CN2480822Y - 自动工业分析仪天平保护装置 - Google Patents
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Abstract
一种自动工业分析仪天平保护装置,其特征在于它是在天平上设一与控制电路相连的保护触发器和保护盘,保护盘通过螺柱与设在天平上且可与保护触发器触发的保护罩联接,圆罩形保护罩中央固接称量杆,其圆边上设有1个或1个以上可与保护触发器触点相触的凸起;保护罩与保护触发器触点之间的距离为2—10mm;螺柱设1个或1个以上,杆上套设弹簧,顶端旋入可调节保护罩水平的螺母。本实用新型结构简单,可有效地避免天平被损坏。
Description
本实用新型涉及一种测试仪保护装置，具体涉及一种自动工业分析仪的天平保护装置。
自动工业分析仪所使用的精密天平主要通过应力传感器测出被测物体的重量，当所测物体的重量超过天平的最大量程时，天平会被永久性地损坏。在自动工业分析仪工作时，所测样品放置在样盘上，样盘为一圆盘，在圆盘上均匀地挖了12个洞，样品盛装在样舟上，样舟放在圆盘的孔中，称量杆放置在天平上，电机带动样盘上下运动。当样盘向下运动时，如果位置准确，称量杆将样舟托起送入到低、高温炉中进行实验，实验结束后电机带动样盘向上运动，样舟离开称量杆，然后样品向左或向右旋转，将另一个样舟对准称量杆的位置，然后向下运动，重复上述动作，对下一个样品做实验，直到所有的样品均测试完毕，整个实验才结束。在仪器运行正常的情况下，所测物体的重量不会超过天平的量程。由于带动样盘运动的电机有一定的惯性，在样盘左右旋转时，在惯性的带动下样盘偶尔会偏离正确位置，在此种情况下，如果电机带动样盘向下运动，样盘会压着称量杆，天平的应力传感器会对此产生感应，压力超过天平的最大量程时，天平会被损坏。
本实用新型的目的是克服现有技术的缺陷，提供一种可使精密天平不会被损坏的自动工业分析仪天平保护装置。
本实用新型的目的是通过下面的技术方案实现的，其特征在于在天平上分别设置与控制电路相连的保护触发器和保护盘，保护盘通过螺柱与设在天平上且可与保护触发器触发的保护罩联接，保护罩中央固接称量杆，其形状为一圆罩形，其圆边上设有1个或1个以上可与保护触发器触点相触的凸起；保护罩与保护触发器触点之间的距离为2～10mm。螺柱设可1个或1个以上，其杆上套设弹簧，顶端旋入螺母，可调节保护罩的水平位置。
附图说明：
图1为本实用新型结构主视图；
图2为本实用新型结构俯视图。
图中：
1-天平； 2-保护触发器； 3-螺钉； 4-螺柱；
5-弹簧； 6-螺孔； 7-螺母； 8-保护盘；
9-保护罩； 10-称量杆。
下面结合附图对本实用新型作进一步详述。
如图1、图2所示，本实用新型是在天平上设置的一套保护装置，其特征是在天平1上设置一保护盘8，它可用螺钉3固定在天平1上，在天平1上方，设一保护罩9，该保护罩9中央固接称量杆10，在保护盘8和保护罩9之间，设1个或1个以上螺柱4，该螺柱4一端固定在保护盘8上，其杆上套设有弹簧5，弹簧5具有一定的弹性系数，另一端穿越保护罩9上开设的螺孔6，通过螺母7固定，该螺母7还可作为水平调节螺母使用，使保护盘8和保护罩9处于水平平行状态；保护触发器2安装在天平1上，从其上接出引线与控制电路相连，保护罩9为一圆罩形，为减少保护装置自身的重量，本实用新型将保护罩9的罩边挖掉，其圆边上形成1个或1个以上凸起，可与保护触发器2触点相触，静止放置时，保护罩9与保护触发器2相距为2～10mm。
自动工业分析仪工作时，当出现对位不准的情况时，称量杆10被样盘往下压，压力作用在保护罩9上使保护罩9产生一个向下的位移，由于弹簧5的弹性系数一定，保护罩9向下移动与保护触发器2接触时，天平1所感应到的应力值小于天平1的最大量程，这时保护触发器2被触发，控制电路发出信号使电机停止向下运动，然后带动样盘反转上升离开称量杆，这样，就可以避免对天平造成的损坏，达到自动保护精密天平的目的。
本实用新型结构简单，使用效果相当好，可有效地保护天平。
Claims (5)
1、一种自动工业分析仪天平保护装置，其特征在于在天平(1)上分别设与控制电路相连的保护触发器(2)和保护盘(8)，保护盘(8)通过螺柱(4)与设在天平(1)上且可与保护触发器(2)触发的保护罩(9)联接，保护罩(9)中央固接称量杆(10)。
2、根据权利要求1所述的自动工业分析仪天平保护装置，其特征在于螺柱(4)设1个或1个以上，其杆上套设有弹簧(5)。
3、根据权利要求1或2所述的自动工业分析仪天平保护装置，其特征在于保护罩(9)为一圆罩形，其圆边上设有一个或一个以上可与保护触发器(2)触点相触的凸起。
4、根据权利要求1或3所述的自动工业分析仪天平保护装置，其特征在于保护罩(9)与保护触发器(2)触点之间的距离为2～10mm。
5、根据权利要求1或2所述的自动工业分析仪天平保护装置，其特征在于螺柱(4)顶端可旋入螺母(7)。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 01235149 CN2480822Y (zh) | 2001-05-23 | 2001-05-23 | 自动工业分析仪天平保护装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN 01235149 CN2480822Y (zh) | 2001-05-23 | 2001-05-23 | 自动工业分析仪天平保护装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN2480822Y true CN2480822Y (zh) | 2002-03-06 |
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ID=33648358
Family Applications (1)
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| CN 01235149 Expired - Fee Related CN2480822Y (zh) | 2001-05-23 | 2001-05-23 | 自动工业分析仪天平保护装置 |
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| CN (1) | CN2480822Y (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102288273A (zh) * | 2011-07-04 | 2011-12-21 | 孟凡强 | 电光分析天平 |
| CN108955849A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-12-07 | 深圳市雷凌广通技术研发有限公司 | 一种稳定性好的电子天平 |
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2001
- 2001-05-23 CN CN 01235149 patent/CN2480822Y/zh not_active Expired - Fee Related
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