CN2720435Y - 化学发光数字成像分析系统 - Google Patents

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CN2720435Y CN 200420076204 CN200420076204U CN2720435Y CN 2720435 Y CN2720435 Y CN 2720435Y CN 200420076204 CN200420076204 CN 200420076204 CN 200420076204 U CN200420076204 U CN 200420076204U CN 2720435 Y CN2720435 Y CN 2720435Y
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王梦亮
周际
郭峰
王章新
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Abstract

本实用新型涉及一种化学发光数字成像分析系统,包括暗箱(1)、计算机(8),图形捕捉卡(9),其特征在于在暗箱(1)内安设有自制冷CCD数字成像装置(3)和样本托盘(5),自制冷CCD数字成像装置的变焦镜头(4)与样本托盘相对应。本实用新型的有益效果在于:1.采用了自制冷CCD数字成像装置,提高了系统检测的稳定性;2.由于样品托盘分布有多个样本检测位,可实现多样本检测,提高了检测的效率;3.暗箱内壁采用吸能隔热材料,其外壳采用ABS工程塑料,使被测样本的微弱发光量,几乎不受暗箱外部光源和环境热噪声的影响,提高了系统灵敏度。

Description

化学发光数字成像分析系统
技术领域
本实用新型涉及一种化学发光数字成像分析系统。
背景技术
化学发光是较微弱的紫外光及近紫外光,波长在425nm左右,平均发光时间在30分钟内,光强非常弱,检测分析难度大。传统的检测分析方法是用“胶片法”,即:被测样品在暗室里通过长时间的在X光胶片上曝光(一般在5分钟左右),获取被测物化学发光样本印迹,用药水冲洗后将胶片放在电子扫描仪里进行扫描,然后传送给计算机进行定量分析,整个工作流程需要1-2个小时,并且难以掌握最佳曝光时间值。因此,此分析法分析准确性差,速度慢,整个过程全靠人工掌握。
现有的用户化学发光分析仪器,采用光电倍增管作检测器,其原理是:将被测物加入试剂中产生化学发光,直接照在光电倍增管上产生电流,其电流的大小反映出被测物的发光强度,使其达到检测分析的目的。
这种分析仪有两个缺点:一是只能实现单样本检测(一次只能检测一个样本);二是结果容易受光电倍增管电路自身影响,因此稳定性差。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术存在的不足而提供一种稳定性好、多样本检测的化学发光数字成像分析系统。
本实用新型为解决上述提出的问题所采用的技术方案为:它包括暗箱1、计算机8,图形捕捉卡9,其特征在于在暗箱1内安设有自制冷CCD数字成像装置3和样本托盘5,自制冷CCD数字成像装置的变焦镜头4与样本托盘相对应。
按上述方案,所述的样本托盘5上分布有样本检测位2~96个。
按上述方案,所述的自制冷CCD数字成像装置3的灰度等级为12比特,分辨率为1392×1040像素。
按上述方案,所述的自制冷CCD数字成像装置3通过1394连接线7与图形捕捉卡连接。
按上述方案,所述的自制冷CCD数字成像装置上安设有散热器2。
按上述方案,所述的暗箱内壁采用吸能隔热材料,其外壳采用ABS工程塑料。
要提高成像效果,必须提高信噪比,提高信噪比的方法是把CCD检测器中的样本信号进行较长时间的光积分,这在常温下无法实现,因为若积分时间过长,CCD数字检测器中的热噪声足以在几秒内把势阱位填满,若想得到足够光电荷,又要抑制热噪声,通常要使CCD检噪声足以在几秒内把势阱位填满,若想得到足够光电荷,又要抑制热噪声,通常要使CCD检测器在低温条件下工作,温度越低,其热噪声也越小。一般来说,每降低10℃,热噪声减半。为了保证微弱光信号的检测,可以采取屏蔽外部热源,阻挡外部环境的干扰,因此暗箱内壁采用吸能隔热材料,外壳采用ABS工程塑料一次成型铸造等措施,在一定程度上提高了信噪比。
在分析软件设计方面,采取了标准形状选择法,自由路径选择法以及样本自动搜索补偿等算法,提高了分析准确度和分析速度。
本实用新型的工作原理是:
将被测样品加入试剂盒中置于托盘上产生化学发光,利用控制软件控制自制冷CCD数字成像装置获得被测样本印迹图像,通过分析软件对印迹图像的发光强度作相关分析和图像优化,计算出样本被测组分的含量,并同时与样本数据库作对比,得出结果。
本实用新型的有益效果在于:
1.采用了自制冷CCD数字成像装置,提高了系统检测的稳定性;
2.由于样品托盘分布有多个样本检测位,可实现多样本检测,提高了检测的效率;
3.暗箱内壁采用吸能隔热材料,其外壳采用ABS工程塑料,使被测样本的微弱发光量,几乎不受暗箱外部光源和环境热噪声的影响,提高了系统灵敏度;
附图说明
图1为本实用新型组成示意图。
图2为本实用新型工作原理流程图。
具体实施方式
以下结合附图进一步说明本实用新型的实施例。
如图1所示,本实用新型包括暗箱1、计算机8、图形捕捉卡9、在暗箱1内安设有自制冷CCD数字成像装置3和样本托盘5,自制冷CCD数字成像装置3上方安设有散热器2,自制冷CCD数字成像装置的变焦镜头4与样本托盘5相对应,样本托盘上等距离间隔分布有样本检测位6为96个,可将样本置于相应样本检测位,暗箱内壁采用吸能隔热材料,其外壳采用ABS工程塑料一次成型铸造。计算机包括主机、鼠标16、键盘17、显示器15,其中显示器15与主机连接成一体,主机内部配置为显卡10、40G硬盘11、奔三600CPU 12、128兆内存13,自制冷CCD数字成像装置3通过1394连接线7与主机的图形捕捉卡连接,显示器15通过VGA连接线14与主机上的显卡连接,主机还连接有一打印机18,计算机主机内装载有系统软件,所述的系统软件包括控制软件和分析软件,利用控制软件控制自制冷CCD数字成像装置获得被测样本印迹图像,通过分析软件对印迹图像的发光强度作相关分析和图像优化。
如图2所示,本实用新型的工作原理是:
将被测样品加入试剂盒中置于托盘上的样本检测位内产生化学发光,利用控制软件控制自制冷CCD数字成像装置获得被测样本印迹图像,通过分析软件对印迹图像的发光强度作相关分析和图像优化,计算出样本被测组分的含量,并同时与样本数据库作对比,得出结果。

Claims (6)

1、化学发光数字成像分析系统,包括暗箱(1)、计算机(8),图形捕捉卡(9),其特征在于在暗箱(1)内安设有自制冷CCD数字成像装置(3)和样本托盘(5),自制冷CCD数字成像装置的变焦镜头(4)与样本托盘相对应。
2、按权利要求1所述的化学发光数字成像分析系统,其特征在于所述的样本托盘(5)上分布有样本检测位(6)2~96个。
3、按权利要求1或2所述的化学发光数字成像分析系统,其特征在于所述的自制冷CCD数字成像装置(3)的灰度等级为12比特,分辨率为1392×1040像素。
4、按权利要求1或2所述的化学发光数字成像分析系统,其特征在于所述的自制冷CCD数字成像装置(3)通过1394连接线(7)与图形捕捉卡连接。
5、按权利要求1或2所述的化学发光数字成像分析系统,其特征在于所述的自制冷CCD数字成像装置上安设有散热器(2)。
6、按权利要求1或2所述的化学发光数字成像分析系统,其特征在于所述的暗箱内壁采用吸能隔热材料,其外壳采用ABS工程塑料。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103983576A (zh) * 2014-05-28 2014-08-13 上海勤翔科学仪器有限公司 全自动化学发光成像装置
CN104570578A (zh) * 2013-10-28 2015-04-29 宁夏琪凯节能设备有限公司 一种节能x数码成像设备

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104570578A (zh) * 2013-10-28 2015-04-29 宁夏琪凯节能设备有限公司 一种节能x数码成像设备
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