SU1138848A1 - Device for testing incandescent lamps - Google Patents
Device for testing incandescent lamps Download PDFInfo
- Publication number
- SU1138848A1 SU1138848A1 SU833657248A SU3657248A SU1138848A1 SU 1138848 A1 SU1138848 A1 SU 1138848A1 SU 833657248 A SU833657248 A SU 833657248A SU 3657248 A SU3657248 A SU 3657248A SU 1138848 A1 SU1138848 A1 SU 1138848A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- thyristor
- resistor
- input
- sensor
- Prior art date
Links
Landscapes
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ЛАМП НАКАЛИВАНИЯ, содержащее регулируемый источник напр жени , тиристор, ограничительный резистор, соединенный одним выводом с управл ющим выводом тиристора, датчик пробо , контакты дл подсоединени испытываемой лампы и измеритель напр жени , отличающеес тем, что, с целью повьшени точности измерени напр жени пробо тела накала лампы, в него дополнительно введены нагрузочный резистор, кнопка пуска, первый и второй конденсаторы, второй тиристор, первый, второй и третий резисторы, первый и второй диоды, усилитель и импульсный трансформатор , при этом положительный вывод регулируемого источника питани через нагрузочный резистор подсоединен к одному контакту дл подключени лампы, а также к первому входу измерител напр жени , например амплитудному вольтметру, и первому входу датчика пробо , другой контакт дл подключени лампы соединен с вторым входом.измерител напр жени , вторым входом датчика пробо , а также с одним выводом кнопки пуска, анодом первого тиристора и одним выводом первого конденсатора, при этом другой вывод кнопки пуска подключен к другому выводу ограничительного резистора, катод первого тиристора соединен с катодом второго тиристора, с одним выводом выходной обмотки импульсного трансформатора и с отрицательным выводом регулируемого источника питани , при этом второй вывод выходной юбмотки импульсного трансформатора соединен с управл ющим выводом второго тиристора, анод этого тиристора соединен с другим выводом первого (Л конденсатора и одним выводом третьего резистора, другой вывод которого подс: ключен к положительному выводу регулируемого источника питани , датчик пробо двум своими выходами подсоединен к двум входам усилител , который в свою очередь двум своими :о эо эо выходами подсоединен к двум выводам входной обмотки импульсного трансформатора , а датчик пробо при этом выполнен так, что первый вход датчика пробо подсоединен к аноду первого 00 диода и катоду второго диода, при этом катод первого диода соединен с одним выводом первого резистора, который своим другим выводом соединен с одним выводом второго конденсатора, второго резистора и одним выходом датчика пробо , второй вход датчика пробо соединен с другим выводом второго конденсатора, а другой вывод второго резистора соединен с анодом второго диода и с другим вькодом датчика пробо .A TURNING LAMP TEST DEVICE, containing an adjustable voltage source, a thyristor, a limiting resistor connected by a single output to a thyristor control output, a probe sensor, contacts for connecting a test lamp, and a voltage meter that is different a sample of the lamp body, a load resistor, a start button, the first and second capacitors, the second thyristor, the first, second and third resistors, the first and second diodes An amplifier and a pulse transformer, while the positive output of the regulated power supply is connected via a load resistor to one contact for connecting the lamp, as well as to the first input of a voltage meter, such as an amplitude voltmeter, and the first input of the probe, another contact for connecting the lamp is connected with the second input of the voltage meter, the second sensor input of the sample, as well as with one output of the start button, the anode of the first thyristor and one output of the first capacitor, while the other output the start button is connected to another terminal of the limiting resistor, the cathode of the first thyristor is connected to the cathode of the second thyristor, with one output of the output winding of the pulse transformer and to the negative output of the adjustable power source, while the second output of the output side of the pulse transformer is connected to the control output of the second thyristor, anode This thyristor is connected to another output of the first (L capacitor and one output of the third resistor, the other output of which is: sub: connected to the positive output a regulated power supply, the probe is broken by two of its outputs connected to two inputs of the amplifier, which in turn are two of its own: on this output is connected to two terminals of the input winding of the pulse transformer, and the sensor of the breakdown is configured so that the first input of the probe is connected to the anode of the first 00 diode and the cathode of the second diode, while the cathode of the first diode is connected to one output of the first resistor, which with its other output connects to one output of the second capacitor, the second resistor and one The output of the sensor is a breakdown of the sensor, the second input of the sensor is connected to another output of the second capacitor, and the other output of the second resistor is connected to the anode of the second diode and to another code of the probe.
Description
Изобретение относитс к электротехнике , а именно к устройствам автО матического измерени параметров дуги в электрических аппаратах. Известно устройство дл автомати«iecKoro измерени времени горени дуги на контакте коммутационного аппарата , содержащее датчик напр жени датчик тока и измеритель напр хсени , в котором датчики тока и напр жени включены последовательно и выполнены на герконах m . Однако наличие контактных элементов в схемах измерени параме:тров дуги вносит инерционнуй) погрешность, снижа точность измерени напр жени возникновени дуги. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому результату вл етс устройство дл испытани ламп накаливани , соде жащее регулируемый источник напр жени , токовое реле, два диодных выпр мительных мостика, тиристор, ограничительный резистор, первый резистор, контакты дл подсоединени испытываемой лампы, измеритель напр жени и дифференциальньш трансформатор, при этом к одному выводу регулируемо го источника присоединен один вывод токового реле, другой вывод которого соединен с одним выводом первого резистора , контактом ffnK подсоединени испытываемой лампы и первым входом измерител напр жени , второй контак дл подсоединени испытываемой лампы соединен с вторым входом измерител напр жени и первым входом дифференциального трансформатора, второй вывод первого резистора соединен с вто рым входом дифференциального трансформатора , выходна обмотка которого подсоединена к первому диодному выпр мительному мостику, к положительному выводу этого мостика через огра ничительный резистор подсоединен упра л ющий вывод тиристора, причем анод тиристора подсоединен к положительному выводу второго диодного выпр мительного мостика, а катод тиристора - к отрицательным выводам пер вого и второго вьшр мительных диодных мостиков, при этом второй диодны вьтр мительньй мостик одним своим вы вводом дл переменного напр жени под соединен к точке соединени вывода токового реле, первого резистора, ко такта дл подсоединени испытываемой лампы накаливани и первого входа измерител , а вторым своим выводом этот мостик соединен с вторым выводом регулируемого источника напр жени и общим выводом дифференциальной обмотки дифференциального трансформатора . Известное устройство позвол ет испытать лампу накаливани посредством постепенного повышени напр жени на ее зажимах, фиксиру уровень действующего значени напр жени вольтметром , В момент пробо напр жение между витками тела накала лампы фиксируетс датчиком пробо , выполненным в виде измерительной мостовой схемы, воздействующей на коммутационньй элемент шунтирующего типа. Напр жение пробо при этом фиксируетс измерителем напр жени , в качестве которого применен вольтметр переменного тока, измер ющий действующее значение напр жени 2 . Однако точность измерени в известном устройстве низка, так как датчик пробо содержит эквивалентное сопротивление с величиной, равной омическому сопротивлению испытываемой лампы . Но так как омическое сопротивление ламп накаливани как правило неодинаково и нелинейно, подбор точной величины эквивалентного сопротивлени , обеспечивающей омический баланс схемы измерени , невозможен. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени напр жени пробо тела накала лампы. . Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл испытани ламп накаливани , содержащее регулируемый источник напр жени , тиристор, ограничительный резистор, соединенный одним выводом с управл ющим выводом тиристора, датчик пробо , контакты дл подсоединени испытьшаемой лампы и измеритель напр жени , дополнительно введены нагрузочный резистор, кнопка пуска, первый и второй конденсаторы , второй тиристор, первый, второй и третий резисторы, первый и второй диоды, усилитель и импульсный трансформатор, при этом положительный вывод регулируемого источника питани через нагрузочный резистор подсоединен к одному контакту дл подключени лампы, а также к первому входу измерител напр жени , например амплитудНому вольтметру, и к первому входу . датчика пробо , другой контакт дл подключени лампы соединен с вторым входом измерител напр жени , вторым входом датчика пробо , а также с одним выводом кнопки пуска, анодом первого тиристора и одним выводом первого конденсатора, при этом другой вывод кнопки пуска подключен к другому выводу ограничительного резистора , катод первого тиристора сое динен с катодом второго тиристора, с одним выводом выходной обмотки импульсного трансформатора и с отрицательным выводом регулируемого источника питани , при этом второй вывод выходной обмотки импульсного трансформатора соединен с управл ющим выводом второго тиристора, анод этого тиристора соединен с другим вы водом первого конденсатора и одним выводом третьего резистора, другой вывод которого подключен к положительному выводу регулируемого источника nri тани , датчик пробо двум своими выходами подсоединен к двум входам усилител , который в свою очередь двум своими выходами подсоединен к двум выводам входной обмотки импульсного трансформатора, а датчик пробо при этом выполнен так, что первый вход датчика пробо подсоединен к аноду первого диода и катоду второго диода, при этом катод первог диода соединен с одним выводом первого резистора, который своим другим выводом соединен с одним выводом второго конденсатора, второго резистора и одним выходом датчика пробо , второй вход датчика пробо соед нен с другим выводом второго конденсатора , а другой вывод второго резистора соединен с анодом второго диода и с другим выходом датчика пробо . На фиг. 1 представлено устройство дл испытани ламп накаливани ; на фиг. 2 - осциллограммы напр жени и така на элементах устройства дл испытани ламп накаливани . Устройство дл испытани ламп накаливани содержит регулируемый источник 1 напр жени ,.к положительному выводу которого через нагрузочный резистор 2 подсоединена испытываема лампа 3. С помощью контактов 4 и через тиристор 5 испытываема лампа 3 подсоединена к отрицательному выводу регулируемого источника 1 напр жени . Катод тиристора 5 подсоединен к катоду тиристора 6 ,а аноды ти .ристоров 5 и 6 соединены через конденса 43Л тор 7, управл ющий вывод тиристора. 5 через ограничительный резистор 8 и через кнопку 9 пуска.соединен с его же анодом. Параллельно испытываемой лампе 3 подключены измеритель 10 напр жени (например, амплитудный вольтметр), а также датчик 11 пробо , содержащий конденсатор 12, который соединен с входом через диод 13 и резистор 14 и второй диод 15 и резистор 16. При этом диод 13 подсоединен к этому входу датчика 11 пробо анодом, а диод 15 - катодом , к резистору 16 подключен усилитель 17, который своими выходными выводами подсоединен к входу импульсного трансформатора 18. Кроме того, положительный вывод регулируемого, источника 1 напр жени через резистор 19 соединен с анодом тиристора 6, а выход импульсного трансформатора 18 соединен с управл кицим выводом и катодом тиристора 6. Устройство дл испытани ламп накаливани работает следующим образом . К контактам 4 подключаетс испытываема лампа 3. Напр жение на выходе регулируемого источника 1 напр жени устанавливаетс пор дка 30 В. Нажимаетс кнопка 9 пуска. При этом открываетс тиристор 5 и по цепи источник 1 напр жени - нагрузочный резистор 2 - испытываема лампа 3 тиристор 5 течет ток. Повышение напр жени на испытываемой лампе 3 фиксируетс измерителем 10 напр жени . По мере роста напр жени на испытываемой лампе 3 зар жаетс конденсатор 12 через диод 13 и резистор 14. В момент возникновени дуги между витками тела накала лампы напр жение на лампе снижаетс (фиг. 2), при этом конденсатор 12 начинает разр жатьс по цепи резистора 16 и диода 15. Возникновение напр жени на резисторе 16 фиксируетс усилителем 17, который . через импульсный трансформатор 18 подает сигнал на отпирание тиристора 6. Отпирание тиристора 6 ведет к запиранию тиристора 5 за счет разр да конденсатора 7. Тиристор 5 отключает цепь питани , а на измерителе 10 напр жени (амплитудный вольтметр ) фиксируетс напр жение- пробо . На фиг. 2(Jj, и .1, - напр жение и ток испытываемой лампы 3i L - пусковой импульс тока тиристора 6; Цу- напр жение на измерителе 10 напр жени .The invention relates to electrical engineering, in particular to devices for the automatic measurement of arc parameters in electrical apparatus. A device for automatic iecKoro measurement of arc burning time at a contact of a switching apparatus is known, which contains a voltage sensor and a current sensor and a voltage meter in which current and voltage sensors are connected in series and made on reed switches m. However, the presence of contact elements in the Parame: arcing measurement circuits introduces an inertia error, reducing the accuracy of the measurement of the arc arising voltage. The closest to the invention to the technical essence and the achieved result is a device for testing incandescent lamps, containing an adjustable voltage source, a current relay, two diode rectifier bridges, a thyristor, a limiting resistor, the first resistor, contacts for connecting the test lamp, a voltage meter differential transformer, with one output terminal of an adjustable source connected to one output current relay, the other output of which is connected to one output of the first resistor a, contact ffnK connecting the test lamp and the first input of the voltage meter, the second contact to connect the test lamp to the second input of the voltage meter and the first input of the differential transformer, the second output of the first resistor connected to the second input of the differential transformer, the output winding of which is connected to The first diode rectifier bridge, to the positive output of this bridge, through the limiting resistor is connected the control output of the thyristor, and The thyristor is connected to the positive terminal of the second diode rectifier bridge, and the thyristor cathode to the negative terminals of the first and second pilot diode bridges, while the second diode side bridge is connected to the junction point of the current output a relay, the first resistor, a clock to connect the test incandescent lamp and the first input of the meter, and the second output connects this bridge to the second output of the adjustable voltage source and common terminal differential winding of the differential transformer. The known device allows to test the incandescent lamp by gradually increasing the voltage at its terminals, fixing the level of the actual voltage value with a voltmeter. At the moment the voltage between the turns of the lamp body is detected by the sample sensor, made in the form of a measuring bridge circuit acting on the switching element of the shunt type The voltage of the breakdown is recorded by a voltage meter, which is applied as an AC voltmeter, which measures the effective value of voltage 2. However, the measurement accuracy in the known device is low, since the probe sensor contains an equivalent resistance with a value equal to the ohmic resistance of the test lamp. But since the ohmic resistance of incandescent lamps is usually unequal and nonlinear, the selection of the exact value of the equivalent resistance, which ensures the ohmic balance of the measurement circuit, is impossible. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring the voltage of the sample of the lamp body. . The goal is achieved in that a device for testing incandescent lamps containing an adjustable voltage source, a thyristor, a limiting resistor connected by one output to the control output of the thyristor, a probe sensor, contacts for connecting the test lamp and a voltage meter, additionally introduced a load resistor , start button, first and second capacitors, second thyristor, first, second and third resistors, first and second diodes, amplifier and pulse transformer, while you are positive od regulated power supply through a terminating resistor connected to one terminal for connecting the lamp, and also to the first input voltage meter, e.g. peak voltmeter and to the first input. A sample sensor, another contact for connecting a lamp is connected to a second input of a voltage meter, a second input of a sensor, and also to one output of the start button, the anode of the first thyristor and one output of the first capacitor, while the other output of the start button is connected to another output of the limiting resistor , the cathode of the first thyristor is connected to the cathode of the second thyristor, with one output of the output winding of the pulse transformer and with a negative output of the regulated power supply, the second output of the output The coils of the pulse transformer are connected to the control lead of the second thyristor, the anode of this thyristor is connected to another lead of the first capacitor and one lead of the third resistor, the other lead of which is connected to the positive lead of an adjustable source of power, the probe with its two outputs is connected to two amplifier inputs, which, in turn, its two outputs are connected to two terminals of the input winding of a pulse transformer, and the probe sensor is designed so that the first input of the probe sensor connected to the anode of the first diode and the cathode of the second diode, while the cathode of the first diode is connected to one end of the first resistor, which is connected to one end of the second capacitor, second resistor and one output of the probe through its other output, the second input of the sensor is connected to the other output the second capacitor, and the other terminal of the second resistor is connected to the anode of the second diode and to another output of the probe. FIG. 1 shows a device for testing incandescent lamps; in fig. 2 - oscillograms of voltage and such on the elements of the device for testing incandescent lamps. A device for testing incandescent lamps contains an adjustable voltage source 1, to the positive terminal of which a test lamp 3 is connected via a load resistor 2. Through contacts 4 and through a thyristor 5 a test lamp 3 is connected to the negative terminal of an adjustable voltage source 1. The cathode of the thyristor 5 is connected to the cathode of the thyristor 6, and the anodes of the thyristor 5 and 6 are connected via a condenser 43L torus 7, which controls the output of the thyristor. 5 through the limiting resistor 8 and through the start button 9. Connected with its own anode. In parallel with the test lamp 3, a voltage meter 10 (for example, an amplitude voltmeter) is connected, as well as a probe 11, containing a capacitor 12, which is connected to the input through a diode 13 and a resistor 14 and a second diode 15 and a resistor 16. At the same time, diode 13 is connected to This input of sensor 11 is broken down by an anode, and a diode 15 by a cathode, to resistor 16 is connected an amplifier 17, which by its output terminals is connected to the input of a pulse transformer 18. In addition, the positive terminal of an adjustable, voltage source 1 is connected through an resistor 19 the house of the thyristor 6, and the output of the pulse transformer 18 is connected to the control output and the cathode of the thyristor 6. The device for testing incandescent lamps works as follows. The test lamp 3 is connected to the contacts 4. The voltage at the output of the adjustable voltage source 1 is set to 30 V. The start button 9 is pressed. In this case, the thyristor 5 is opened and the voltage source 1, the load resistor 2, is tested through the circuit of the voltage source 1 and the current 3 is flowing to the thyristor 5. The voltage increase on the test lamp 3 is detected by the voltage meter 10. As the voltage on the test lamp 3 grows, capacitor 12 is charged through diode 13 and resistor 14. At the time of the arc between the turns of the lamp filament body, the voltage on the lamp decreases (Fig. 2), and the capacitor 12 begins to discharge in the resistor circuit 16 and diode 15. The occurrence of a voltage across resistor 16 is detected by amplifier 17, which. through the pulse transformer 18, it sends a signal to unlock the thyristor 6. Unlocking the thyristor 6 leads to locking the thyristor 5 due to the discharge of the capacitor 7. The thyristor 5 turns off the power supply circuit, and on the voltage meter 10 (amplitude voltmeter) the breakdown voltage is detected. FIG. 2 (Jj, and .1, is the voltage and current of the lamp under test 3i L is the starting pulse of the current of the thyristor 6; the voltage is on the voltage meter 10.
Пример. В лабораторных услови х изготовлено устройство дл испытани ламп накаливани , в котором в качестве регулируемого источника напр жени применен трехфазньй выпр митель со сгла оивающим фильтром, позвол ющий регулировать напр жение от 30 до 700 В. Мощность источника питани 0,5 кВт.Example. Under laboratory conditions, a device for testing incandescent lamps was manufactured, in which a three-phase rectifier with a smoothing filter was used as an adjustable voltage source, which allowed to regulate the voltage from 30 to 700 V. Power supply power 0.5 kW.
Нагрузочный резистор имеет величину 22 Ом4 Использованы тиристоры Т-25-12 с конденсатором КВГ 10 мкФ, пускова кнопка типа KM-t-1 и резистор МЛТ-2-12 кОм.The load resistor has a size of 22 Ohm4. Thyristors T-25-12 with a capacitor KVG 10 microfarad, a start button like KM-t-1 and a resistor MLT-2-12 kΩ are used.
В качестве измерител напр жени применен вольтметр импульсного тока В 4-2.A voltage pulse current meter B 4-2 was used as a voltage meter.
Датчик пробо выполнен на диодах КД 202j резисторах типа МПТ-2-562 ,5 кОм. Конденсатор 1 мкФ х 1000 В. Усилительное звено вьшолнено в видеThe sensor probe is made on diodes KD 202j resistors of the type MPT-2-562, 5 kΩ. Condenser 1 uF x 1000 V. The amplification link is implemented as
операционного усилител типа УД 401Б. Предлагаемое устройство обладает повышенной точностью измерени пробо тела накала лампы, так как фиксаци напр жени пробо происходит автоматически , причем фиксируетс мгновенное значение напр жени , при котором произошел пробой тела накала лампы. Предлагаемое устройство позвол ет повысить точность измерени напр жени возникновени дуги при испытани х ламп накаливани различной мощности .operational amplifier type UD 401B. The proposed device has an increased measurement accuracy of the sample of the lamp filament body, since the fixing of the sample voltage occurs automatically, and the instantaneous value of the voltage at which the lamp body breakdown occurred is fixed. The proposed device makes it possible to increase the accuracy of measuring the voltage of an arc when testing incandescent lamps of various powers.
и.and.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833657248A SU1138848A1 (en) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | Device for testing incandescent lamps |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833657248A SU1138848A1 (en) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | Device for testing incandescent lamps |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1138848A1 true SU1138848A1 (en) | 1985-02-07 |
Family
ID=21087202
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833657248A SU1138848A1 (en) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | Device for testing incandescent lamps |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1138848A1 (en) |
-
1983
- 1983-10-26 SU SU833657248A patent/SU1138848A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Авторское свидетельство СССР № 890467, кл. Н 01 Н 5/90, 1981. 2. Корочков В.Н. и др. К вопросу о возникновении разр да в газонаполненных лампах накаливани .- Светотехника, 1973, № 4, рис. 1 (прототип). * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5075599A (en) | Circuit arrangement | |
SU1138848A1 (en) | Device for testing incandescent lamps | |
US4105496A (en) | Method and device for electronic control with positive safety | |
JPH0398106A (en) | Circuit apparatus for supplying load | |
SU1575140A1 (en) | Apparatus for testing insulation for electric strength | |
SU1120818A1 (en) | Device for monitoring phase-zero circuit resistance | |
SU1511718A1 (en) | Device for monitoring current protection apparatus | |
SU1697135A1 (en) | Relay device | |
SU1758565A1 (en) | Compensation voltmeter | |
SU1174786A1 (en) | Device for monitoring temperature of windings of d.c.electric machines | |
SU1647455A1 (en) | Device for contact pair resistance testing | |
SU114215A1 (en) | Method of testing semiconductor rectifiers and device for implementing this method | |
SU568027A1 (en) | Circuit for continuously monitoring insulation resistance of ac mains | |
SU855517A2 (en) | Device for measuring electric power factor | |
JPH0320785Y2 (en) | ||
SU678576A1 (en) | Device for protecting current transformer secondary circuit from breaking | |
SU957134A1 (en) | Device for checking short-circuited turns | |
SU663014A1 (en) | Method and apparatus for protecting three-phase consumers from incomplete operating modes | |
SU750400A1 (en) | Device for determining permissible shock current of silicon power-diodes | |
KR910006893Y1 (en) | Circuit current detective circuit departed in-out put | |
SU754607A1 (en) | Thyristorized ac voltage regulator | |
SU1317509A1 (en) | Device for measuring time of firing arc on contacts of switching device | |
RU1772859C (en) | Ac circuit overload and open-circuit fault protection pickup | |
SU533888A1 (en) | AC Insulation Strength Tester | |
KR850001547Y1 (en) | Power circuit |