je přivedena adresová kombinece A0 = L, Az —L. Tím je uzavřena druhá a čtvrtá součtová sekce obvodu 1, takže na výstupní svorce 130 vznikne první záporný impuls o šířce stejné jako je šířka časovacího impulsu 021 a druhý záporný implus o šířce stejné jako je šířka časovacího impulsu 031. Ve třetím testovacím taktu je přivedena adresová kombinace A0 = H, Az = H. Tím je uzavřena první a třetí součtová sekce obvodu 1, takže na výstupní svorce 130 vznikne první kladný impuls o šířce stejné jako je šířka časovacího impulsu 031. Ve čtvrtém testovacím taktu je přivedena adresová kombinace A0 = L, Az = H. Tím je uzavřena druhá a třetí součtová sekce obvodu 1 a na výstupní svorce 130 vznikne kladný impuls o šířce stejné jako je šířka časovacího impulsu 031. Je tedy zřejmé, že adresový bit, například Ao přivedený na adresovou svorku 11 jako statická úroveň je součinově-součtovým ob243229
Ί vodem 1 převeden do tvaru kladného nebo záporného impulsu. Šířkou a polohou časovacího impulsu přivedeného na časovači svorku 21 a zvoleného s ohledem, například sestupnou hranu výběrového signálu RAS, přiváděného k odpovídající výběrové svorce testovaného paměťového obvodu, lze tedy nastavit potřebnou minimální dobu předstihu tRS a dobu přesahu tHR řádkové adresy. Stejným způsobem jsou tyto doby nastaveny i pro ostatní bity řádkové adresy přiváděné na první až n-tou adresovou svorku 11 až 81. Podobně je i adresový bit, například A7 přivedený na adresovou svorku 12 jako statická úroveň, přiveden součinově-součtovým obvodem 1 do tvaru kladného nebo záporného impulsu. Šířkou a polohou časovacího impulsu na časovači svorce 31, zvoleného s ohledem například na sestupnou hranu výběrového signálu CAS, přivedeného k odpovídající výběrové svorce testovaného paměťového obvodu, lze podobně nastavit potřebnou minimální dobu tsc a dobu přesahu tMc sloupcové adresy. Stejně tak jsou tyto doby nastaveny i pro ostatní bity sloupcové adresy přiváděné na druhou až 2n-tou adresovou svorku 12 až 82.

Claims (3)

  1. PŘEDMET
    1. Zapojení adresového přepínače, vyznačené tím, že k výstupní svorce {100 až 800) prvního až n-tého součinově-součtového obvodu (1 až 8) je svou vstupní svorkou (114 až 814} připojen prní až n-tý výstupní vyrovnávací obvod (113 až 813), první vstupní svorky (101 až 801] prvních součtových sekcí všech součinově-součtových obvodů (1 až 8) jsou připojeny k přímé výstupní svorce (22) prvního vstupního vyrovnávacího obvodu (2), k jehož negační výstupní svorce (23] jsou připojeny první vstupní svorky (102, 104 až 802, 804] druhé a čtvrté součtové sekce všech součinově-součtových obvodů (1 až 8], první vstupní svorky (103 až 803) třetích součtových sekcí všech součinově-součtových obvodů (1 až 8) jsou připojeny k přímé výstupní svorce (32) druhého vstupního vyrovnávacího obvodu (3), k jehož negační výstupní svorce (33) jsou připojeny druhé vstupní svorky (105, 106 až 805, 806] druhých a čtvrtých součtových sekcí všech součinově-součtových obvodů (1 až 8), přičemž druhá vstupní svorka (107, svorky testovaného paměťového obvodu buď časově přesně nastavené řádkové a sloupcové adresy zadávané ze základní jednotky testovacího systému, nebo obnovovací adresy z adaptéru, jimiž se provádí periodické obnovování obsahu testovaného paměťového obvodu.
    Zapojení na obrázku 3 znázorňuje jiné možné provedení výstupního multiplexeru a výstupního vyrovnávacího obvodu. Výstupní multiplexor 13 je tvořen výstupním hradlem 118 se třemi součtovými sekcemi. První a druhé vstupní svorky první a druhé součtové sekce jsou připojeny známým způsobem ke zpožďovacímu prvku 120. Jejich třetí vstupní svorky jsou však spojeny a tvoří první výběrovou svorku 110 výstupního multiplexeru, zatímco jeho druhou výběrovou svorku 116 tvoří druhá vstupní svorka třetí součtové sekce. Její první vstupní svorka 117 je pak pomocnou adresovou svorkou výstupního multiplexoru.
    Činnost takto kombinovaného výstupního multiplexoru s vyrovnávacím obvodem je stejná jako u provedení na obrázku 1. Výhodu má v tom, že celkové zpoždění mezi výstupními svorkami vstupních vyrovnávacích obvodů 2 a 3 a mezi adresovými svorkami neznázorněného testovaného paměťového obvodu je kratší, takže i zpoždovací prvek 120 ve výstupním vyrovnávacím obvodu 113 může mít menší celkové zpoždění.
    Adresový přepínač podle vynálezu je určen zejména pro použití v adaptérech pro testování dynamických paměťových obvodů, tvořících součást systému pro testování paměťových obvodů.
    VYNÁLEZU
    807) první součtové sekce prního až n-tého součinově-součtového obvodu (1 až 8) je přes první invertor (111 až 811} připojena k první až n-té adresové svorce (11 až 81), s níž je spojena i třetí vstupní svorka (108 až 808 J druhé součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu (1 až 8J, přičemž druhá vstupní svorka (109 až 809J třetí součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu (1 až 8) je přes druhý invertor (112 až 812) připojena ke druhé až 2n-té adresové svorce (12 až 82), s níž je spojena i třetí vstupní svorka (110 až 810] čtvrté součtové sekce prvního až n-tého součinově-součtového obvodu (1 až 8), přičemž vstupní svorka prvního a druhého vstupního vyrovnávacího obvodu (2, 3] tvoří první a druhou časovači svorku (21, 31) adresového přepínače.
  2. 2. Zapojení adresového přepínače podle bodu 1, vyznačené tím, že výstupní svorka (115 až 815) prvního až n-tého výstupního vyrovnávacího obvodu (113 až 813) je spo243229 jena s první vstupní svorkou (116 až 816) prvního až n-tého výstupního multiplexoru (13 až 83), jehož druhá vstupní svorka (117 až 817) tvoří první až n-tou pomocnou adresovou svorku, přičemž výběrové svorky všech výstupních multiplexorů (13 až 83) jsou spojeny a připojeny ke společným výběrovým svorkám (41, 42).
    in
  3. 3. Zapojení adresového přepínače podle bodu 1, vyznačené tím, že první až n-tý multiplexor (13 až 83 j je utvořen výstupním hradlem (118) prvního až n-tého výstupního vyrovnávacího obvodu (113 až 813) a jeho pomocnou adresovou svorku tvoří první vstupní svorka (117) třetí součtové sekce tohoto výstupního hradla (118).
CS849245A 1984-11-30 1984-11-30 Zapojení adresového přepínače CS243229B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS849245A CS243229B1 (cs) 1984-11-30 1984-11-30 Zapojení adresového přepínače

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS849245A CS243229B1 (cs) 1984-11-30 1984-11-30 Zapojení adresového přepínače

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS924584A1 CS924584A1 (en) 1985-08-15
CS243229B1 true CS243229B1 (cs) 1986-06-12

Family

ID=5443495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS849245A CS243229B1 (cs) 1984-11-30 1984-11-30 Zapojení adresového přepínače

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS243229B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS924584A1 (en) 1985-08-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1242770A (en) Edge programmable timing signal generator
US6421291B1 (en) Semiconductor memory device having high data input/output frequency and capable of efficiently testing circuit associated with data input/output
US5376849A (en) High resolution programmable pulse generator employing controllable delay
EP0174409A1 (en) Formatter for high speed test system
GB2109188A (en) An improved cmos circuit and an information processor utilizing the cmos circuit
US4961013A (en) Apparatus for generation of scan control signals for initialization and diagnosis of circuitry in a computer
KR970011585B1 (ko) 반도체 시험장치의 파형 정형기
EP1168369B1 (en) Synchronous semiconductor memory device
US5710744A (en) Timing generator for IC testers
GB2091008A (en) A semiconductor memory
EP0463243B1 (en) Semiconductor integrated circuit including a detection circuit
KR980003624A (ko) 반도체 디바이스 시험장치
KR970051415A (ko) 반도체 메모리 장치의 병합 데이타 출력 모드 선택 방법
CS243229B1 (cs) Zapojení adresového přepínače
US6028448A (en) Circuitry architecture and method for improving output tri-state time
US5703515A (en) Timing generator for testing IC
US6100739A (en) Self-timed synchronous pulse generator with test mode
KR930024015A (ko) 비트 라인 센싱 제어회로
US4780627A (en) Testing programmable logic arrays
US5381551A (en) Semiconductor integrated circuit including an arbitrate circuit for giving priority to a plurality of request signals
KR0157880B1 (ko) 클럭 스큐 제거장치
SU1206768A1 (ru) Устройство дл ввода информации
SU853814A1 (ru) Устройство дл контрол распре-дЕлиТЕл иМпульСОВ
JPH02110387A (ja) 自動回路テスタ
JP3255667B2 (ja) Ic試験装置