CS206226B1 - Zariadenie na snímanie štrukturólnych chýb dřeva - Google Patents

Description

POPIS VYNÁLEZU

K AUTORSKÉMU OSVEDČENIU ČESKOSLOVENSKASOCIALISTICKÁREPUBLIKA( 19 )

(61) (23) Výstavná priorita(22) Přihlášené 03 10 79(21) PV 6683-79

ÚŘAD PRO VYNÁLEZY

A OBJEVY (40) Zverejnené 29 08 80 (45) Vydané 01 10 83 206 226 (11) (Bl) (51) ínt. CÍ? G 01 N 21/00G 01 N SB52 Z///?· (75)

Autor vynálezu ZAJAC EMANUEL, ing., CSc., ZVOLEN (54) Zariadenie na snímanie Štrukturálnych chýb dřeva 1

Vynález sa vzťahuje na zariadenie, ktoré je vhodné na automatické optoelektrické sníma-nie štrukturálnych chýb dřeva ako sú hrdé, hnilobné miesta, presmol, trhliny apod., ak sútieto chyby viditelné na neznečistenej ploché.

Použitie optoelektrických princípov snímania a hodnotenia kvality najma rovinnýchpldch pravidelných telies z rdznych materiálův je vo všeobecnosti známe. Využívá sa přitomskutočnosť, že materiály s rSznou povrchovou štruktúrou zdrsnenia, zafarbenia apod., nerov-noměrná odrážajú, pohlcujú, či rozptylujú světlo, takže rdzne časti hodnotenej plochy aj přirovnomernom osvětlení sa javia ako viac alebo menej světlé, či tmavé. Výrazné je to napr.u niektorých dřevin znehodnotených zdravými alebo hnilobou napadnutými hrčami, presmolom,či trhlinami.

Strukturálně chyby týchto dřevin možno snímat na základe ich optických prejavov ploš-né napr. televíznou kamerou alebo diskrétně optoelektrickými snimačmi typu fotoodpor, foto-dioda, fototranzistor. Ak sa snímájú uvedené Strukturálně chyby dřeva televíznou kamerou,vznikajú ťažkosti so zachytením malorozmerových hrč a menších trhlin. Při diskrétnom sníma-ní štrukturálnych chýb dřeva napr. tak, že pod radou fotoniek sa rovnoměrně pohybuje hodno-tená plocha, sú problémy najma so zachytením malých trhlin. Je to ddsledok integrálněj cit-livosti fotónky na celú snímaná pldšku, ktorá je opticky ohraničená clonou alebo špeciálnouusmerňovacou šošovkou (u fototranzistorá KP 101) na určitý, obyčajne kruhový plošný útvar,v rozsahu ktorého malá priebežná trhlina reprezentuje zanedbatelná časť tejto snímanej plo-chy. Citlivost fotónky je ešte přitom značné proměnlivá aj podlá vzdialenosti od osi optic-kej symetrie, fiozdiely citlivosti fotoniek pri snímaní vSčších plSch mQžu byť na celej plo-ché až 20 až 30 %, ba aj vyššie. Reakcia fotónky na Strukturálně chyby nachódzajúce sa v o-kamihu snímania v okrajových čaetiach snímanej plochy je o to menšia. 206 226

Claims (1)

1. 206 226 Uvedené nedostatky odstraňuje zariadenie na snímanie štrukturálnyeh chýb dřeva, kto-rého postatou je, že pozostáva z fotoniek lineárně rozložených s rovnakým odstupom v otvo-roch telesa snímacieho zariadenia, pričom v drážka přeď fotónkami je uložená lineárně op-tika tvaru valcovej odseče, ktorej rovinná část je obrétená smerom k fotónkam a celkovezaujíma takú polohu, aby osi optickej symetrie fotoniek holi na túto rovinu kolmé a abysúčasne ležali v rovině optickej symetrie lineárnej optiky. Hodnotená režná plocha dřeva sa snímá zariadením z malej vzdialenosti, takže vplyvom integ-rálneho optického účinku směrových vlastností fotoniek z přídavnéj optiky sa každou fotón-kou snímá plošný útvar v tvare pretiahlej elipsy. Tým sa zvýši celková citlivost celéhosnímača na výskyt pretiahlých chýb, ako sú trhliny, ak sú tieto orientované přibližné poz-dí ž hlavněj osi symetrie eliptickoj pldšky, snímanéj niektorou z fotoniek. Naproti tomucitlivost zariadenia na výskyt plošných štrukturálnyeh chýb sa nezmení. Zariadenie je pre-to dostatočne citlivé na všetky druhy štrukturálnyeh chýb dřeva. Na priloženom výkrese je znázorněná podstata konkrétného riešenia zariadenia podl’avynálezu. Na obr. 1 je znázorněné celkové riešenia zariadenia. Na obr, 2 je znázorněný rezA-A zariadením. Zariadenie na snímanie štrukturálnyeh chýb dřeva ako celok pozostáva z telesa 1 ,v ktorom sú s požadovaným odstupom navrtané otvory 2 a v nich sú umiestnené fotónky j ,vodivo připojené cez došku tlačených spojov J na konektor , Optika 6 , ktorá má tvarvalcovej odseče je zasunutá do drážky 2 telesa snímača 1 · Popísané zariadenie na snímanie štrukturálnyeh chýb dřeva pracuje tak, že pri rovno-měrně osvetlenej reznej plocho dřeva pohybujúceho sa pod ním vo vzdialenosti cca 5 mm op-ticky ohmatává snímanú plochu, takže sústavou fotoniek j zachytává postupné změny jejoptických vlastností. Výstupné napáťové signály fotoniek sa přitom spracovávajú napr. tak,že sa v časových intervaloch vzorkujú, digitalizujú a zavádzajú sa do památe riadiacehopočítača, mikropočítače spod., kde sa vyhodnocujú. Vzdialenost navrtaných otvorov pre jednotlivé fotónky je závislá na požadovanej' cit-livosti s akou sa majú snímat jednotlivé Strukturálně chyby dřeva. Závisí aj na predpokla-danej vzdialenosti zariadenia od povrchu hodnotenej plochy, pretože eliptické plošky, sní-mané jednotlivými fotónkami sa musia v smere vedTajšej osi překrývat minimálně cca o 1/4jej dížky, aby sa vylúčili opticky hluché miesta na hodnotenej ploché. Pri použití foto-tranzistora KP 101 možno vrtat otvory s minimólnym osovým odstupom do 2,5 mm a možno sní-mat Strukturálně chyby při vzdialenosti zariadenia okolo 5 až 10 mm nad povrchom hodnote-nej plochy. Popísané zariadenie možno s výhodou použit pre jednostranné ale aj viaestranné hod-notenie výskytu štrukturálnyeh chýb pravidelné opracovaných výrobkov z dřeva, ako je ře-zivo, přířezy a hranolky. Možno ho však využit aj v širších súvislostiach pri automatizá-cii procesov hodnotenia kvality povrchu v iných výrobných sférách. PREDMBT V ř K i L B Z U Zariadenie na snímanie štrukturálnyeh chýb dřeva ako sú hrče, hnilobné miesta, presmola trhliny, vyznačuje sa tým, že pozostáva zo sústavy fotoniek (3) lineárně rozloženýchs rovnakým odstupom v otvoroch (2) telesa snímača (l) , pričom v drážka (6) telesasnímača (1) před sústavou fotoniek 13') je uložená lineárna optika (7) v tvare valco-vej odseče, ktorej rovinná část je obrátená smerom k fotónkam (3) a celkove zaujíma takúpolohu, aby osi optickej symetrie fotoniek (3) boli na túto rovinu kolmé a aby súčasneležali v rovině optickej symetrie lineárnej optiky (7) · 2 výkresy