CS200062B1 - Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze - Google Patents
Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze Download PDFInfo
- Publication number
- CS200062B1 CS200062B1 CS549878A CS549878A CS200062B1 CS 200062 B1 CS200062 B1 CS 200062B1 CS 549878 A CS549878 A CS 549878A CS 549878 A CS549878 A CS 549878A CS 200062 B1 CS200062 B1 CS 200062B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- semiconductor substrates
- heating
- chemical deposition
- oxide layers
- gaseous phase
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 18
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 title claims description 6
- 239000007792 gaseous phase Substances 0.000 title 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 title 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 20
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 8
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims description 8
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 20
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 7
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 7
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 239000011253 protective coating Substances 0.000 description 2
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 2
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100407084 Caenorhabditis elegans parp-2 gene Proteins 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical class [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
Vynález se týká vyhřívaoí podlpžky pcílovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynné fáze v rozmezí teploty 20 až 5OO °C.
Při přípravě kysličníkových vrstev chemickou dépozicí z plynné fáze., např. vrstev kysličníku křemičitého Si02 nebo kysličníku hlinitého A12O^ oxidací silanu kyslíkem nebo oxidabí triisopropylolkoholátu hlinitého kyslíkem na površích polovodičových substrátů, např. na křemík Si nebo fosfiů galitý GaP, jsou polovodičové substráty uloženy na vyhřívaoí podložce v depozičním prostoru, např. v trubici nebo ve zvonu, ve kterém proudí plynná reakční směs. Na,vyhřátých polovodičových substrátech a v jejich okolí narůstají kysličníkové vrstvy příslušnými, chemickými reakcemi mezi'plynnými reakčními složkami.
Vyhřívaci-podložka je v klidu nebo sepohybdje podle konstrukce zařízení tak, aby plynné reaktanty shodně omývaly všechny polovodičové substráty uložené ne ní.
Protože z důvodů dalšího zpracování kysličníkových vrstev na polovodičových substrátech,.' např. fotolitograficky, je žádoucí, aby tloušlka vrstev ne všech polovodičových substrátech ve várce byla co nejrovnoměrnější, je třeba, aby rozptyl teploty polovodičových substrátů při' depozici byl co nejmenší, protože rychlost depozice kysličníkových vrstev závisí na teplotě. Toho je možné dosáhnout pouze použitím vyhřívaci podložky zhotovené z materiálu s vysokou' tepelnou vodivostí. Např. při přípravě vrstev kysličníku křemičitého SiO2 oxidací silanu kyslíkem, je zmíěna rychlosti depozice v rozmezí 300 až 400 °C
200 062
0,5 až 0,6 % °C.
Pro dosažení stejné teploty celého povrchu vyhřívací podložky a tím i polovodičových Bubstrátů jsou vyhřívací podložky Zhotovovány z materiálů vysoké tepelné vodivosti. Používá se hliníku a jeho slitin, grafitu a nerez oceli. Tyto materiály však mají řadu nevýhod.
Aby se zabránilo přímému styku materiálu vyhřívací podložky s polovodičovými substráty, pokrývají se vyhřívací podložky před první depozicí na polovodičové substráty vrstvou kysličníku křemičitého SiOg nebo kysličníku hlinitého AlgO^ typické tloušťky 0,5 až 1 ^um. Polovodičové substráty leží vždy na vrstvě kysličníku1 křemičitého SiO^ nebo kysličníku hlinitého AlgO-j. Tato ochranná vrstva, spolu s vrstvami kysličníku křemičitého deponovanými samovolně v okolí polovodičových subšti-átů, se periodicky, obvykle jednou týdně, sleptévá v roztocích kyseliny fluorovodíkové a znovu se nanáší. Tato regenerace vyhřívací podložky je nutné proto, že kysličníkové vrstvy se časem z vyhřívací podložky odlupují a znečišťují povrch polovodičových substrátů a dále vzhledem k nestejné velikosti polovodičových substrátů a nemožnosti je uložit do přesně stejného místa by docházelo ke zhoršení tepelného kontaktu mezi substrátem a podložkou. Periodickou regenerací vyhřívací podložky je zároveň zabráněno kontaminaci stykové plochy polovodičových substrátů vyhřívací podložky ať už otěrem nebo difúzí.
Vyhřívací podložky zhotovené z hliníku a jeho slitin se během provozu při teplotách do 500 °C deformují a jsou korodovány v leptadlech, do kterých se odstraňuje vrstva deponovaných kysličníků z vyhřívací podložky, např. v roztocích kyseliny fluorovodíkové. Vyhřívací podložky z grafitu jsou porézní a křehké o relativně nízké tepelné vodivosti, asi
2x nižší hliníku. Vyhřívací podložky z nerez oceli mají 15x nižší tepelnou vodivost než hliníkové.
<·
Podstatou vynálezu je vyhřívací podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynné fáze do teploty 500 °C, jejíž podstata spočívá v tom, že je zhotovená z mědi pokryté vrstvou 10 až 20ijm niklu a vrstvou 1 až 5 ym platiny nebo rhodia.
Mě3 má zs typických teplot chemické depozice vrstev kysličníku křemičitého nebo kysličníku hlinitého 300 až 500 °C tepelnou vodivost téměř shodnou s tepelnou vodivostí stříbra, tj. nejvyšší ze všech existujících technických materiálů. Tepelná vodivost mědi za teplot 300 až 500 °C je 2x vyšší hliníku, asi 4x vyšší grafitu a asi 30x vyšší nerez oceli. Samotná mě3 se však velmi snadno oxiduje kyslíkem nebo vodní parou, zvláště za vyšších teplot za tvorby kysličníků mědi, které sé při pokojové teplotě z vyhřívací podložky odlupují. Tento problém řeší vynález již uvedenými ochrannými vrstvami. Tyto ochranné vrstvy lze deponovat např. galvanicky. Z uvedených ochranných povlaků je zvlášť výhodné rhodium, jakožto jeden z nejodolnějších kovů vůbec. Ochranné povlaky z rhodia jsou velmi tvrdé, vynikající odolnosti proti oxidaci kyslíkem nebo vodní parou a kyselině fluorovodíkové. Protože střední koeficient lineární tepelné roztažnosti mědi v rozmezí teploty 0 až 500 °C je l,95x vyšší platiny a 2,25x vyšší rhodia, je z hlediska dilatačního přizpůsobení žádousí pokrýt měděnou vyhřívací podložku před depozicí platiny nebo rhodia vrstvou niklu, např. galvanicky.
Střední koeficient lineární tepelná roztažností niklu v rozmezí teploty 0 až 500 ®C je pouze jl,3x nižSimádi. Tímto způsobem mohou být deponovány i silnější ochranná vrstvy platiny nebo rhodia, aniž by praskly.
JJako příklad podložky peliMMgdičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynné fáze je vyhřívací podložka pro depozici vrstev kysličníku křemičitého na křemíkové substráty při teplotách do 500 °C. Na měděná kruhová desce o tlouštce 5 až 10 mm je galvanicky nanesena- vrstva niklu tloušíky 10 až 30yum a na ni opět galvanicky nanesena vrstva rhodia tloušíky 1 až 5 ^um.
Jiným příkladem jo obdobná vyhřívací podložka pokrytá niklem tloušíky 10 až 30 /um a platinou tloušíky 1 až 5/um. ,
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUVyhřívací podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkovýchV vrstev z plynná fáze, vyznačená tím, že je zhotovena z elektrolyticky čistá mědi pokryté vrstvou 10 až 30 yum niklu, na ktoré jo vrstva 1 až 5 ^um rhodia nebo 1 až 5 yum platiny.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS549878A CS200062B1 (cs) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS549878A CS200062B1 (cs) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS200062B1 true CS200062B1 (cs) | 1980-08-29 |
Family
ID=5399967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS549878A CS200062B1 (cs) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS200062B1 (cs) |
-
1978
- 1978-08-23 CS CS549878A patent/CS200062B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI267563B (en) | Diamond coatings on reactor wall and method of manufacturing thereof | |
| TW554063B (en) | Chemical vapor deposition system and method | |
| CN105063746A (zh) | 通过晶片承载器温度偏置来改变晶片表面温度的系统和方法 | |
| TWI270109B (en) | Semiconductor processing components and semiconductor processing utilizing same | |
| JPH03115576A (ja) | 曲がったフィラメントと基板冷却手段を有する合成ダイヤモンド蒸着装置 | |
| WO1990012418A1 (fr) | Dispositif de formation d'un film de tungstene | |
| JPH07335572A (ja) | 半導体ウエハの熱処理用サセプタ及びその製造方法 | |
| JPH118216A (ja) | 半導体製造用部材の洗浄方法 | |
| CS200062B1 (cs) | Vyhřívaoí podložka polovodičových substrátů pro chemickou depozici kysličníkových vrstev z plynná fáze | |
| JPS61281009A (ja) | 多結晶シリコンの製造装置 | |
| JP4003906B2 (ja) | シリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用治具及びこれを用いたシリコン単結晶半導体ウエハ加熱処理用装置 | |
| JPH03153876A (ja) | 炭化珪素質部材 | |
| JPS6396912A (ja) | 基板ホルダ− | |
| JP3094312B2 (ja) | サセプター | |
| JP4166345B2 (ja) | 塩素系ガスに対する耐蝕性部材 | |
| JP3170248B2 (ja) | 半導体基板保持装置 | |
| EP0492159A1 (en) | Metal growth accelerator shell for the chemical vaporization deposition of diamond | |
| JPS6029457A (ja) | 高耐食性溶融亜鉛メッキ浴浸漬部材 | |
| JPH0586476A (ja) | 化学気相成長装置 | |
| JP5876259B2 (ja) | 窒化アルミニウム膜によって被覆された部材の製造方法 | |
| JP4482319B2 (ja) | 反応容器 | |
| JPH0851079A (ja) | 熱処理用治具 | |
| JPS6096590A (ja) | 熱処理用治具 | |
| JP2003133225A (ja) | 半導体製品加熱用ヒータ | |
| JP3862864B2 (ja) | セラミックスヒータ |