CN207648367U - 用于逐工序测量零件的定位支架和测量系统 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种用于逐工序测量零件的定位支架和测量系统，所述定位支架包括底座(1)，所述底座(1)上间隔安装有多个向上延伸的定位销(10)，所述定位销(10)用于与被测件上预先开设的多个定位孔一一对应地配合，以定位所述被测件。该定位支架结构简单、使用方便，并且具有较高的定位一致性，有利于保证零件的测量精度，便于监控各工序的作业质量。

Description

用于逐工序测量零件的定位支架和测量系统

技术领域

本公开涉及测量技术领域，具体地，涉及一种用于逐工序测量零件的定位支架和包括该支架的测量系统。

背景技术

传统的逐工序测量零件的方式是采用当序模具的型面对零件进行支撑定位，然后测量相关数据。这种方式的弊端在于，由于各工序所使用的模具不同，使得零件测量缺乏统一的定位基准，无法保证定位的一致性，不便于通过对比测量数据判断各工序的作业质量。并且，零件与模具的型面贴合设置使得零件无法呈现真实状态，容易导致测量数据与实际数据发生偏差，影响对零件的评价。

实用新型内容

本公开的目的是提供一种用于逐工序测量零件的定位支架和具有该定位支架的测量系统，该定位支架结构简单、使用方便，并且具有较高的定位一致性，有利于保证零件的测量精度，便于监控各工序的作业质量。

为了实现上述目的，本公开提供一种用于逐工序测量零件的定位支架，所述定位支架包括底座，所述底座上间隔安装有多个向上延伸的定位销，所述定位销用于与被测件上预先开设的多个定位孔一一对应地配合，以定位所述被测件。

可选地，所述底座上间隔开设有多个安装槽，多个所述定位销的下端可拆卸地嵌设在相应的所述安装槽中。

可选地，所述底座上形成有间隔布置的多个向上延伸的第一支撑柱，所述安装槽分别开设在多个所述第一支撑柱的顶壁上，以使得定位时所述被测件的底壁位于所述底座的上方。

可选地，所述定位销的顶端形成为插入所述定位孔的圆台形结构，并且该圆台形结构的底面直径大于所述定位孔的直径，以使得定位时所述被测件的定位孔套设在所述圆台形结构的侧壁上。

可选地，多个所述第一支撑柱之间连接有加强梁，该多个所述第一支撑柱与所述底座之间连接有加强筋。

可选地，所述底座上还设置有高度可调节的第二支撑柱，以支撑所述被测件的底壁，所述第二支撑柱为多个，且多个所述第二支撑柱沿所述被测件的周向边缘间隔布置。

可选地，所述第二支撑柱的顶壁上形成有支撑凸点。

可选地，所述支撑凸点的直径不大于3mm。

可选地，所述第二支撑柱一端的侧壁上形成有外螺纹面，所述底座上设置有与所述外螺纹面配合的安装螺母，以调节并锁定所述第二支撑柱的高度，所述外螺纹面上还套设有用于紧固所述第二支撑柱锁紧螺母。

基于上述技术方案，本公开还提供一种用于逐工序检测零件的测量系统，包括三坐标测量机和本公开提供的用于逐工序检测零件的定位支架，所述定位支架固定在所述三坐标测量机的工作台上。

通过上述技术方案，在测量时，利用本公开提供的定位支架，将被测件上的多个定位孔与该定位支架的多个定位销一一对应地配合，使得各工序的被测件具有统一的、确定的定位基准，从而有利于保证测量结果的准确性，便于通过对比测量数据评价被测件和相应的生产工序。

本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1是本公开一种示例性实施方式提供的定位支架的立体图；

图2是图1中A位置的局部放大图；

图3是图1中B位置的局部放大图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。

在本公开中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下”通常是指本公开提供的定位支架在使用时，各部件相对位置的上和下。

如图1至图3所示，本公开具体实施方式提供了一种用于逐工序测量零件的定位支架，定位支架包括底座1，底座1上间隔安装有多个向上延伸的定位销10，定位销10用于与被测件上预先开设的多个定位孔一一对应地配合，以定位被测件。

在测量时，利用本公开提供的定位支架，将被测件上的多个定位孔与该定位支架的多个定位销一一对应地配合，使得各工序的被测件具有统一的、确定的定位基准，从而有利于保证测量结果的准确性，便于通过对比测量数据评价被测件和相应的工序，便于零件制作方案的整改。

需要说明的是，本公开中，“一一对应”是指该定位支架的一个定位销10对应于插入被测件的一个定位孔内，并且在该被测件的逐工序测量过程中，相应的该定位销10仅与相应的该定位孔配合使用，从而确保在逐工序测量时同一被测件的定位基准相同。

为了增加定位支架的适用性，使得该定位支架能够应用于多种零件的逐工序测量，底座1上间隔开设有多个安装槽，多个定位销10的下端可拆卸地嵌设(例如可以是过渡配合、螺纹连接或卡接)在相应的安装槽中，以便于更换不同类型的定位销10。

如图1所示，在本实施方式中，底座1上形成有间隔布置的多个向上延伸的第一支撑柱11，安装槽分别开设在多个第一支撑柱11的顶壁上，以使得定位时被测件的底壁位于底座1的上方，以消除底座1的各种可能的形状对被测件的底壁的影响，有利于使被测件接近自由状态，减小被测件的形变量，以提升测量结果的精确程度。

具体地，定位销10的顶端形成为插入定位孔的圆台形结构10a，从而便于将被测件设置在该定位支架上，避免因制造误差导致定位销10与被测件上的定位孔无法配合。为了进一步减小被测件与定位支架的接触面积，使被测件尽量处于真实状态，该圆台形结构10a的底面直径大于定位孔的直径，以使得定位时被测件的定位孔套设在圆台形结构10a的侧壁上，即定位被测件时，第一支撑柱11与被测件的底面没有接触，从而避免第一支撑柱11的顶壁抵顶被测件，导致被测件位置不稳定，影响定位的精确程度。

为了提升该定位支架的整体强度，增强其使用寿命，多个第一支撑柱11之间连接有加强梁13，该多个第一支撑柱11与底座1之间连接有加强筋14，避免因被测件质量较大使得定位支架变形，导致定位不准确或无法定位被测件。

如图1所示，在本实施方式中，底座1上还设置有高度可调节的第二支撑柱12，从而能够根据被测件的位置和形状支撑被测件的底壁，使得被测件能够获得稳定的支撑，避免测量过程中由于测量人员或仪器的触碰引发被测件晃动，使得测量数据有偏差。具体地，该第二支撑柱12可以为多个，并且该多个第二支撑柱12可以沿被测件的周向边缘间隔布置，以获得理想的支撑效果。

为减小第二支撑柱12的位置和形状对测量结果的影响，第二支撑柱12的顶壁(即用于支撑被测件的壁面)上形成有支撑凸点12a，以保持第二支撑柱12与被测件的底壁具有较小的接触面积，从而有利于呈现被测件的真实状态。具体地，支撑凸点12a的直径可以配置为不大于3mm。并且本公开不限定该支撑凸点的具体形状，在可能的实施方式中，该支撑凸点可以形成为柱状或半球状等任意适当的形状。

作为一种可能的实施方式，第二支撑柱12一端的侧壁上形成有外螺纹面，底座1上设置有与外螺纹面配合的安装螺母15，以便于通过简单的方式调节并锁定第二支撑柱12的高度。具体地，外螺纹面上还可以套设有用于紧固第二支撑柱12锁紧螺母16，以使得第二支撑柱12能够稳定地支撑被测件。

基于以上技术方案，本公开还提供一种逐工序检测零件的测量系统，该测量系统包括三坐标测量机和本公开提供的定位支架，其中定位支架固定在三坐标测量机的工作台上。

具体地，该被测件可以是车辆后轮罩。下文将以车辆后轮罩的制作过程为例，示例性地描述该测量系统的工作过程：测量时，首先选取定位支架上的其中一个安装槽为基准建立坐标系，并根据车辆后轮罩上定位孔的尺寸选取适当的定位销10插入安装槽，然后将拉延工序件放置在定位支架上，使得其上的定位孔与定位销10一一对应，随后使用三坐标测量机对该拉延工序件进行测量，测量完成后取下零件；保持定位支架的位置不变，通过相同的方式依次对修边工序件、整形工序件和刨切工序件进行测量，将各工序的测量数据进行对比，判断零件是否合格，并且能够判定不合格零件出现在何种工序，以便及时调整制造方案。

以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

Claims (10)

1.一种用于逐工序测量零件的定位支架，其特征在于，所述定位支架包括底座(1)，所述底座(1)上间隔安装有多个向上延伸的定位销(10)，所述定位销(10)用于与被测件上预先开设的多个定位孔一一对应地配合，以定位所述被测件。

2.根据权利要求1所述的定位支架，其特征在于，所述底座(1)上间隔开设有多个安装槽，多个所述定位销(10)的下端可拆卸地嵌设在相应的所述安装槽中。

3.根据权利要求2所述的定位支架，其特征在于，所述底座(1)上形成有间隔布置的多个向上延伸的第一支撑柱(11)，所述安装槽分别开设在多个所述第一支撑柱(11)的顶壁上，以使得定位时所述被测件的底壁位于所述底座(1)的上方。

4.根据权利要求3所述的定位支架，其特征在于，所述定位销(10)的顶端形成为插入所述定位孔的圆台形结构(10a)，并且该圆台形结构(10a)的底面直径大于所述定位孔的直径，以使得定位时所述被测件的定位孔套设在所述圆台形结构(10a)的侧壁上。

5.根据权利要求3所述的定位支架，其特征在于，多个所述第一支撑柱(11)之间连接有加强梁(13)，该多个所述第一支撑柱(11)与所述底座(1)之间连接有加强筋(14)。

6.根据权利要求1所述的定位支架，其特征在于，所述底座(1)上还设置有高度可调节的第二支撑柱(12)，以支撑所述被测件的底壁，所述第二支撑柱(12)为多个，且多个所述第二支撑柱(12)沿所述被测件的周向边缘间隔布置。

7.根据权利要求6所述的定位支架，其特征在于，所述第二支撑柱(12)的顶壁上形成有支撑凸点(12a)。

8.根据权利要求7所述的定位支架，其特征在于，所述支撑凸点(12a)的直径不大于3mm。

9.根据权利要求6所述的定位支架，其特征在于，所述第二支撑柱(12)一端的侧壁上形成有外螺纹面，所述底座(1)上设置有与所述外螺纹面配合的安装螺母(15)，以调节并锁定所述第二支撑柱(12)的高度，所述外螺纹面上还套设有用于紧固所述第二支撑柱(12)锁紧螺母(16)。

10.一种用于逐工序检测零件的测量系统，其特征在于，包括三坐标测量机和根据权利要求1-9中任意一项所述的用于逐工序测量零件的定位支架，所述定位支架固定在所述三坐标测量机的工作台上。