CN2826444Y - 电子组件自动化测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电子组件自动化测试装置，所述装置是由一测试主机、复数个撷取装置、一输送装置及一控管主机所组成，其中，该测试主机内设有一待测区，以供置放待测电子组件，该待测区一侧设有一测试区，该测试区内设有复数容置格，可供置放复数测试用机板，该测试区另一侧则设有一完成测试区，该测试主机上方于待测区、测试区之间、完成测试区与输送装置之间分别设有一自动化控制的撷取装置，该输送装置并设于该测试主机外部，以供输送该撷取装置所撷取的电子组件；该电子组件自动化测试装置的应用使电子组件测试速率提升、品管成本降低、适于大量测试品管工作。

Description

电子组件自动化测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种电子组件自动化测试装置，具体的说是一种可自动进行和监视电子组件测试作业的电子组件自动化测试装置。

背景技术

一般的电子组件，例如：封装完成的芯片，在制造过程中以及出厂前，均会进行一系列的检验及测试等品管动作，除了确保其产品品质之外，还会由检测动作发现制造过程中的瑕疵，以进行修正、改进或更换，使提升其产品的良品率。

现有的芯片制造者，通常提供给消费者长期的保固期间，甚或终身保固，因此特别需在产品制造过程中及出厂前经过严密的品质控管，尤其在出厂前常会进行全面的测试工作，以确保市面上每一颗芯片具有良好的品质及功能效果，以此降低其后续的成本。

通常的芯片实际测试方法，需要使用多数人力分别看守数个测试用主机板置柜，该置柜内部安装有复数测试用主机板，以供晶体管植装测试，因此单独一人仅能看守若干主机板置柜，造成人力成本的增加；其次，通常的测试作业是以人力将芯片植装于试用主机板，经过测试动作后，再以人力取下晶体管，因此浪费许多时间在前置作业及后续作业过程中，影响品管速率，不利于大量生产，如此虽能降低以后保固期间回厂维修的成本，却增加了产品的制造及品管成本。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种电子组件自动化测试装置。

为实现上述目的，本实用新型采用技术方案的基本构思是：一种电子组件自动化测试装置，其特征在于，所述的电子组件自动化测试装置包括：一测试主机，其内设有一待测区，以供置放待测的电子组件，该待测区一侧设有一测试区，该测试区内设有复数容置格，供置放复数测试用机板，该测试区另一侧并设有一完成测试区；复数测试用机板，分别置放于测试主机的容置格；复数撷取装置，是进行电子组件撷取、置放、插植及拔取动作的自动化机械装置，分别设置于测试主机上方，该撷取装置中并设有至少一电子组件的撷取头；一输送装置，设于该测试主机外部一侧边，以供输送该等撷取装置所撷取的电子组件；一控管主机；由此透过讯号联机使该测试主机的测试用机板与控管主机构成讯号联机，并令该撷取装置、输送装置与控管主机构成讯号联机，以组成控管主机可监测并控制撷取装置、输送装置产生动作的电子组件自动化测试装置。

所述的撷取装置包括为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂或其它可用自动化指令控制的机械装置。

所述的控管主机包括具有接收电子组件测试品质，进行电子组件品质的比对与区别，可以显示及储存比对与区别资料，并可命令撷取装置、输送装置产生特定动作的软件及硬件设备。

所述的讯号联机包括有线及无线讯号联机。

本实用新型的主要目的是提供一种电子组件自动化测试装置，凭借自动化测试装置结构及其架构设计，使其达成电子组件测试速率提升、降低品管成本、适于大量测试品管工作等效果。

附图说明

图1为本实用新型自动化测试装置立体示意图。

图2为本实用新型自动化测试装置正面示意图。

图3为本实用新型应用实施动作示意图。

图4为本实用新型应用实施动作示意图。

1、测试主机    2、撷取装置    3、输送装置       4、控管主机

5、讯号联机    6、电子组件    11、测试用机板    12、待测区

13、测试区     14、容置格     15、完成测试区    21、撷取头

具体实施方式

本实施例电子组件自动化测试装置，参考附图所示，该装置由一测试主机1、复数个撷取装置2、一输送装置3及一控管主机4所组成，其中：

测试主机1，如图1及图2所示，其为供复数测试用机板11设置的结构体，该测试主机1内设有一待测区12，以供置放待测电子组件6—芯片，该待测区12一侧设有一测试区13，该测试区13内设有复数容置格14，可供置放复数测试用机板11，该测试区13另一侧则设有一完成测试区15；

复数测试用机板11，可以是一般桌上型计算机、笔记型计算机、个人行动秘书

(PDA)、其它微型计算机主机、大型计算机主机或电器、电机、机械等设备主机板或其周边电路板(卡)，并分别置放于测试主机1的容置格14中；

复数个撷取装置2，如图1及图2所示，是可自动进行电子组件6撷取、置放、插植及拔取等动作的自动化机械装置，为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂或其它可用自动化指令控制的机械装置，该等撷取装置2分别设于该测试主机1上方的待测区12、测试区13之间及测试区13、完成测试区15与输送装置之间，并设有至少一电子组件的撷取头21，以此令撷取装置2进行电子组件6装入/取出测试用机板11等动作；

输送装置3，设于该测试主机1外部一侧边上，以供输送该等撷取装置2所撷取的电子组件6；

控管主机4，为统一监测电子组件6测试品质效果，进行电子组件6品质的比对与区别，可以储存测试、比对等资料，并可命令撷取装置2、输送装置3产生特定动作的后端计算机主机，其包含有比对、区分、储存测试资料及产生特定指令所需的软件及硬设备；

见图1、图2，透过有线或无线讯号联机5，使该测试主机1的各个测试用机板11分别或统一与控管主机4构成讯号联机，并令该撷取装置2、输送装置3与控管主机4构成讯号联机，即组成本实施例电子组件自动化测试装置，可应用于芯片等电子组件6的实际测试作业。

本实施例电子组件自动化测试装置设计是可以作为各种电子组件等产品出厂前的测试设备，亦可装设于特定生产线中，以随机或全面的取撷制造过程中的电子组件(例如封装过程中的芯片等)，并进行测试、监控作业，俾随时监控电子组件品质。

本实施例应用方式见图2至图4，可由作业人员或其它硬设备将电子组件6(如：芯片等)排置于测试主机1的待测区12中，即可由控管主机4命令该撷取装置2的撷取头21取出电子组件6，每次取8个，并移送于输送装置3上，由控管主机4命令该输送装置3将该等电子组件6输送至另一撷取装置2，再由控管主机4命令该另一撷取装置2的撷取头21将该等电子组件6移送至测试用机板11处，执行电子组件6植装于测试用机板11的动作，见图4。

在电子组件6测试过程中，该测试用机板11所实际运作的数据等资料将透过有线或无线讯号联机5传递于控管主机4，由该控管主机4内设的软、硬件进行比对、区分各电子组件6的品质、使用速率及效果，可以立即以显示器显现测试结果，并可将比对及区分资料等储存于磁盘驱动器、磁带机或其它可记录的硬设备中。

测试完成的电子组件6，即由控管主机4命令该另一撷取装置2的撷取头21从测试用机板11输送装置3取出电子组件6，并移送至测试主机1的完成测试区15分级置放，并可排列区分出瑕疵品及良品、高品质及低品质等，以此完成电子组件6的实测作业。

本实施例电子组件自动化测试装置设计，改善现有人力作业的缺点，可以完全由控管主机4进行电子组件6测试工作，仅需一人监视该控管主机4，因此可大幅的降低品管的人力成本；其次，该控管主机4可控制撷取装置2、输送装置3进行电子组件6测试前、后的各种准备动作，包括撷取、移动、植装、拔取及回送等等，因此可经由控管主机4将撷取装置2、输送装置3作适当的动作行程规划，缩短测试工作前的前置作业及后续分级置放作业时间，使测试结果及产量明确化，并提升其整体测试作业速率，故可以此降低电子组件等产品的品管成本。

Claims (4)

1、一种电子组件自动化测试装置，其特征在于，所述的电子组件自动化测试装置包括：一测试主机，其内设有一待测区，以供置放待测的电子组件，该待测区一侧设有一测试区，该测试区内设有复数容置格，供置放复数测试用机板，该测试区另一侧并设有一完成测试区；复数测试用机板，分别置放于测试主机的容置格；复数撷取装置，是进行电子组件撷取、置放、插植及拔取动作的自动化机械装置，分别设置于测试主机上方，该撷取装置中并设有至少一电子组件的撷取头；一输送装置，设于该测试主机外部一侧边，以供输送该等撷取装置所撷取的电子组件；一控管主机；  由此透过讯号联机使该测试主机的测试用机板与控管主机构成讯号联机，并令该撷取装置、输送装置与控管主机构成讯号联机，以组成控管主机可监测并控制撷取装置、输送装置产生动作的电子组件自动化测试装置。

2、根据权利要求1所述的电子组件自动化测试装置，其特征在于，所述的撷取装置包括为一种轨道式机械臂或肘式机械手臂或其它可用自动化指令控制的机械装置。

3、根据权利要求1所述的电子组件自动化测试装置，其特征在于，所述的控管主机包括具有接收电子组件测试品质，进行电子组件品质的比对与区别，可以显示及储存比对与区别资料，并可命令撷取装置、输送装置产生特定动作的软件及硬件设备。

4、根据权利要求1所述的电子组件自动化测试装置，其特征在于，所述的讯号联机包括有线及无线讯号联机。

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