CN2476088Y - 半导体瓷片电容器自动测量联动机 - Google Patents

半导体瓷片电容器自动测量联动机 Download PDF

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章士瀛
张晓玉
赵涛
何强
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Guangdong Nanfang Hongming Electronic Co. Ltd.
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Dongguan Hongming South Electronic Ceramic Co ltd
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Abstract

半导体瓷片电容器自动测量联动机,涉及电子元件领域,主传动机构采用直流调速电机;测量头采用弹簧复位式结构及进口公母子弹接头;间歇分度机构采用高速凸轮间歇式分度机构;绝缘电阻正面测试/耐压测量机构、绝缘电阻正面反面测试机构在高速凸轮及杠杆带动下,在导轨上作上下滑动;固定测量头的夹具,可兼容完成纸带孔间距成两倍的两种不同纸带型号产品的测量。并且该测量机可兼容完成半导体及中高压下瓷片电容器的测量。

Description

半导体瓷片电容器自动测量联动机
本实用新型产品属于电子元件技术领域,特别涉及一种半导体瓷片电容器的自动测量联动机。
目前,电容器的生产中对产品的测量采用的是台湾久尹自动化测量机。该测量机只能对产品进行容量/损耗、低于500V耐压测试这三种参数的测量,但不能测量直流中高压(测试电压3000V以下)的瓷片电容器产品,而测量效率仅为200~220pcs/min。并且产品经此测量机测量后,再转移到浸蜡机内完成浸蜡。这样不但降低了效率,而且占据厂房面积更大。
本实用新型的目的在于能避免上述的缺点,扩大测量机的测量范围,提高测量效率,同时减小占据厂房的面积。
本实用新型是这样实现的:正面反面测试
半导体瓷片电容器自动测量联动机,包括可编程控制器、主传动机构、匀速传动机构、编带产品、测量头、损耗/容量测量机构、绝缘电阻正面测试/耐压测量机构、绝缘电阻反面测试机构、间歇分度机构、电磁阀切刀机构、浸蜡槽、绝缘电阻测量仪、耐压测量仪、3000V直流电源、控制面板、1000V直流电源、损耗/容量测试仪、联轴器、光纤传感器、光电信号发生器和速度传感器,其特征在于:主传动机构采用直流调速电机;测量头采用弹簧复位式结构及进口公母子弹接头;间歇分度机构采用高速凸轮间歇式分度机构;绝缘电阻正面测试/耐压测量机构、绝缘电阻反面测试机构在高速凸轮及杠杆带动下,在导轨上作上下滑动;绝缘电阻正面测试/耐压测量机构、绝缘电阻反面测试机构上固定测量头的每个夹具,可兼容完成纸带孔间距成两倍的两种不同纸带型号产品的测量。
测量头将测量到数值传递给可编程控制器,同时光电信号发生器将同步时序信号发送给可编程控制器,可编程控制器将各阶段测量的合格品记数显示在控制面板上,并将不合格品信号传递给电磁阀切刀机构,控制电磁阀切刀机构将移动到位的不良品切除。
速度传感器设置在主传动机构上,将感应的速度传递给可编程控制器,可编程控制器将速度计数显示在控制面板上。
联轴器设置在主传动机构上,将主传动机构同浸蜡槽的传动针轮连接并且联动了起来。
光纤传感器可感应切除不合格品后的合格产品,并感应是否断带,将信号传递给可编程控制器,可编程控制器将合格品计数显示在控制面板上,并在断带时停机、报警。
浸蜡槽采用内胆式热媒油加热方式。
由于上述几种特点综合设计,现一部半导体瓷片电容器自动测量联动机既可完成半导体产品的测量,也可完成中高压瓷片电容器的测量,在一部机上还可联动完成浸蜡,并且使高效率生产成为可能,能达到350~400pcs/min,同时减少了占地面积。
下面结合附图和实施例作进一步详细说明。
图1:半导体瓷片电容器自动测量联动机示意图
图2:半导体瓷片电容器自动测量联动机运作流程图
如图1、2所示,在控制面板(15)上启动按纽使主传动机构(2)运转,以带动各相应机械机构运动,使编带产品(4)通过测量联动机,随着主传动机构(2)的运转,速度传感器(21)发出信号,经过可编程控制器(1),将当前速度显示在控制面板(15)上,通过调整,将测试速度调在适当位置上,同时光电信号发生器(20)发出相应同步时序信号给可编程控制器(1),控制各相应动作机构按要求动作。
机器安全运转后,将编带产品(4)送至匀速传动机构(3),并通过光纤传感器(19),再通过可编程控制器(1),将产品投入数送至控制面板(15)以便显示,接着通过间歇分度机构(9)将编带产品(4)按每2只一次带入损耗/容量测量机构(6)中的测量头(5)下面,并通过HP4278A损耗/容量测量仪(17)在可编程控制器(1)的控制下,将分选出的合格品信号传送至控制面板(15)以便计数,而不合格信号则传输给电磁阀切刀机构(10),使不合格产品在经过时,将其切除,以使测量容量/损耗的合格品通过。
测量容量/损耗的合格的编带产品(4)又通过间歇分度机构(9)仍按每2只一次将产品带入绝缘电阻正面测试/耐压测量机构(7)中之测量头(4)下面,首先通过3000V直流电源(14)对其充电后,通过2台绝缘电阻测试仪(12)或耐压测量仪(13)进行测量,经可编程控制器(1),将绝缘电阻正面测试或耐压不合格品信号分别送至控制面板(15)显示以及电磁阀切刀机构(10),使不合格品在经过时将其切除,以使合格品安全通过。
容量、损耗、绝缘电阻正面测试或耐压都测量合格的编带产品(4)又通过间歇分度机构(9)按每2只一次将产品带入绝缘电阻反面测试机构(8)中的测量头(4)下面,首先通过1000V直流电源(16)对其充电后,又通过2台绝缘电阻测试仪(12)在可编程控制器(1)的控制下,将绝缘电阻反面测试不合格信号分别送至控制面板(15)显示,以及送至电磁阀切刀机构(10)使绝缘电阻不合格品在经过时将其切除,以使容量、损耗、绝缘电阻正面及反面测试或耐压都测量合格的产品通过。
随后经联轴器(18)将主传动机构(2)与浸蜡槽(11)的传动针轮相连,使经测试合格后的编带产品(4)经过浸蜡槽(11)完成浸蜡工序。
浸蜡槽(11)采用内胆式热媒油加热方式,使浸蜡槽内蜡的温度保持均恒。
绝缘电阻正面测试/耐压测量机构(7)、绝缘电阻反面测试机构(8)上固定测量头(8)的夹具,可兼容完成纸带孔间距成两倍的两种不同纸带型号产品的测量,如其中一套夹具可分别完成纸带孔间距为12.7mm和25.4mm产品的测量而不需更换夹具。

Claims (6)

1.半导体瓷片电容器自动测量联动机,包括可编程控制器(1)、主传动机构(2)、匀速传动机构(3)、编带产品(4)、测量头(5)、损耗/容量测量机构(6)、绝缘电阻正面测试/耐压测量机构(7)、绝缘电阻反面测试机构(8)、间歇分度机构(9)、电磁阀切刀机构(10)、浸蜡槽(11)、绝缘电阻测量仪(12)、耐压测量仪(13)、3000V直流电源(14)、控制面板(15)、1000V直流电源(16)、损耗/容量测试仪(17)、联轴器(18)、光纤传感器(19)、光电信号发生器(20)、速度传感器(21),其特征在于:主传动机构(2)采用直流调速电机;测量头(5)采用弹簧复位式结构及进口公母子弹接头;间歇分度机构(8)采用高速凸轮间歇式分度机构;绝缘电阻正面测试/耐压测量机构(7)、绝缘电阻反面测试机构(8)在高速凸轮及杠杆带动下,在导轨上作上下滑动;绝缘电阻正面测试/耐压测量机构(7)、绝缘电阻反面测试机构(8)上固定测量头的每个夹具,可兼容完成纸带孔间距成两倍的两种不同纸带型号产品的测量。
2.如权利要求1所述的半导体瓷片电容器自动测量联动机,测量头(5)将测量到数值传递给可编程控制器(1),同时光电信号发生器(20)将同步时序信号发送给可编程控制器(1),可编程控制器¨)将各阶段测量的合格品记数显示在控制面板(15)上,并将不合格品信号传递给电磁阀切刀机构(10),控制电磁阀切刀机构(10)将移动到位的不良品切除。
3.如权利要求1所述的半导体瓷片电容器自动测量联动机,速度传感器(21)设置在主传动机构(2)上,将感应的速度传递给可编程控制器(1),可编程控制器(1)将速度计数显示在控制面板(15)上。
4.如权利要求1所述的半导体瓷片电容器自动测量联动机,联轴器(18)设置在主传动机构(2)上,将主传动机构(2)同浸蜡槽(11)的传动针轮连接并且联动了起来。
5.如权利要求1所述的半导体瓷片电容器自动测量联动机,光纤传感器(19)可感应切除不合格品后的合格产品,并感应是否断带,将信号传递给可编程控制器(1),可编程控制器(1)将合格品计数显示在控制面板(15)上,并在断带时停机、报警。
6.如权利要求1所述的半导体瓷片电容器自动测量联动机,浸蜡槽(11)采用内胆式热媒油加热方式。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN104515942A (zh) * 2013-09-29 2015-04-15 昆山万盛电子有限公司 新型电容处理测试设备
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