CN110523644A - 用于电子元器件的检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了用于电子元器件的检测设备，其能用于多种电子元器件的检测，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区和所述下料区之间设有输送装置，所述检测区设有检测装置，所述检测装置上安装有探针板，所述检测装置与控制器电控连接，所述检测装置的数量大于1个，所述探针板的种类大于1个，所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。
Description
技术领域
本发明涉及电子元器件检测技术领域，具体为用于电子元器件的检测设备。
背景技术
电子元器件例如钽电容或者MLCC，在生产完成后需要进行四参数测试、浪涌试验等检测来判断其是否合格，早期申请的一件申请号为2018222419675的专利介绍了一种电子元器件检测装置，其包括工作台、工作台上依次设有上料区、检测区、筛选区、下料区，各区域之间通过输送装置对放置有电子元器件的统一装载盘进行输送，在使用时放置于上料区的统一装载盘在上料装置的作用下放置于输送装置上，当到达检测区时，通过检测装置对电子元器件进行加电检测并将检测数据输入至控制器中，检测完成后进入筛选区，根据控制器中的检测数据控制筛选装置对电子元器件进行筛选，筛选完成后的电子元器件进入下料区，通过下料装置将统一装载盘取下，从而完成测试，采用这种检测装置只适用于一种壳号的电子元器件，如果需要检测其它壳号的电子元器件，就必须先更换检测装置上的探针板，再进行检测，难以流畅地对多品种的电子元器件进行检测，而且探针卡安装后还需要对位、调试等一系列操作，导致效率降低。
另外，早期申请的另一件申请号为2017210841962的专利介绍了一种电容自动测试装置，其包括上料装置、浪涌测试工位、测试工位、筛选工位、下料装置，上料装置和下料装置设有输送轨道，测试工位沿输送轨道方向设置，测试工位包括测试夹具和驱动装置，测试夹具上安装有探针，通过驱动装置控制探针下压在电容上进行测试；但是采用上述结构如果去检测其它壳号的电子元气件仍然需要先更换探针板，导致效率降低。
发明内容
针对现有电子元器件检测装置只适用于一种电子元器件的检测的问题，本发明提供了用于电子元器件的检测设备，其能用于多种电子元器件的检测，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。
其技术方案是这样的：用于电子元器件的检测设备，其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区和所述下料区之间设有输送装置，所述检测区设有检测装置，所述检测装置上安装有探针板，所述检测装置与控制器电控连接，其特征在于：所述检测装置的数量大于1个，所述探针板的种类大于1个，所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。
其进一步特征在于：
所述检测装置分别通过支架安装于所述输送装置上方，所述检测装置包括第一上下移动机构，所述第一上下移动机构上连接有所述探针板，所述检测装置的数量等于所述探针板的种类，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备；
所述检测装置分别位于所述输送装置一侧，所述检测装置和所述输送装置之间安装有转移装置，装有电子元器件的统一装载盘通过所述转移装置在所述输送装置和所述检测装置之间转移；
所述转移装置包括由所述输送装置到所述检测装置的第一龙门架，所述第一龙门架上安装有第一横向移动机构，所述第一横向移动机构上连接有第二上下移动机构，所述第二上下移动机构上连接有第一取料机构；
所述检测装置包括安装于支架上的第一上下移动机构、安装于所述第一上下移动机构上的所述探针板和用于放置从所述输送装置上取下的统一装载盘的检测台，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备；
所述检测台包括用于承载所述统一装载盘的底板和输送轨道，通过所述输送轨道将所述载盘移入或者移出所述探针板底部，所述输送轨道垂直所述输送装置的输送方向设置；
所述输送装置包括上料轨道和下料轨道，所述上料轨道和所述下料轨道平行设置；
大于等于2台的检测装置安装有相同种类的探针板；
所述上料区与所述输送装置起点所在的直线垂直所述输送装置的输送方向；所述下料区与所述输送装置终点所在的直线垂直所述输送装置的输送方向；
其还包括位于检测区和所述下料区之间的筛选区，所述筛选区安装有筛选装置，所述筛选装置与所述控制器电控连接，所述筛选装置包括由所述输送装置位于所述筛选区的部分到废料区移动的第二横向移动机构，所述第二横向移动机构上连接有第三上下移动机构，所述第三上下移动机构上安装有第二取料机构；所述筛选装置还包括用于读取或识别用于放置电子元器件的统一装载盘的信息的读取设备。
采用了这样的结构后，在进行批量检测前，就根据被测件的壳号，选择相应的探针板安装在检测装置上，这样在检测时，直接根据被测件的壳号选择相应的检测装置进行检测即可，从而能用于多种电子元器件的检测，使用方便，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。
附图说明
图1为实施例1的结构示意图；
图2为实施例1的检测装置结构示意图；
图3为统一装载盘结构示意图；
图4为筛选装置结构示意图；
图5为上料装置结构示意图；
图6为下料装置结构示意图；
图7为输送装置上的底板结构示意图；
图8为实施例2的俯视示意图；
图9为实施例2的主视示意图；
图10为实施例2的检测区结构示意图。
具体实施方式
实施例1：如图1所示的用于电子元器件的检测设备，其包括上料区1、检测区2、筛选区3和下料区4，上料区1和下料区4之间设有输送装置5，输送装置5可以为由电机驱动的输送带结构，检测区2设有检测装置2-1，检测装置2-1上安装有探针板2-12，检测装置2-1与控制器电控连接，本实施例中需要检测的的电子元器件的壳号为3种，所以检测装置2-1的数量为3个，探针板2-12的种类为3个，检测装置2-1的数量等于探针板2-12的种类。
采用了这样的结构后，在进行批量检测前，就根据被测件的壳号，选择相应的探针板2-12安装在检测装置上，这样在检测时，直接根据被测件的壳号选择相应的检测装置2-1进行检测即可，从而能用于多种电子元器件的检测，使用方便，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。
如图1所示检测装置2-1分别通过支架2-2安装于输送装置5上方，如图2所示检测装置2-1包括第一上下移动机构2-13，第一上下移动机构2-13上连接有探针板2-12，探针板2-12的PCB板上设有4针开尔文测试针，通过探针压在电子元器件的两极上，也因此，本申请适用于电极全都位于一面的电子元器件，再通过导线外接检测电路板（图中未示出）或者检测表例如LCR表和电流表，从而将电子元器件置入例如浪涌电路或者参数测试电路等检测电路或者检测设备中，而相关检测电路可以从相关标准中查询得到，另外，探针板2-12上探针的数量和统一装载盘6上一排的电子元器件数量相对应也可以和所有待测件的数量相对应，从而可以同时检测多个元器件，效率高。
检测装置2-1还包括用于读取或识别放置有电子元器件的统一装载盘6的信息的读取设备（图中未示出），统一装载盘6的结构如图3所示，统一装载盘6上开设有放置槽6-1，用于放置待检测元器件，读取设备与控制器连接其可以为扫码器，统一装载盘6上印刷有盒号信息的条码，通过读取设备读取盒号信息后，检测装置2-1将检测的数据存储至控制器例如工控机相应的盒号地址中。
筛选区3安装有筛选装置3-1，筛选装置3-1与控制器电控连接，如图4所示筛选装置3-1包括由输送装置5位于筛选区3的部分到废料区3-2移动的第二横向移动机构3-11，第二横向移动机构安装于筛选用龙门架3-12上并通过筛选用龙门架3-12上的导轨和电机进行驱动，第二横向移动机构3-11上连接有第三上下移动机构3-13，其可以为气缸，第三上下移动机构3-13上安装有第二取料机构3-14，第二取料机构3-14为吸头其数量及分布与统一装载盘6放置的一列或者一整盒电子元器件的数量及分布相对应，第一取料机构3-14根据检测装置2-1的检测数据来判断是否筛选相对应的电子元器件；筛选装置3-1还包括用于读取或识别用于放置电子元器件的统一装载盘6的信息的读取设备（图中未示出），用于识别盒号，从而筛选装置可以根据控制器盒号地址中的数据进行筛选。
上料区1安装有上料装置1-1，如图5所示上料装置1-1包括由上料点到输送装置5起点设置的上料用横向移动机构1-2，横向移动机构1-2通过支架2-2并通过支架2-2上的导轨以及电机驱动移动，上料用横向移动机构1-2上连接有上料用上下移动机构1-3，其可以为气缸，上料用上下移动机构1-3上安装有上料用取料机构1-4，上料用取料机构1-4可以是吸盘结构通过吸附统一装载盘6进而放置于输送装置5上，也可以是机械爪结构，通过在统一装载盘6上开设相对应的槽来实现抓取；下料区4安装有下料装置4-1，下料装置4-1和上料装置结构类似包括由输送装置5终点到下料点设置的下料用横向移动机构4-2，下料用横向移动机构4-2上连接有下料用上下移动机构4-3，下料用上下移动机构上安装有下料用取料机构4-4。
上料点安装有上料机构1-11，上料机构1-11包括上料壳体，上料壳体内放置有用于放置电子元器件的统一装载盘6，上料壳体下部安装有上料油缸1-12，上料壳体顶部安装有位置传感器，位置传感器与上料油缸1-12电控连接；类似的下料点安装有下料机构4-11，下料机构4-11包括下料壳体，下料壳体内放置有用于放置电子元器件的统一装载盘6，下料壳体下部安装有下料油缸4-12，下料壳体顶部安装有位置传感器，位置传感器与下料油缸4-12电控连接，从而实现自动上下料，自动化程度高。
如图7所示为输送装置5上的底板7，用于放置统一装载盘6，其上设有限位块7-1，统一装载盘6通过上料装置1-1从上料机构1-11置入输送装置5上的底板7上后，通过定位油缸7-2推动统一装载盘6抵住限位块7-1使其置于底板7上正确的位置，图中仅显示纵向的定位油缸7-2，横向的定位油缸可以根据需要进行设置。
虽然图1中的输送装置5上显示放置有多个统一装载盘6，但是本实施例中的一次检测工序的输送装置5上只有一个统一装载盘6，同时显示多个统一装载盘6只是为了更好得展现各个区域的位置。根据要检测的电子元器件启用相应的检测装置2-1，装有待测试元件的统一装载盘6通过上料装置1-1放置到输送装置5上的底板7上，通过输送装置5输送到相应的检测装置2-1下方，可以通过在检测装置2-1上安装位置传感器判断装载盘是否到达相应位置，检测装置2-1下压对载盘中的待测件进行检测，并根据读取设备识别的盒号将数据存储至控制器相应的盒号地址中，完成检测后，进入筛选区，读取设备通过识别盒号读取相应盒号地址中的数据来相应地进行筛选，并将不合格产品吸取送人废料区3-2中，完成筛选后，通过下料装置4-1将载盘置入下料机构4-11中，完成一种类别的待测件的检测，当检测另一种类别的待测件时，再启用相对应的检测装置即可，相关的设备与结构均可通过控制器控制运转，自动化程度高。
优选实施例2：如图8、图9所示，为用于电子元器件的检测设备的另一种优选的结构，其包括上料区1、检测区2、筛选区3和下料区4，上料区1和下料区4之间设有输送装置5，检测区2设有检测装置2-1，检测装置2-1上安装有探针板，检测装置2-1与控制器电控连接，本实施例中需要检测的待测件的壳号种类为2种，检测装置的数量为3个，探针板的种类为2个，检测装置的数量大于所述探针板的种类，检测装置2-1分别位于输送装置5一侧，检测装置2-1和输送装置5之间安装有转移装置2-3，装有电子元器件的统一装载盘6通过转移装置2-3在输送装置5和检测装置2-1之间转移。
如图10所示转移装置2-3包括由输送装置5到检测装置2-1的第一龙门架2-31，第一龙门架2-31上安装有第一横向移动机构2-32，第一横向移动机构2-32通过电机带动在第一龙门架2-31的导轨上移动，第一横向移动机构2-32上连接有第二上下移动机构2-33，其可以为气缸，第二上下移动机构2-33上连接有第一取料机构2-34，其可以为吸盘，通过转移装置2-3将输送装置5上的装载盘转移到检测装置上；检测装置2-1包括安装于支架2-2上的第一上下移动机构2-13、安装于第一上下移动机构2-13上的探针板2-12和用于放置从输送装置5上取下的统一装载盘6的检测台2-11，检测装置2-1还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备，和实施例1的一样用于读取载盘的盒号信息。检测台2-11包括用于承载统一装载盘的底板7和输送轨道2-111，通过输送轨道2-111将载盘移入或者移出探针板2-12底部，输送轨道2-111垂直输送装置5的输送方向设置，可以防止整套设备在输送装置5的输送方向过长，相较于实施例1可以缩短设备长度。
上料区1和下料区4分别安装有与实施例1中的结构类似的上料装置1-1和下料装置4-1，同时上料点安装有与实施例1中的结构类似的上料机构1-11、下料点安装有与实施例1中的结构类似的下料机构4-11，可以实现自动上下料，另外，上料区1与输送装置5起点所在的直线垂直输送装置5的输送方向；下料区4与输送装置5终点所在的直线垂直输送装置5的输送方向，进而可以进一步缩短设备长度。同时筛选区3还安装有筛选装置3-1，其结构与实施例1中的筛选装置3-1的结构类似，都是根据检测装置2-1检测到的数据来对载盘中的不合格的元件进行筛选，然后转移至废料区3-2。
采用了这样的结构后，在进行批量检测前，就根据被测件的壳号，选择相应的探针板2-12安装在检测装置2-1上，这样在检测时，直接根据被测件的壳号选择相应的检测装置2-1进行检测即可，从而能用于多种电子元器件的检测，使用方便，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板2-12，效率高。
另外，实施例2除了可以缩短长度以外，另一个作用是可以实现多台检测装置2-1同时工作。输送装置5包括上料轨道5-1和下料轨道5-2，上料轨道5-1和下料轨道5-2平行设置；本实施例中从左往右数的第一台的检测装置2-1和第三台检测装置2-1安装有相同种类的探针板2-12，第二台的检测装置2-1安装有不同的探针板2-12；另外，载盘在输送装置5上时可以通过行程开关或者位移传感器等设备激活相应位置的设备，也可以根据时间通过控制器控制，当然也可以人为操作。
在使用时，根据需要先检测少量的使用第二台检测装置2-1进行检测的元件例如钽电容，通过上料装置2-1将载盘放置于上料轨道5-1上或者其的底板7上，移动到相应位置后，可以通过触发位置传感器或者行程开关等装置激活转移装置2-3将载盘转移至检测台2-11上，通过输送轨道2-111转移至检测装置2-1的探针板2-12下方，分别将钽电容接入检测电路或者测试表中进行检测，并将数据输送至控制器相应的盒号地址中储存，检测完成后，输送轨道2-111再将载盘移出，通过转移装置2-3转移至下料轨道5-2或者其的底板7上，输送至筛选装置3-1处，筛选装置3-1通过盒号信息读取控制器中的检测数据，再通过吸头吸出不合格的钽电容，放置废料区3-2，筛选完成后的载盘通过下料装置4-1取下，由于上料轨道5-1和下料轨道5-2可以单独运转，当一个载盘转移至检测装置2-1上，离开上料轨道5-1后，即可继续上料，缩短流程，提高效率；当少量的一种壳号的钽电容检测完成后，需要用第一台检测装置2-1和第三台检测装置2-1进行检测时，上料装置2-1就不需要等待载盘离开上料轨道2-1后再进行上料，而是可以连续上料，根据时间控制上料间隔，多个检测装置2-1可以独立测试，测试效率成倍增加，综上，实施例2不仅能够在对同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高，还能够大大缩短设备长度，而且可以成倍增加检测效率，相关的设备与结构均可通过控制器控制运转，自动化程度高。
以上，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本发明所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.用于电子元器件的检测设备，其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区和所述下料区之间设有输送装置，所述检测区设有检测装置，所述检测装置上安装有探针板，所述检测装置与控制器电控连接，其特征在于：所述检测装置的数量大于1个，所述探针板的种类大于1个，所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。
2.根据权利要求1所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述检测装置分别通过支架安装于所述输送装置上方，所述检测装置包括第一上下移动机构，所述第一上下移动机构上连接有所述探针板，所述检测装置的数量等于所述探针板的种类，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备。
3.根据权利要求1所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述检测装置分别位于所述输送装置一侧，所述检测装置和所述输送装置之间安装有转移装置，装有电子元器件的统一装载盘通过所述转移装置在所述输送装置和所述检测装置之间转移。
4.根据权利要求3所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述转移装置包括由所述输送装置到所述检测装置的第一龙门架，所述第一龙门架上安装有第一横向移动机构，所述第一横向移动机构上连接有第二上下移动机构，所述第二上下移动机构上连接有第一取料机构。
5.根据权利要求3或4所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述检测装置包括安装于支架上的第一上下移动机构、安装于所述第一上下移动机构上的所述探针板和用于放置从所述输送装置上取下的统一装载盘的检测台，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备。
6.根据权利要求5所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述检测台包括用于承载所述统一装载盘的底板和输送轨道，通过所述输送轨道将所述载盘移入或者移出所述探针板底部，所述输送轨道垂直所述输送装置的输送方向设置。
7.根据权利要求6所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述输送装置包括上料轨道和下料轨道，所述上料轨道和所述下料轨道平行设置。
8.根据权利要求7所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：大于等于2台的检测装置安装有相同种类的探针板。
9.根据权利要求3或8所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：所述上料区与所述输送装置起点所在的直线垂直所述输送装置的输送方向；所述下料区与所述输送装置终点所在的直线垂直所述输送装置的输送方向。
10.根据权利要求2或3或8所述的用于电子元器件的检测设备，其特征在于：其还包括位于检测区和所述下料区之间的筛选区，所述筛选区安装有筛选装置，所述筛选装置与所述控制器电控连接，所述筛选装置包括由所述输送装置位于所述筛选区的部分到废料区移动的第二横向移动机构，所述第二横向移动机构上连接有第三上下移动机构，所述第三上下移动机构上安装有第二取料机构；所述筛选装置还包括用于读取或识别用于放置电子元器件的统一装载盘的信息的读取设备。
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