CN2828830Y - 电子组件的自动化测试装置 - Google Patents
电子组件的自动化测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN2828830Y CN2828830Y CN 200420116384 CN200420116384U CN2828830Y CN 2828830 Y CN2828830 Y CN 2828830Y CN 200420116384 CN200420116384 CN 200420116384 CN 200420116384 U CN200420116384 U CN 200420116384U CN 2828830 Y CN2828830 Y CN 2828830Y
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electronic package
- test
- main frame
- lattice
- vertical counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种电子组件的自动化测试装置,包括一立式柜、多数测试用机板、一撷取装置及一控管主机所组成,该立式柜于上层设有多数容置格,可供置放多数测试用机板,于下层设有一整理格区,该整理格区区分设有未测格区及已测格区,于立式柜外部设有一自动化控制的撷取装置,并令立式柜中的测试用机板及撷取装置联机于一控管主机,由此组成控管主机可自动控制撷取装置执行电子组件植入及取出于该测试用机板,并能将电子组件区分置放于整理格区中的自动化测试装置。
Description
技术领域
本实用新型是有关一种电子组件的检测装置,特别是指是一种可自动进行及监视电子组件测试作业的电子组件自动化测试装置。
背景技术
目前的电子组件(例如封装完成的芯片),在制造当中及出厂前,均会进行一系列的检验及测试等质量测试工作,除了确保其产品质量之外,并可因测试工作发见制造上的瑕疵,以进行修正、改进或更换,以提高其产品的成品率。现今的芯片制造商,通常提供给消费者长期的保修期间,甚或终身保修,因此特别需在产品制造中及出厂前经过严密的质量测试,尤其在出厂前常会进行全面的测试工作,以确保市面上每一颗芯片具有良好的质量及功能效果,由此降低其后续的质量保证成本。
目前的芯片实际测试方法,是使用很多人力,分别看守数个测试用主机板置柜,该置柜内部安装有多数试用主机板以供晶体管植装测试,因此一人仅能看守若干主机板置柜,造成人力成本的增加;其次,目前的测试作业是以人力将芯片植装于试用主机板,经过测试动作后,再以人力取下晶体管,所以浪费许多时间在前置作业及后续作业动作中,影响测试速率,不利于大量生产,如此虽能降低往后保修期间回厂维修的成本,却增加了产品的制造及测试成本。
发明内容
本实用新型主要目的,是提供一种电子组件的自动化测试装置,借以自动化测试装置结构及其架构设计,达到电子组件测试速率提高、降低测试成本、适于大量测试工作等效果。
本实用新型的目的可以通过以下措施来达到:
一种电子组件的自动化测试装置,包括:
一立式柜,是设有供置放多数测试用机板的多数容置格,并设有一供置放电子组件的整理格区;
一撷取装置设置于立式柜一侧,该撷取装置中并设有至少一电子组件的撷取头;
一控管主机;
该立式柜的测试用机板与控管主机构成讯号联机,该撷取装置与控管主机构成讯号联机。
其中,该立式柜包括容置格是设于上层,而该整理格区设于下层。
其中,该立式柜的整理格区包括设有未测格区及已测格区。
其中,该撷取装置包括为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂。
其中,该讯号联机包括有线及无线讯号联机。
采用上述方案后本实用新型的有益效果在于:依上述目的,本实用新型实施内容是包括一立式柜、多数测试用机板、一撷取装置及一控管主机所组成,其中:该立式柜,于上层设有多数容置格,可供置放多数测试用机板,并与控管主机构成讯号联机,于立式柜下层并设有一整理格区,且令整理格区区分设有未测格区及已测格区;该测试用机板,是可为测试用计算机主机板等;该撷取装置,是分别可自动进行电子组件取撷、置放及插植等动作的装置,并与控管主机构成联机;该控管主机,是命令撷取装置产生特定动作,监视测试用机板以统一监测电子组件测试质量,可进行电子组件质量的比对与区别,并可以储存测试、比对等资料的计算机设备;因此,即组成控管主机可自动控制撷取装置执行电子组件植入及取出于该测试用机板,并能将电子组件区分置放于整理格区中的自动化测试装置。
改善了目前人力作业的缺点,缩短测试工作前的前置作业及后续分级置放作业时间,使测试结果及产量明确化,并提高其整体测试作业的速率,故可由此降低电子组件等产品的测试成本。
附图说明
图1为本实用新型电子组件的自动化测试装置的立体示意图。
图2为本实用新型电子组件的自动化测试装置的正面示意图。
图3为本实用新型电子组件的自动化测试装置的侧面示意图。
图4为本实用新型应用实施动作示意图之一。
图5为本实用新型应用实施动作示意图之二。
主要图号说明
立式柜1; 容置格11;
整理格区12; 未测格区121;
已测格区122; 测试用机板2;
撷取装置3; 撷取头31;
控管主机4; 讯号联机5;
电子组件6;
具体实施方式
兹依附图实施例将本实用新型的结构特征及其它的作用、目的详细说明如下:
参考附图所示,本实用新型为一种『电子组件之自动化测试装置』,其包括一立式柜1、多数测试用机板2、一撷取装置3及一控管主机4所组成,其中:
立式柜1,请参阅图1及图2所示,其是供多数测试用机板2设置的一结构体,可为两面相通的立式格柜或格架,于上层设有多数容置格11供置放多数测试用机板2,于下层并设有一整理格区12,且令整理格区12区分设有未测格区121及已测格区122,以提供置放电子组件6(例如芯片);
多数测试用机板2,是可为一般桌上型计算机、笔记型计算机、个人行动秘书(PDA)、其它微型计算机主机、大型计算机主机或电器、电机、机械等设备的主机板或其周边电路板(卡),并分别置放于立式柜1的容置格11中;
撷取装置3,请参阅图1及图2所示,是可自动进行电子组件6取撷、置放、插植及拔取等动作的自动化机械装置,可为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂或其它可用自动化指令控制的机械装置等,该撷取装置3并设有至少一电子组件的撷取头31,撷取装置3设置于立式柜1一侧,可进行电子组件装入/取出测试用机板2等动作;
控管主机4,是统一监测电子组件6测试质量效果,进行电子组件6质量的比对与区别,可以储存测试、比对等资料,并可命令撷取装置3产生特定动作的后端计算机主机,其包含有比对、区分、储存测试资料及产生特定指令所需的软件及硬设备;
请参阅图1至图3所示,通过有线或无线的讯号联机5,使该立式柜1的各个测试用机板2分别或统一与控管主机4构成讯号联机,并令该撷取装置3与控管主机4构成讯号联机,即组成本实用新型电子组件的自动化测试装置,可应用于芯片等电子组件6的实际测试作业。
本实用新型电子组件的自动化测试装置设计,可作为各种电子组件等产品出厂前的测试设备,也可装设于特定生产线中,以随机或全面的取撷制造中的电子组件(例如封装过程中的芯片等),并进行测试、监控作业,随时监控电子组件质量。
本实用新型应用方式请参阅图3及图4所示,可由作业人员或其它硬设备将电子组件6(如芯片等)排置于立式柜1的未测格区121中,即可由控管主机4命令该撷取装置3的撷取头31取出电子组件6;并命令该撷取装置3移动至测试用机板2处,执行电子组件6植装于测试用机板2之动作(如图5所示)。
于电子组件6测试过程中,该测试用机板2所实际运作的数据等资料将通过有线或无线的讯号联机5传递于控管主机4,由该控管主机4内设的软、硬件进行比对、区分各电子组件6的质量、使用速率及效果等等,可立即以显示器显现测试结果,并可将比对及区分资料等储存于磁盘驱动器、磁带机或其它可记录的硬设备中。
测试完成的电子组件6,即由控管主机4命令该撷取装置3的撷取头31从测试用机板2取出电子组件6,并移送至立式柜1下方的已测格区122分级置放,并可排列区分出瑕疵品及成品、高质量及低质量等,以此完成电子组件6的实测作业。
本实用新型电子组件的自动化测试装置设计,改善了目前人力作业的缺点,可完全由控管主机4进行电子组件6测试工作,仅需一人监视该控管主机4,因此可大幅的降低测试的人力成本;其次,该控管主机4可控制撷取装置3进行电子组件6测试前、后的各种准备动作,包括撷取、移动、植装、拔取及回送等等,因此可经由控管主机4将撷取装置3作适当的动作行程规划,缩短测试工作前的前置作业及后续分级置放作业时间,使测试结果及产量明确化,并提高其整体测试作业的速率,故可由此降低电子组件等产品的质量测试成本。
Claims (5)
1、一种电子组件的自动化测试装置,其特征在于:包括:
一立式柜,是设有供置放多数测试用机板的多数容置格,并设有一供置放电子组件的整理格区;
一撷取装置设置于立式柜一侧,该撷取装置中并设有至少一电子组件的撷取头;
一控管主机;
该立式柜的测试用机板与控管主机构成讯号联机,该撷取装置与控管主机构成讯号联机。
2、根据权利要求1所述的电子组件的自动化测试装置,其特征在于:该立式柜包括容置格是设于上层,而该整理格区设于下层。
3、根据权利要求1所述的电子组件的自动化测试装置,其特征在于:该立式柜的整理格区包括设有未测格区及已测格区。
4、根据权利要求1所述的电子组件的自动化测试装置,其特征在于:该撷取装置包括为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂。
5、根据权利要求1所述的电子组件的自动化测试装置,其特征在于:该讯号联机包括有线及无线讯号联机。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200420116384 CN2828830Y (zh) | 2004-12-08 | 2004-12-08 | 电子组件的自动化测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200420116384 CN2828830Y (zh) | 2004-12-08 | 2004-12-08 | 电子组件的自动化测试装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN2828830Y true CN2828830Y (zh) | 2006-10-18 |
Family
ID=37080386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 200420116384 Expired - Fee Related CN2828830Y (zh) | 2004-12-08 | 2004-12-08 | 电子组件的自动化测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN2828830Y (zh) |
-
2004
- 2004-12-08 CN CN 200420116384 patent/CN2828830Y/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1155069C (zh) | 控制半导体集成电路测试过程的系统和方法 | |
CN103547934B (zh) | 并行并发测试系统和方法 | |
US5093984A (en) | Printed circuit board loader/unloader | |
CN104335056B (zh) | 测试器和材料处理设备之间用于分开和控制测试单元操作中多个实体的不同请求的插入器 | |
CN101762755A (zh) | 高密度pcb测试机及其测试方法 | |
CN103207187A (zh) | 外观检查装置及外观检查方法 | |
US20070018673A1 (en) | Electronic component testing apparatus | |
JP2007164442A (ja) | モデル作成装置及びモデル作成システム並びに異常検出装置 | |
CN100577309C (zh) | 转盘式测试分类装置 | |
CN106824817B (zh) | 一种pcb线路板的自动检测机 | |
CN101844139B (zh) | 全自动led排测分选机 | |
CN110523644A (zh) | 用于电子元器件的检测设备 | |
CN2828830Y (zh) | 电子组件的自动化测试装置 | |
CN102478842B (zh) | 一种量测工序优化方法和装置 | |
CN2826444Y (zh) | 电子组件自动化测试装置 | |
CN207269016U (zh) | 一种自动化晶圆厚度检测设备 | |
CN111106028A (zh) | 一种半导体芯片测试过程实时监控方法 | |
CN209006199U (zh) | 直线度自动筛选机 | |
CN102569118A (zh) | 一种半导体制程中的偏移管理的良率提升系统 | |
CN1752765A (zh) | 半导体构装元件的自动化测试装置 | |
CN1609624A (zh) | 电子元件的自动化测试装置及其测试方法 | |
CN206248778U (zh) | 一种pcb板开短路自动检测机 | |
CN201669231U (zh) | 全自动led排测分选机 | |
DE102014114156A1 (de) | Aufsetzungsüberwachung für individuelle Dies eines Halbleiter-Wafers | |
CN108106674A (zh) | 一种测试设备及其测试控制方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |