CS230993B1 - Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů - Google Patents
Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů Download PDFInfo
- Publication number
- CS230993B1 CS230993B1 CS335583A CS335583A CS230993B1 CS 230993 B1 CS230993 B1 CS 230993B1 CS 335583 A CS335583 A CS 335583A CS 335583 A CS335583 A CS 335583A CS 230993 B1 CS230993 B1 CS 230993B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- input
- output
- circuit
- whose
- flip
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
Vynález se týká obvodu pro měření časových údajů impalsního průběhů. Obsahuje multiplexory, logické a klopné obvody a čítače, které jsou řízeny mikropočítačem. Obvod podle vynálezu zajištuje časová měření impulsních průběhů v různých bodech měřeného objektu, přicházejících nesynchronně s požadovaným okamžikem měření, přičemž je možno volit mikropočítačem vyhodnocení šířky impulsů, jejich mezery nebo opakovači periody pro zvolený rozsah měření.
Description
Vynález se týká obvodu pro měření časových údajů impulsních průběhů, který umožňuje měření a vyhodnocení periody a šířky kladných nebo záporných impulsů.
Měření časových údajů impulsních průběhů je často požadováno a řešeno samostatnými měřicími přístroji nebo jako součást větších měřicích a řídicích zařízení. Při jejich realizaci je potřeba zajistit bezchybné měření časových údajů impulsních průběhů, které probíhají nesynchronně β vlastními ději měřicího zařízení. V některých případech se také požaduje dálkové ovládání měřiče a zpracování naměřených hodnot.
Tyto požadavky řeší obvod pro měření časových údajů impuls nich průběhů podle vynálezu, jehož podstatou je, že výstupy měřeného objektu jsou spojeny s měřicími vstupy prvního multiplexeru, jehož přímý výstup je spojen s prvním vstupem druhého výstupem multiplexeru, jehož druhý vstup je spojen β invertovaným’první ho multiplexeru, jehož ovládací vstupy jsou spojeny s třetími výstupy obvodu styku, jehož druhý výstup je spojen s ovládacím vstupem druhého multiplexeru, jehož výstup je spojen s druhým vstupem třetího multiplexeru a se vstupem dělicího obvodu, jehpž výstup je spojen s prvním vstupem třetího multiplexeru,
230 993 jehož výstup je spojen s druhým vstupem prvního hradla NAND a β hodinovým vstupem prvního klopného obvodu, jehož signální vstup je spojen s jeho nastavovacím vstupem a se zdrojem kladného napájecího napětí, přičemž přímý výstup prvního klopného obvodu je spojen s druhým vstupem druhého hradla NAND a s prvním vstupem prvního hradla NAND, jehož výstup je spojen s hodinovým vstupem druhého klopného obvodu, jehož signální vstup je spojen β jeho nastavovacím vstupem a ee zdrojem kladného napájecího napětí, kde invertovaný výstup druhého klopného obvodu je spor* jen β druhým vstupem obvodu styku a s třetím vstupem druhého hradla NAND, jehož první vstup je spojen s výstupem generátoru hodinových impulsů, jehož ovládací vstupy jsou spojeny s pátými výstupy obvodu styku, přičemž výstup druhého hradla NAND je spojen s čítacím vstupem čítače, jehož výstupy jsou spojeny s prvními vstupy obvodu styku, jehož první výstup je spojen s ovládacím vstupem třetího multiplexeru, přičemž nulovací vstup prvního klopného obvodu je spojen s nulovacím vstupem druhého klopného obvodu, s nulovacím vstupem čítače a ε čtvrtým výstupem obvodu styku, který je spojen obousměrnou sběrnicí s mikropočítačem.
Obvod podle vynálezu bezpečně a bezchybně zajišťuje časová měření impulsů, přicházejících nesynchronně β požadovaným okamžikem měření. Tento obvod umožňuje provádět měření impulsních průběhů v různých bodech měřeného objektu, přičemž je možno volit vyhodnocení šířky impulsů, jejich mezery nebo opakovači periody pro zvolený rozsah měření.
Princip vynálezu bude popsán podle na kterém je schéma zapojení obvodu pro měření časových údajů impulsních
- 3 230 993 průběhů, v němž výstupy 141 měřeného objektu 14 jsou spojeny s měřicími vstupy 110 prvního multiplexeru 1, jehož přímý výstup 120 je spojen s prvním vstupem 21 druhého multiplexeru 2. Jeho druhý vstup 22 je spojen s invertovaným výstupem 130 prvního multiplexeru 1, jehož ovládací vstupy 140 jsou spojeny s třetími výstupy 115 obvodu 11 styku, jehož druhý výstup 114 je spojen s ovládacím vstupem 24 druhého multiplexeru 2. Jeho výstup 23 je spojen s druhým vstupem 32 třetího multiplexeru J a se vstupem 41 dělicího obvodu 4, jehož výstup 42 je spojen s prvním vstupem 31 třetího multiplexeru J, jehož výstup 33 je spojen s druhým vstupem 72 prvního hradla 7 NAND a s hodinovým vstupem 54 prvního klopného obvodu 2· Jeho signální vstup $5 je spojen s jeho nastavovacím vstupem 56 a se zdrojem +U^ kladného napájecího napětí. Přímý výstup 51 prvního klopného obvodu 2 je spojen s druhým vstupem 82 druhého hradla 8 NAND a s prvním vstupem 71 prvního hradla 7 NAND, jehož výstup 73 je spojen β hodinovým vstupem 64 druhého klopného obvodu 6.
Jeho signální vstup 65 je spojen s jeho nastavovacím vstupem 6 6 a se zdrojem kladného napájecího napětí. Invertovaný výstup 62 druhého klopného obvodu 6 je spojen s druhým vstupem 112 obvodu 11 styku a s třetím vstupem 83 druhého hradla 8 NAND, jehož první vstup 81 je spojen s výstupem 91 generátoru 9 hodinových impulsů, jehož ovládací vstupy 92 jsou spojeny s pátými výstupy 117 obvodu 11 styku. Výstup 84 druhého hradla8 NAND je spojen s čítacím vstupem 101 čítače 10, jehož výstupy 10J j sou spojeny s prvními vstupy 111 obvodu 11 styku, jehož první výstup 113 je spojen s ovládacím vstupem 34 třetího multiplexeru 3· Nulovací vstup 53 prvního klopného obvodu 2
230 993 je spojen s nulovacím vstupem 63 druhého klopného obvodu 6, s nulovacím vstupem 102 čítače 10 a s čtvrtým výstupem 116 obvodu 11 styku, který je spojen obousměrnou sběrnicí 13 8 mikropočítačem 12.
Činnost obvodu podle vynálezu je řízena mikropočítačem 12, který při požadavku na toto měření nastaví nejdříve přes obousměrnou sběrnici 22 a obvod 11 styku přísluěné ovládací vstupy do definovaných logických úrovní a potom spustí vlastní měření. Na jednotlivé měřicí vstupy 110 se přivádí impulsní průběhy z různých měřicích bodů měřeného objektu 14. Před vlastním měřením mikropočítač 12 nastaví ovládací vstupy 140 prvního multiplexeru 1 tak, aby doělo k vybrání požadovaného impulsního průběhu. Slav ovládacího vétupu 24 druhého multiplexeru 2 umožní dálkově vybrat měření šířky kladných nebo záporných impulsů. Stavem ovládacího vstupu 34 třetího multiplexeru χ se zvolí měření šířky impulsů nebo po zpracování dělicím obvodem 4 měření periody.
Před vlastním měřením ještě mikropočítač 12 nastaví vhodnou frekvenci generátoru 9 hodinových impulsů. Čtvrtý výstup 116 11 obvodu^styku je v této době v' úrovni logické nuly, takže první a druhý klopný obvod a 6 je nulován, stejně jako čítač 10. Úrovní logické nuly na přímém výstupu 51 prvního klopného obvodu 2 je přes druhé hradlo 8 NAND zablokován příchod hodinových impulsů na čítači vstup 101 čítače 10 a přes první hradlo 7 NAND je zablokován hodinový vstup 64 druhého klopného obvodu 6.
V okamžiku požadavku na měření časových údajů impulsů mikropočítač 12 změní úroveň čtvrtého výstupu 116 obvodu 11
230 993 styku z logické nuly na jedničku, a tím se ukončí nulování prvního a druhého klopného obvodu 5 a 6 i čítače 10. V okamžiku příchodu náběžné hrany měřeného impulsního průběhu na výstupu 33 třetího multiplexeru 3 dojde k překlopení přímého výstupu 51 prvního klopného obvodu £ do úrovně logické jedničky, a tím k odblokování druhého hradla 8 NAND, takže dochází přes čítači vstup 101 k čítání čítače 10. K ukončení čítání dojde při příchodu následující sestupné hrany měřeného impulsního průběhu na výstupu 33 třetího multiplexeru kdy se přes odblokované první hradlo 7 NAND překlopí druhý klopný obvod 6. Úroveň logické nuly na invertovaném výstupu 62 zablokuje druhé hradlo 8 NAND a zároveň přes druhý vstup 112 obvodu 11 styku indikuje mikropočítači 12, že měření bylo ukončeno. Po přečtení a zpracování obsahu čítače 10 mikropočítačem 12 může přejít opět čtvrtý výstup 116 obvodu 11 styku do úrovně logické nuly, a tím obvod připravit k dalšímu měření.
V programovém vybavení mikropočítače 12 je také hlídání přetečení čítače 10 s možností upozornit na tento stav. Měřené údaje mohou být také vyhodnoceny tolerančními mezemi, uloženými v paměti mikropočítače 12> a případně zobrazeny zobrazovačem.
Obvodu pro měření časových údajů impulsních průběhů podle vynálezu je možno použít pro časová měření impulsů, zvláště u měřicích, řídicích a testovacích zařízení vybavených mikropočítačem.
Claims (1)
1. Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů, vyznačený tím, že výstupy /141/ měřeného objektu /14/ jsou spojeny s měřicími vstupy /110/ prvního multiplexeru /1/, jehož přímý výstup /120/ je spojen s prvním vstupem /21/ druhého multiplexeru /2/, jehož druhý vstup /22/ je spojen s invertovaným výstupem /130/ prvního multiplexeru /1/ jehož ovládací vstupy /140/ jsou spojeny s třetími výstupy /115/ obvodu /11/ styku, jehož druhý výstup /114/ je spojen s ovládacím vstupem /24/ druhého multiplexeru /2/, jehož výstup /23/ j® spojen s druhým vstupem /32/ třetího multiplexeru /3/ á se vstupem /41/ dělicího obvodu /4/, jehož výstup /42/ je spojen s prvním vstupem /31/ třetího multiplexeru /3/, jehož výstup /33/ je spojen s druhým vstupem /72/ prvního hradla /7/ NAND a's hodinovým vstupem /54/ prvního klopného obvodu /5/, jehož signální vstup /55/ je spojen s jeho nastavovacím vstupem /56/ a se zdrojem /+0^/ kladného napájecího napětí, přičemž přímý výstup /51/ prvního klopného obvodu /5/ je spojen s druhým vstupem /82/ druhého hradla /8/ NAND a s prvním vstupem /71/ prvního hradla /7/ NAND, jehož výstup /73/ j® spojen s hodinovým vstupem /64/ druhého klopného obvodu /6/, jehož signální vstup /65/ je spojen s jeho nastavovacím vstupem /66/ a se zdrojem /+Π^/ kladného napájecího napětí, kde invertovaný výstup /62/ druhého klopného obvodu /6/ je spojen s druhým vstupem /112/
230 993 obvodu /11/ styku a s třetím vstupem /83/ druhého hradla /8/ NAND, jehož první vstup /81/ je spojen s výstupem /91/ generátoru /9/ hodinových impulsů, jehož ovládací vstupy /92/ jsou spojeny s pátými výstupy /117/ obvodu /11/ styku, přičemž výstup /84/ druhého hradla /8/ NAND je spojen s čítacím vstupem /101/ čítače /10/, jehož výstupy /103/ jsou spojeny s prvními vstupy /111/ obvodu /11/ styku, jehož první výstup /113/ je spojen s ovládacím vstupem /34/ třetího multiplexeru /3/, přičemž nulovací vstup /53/ prvního klopného obvodu /5/ je spojen s nulovacím vstupem /63/ druhého klopného obvodu /6/, s nulovacím vstupem /102/ čítače /10/ a s čtvrtým výstupem /116/ obvodu /11/ styku, který je spojen obousměrnou sběrnicí /13/ s mikropočítačem /12/
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS335583A CS230993B1 (cs) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS335583A CS230993B1 (cs) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS230993B1 true CS230993B1 (cs) | 1984-09-17 |
Family
ID=5373342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS335583A CS230993B1 (cs) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS230993B1 (cs) |
-
1983
- 1983-05-13 CS CS335583A patent/CS230993B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100197745B1 (ko) | Ic반도체칩 연산속도 테스트용의 전자회로 및 그 방법 | |
| US5083299A (en) | Tester for measuring signal propagation delay through electronic components | |
| US5020038A (en) | Antimetastable state circuit | |
| US3370456A (en) | Timepiece testing apparatus | |
| US4168467A (en) | Measurement of pulse duration | |
| US7482886B1 (en) | System for measuring propagation delays | |
| CS230993B1 (cs) | Obvod pro měření časových údajů impulsních průběhů | |
| KR100211230B1 (ko) | 열밸런스회로 | |
| US6944099B1 (en) | Precise time period measurement | |
| US5039939A (en) | Calculating AC chip performance using the LSSD scan path | |
| JPH0342810B2 (cs) | ||
| US4527907A (en) | Method and apparatus for measuring the settling time of an analog signal | |
| US3407645A (en) | Timepiece testing apparatus | |
| JPH04331383A (ja) | 半導体論理集積回路 | |
| RU2018173C1 (ru) | Измеритель частоты | |
| EP0122984A1 (en) | Time measuring circuit | |
| JPS5831525B2 (ja) | A−d ヘンカンキニオケルヨミトリソクドイジヨウケンシユツホウシキ | |
| SU725048A1 (ru) | Устройство дл измерени динамических параметров микросхем | |
| SU970281A1 (ru) | Логический пробник | |
| SU1698825A1 (ru) | Устройство дл измерени внутреннего сопротивлени вольтметра | |
| JPS60125573A (ja) | タイミングパルス発生器 | |
| SU620022A1 (ru) | Устройство дл контрол триггеров | |
| JPH01212368A (ja) | パルス幅計測回路 | |
| SU1661668A1 (ru) | Устройство дл измерени фазового сдвига | |
| Rogina et al. | Metastability evaluation method by propagation delay distribution measurement |