SU1057890A1 - Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic - Google Patents

Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic Download PDF

Info

Publication number
SU1057890A1
SU1057890A1 SU823434110A SU3434110A SU1057890A1 SU 1057890 A1 SU1057890 A1 SU 1057890A1 SU 823434110 A SU823434110 A SU 823434110A SU 3434110 A SU3434110 A SU 3434110A SU 1057890 A1 SU1057890 A1 SU 1057890A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
inputs
input
current
measuring
Prior art date
Application number
SU823434110A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вадим Михайлович Бардин
Николай Николаевич Беспалов
Евгений Петрович Пономарев
Original Assignee
Мордовский Ордена Дружбы Народов Государственный Университет Им.Н.П.Огарева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Мордовский Ордена Дружбы Народов Государственный Университет Им.Н.П.Огарева filed Critical Мордовский Ордена Дружбы Народов Государственный Университет Им.Н.П.Огарева
Priority to SU823434110A priority Critical patent/SU1057890A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1057890A1 publication Critical patent/SU1057890A1/en

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕХОДНОЙ ТЕПЛОВОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПО .ЛУПРОВОДНИКОВЫХ ВЕНТИЛЕЙ,содержащее , источник силового тока,один из выходов которого соединен через токоизмерительный шунт с общей шиной,источник измед(ительного тока, соединенный с клеммой дл  подключени  анода испытуемого прибора и с входом измерительного блока, вход запуска которого присоединен к выходу, коммутатора, клем-f Kfct дл  подключени  .управл ющего электрода и катода испытуемого прибора, последн   из которых соединена с общей шиной, и схему управлени , отличающеес  тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей и повышени  точности, в него введены отключающий диод, нуль-орган, элемент ИЛИ, задающий генератор, счетчик импульсов, счетный триггер и шина сброса, причем отключающий диод присоединен анодом к другому выходу источника силового тока, а катодом - к клемме дл  подключени  анода испытуемого прибора , входы нуль-органа соединены с выводами токоизмерительного шунта, его выход подключен к лервому входу элемента ИЛИ,- второй вход которого соеi динен с выходом задающего генератора, а выход присоединен заходам коммутатора и счетчика импульсов, соединенного ) своим входом vc входами счётного триггера и- схемы управлени , Еыходы которых подключены соответственно к входам задающего генератора и источника силового тока, второй выход схемы управлени  соединен с клеммой дл  подключени  управл ющеfo электрода, а шина сброса подклюСП чена к входам начальной установки счетчика импульсов и счетного триггера . 00 соA DEVICE FOR MEASURING THE TRANSMITTED HEAT CHARACTERISTICS ON THE LIQUID VENTILES, containing a power source, one of the outputs of which is connected through a current-measuring shunt with a common bus, a source is exhausted (the current current connected to the terminal for connecting the anode of the test device and the input socket of the test instrument and the input socket. the start of which is connected to the output of the switch, the clamp-f Kfct for connecting the control electrode and the cathode of the test device, the last of which is connected to the common bus, and the control circuit, It is distinguished by the fact that, in order to expand its functionality and increase its accuracy, it includes a disconnecting diode, a null organ, an OR element, a master oscillator, a pulse counter, a counting trigger and a reset bus, and the disconnecting diode is connected by an anode to another output of the current source and the cathode to the terminal for connecting the anode of the device under test, the inputs of the null organ are connected to the leads of the current-measuring shunt, its output is connected to the first input of the OR element, the second input of which is connected to the output of the master g and the output is connected to the inputs of the switch and pulse counter, connected by its input vc inputs of the counting trigger and control circuit, the outputs of which are connected respectively to the inputs of the master oscillator and the power source, the second output of the control circuit is connected to the terminal for connecting the control electrode, and the reset bus is connected to the inputs of the initial installation of the pulse counter and the counting trigger. 00 with

Description

Изобретение относитс  к измерите льной технике и может быть использо вано дл  измерени  переходных тепло вых характеристик полупроводниковых вентилей (тиристоров). . Известно устройство дл  измере-г ни  тепловых характеристик полупроБОДНИковых вентилей, содержащее источник греющего тока, источник стабильного напр жени , измерительный мост, коммутирующий : тиристор, нагрузку, шунт дл  измерени  тока, блокирующие диски. Известное устройс во позвол ет измер ть температуру структуры испытуемого прибора l . Недостатками известного устройств  вл ютс  исключение возможности не прерывной регистрации измер емой, температуры и о-тсуствие автоматизации процесса измерений, Наиболее близким техническим решением к предлагаемому  вл етс  устройство дл  измерени  переходной теп ловой характеристики полупроводниковых вентилей, содержащее источник силового тока, один из выходов которого соединен через токоизмёрительный шунт с общей шиной, источник измерительного тока, соединенный с кле мой дл  подключени  анода испытуемого прибора и с входом измерительног блока/вход запуска которого присоеди нен к выходу коммутатора,клеммы дл  подключени  управл ющего электрода и катода испытуемого прибора,последн   из которых соединена с общей шиной, и схему управлени , В этом устройстве через испытуег.1ый прибор пропускаетс силовой ток от источника силового посто нного тока и посто нный ток от соответствующего источника. При нагреве испытуемого прибора, включе ного в одно из плеч измерительного моста, возникает напр жение разбаланса , которое измер етс  измерител ным блоком. Подключение измеритель ного блока к мосту осуществл етс  коммутатором,. включение которого в нужные моменты времени осуществл ет с  схемой управлени , включаемой оператором вручную. Перед началом измерений схема управлени  вьвдает сигнал на блок выключени , который осуществл ет выключение источника силового тока 2 . Основными недостатками известного устройства  вл етс  невозможность переходной тепловой характер истики во врем  протекани  греющего тока и в процессе охлаждени  испытуемого прибора, а также погрешность) измерений температуры структуры,, св занной с наличием интервала времени между отключением силового тока и началом измерени  падени  напр жени  от измерительного тока,. Цель изобретени  - {расширение . функциональных возможностей и повышение точности измерени . Поставленна  цель достигаетс  тем, что устройство дл  измерени  переходной тепловой характеристики полупроводниковых вентилей, содержащее источник силового тока, один из выходов которого соединен через токоизмёрительный шунт с общей шиной, источник измерительного тока, соединенны с клеммой дл  подключени  анода испытуемого прибора и с входом измерительного блока, вход запуска которого присоединен к выходу ,коммутатора, клеммы дл  подключени  управл ющего электрода и катода испытуемого прибора, последн   из которых соединена с общей шиной, и управле.ни , введены отключающий диод, нуль-орган,, элемент ИЛИ, задающий гегнератор, счетчик- импульсоб, счетный триггер и шина сброса, отключсшвдий диод присоединен анодом к другому выходу источника силового тока, а катодом - к клемме дл  подключени  анода испытуемого прибора, входы цуль-органа соединень с выводами токоизмерительногр шунта, его выход подключенк первому входу элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора , а выход присоединен к входам коммутатораи счеттака импульсов, соединенного своим выходом с входами счетного триггера и схемы управлени , выходы которых подключены соответственно к входам задающего генератора и источника силового .тока, второй выход схемы управлени  соединен с дл  подключени  управл ющего электрода,а шина сброса подключена к входам начальной уста- новки счетчика импульсов и счетного триггера. На чертеже изображена структурна  электрическа  схема предлагаемого устройства . Устгройство состоит из источника 1 измерительного тока, источника 2 силового TOKci, отключающего диода 3, шунта 4, нуль-органа 5, схемы б управлени , 7-9 дл  подключени  испытуемого .прибора 10, измеритель- . ного блока 11, коммутатора 12, элемента ИЛИ 13, счетчика 14 импульсов , задающего генератора 15, счетного триггера 16. Источник 1 измерительного тока соединен с клеммой 7 дл  подключени  анода испытуемого прибора 10 непосредственно , а источник 2 силового тока - через отключанвдий диод 3. В цепь силового тока включен токоизмерительный шунт 4, к выводам которогю подключены входы нуль-органа 5. Схема; 6 управлени  соединена своими выходами с входом источника 2 и клеммой дл  подключени  управл ющего электр да испытуемого прибора(ИП) 10,клемм 9 дл  подключени  катода которого соединена с общей шиной. Вход измер тельного блока 11., который может быт выполнен,например,в виде аналого-ци рового преобразовател  и регистриру щего прибора,присоединен к клемме 7 подключени  анода испытуемого прибо ра, а его вход запуска соединен с выход коммутатора 12,который,в свою очере через элемент или 13 соединен с выходами нуль-органа 5 и задакнцего генератора 15, а также непосредстве но с ВХОДОМ счетчика 14 импульсов, адход,/счетного триггера 16 соединен выходом с входом задающего генерато ра 15. Шина сброса подключена к вхо дам начальной установки счетчика 1 имульеов и счетного триггера 16. Устройство работает следукицим об разом. Испытуемый прибор 20 (ИП) подключаетс  к 7 - 9. При подаче питани  счетчик 14 импульсов и счет Шй триггер 16 устанавливаютс  по шине сброса в начальное состо ние. При поступлении с выхода схемы 6 управлени  управл ющего сигнала на ЙПЮ (случае проведенй измерени на тщзисторе) через ЙП 10 начинает протекать выпр мленный двухполупериодный ток от источника 2 силового зона и посто нный измерительный ток от источника 1. В моменты спада напр жени  От источника силового тока до величины падени  напр жени  на ИП 10 от измерительного тока отключающий диод 3 начинает запиратьс  и протекание силового тока в цеп ИП 10 прекращаетс . В результате этого напр жение на шунте 4 падает до нул  и происходит срабатывание нульоргана 5, сигнал с выхода которого поступает на один из входов элемента ИЛИ 13, с выхода которого сигнал подаетс  на вход коммутатора 12, ВЫХОДНОЙ сигнал которого управл ет работой измерительного блока 11. Измерительный блок 11 может содержать , например, быстродействующий аналого-цифровой преобразователь, выход которого соединен с регистрирующим прибором. Коммутатор 12 кйэжетбыть построен, например, так, что обеспечивает изменение интервала времени между выходными импуль ,еами по логарифмическому закону. Это позвол ет например, при длитель .ности измерени  тепловой переходной характеристики 10 с произвести измерение в 55 точках без потери инфор Iмативности,так как переходна  тепло ва  характеристика строитс  в логарифмическом масштабе времени. Сигнал с выхода элемента ИЛИ 13 подаетс  . одновременно на вхрд счетчика 14/импульсов коэффициент пересчета которого определ ет врем  сн ти  переходной тепловой характеристики. Сигнал с выхода счетчика 14 импульсов после его заполнени  перебрасывает счетный триггер 16 и воздействует на схему 6 управлени . При этом сигнал с выхода схемы 6 управлени  отключает источник 2 силового тока и через ИП 10 в дальнейшем протекает только измерительный ток. Сигнал с выхода счетного триггера 16 запускает задак ций генератор 15, импульсы с выхода которого,следук цие с частотой 100Гц, т.е. с частотой импульсов силового тока, вачинают воздействовать.на второй вход элемента ИЛИ 13| с выхода которого сигналы поступают на вход коммутатора 12 и вход счетчика 14 импульсов в режиме сн ти  кривой охлаждени . При по.вторном заполнении счетчика 14 импульсов импульсами с выхода элемента ИЛИ 13 на его выходе по вл етс  сигнал, который опрокидываетг ,- счетный триггер 16 в нулевое состо ние, и поступление импульсовс выхода задак цего генератора 15 прекращаетс . .jТаким образом, благодар  введению в устройство диода 3, шунта 4, нульсаргана 5 по вл етс  возможность проводить сн тие переходной тепловой характеристики при пропускании греющего тока через ИП 10. Одновременно повышаетс  точность измерени  температуры по сравнению с известным устройством, так как ИП 10 не выключаетс  в процессе измерений, что обеспечивает поддержание всей структуры полупроводникового прибора во врем  измерени  в открытом состо нии . При отключении источника силового тока и последующем пропускании измери1:ельного тока, как это делаетс  в известном устройстве,возможно включение в провод щее состо ние только части структу л, что приводит к прогрешности при измерении температуры. Благодар  введению в предлагаемое устройство элемента ИЛИ, счетчика импульсов, счетного триггера, задающего генератора обеспечиваетс  автоматизаци  процесса сн ти  переходной тепловой характеристики, что при использовании в качестве регистрирующего прибора микропроцессора с графопостроителем позвол ет при предварительном введении градуировочной кривой автоматизировать процесс обработки данных.The invention relates to measuring technique and can be used to measure the transient thermal characteristics of semiconductor valves (thyristors). . A device is known for measuring the thermal characteristics of semi-GHG valves containing a source of heating current, a source of stable voltage, a measuring bridge switching: a thyristor, a load, a shunt for measuring current, blocking disks. The known device makes it possible to measure the temperature of the structure of the test device l. The disadvantages of the known devices are the exclusion of the possibility of continuous recording of the measured, temperature, and the on-automation of the measurement process. The closest technical solution to the present invention is a device for measuring the thermal transition characteristics of semiconductor gates containing a source of power current, one of the outputs of which is connected through a current-measuring shunt with a common bus, a measuring current source connected to a glue for connecting the anode of the test device and to the input The measuring unit / trigger input of which is connected to the switch output, terminals for connecting the control electrode and cathode of the test device, the last of which is connected to the common busbar, and the control circuit. In this device, a current is passed through the test device to the power source direct current and direct current from the corresponding source. When the test instrument, which is included in one of the arms of the measuring bridge, is heated, an unbalance voltage arises, which is measured by the measuring unit. The measuring unit is connected to the bridge by a switch. the inclusion of which at the desired points in time is carried out with a control circuit activated manually by the operator. Before starting the measurements, the control circuit releases the signal to the switch-off unit, which switches off the power source 2. The main drawbacks of the known device are the impossibility of the transient thermal character of the source during the heating current flow and during the cooling of the test device, as well as the error in measuring the structure temperature, associated with the presence of a time interval between the power current disconnection and the beginning of the measurement of the voltage drop from the measuring current. current. The purpose of the invention is {expansion. functionality and improved measurement accuracy. The goal is achieved by the device for measuring the transient thermal characteristics of semiconductor valves, containing a power source, one of the outputs of which is connected through a current-measuring shunt with a common bus, the measuring current source connected to the terminal for connecting the anode of the device under test and to the input of the measuring unit, the trigger input of which is connected to the output of the switch, the terminals for connecting the control electrode and the cathode of the device under test, the last of which is connected to the common bus, and control, a tripping diode, a null organ, an OR element, a master circuit, a pulse pulse meter, a counting trigger, and a reset bus, a triode diode connected by the anode to the other output of the power source, and a cathode to the terminal for connecting the anode of the device under test, the inputs of a pulp body connected to the leads of a current-measuring shunt, its output is connected to the first input of the OR element, the second input of which is connected to the output of the master oscillator, and the output is connected to the inputs of the switch and pulse count connected its output with the inputs of the counting trigger and the control circuit, the outputs of which are connected respectively to the inputs of the master oscillator and the power source, the second output of the control circuit is connected to for connecting the control electrode, and the reset bus is connected to the inputs of the initial pulse counter and counting trigger The drawing shows a structural electrical circuit of the proposed device. The device consists of a measuring current source 1, a TOKci power source 2, a disconnecting diode 3, a shunt 4, a null organ 5, a control circuit b, 7–9 for connecting a test device 10, a meter. unit 11, switch 12, element OR 13, pulse counter 14, master oscillator 15, counting trigger 16. Measurement current source 1 is connected to terminal 7 for connecting the anode of test device 10 directly, and power current source 2 via disconnecting diode 3. A current-measuring shunt 4 is connected to the power circuit, the inputs of which are connected to the inputs of the zero-body 5. Scheme; The control unit 6 is connected by its outputs to the input of the source 2 and the terminal for connecting the control electrode of the device under test (SP) 10, the terminals 9 for connecting the cathode of which is connected to the common bus. The input of the measuring unit 11., which can be made, for example, in the form of an analog-cis converter and a recording instrument, is connected to the terminal 7 for connecting the anode of the device under test, and its start input is connected to the output of the switch 12, which, in its The element through or 13 is connected to the outputs of the zero-organ 5 and the back-up generator 15, as well as directly to the INPUT of the counter 14 pulses, the input / counting trigger 16 is connected to the input of the master oscillator 15. The reset bus is connected to the inputs of the initial installation counter 1 im leov and counting flip-flop 16. The device operates sledukitsim of time. The test device 20 (PI) is connected to 7 - 9. When the power is supplied, the counter 14 pulses and the count Shy trigger 16 are set to the reset bus to the initial state. When the control signal 6 arrives from the output of the control circuit 6 to YPU (the case was taken at the vizistor), a rectified full-wave current from source 2 of power zone and constant measuring current from source 1 begin to flow through JP 10. At the moments of voltage drop From source of power current until the voltage drops across the IP 10 from the measuring current, the disconnecting diode 3 begins to close and the flow of the current to the IP circuit 10 stops. As a result, the voltage on shunt 4 drops to zero and a null organ 5 is triggered, the signal from the output of which goes to one of the inputs of the OR element 13, from the output of which the signal is fed to the input of switch 12, the OUTPUT signal of which controls the operation of the measuring unit 11. The measuring unit 11 may contain, for example, a high-speed analog-to-digital converter, the output of which is connected to a recording device. The switch 12 may be built, for example, in such a way that it provides a change in the time interval between the output impulses, according to a logarithmic law. This allows, for example, when measuring the thermal transition characteristic 10 s for a duration to measure at 55 points without losing informativity, since the transition heat characteristic is constructed on a logarithmic time scale. The signal from the output of the element OR 13 is supplied. at the same time, on the counter 14 / pulses, the conversion factor of which determines the time of removal of the transient thermal characteristic. The signal from the output of the counter 14 pulses after it is filled throws the counting trigger 16 and acts on the control circuit 6. In this case, the signal from the output of the control circuit 6 disconnects the power source 2 and through the PI 10 only the measuring current flows. The signal from the output of the counting trigger 16 triggers the orders of the generator 15, the pulses from the output of which follow at a frequency of 100 Hz, i.e. with the frequency of the pulses of power current, they start to act on the second input of the element OR 13 | the output of which signals are fed to the input of the switch 12 and the input of the counter 14 pulses in the mode of removal of the cooling curve. When the pulse counter 14 is filled with pulses from the output of the element OR 13, a signal appears at its output that trips, the counting trigger 16 goes to the zero state, and the pulses from the output of the generator 15 are stopped. .jThus, due to the introduction of a diode 3, shunt 4, and null sargan 5 into the device, it is possible to remove the transient thermal response by passing a heating current through the SP 10. At the same time, the accuracy of the temperature measurement improves compared with the known device, since the SP 10 does not is turned off during the measurement process, which ensures that the entire structure of the semiconductor device is kept in the open state during the measurement. When the power source is disconnected and the measuring current is subsequently passed, as is done in the known device, only a part of the structure can be switched on to the conductive state, which leads to error in measuring the temperature. By introducing into the proposed device an OR element, a pulse counter, a counting trigger, a master oscillator, the transient thermal characteristic is automated, which, when used as a recording device, of a microprocessor with a plotter, allows the data processing to be automated during the preliminary introduction of the calibration curve.

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕХОДНОЙ ТЕПЛОВОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ВЕНТИЛЕЙ,содержащее , источник силового тока,один из выходов которого соединен через токоизмерительный шунт с общей шиной,источник измерительного тока, соединенный с клеммой для подключения анода испытуемого прибора и с входом измерительного блока, вход запуска которого присоединен к выходу, коммутатора, клем-f ки для подключения управляющего электрода и катода испытуемого прибора, последняя из которых соединена с общей шиной, и схему управления, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей и повышения точности, в него введены отключающий диод, нуль-орган, элемент ИЛИ, задающий генератор, счетчик импульсов, счетный триггер и шина сброса, причем отключающий диод присоединен анодом к другому еыходу источника силового тока, а катодом - к клемме для подключения анода испытуемого прибора, входы нуль-органа соединены с выводами токоизмерительного шунта, его выход подключен к первому входу элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом задающего генератора, <g а выход присоединен ^входам коммута- t тора и счетчика импульсов, соединен- ΙΛ ного I своим входом ;с входами счёт- Ijj но го триггера и-^схемы управления, IQ выходы которых подключены соответст- I венно к входам задающего генератора £ и источника силового тока, второй выход схемы управления соединен с клеммой для подключения управляющего электрода, а шина сброса подключена к входам начальной установки счетчика импульсов и счетного триггера. ·DEVICE FOR MEASURING TRANSITIONAL THERMAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR VALVES, containing a power current source, one of the outputs of which is connected via a current-measuring shunt to a common bus, a measuring current source connected to a terminal for connecting the anode of the device under test and with the input of the measuring unit connected to the input output, switch, terminal f for connecting the control electrode and cathode of the device under test, the last of which is connected to a common bus, and a control circuit, distinguishing The fact is that, in order to expand the functionality and improve accuracy, a disconnecting diode, a zero-organ, an OR element, a driving generator, a pulse counter, a counting trigger and a reset bus are introduced into it, and the disconnecting diode is connected by an anode to another output of the power current source and the cathode - to the terminal for connecting the anode of the device under test, the inputs of the zero-organ are connected to the terminals of the current-measuring shunt, its output is connected to the first input of the OR element, the second input of which is connected to the output of the master oscillator, <g and the output connected to the inputs of the switch t and the pulse counter connected to I by its input I; to the inputs of the counting Ijj trigger and- ^ control circuits, the IQ outputs of which are connected respectively to the inputs of the master oscillator £ and the power source , the second output of the control circuit is connected to the terminal for connecting the control electrode, and the reset bus is connected to the inputs of the initial setting of the pulse counter and counting trigger. ·
SU823434110A 1982-05-04 1982-05-04 Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic SU1057890A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823434110A SU1057890A1 (en) 1982-05-04 1982-05-04 Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823434110A SU1057890A1 (en) 1982-05-04 1982-05-04 Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1057890A1 true SU1057890A1 (en) 1983-11-30

Family

ID=21010445

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823434110A SU1057890A1 (en) 1982-05-04 1982-05-04 Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1057890A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2609815C2 (en) * 2015-06-03 2017-02-06 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Method of light-emitting diode transient thermal characteristics measuring

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1 Рабинерсон А.А. и др. Режимы нагрузки силовых полупроводниковых приборов. М., Энерги , 1976.с.50. 2.Чебовский О.Г. и др. Испытани силовых полупроводниковых приборов. М., Энергоиздат, 1981,с.91-100. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2609815C2 (en) * 2015-06-03 2017-02-06 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Method of light-emitting diode transient thermal characteristics measuring

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3287636A (en) Method and apparatus including condenser means for measuring the insulation from earth of electrical networks
US3659199A (en) Rectifier test method
SU1057890A1 (en) Device for measuring semiconductor gate transitional thermal characteristic
US3916309A (en) Short circuit capacity measuring device
US2523399A (en) Null-balance frequency meter
US3373356A (en) Holding current meter for scr or the like
US3735252A (en) Automatic tester for testing resistance and inductance of coil windings
JPS5540939A (en) Impedance measuring unit
SU1134917A1 (en) Device for measuring uhf power
SU864192A1 (en) Device for testing symmetric thyristors
SU1636809A1 (en) Device for diode parameters testing
SU1737362A1 (en) Device for checking resistance of insulation of constant current circuits
SU1434375A1 (en) Device for monitoring contact-making
SU605125A1 (en) Method of monitoring measuring bridge null point
SU883808A1 (en) Device for determination of thyristor dynamic thermal stability
SU469929A1 (en) Wattmeter
SU1550440A1 (en) Method of unilateral determination of distance to the place of unstable single-phase short-circuit in electric power with single-phase automatic reclosing
SU1594444A1 (en) Method of determining resistance
SU1142882A1 (en) Charge amplifier
SU673942A1 (en) Arrangement for measuring thyristor control circuit parameters
SU974143A1 (en) Method and device for measuring pulse irradiation time and energy characteristics
JPS57201040A (en) Semiconductor device
JP3461258B2 (en) Apparatus for measuring conductivity or pH
SU1638659A1 (en) Device for measuring resistance of live wire with frequency output
SU538346A1 (en) Contact monitoring device