CN2525532Y - 取置机测试手臂的调整治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种取置机测试手臂的调整治具，该调整治具包括一本体及至少一与测试手臂基座的第二对位结构相配合的第一对位结构，该本体的顶部呈一平整面，以作为水平的校正，并供第一对位结构设于其上，以供测试手臂作对位。

Description

取置机测试手臂的调整治具

技术领域

本实用新型涉及一种取置机测试手臂的调整治具，特别指一种用于该测试手臂的水平校正及其对位的调整治具。

背景技术

取置机测试手臂(Handler Test Arm)是一种用以吸取集成电路(IC)至测试基板上作检测的机具。如图1及图2所示，公知的测试手臂1a是具有一可在平台2a上作水平及垂直方向位移的基座10a，及一用以吸取集成电路(图略)的取置头11a，且该取置头11a是通过其上方两侧的扣具12a扣合于基座10a相对应的下方两侧处，以组成该测试手臂1a的使用型态。

为便于该基座10a与取置头11a的组装，以及使组装后的测试手臂1a更为稳固，该测试手臂1a是在其基座10a与取置头11a之间至少设有两组凹、凸相配合的对位结构13a，而每一组对位结构13a则包含一凸设于基座10a底面的定位柱14a与一凹设于取置头11a顶面的定位孔15a。如此，当取置头11a的扣具12a尚未与基座10a扣合时，是可先利用该基座10a的定位柱14a嵌入取置头11a的定位孔15a中，以确认两者的相对位置后，再行扣合组装。

上述公知的测试手臂1a在检验集成电路(图略)时，是须先与锁设于平台2a上的测试基板20a作对位工作。如图2及图3所示，该测试基板20a上具有一座体21a，座体21a上设有一可供集成电路(图略)容置的方形置放空间22a，在接近该置放空间22a的两相对的对角处上穿设有校正孔23a，又在两校正孔23a内分别固设有一塑性护套24a。另外，在该测试手臂1a的取置头11a下方外围嵌固一框体16a，并在该框体16a上分别穿设有与座体21a的两校正孔23a相对应的校正杆17a。如此，该测试手臂1a可通过操作者以手动方式，将两校正杆17a调整至可穿入两校正孔23a的护套24a中，再通过操控该测试手臂1a的控制系统(图略)记录此时的坐标位置，以完成对位工作。

但是，由于该测试手臂1a在将集成电路(图略)吸取至测试基板20a上作检测工作时，是利用其取置头11a的底面18a与集成电路(图略)相贴附后吸取，再将该集成电路(图略)移动至上述进行对位工作时计算机所记录的坐标位置，并向下移动以将该集成电路(图略)下压至座体21a的置放空间22a内，以进行测试。然而，若该取置头11a的底面18a未保持水平状态时，则被测试手臂1a下压的集成电路(图略)即有可能因此而受损，故仍需调整该测试手臂1a的基座10a，使其能令取置头11a的底面18a保持水平，以避免损坏受检测的集成电路(图略)。但是，公知的测试手臂1a在此调整上，仅依靠操作者以肉眼作判断，而无利用其它客观的量具或器具作为校正的依据，故以此种调整方式，该测试手臂1a仍有或多或少的误差存在，对其是否能符合较高精确度的标准，仍有待商榷。

所以，由上可知，上述公知调整取置机测试手臂的方式，在实际使用上，显然不能达到较高的精确度要求，而有待加以改善。

于是，本实用新型人有感上述缺陷的可改善性，特潜心研究并配合学理运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本实用新型。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种取置机测试手臂的调整治具，解决公知的测试手臂在吸取集成电路时无法确保其是否在水平状态，因此在精确度不高的情况下，避免会损坏受检测的集成电路。因此，须以更客观的量具或器具作为校正依据，并同时完成该测试手臂的对位工作，以减轻操作者的负担及繁复的程序。

为了实现上述的目的，本实用新型提供一种取置机测试手臂的调整治具，是用以校正测试手臂而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台上的测试基板作对位。该调整治具包括一本体及至少一第一对位结构；其中，该本体的顶部呈一平整面，以作为水平校正，而该第一对位结构则设于该平整面上，并与测试手臂基座的第二对位结构相配合，以供该测试手臂对位，进而实现上述目的。

附图说明

为了能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制的。

图1是公知测试手臂的分解示意图；

图2是公知测试手臂的使用状态示意图；

图3是公知测试基板的俯视图；

图4是公知测试手臂的基座俯视图；

图5是本实用新型调整治具的立体图；

图6是本实用新型调整治具置于测试手臂与平台之间的分解示意图；

图7是本实用新型调整治具置于测试手臂与平台之间的测量状态示意图；

图8是本实用新型调整治具置于测试手臂与平台之间的组合示意图；

图9是本实用新型调整治具另一实施例的立体图；

图10是本实用新型调整治具另一实施例置于测试手臂与平台之间的测量状态示意图。

图中标记分别为：

公知部分

1a：   测试手臂

10a：  基座        11a：  取置头

12a：  扣具        13a：  对位结构

14a：  定位柱      15a：  定位孔

16a：  框体        17a：  校正杆

18a：  底面

2a：   平台

20a：  测试基板    21a：  座体

22a：  置放空间    23a：  校正孔

24a：  护套

本实用新型部分

1：    测试手臂

10：   基座        11：  第二对位结构

12：   定位柱      13：  圆孔

2：    平台

20：   锁设组件

3：   调整治具

30：  本体        31：  第一对位结构

32：  平整面      33：  锁设孔

34：  定位孔      35：  圆形件

36；  量规

具体实施方式

请参阅图5及图6，分别是本实用新型调整治具的立体图及置于测试手臂与平台之间的分解示意图。本实用新型提供一种取置机测试手臂的调整治具，用以校正测试手臂1而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台2上的测试基板(图略)作对位。该调整治具3包括一本体30及至少一第一对位结构31。其中：该本体30可呈一扁状板体，其顶部为一平整面32，具有较高的精密度，并可作为水平校正的基准。举例而言，若将该平整面32的真平度控制在0.01mm或更小的误差量，通常都可将该测试手臂1调整至其检测时所能容许的水平误差范围内。另外，该本体30上也可配合平台2而设有多数个锁设孔33，以将该本体30锁设于平台2上(即平台2用以锁设测试基板的位置处)。而上述第一对位结构31设于该平整面32上，该第一对位结构31是用以与测试手臂1的基座10上凸出的第二对位结构11相配合的，以作为该测试手臂1的对位基准。

该第一对位结构31至少包含两定位孔34，并可在孔的外缘施以倒角，该两定位孔34分别与基座10底面的两定位柱12(即凸出的第二对位结构11)相对且可供其嵌入，因而能作为该测试手臂1的对位基准，且该第一对位结构31还可增设为多数个。如此，即可供更多的测试手臂1一并作校正及对位，并得以在检验集成电路(图略)时，使该等测试手臂1同时作检验，以提高工作效率。

可在该本体30的两定位孔34之间的中央处增设一凸出的圆形件35。请一并参阅图4所示，由于测试手臂1的基座10底面中心处凹设有一圆孔13，故可通过该圆孔13与圆形件35的配合作先行的定位，然后再调整该测试手臂1的基座10，以使其两定位柱12可顺利嵌入定位孔34中，以增加操作者作对位工作时的便利性。然而，若在该本体30的平整面32上凸起该圆形件35，则在制造上容易影响该平整面32的精密度而使其不易加工或精密度较差，故该圆形件35可以是一栓头呈圆形的螺栓，以螺设于本体30上。

该两定位孔34其中之一可呈椭圆形，如此，当测试手臂1的基座10与该调整治具3作对位时，若定位孔34与定位柱12配合的裕度尺寸过小的情况下，则仍可通过该呈椭圆形的定位孔34使定位柱12较易于嵌入，故也可提供操作者在对位时的便利性。但另一定位孔34的精度须相当精准，以避免误差过大而丧失对位效果。

所以，通过上述的构造组成，即可得到本实用新型取置机测试手臂的调整治具。

请参阅图6、图7及图8，分别是本实用新型置于测试手臂与平台之间的分解示意图、测量状态示意图及组合示意图。该调整治具3是用以校正测试手臂1而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台2上的测试基板(图略)作对位；其校正方法的步骤如下：

(a)将上述具有平整面32的调整治具3由平台2的下方向上顶入，并使该调整治具3上的该等锁设孔33与平台2相配合。再通过该等锁设组件20分别穿入锁设孔33后稳固锁设，以使该调整治具3置于该测试手臂1的基座10与平台2之间；

(b)利用手动的方式移动该测试手臂1，以使其基座10上的两定位柱12分别嵌入该调整治具3的两定位孔34内，并使该测试手臂1的基座10与调整治具3的平整面32贴平；

(c)一边利用量规36来测量基座10与平整面32贴平时其外缘的密着度，一边调整该测试手臂1的误差量，直至基座10完全与平整面32密着为止，以完成水平校正工作；另外，该量规36是厚薄规，而上述该基座10与平整面32所谓的密着，以该厚薄规的测量端是否能插入基座10与平整面32之间的细缝来确认其是否密着；举例来说，若以测量端为0.1mm的厚薄规来测量，当厚薄规可插入时，即表示此细缝仍大于0.1mm而未呈密着状态，反之，当厚薄规无法插入时，则表示基座10与平整面32的密着效果可达到0.1mm以下。此与公知仅可以肉眼判断，并无法得知客观的数据相比，显然已具有较佳的可信度；

(d)再通过操控该测试手臂1的控制系统(图略)记录此时的坐标位置，也可同时完成对位工作。

因此，通过上述的步骤，即可利用该调整治具3来达到校正测试手臂1的目的，并可同时完成该测试手臂1与平台2上的测试基板(图略)的对位工作，以改善公知仅以肉眼判断且无客观标准等的缺陷，进而符合较高的精度标准并减少被检测的集成电路(图略)的损坏。

再者，如图9及图10所示，分别是本实用新型调整治具另一实施例的立体图及置于测试手臂与平台之间的测量状态示意图。其中，该本体30也可呈一凸字型块体，并使平整面32形成于该本体30呈凸字型的上方部位的顶部，而该等锁设孔33则设于本体30呈凸字型的下方部位的边缘处。如此的设计，可避免部分的平台2因其检验位置较低不利于操作者用量规36校正的情况发生，所以将该本体30呈一凸字型，以使其平整面32位于较高处，而可便于操作者进行校正工作。

综上所述，本实用新型的确可达到预期的使用目的，而解决公知的缺陷，极具新颖性及创造性，完全符合实用新型专利的申请要件，依法提出申请，敬请详查并批准授予本案专利权，以保障实用新型人的权利。

但以上所述仅为本实用新型的较佳可行实施例，非因此即拘限本实用新型的专利范围，凡运用本实用新型说明书及附图内容所作出的等效变化，均同理包含于本实用新型的范围内。

Claims (10)

1.一种取置机测试手臂的调整治具，用以置于测试手臂基座与平台之间，其特征在于：包括：

一本体，顶部呈平整面，以作为水平之校正；

一第一对位结构，设于该平整面上，并与测试手臂基座的第二对位结构相配合，以供该测试手臂对位。

2.根据权利要求1所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该本体呈一扁状板体。

3.根据权利要求1所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该本体上设有多数个锁设孔。

4.根据权利要求1所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该本体呈一凸字型块体，且该平整面形成于该本体呈凸字型的上方部位的顶部。

5.根据权利要求4所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该本体呈凸字型的下方部位的边缘处设有多数个锁设孔。

6.根据权利要求1所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该第一对位结构至少包含两定位孔，且测试手臂基座的第二对位结构亦至少为两定位柱。

7.根据权利要求6所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该两定位孔其中之一呈椭圆形。

8.根据权利要求6所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该两定位孔之间的中央处增设有一凸出的圆形件。

9.根据权利要求8所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该圆形件是一栓头呈圆形的螺栓，以螺设于本体上。

10.根据权利要求1所述的取置机测试手臂的调整治具，其特征在于：该第一对位结构增设为多数个。

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