CS225615B1 - Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer - Google Patents
Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer Download PDFInfo
- Publication number
- CS225615B1 CS225615B1 CS475581A CS475581A CS225615B1 CS 225615 B1 CS225615 B1 CS 225615B1 CS 475581 A CS475581 A CS 475581A CS 475581 A CS475581 A CS 475581A CS 225615 B1 CS225615 B1 CS 225615B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- output
- sensor
- input
- load
- voltage
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical group [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
Description
Vynález ee týká zapojení podproudevé ochrany pro zabezpečení sériového chodu řízených polovodičových prvků, zejména u pulsních měničů, které se skládají ze zdroje napětí připojeného jednak k paralelně připojenému čidlu napětí zdroje a jednak na sériový řetězec řízených polevedičevých prvků, spojený jednak řídicím vstupem s výstupem generátorů impulsů, na jehaž řídicí vstup je připojena žádaná hodnota proudu, a jednak svým výstupem připojený na vstupní svorku čidla proudu, jehož výstupní svorka je připojena přes vyhlazovací indukčnost k zátěži, k níž jě paralelně připojeno čidlo napětí zátěže.The invention relates to the connection of an undercurrent protection for ensuring the serial operation of controlled semiconductor elements, in particular for pulse converters, which consist of a voltage source connected both to a parallel connected source voltage sensor and to a serial string of controlled semi-conductor elements connected to the output of pulse generators. , a current setpoint is connected to each control input and its output is connected to a current sensor input terminal whose output terminal is connected via a smoothing inductor to a load to which a load voltage sensor is connected in parallel.
Doposud se nepoužívalo vyhodnocování minimálního proudu v síriovém řetězci řízených polo vodičevých prvků k blokování impulsů pro řízené polovodičové prvky. Preto docházelo při ně kterých náhlých dynamických změnách proudu zátěže k poruchám řízených polovodičových prvků vlivem špatného sériového chodu, např. nesepnutí některého z řízených polovodičových prvků. Tyto poruchy lze odstranit přiváděním řídicího impulsu po celau dobu požadovaného vedení ří zeného polovodičového prvku. To přináší složitější řešení generátorů impulsů a pulsního transformátoru.So far, the minimum current evaluation in the sulfur chain of controlled semi-conductor elements has not been used to block pulses for the controlled semiconductor elements. Therefore, some sudden dynamic changes in the load current caused failures of the controlled semiconductor elements due to poor serial operation, eg failure of one of the controlled semiconductor elements to switch. These disturbances can be eliminated by supplying a control pulse for the duration of the required line of the controlled semiconductor element. This brings more complex solutions to pulse generators and pulse transformers.
Výše uvedené nedostatky odstraňuje zapojení podproudevé ochrany podle vynálezu, které spočívá v tom, že na první vstup koincidenčního obvodu je připojen výstup čidla proudu zátěže, na druhý vstup koincidenčníhe obvodu ja připojen výstup čidla napětí zdroje napětí a na třetí vstup keincidenčního obvodu je připojen výstup čidla napětí zátěže, přičemž výstup koincidenčníhe obvodu je spojen se vstupem generátoru impulsů.The above-mentioned drawbacks are eliminated by the undercurrent protection circuit according to the invention, which consists in that the output of the load current sensor is connected to the first input of the coincidence circuit, the output of the voltage source voltage sensor is connected to the second input of the coincidence circuit. load voltage, wherein the output of the coincidence circuit is coupled to the input of the pulse generator.
225 615225 615
225 615225 615
Na výkresu je znázorněn příklad zapájení podpreudové ochrany pra zabezpečení sériového chodu řízených polovodičových prvků podle vynálezu.The drawing shows an example of soldering the under-current protection for the serial operation of the controlled semiconductor elements according to the invention.
Zátěž, např. elektrický mater 4 , Je připojena přes řetězec de série zapojených řízených polavodičavých prvků 2» čidla £ proudu zátěže a vyhlazovací indukčnast 6, K zátěži £ je paralelně připojena Čidla 7 napětí zátěže 4. Na výstupní sverky zdraje 1 napětí U je připojena čidla 2 napětí zdraje 1. Na první vstup kaincidenčníha abvedu 8 je připojen výstup vhedné polarity čidla 5 proudu I. zátěže 4, na jeho druhý vstup je připojen výstup vhodné polarity čidla 2 napětí zdraje 1 napětí U a na jeho třetí vstup je připojen výstup vhedné polarity čidla 7 napětí zátěže 4,, přičemž vystup kaincidenčního abvedu 8 je spájen se vstupem generátoru impulsů 9. Výstup generátoru 2 impulsů Je spojen a řídicím vstupem sériového řetězce řízených polavodičavých prvků 2» přičemž na řídicí vstup generátoru 2 impulsů je připojena žádaná hodnota proudu w^, určující velikost proudu zátěže 4.The load, eg electrical material 4, is connected via a de series of connected controlled conductive elements 2 of the load current sensor 6 and the smoothing inductor 6, the load voltage sensors 4 are connected in parallel to the load. The voltage input 1 of the sensor 1 is connected to the first input of the cadence circuit 8, the output of the polarity sensor 5 of current I of the load 4 is connected to its second input. the polarity sensor 7 of the load voltage 4, wherein the output of the acupressure abved 8 is soldered to the input of the pulse generator 9. Output of the pulse generator 2 is coupled to the control input of the serial string of controlled lightning conductors 2; 4, determining the magnitude of the load current 4.
ba vstupu kaincidenčníha obvodu 8 aa provádí rozdíl signálů z čidla 2 napětí zdroje 1., měřícího velikost napětí na vstupu sériového řetězce řízených palavadičavých prvků 2 β signálu z čidla 7 napětí zátěže 4. Jakmile raste napětí na zátěži 4, zmenšuje se tím napětí na sériovém řetězci řízených palavadičavých prvků 2· Jebe velikost, tj. rozdíl napětí zdraje 1 a napětí zátěže 4, udává v určitém měřítku velikost minimálního proudu zátěže, a proto je porovnáván s velikostí skutečného proudu zátěže 4 danou signálem z čidla 2 proudu zátěže, jehož výstup je spojen se třetím vstupem koincidenčního obvodu 8. Při poklesu proudu 1 zátěže 4 pod povolený minimální proud, výstup koincidenčního obvodu 8 se změní a tato změna je vyhodnocena v generátoru 2 impulsů, např. zablekeváním impulsů pro sériový řetězec řízených polovodičových prvků 2· se zabrání poruše řízených polovodičových prvků 2 při poklesu proudu pod povolený minimální proud.ba of the input circuit 8a and makes a difference of the signals from the sensor 2 of the voltage source 1, measuring the magnitude of the voltage at the input of the serial string of the controlled pulses 2 β signal from the sensor 7 of the voltage 4. · Its size, ie the difference between the healthy voltage 1 and the load voltage 4, gives a measure of the minimum load current to some extent and is therefore compared with the actual load current 4 given by the signal from the load current sensor 2 whose output is connected to the third input of coincidence circuit 8. When current 1 of load 4 falls below the allowed minimum current, the output of coincidence circuit 8 changes and this change is evaluated in the pulse generator 2, eg by pulse bursts for the serial string of controlled semiconductor elements 2 managed semi of the conductor elements 2 when the current drops below the allowed minimum current.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS475581A CS225615B1 (en) | 1981-06-23 | 1981-06-23 | Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS475581A CS225615B1 (en) | 1981-06-23 | 1981-06-23 | Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS225615B1 true CS225615B1 (en) | 1984-02-13 |
Family
ID=5391011
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS475581A CS225615B1 (en) | 1981-06-23 | 1981-06-23 | Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS225615B1 (en) |
-
1981
- 1981-06-23 CS CS475581A patent/CS225615B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4228684A (en) | Remote temperature measuring system with semiconductor junction sensor | |
| EP0099043A3 (en) | System for the control of electric energy consumption, preferably domestically | |
| ATE39395T1 (en) | BRIDGE ELEMENT. | |
| CS225615B1 (en) | Connection of the undercurrent protection to secure the serial run of controlled semiconducting elements in pulse transducer | |
| FI920008A0 (en) | STATIC ELECTRIC METERS. | |
| IE820833L (en) | Solid state load protection system | |
| GB1543882A (en) | Overload protection of electrical apparatus | |
| JPS5735342A (en) | Manufacturing method of large scale integrated circuit | |
| JPS552956A (en) | Automatic wiring tester | |
| SU1551979A1 (en) | Simulator of discrete increment of resistance of strain gauge | |
| JPS57201040A (en) | Semiconductor device | |
| SU1684749A1 (en) | Device for measurement of distance to point of fault of cable line | |
| SU1130936A1 (en) | Device for checking voltages of three-phase power supply network | |
| SU1626221A1 (en) | Device for measuring the gain of analog chips | |
| SU1354127A1 (en) | Capacitor charge frequency meter | |
| SU1057890A1 (en) | Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic | |
| JPH0743667Y2 (en) | Analog multiplexer for in-circuit tester | |
| SU1138848A1 (en) | Device for testing incandescent lamps | |
| SU819725A1 (en) | Meter of strong direct currents | |
| FR2360085A1 (en) | Distribution network circuit breaker testing system - uses simulated network producing actual fault voltage and current levels | |
| RO94329B1 (en) | Electronic current transducer | |
| SU1647453A1 (en) | Device for insulation resistance testing | |
| SU1397854A1 (en) | Device for checking electric circuits of cables and bundled conductors | |
| KR960016136B1 (en) | Input current measuring circuit using multiplexer. | |
| SU1195302A1 (en) | Apparatus for inspecting insulation resistance |