CN221078824U - 一种半导体检测用翻转装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体检测用翻转装置，属于半导体检测设备技术领域。其主要针对现有产品在对半导体夹持定位时无法保障其处于居中位置，且调整过程中还需要保障两侧夹板的状态相一致的问题，提出如下技术方案，包括底座与横板，其中，横板位于底座的上方，且底座与横板之间通过剪式机构进行连接，所述横板上安装有用于夹持待测半导体的夹持部。本实用新型通过双向丝杆带动对称设置的夹持组件进行同步位移，进而在对半导体进行夹持限位时保障其处于产品的中心位置，从而保障对其的检测效果，而夹持部中所设置的定位件使得夹持组件在相互靠近夹持半导体时其状态相一致，以保障对半导体的便捷性夹持限位，减轻其操作负担，提高工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体检测设备技术领域，具体是一种半导体检测用翻转装置。
背景技术
半导体是一种电导率在绝缘体至导体之间的物质，其电导率容易受控制，可作为信息处理的元件材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，在对半导体进行生产时，需要使用到翻转装置对半导体进行检测观察，保证其品质质量，合格的才可继续进行生产加工。
现有一种授权公告号为CN219200481U的中国专利，公开了一种半导体检测用翻转装置，包括安装底板，所述安装底板上固定连接有第一电机，所述转轴上固定连接有蜗轮，所述固定架上固定连接有第二电机。本申请通过设置的夹板，在对不同尺寸的半导体进行夹持时，可将半导体放置在夹板中，然后转动固定架上的第一螺纹杆，第一螺纹杆运转时通过轴承推动夹板进行限位移动，夹板移动时配合转轴上的夹板能够平稳对半导体进行夹持，夹持后，转动第二螺纹杆带动限位板进行限位移动，配合第一防护垫与第二防护垫能够稳定对半导体进行防护夹持，避免半导体检测时发生脱落导致损坏的问题。
上述专利文件中的技术方案虽然能够实现对不同规格的半导体进行夹持防护，并实现其适用性的高度调整，但其在实际使用的过程中两侧的夹板一侧为固定结构，一侧为活动结构，进而在对半导体进行夹持定位时无法保障其居中放置，从而容易影响半导体的检测效果，且移动的夹板以转动连接的方式进行装载，进而其在对半导体进行夹持限位时，还需要保障其与固定侧夹板处于对应状态才能实现对半导体的夹持限位，进一步增加了产品在对半导体限位时的操作麻烦。
因此，本领域技术人员提供了一种半导体检测用翻转装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
实用新型内容
为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型的实施例提供一种半导体检测用翻转装置，通过双向丝杆带动对称设置的夹持组件进行同步位移，进而在对半导体进行夹持限位时保障其处于产品的中心位置，从而保障对其的检测效果，而夹持部中所设置的定位件使得夹持组件在相互靠近夹持半导体时其状态相一致，以保障对半导体的快速、便捷性夹持限位，减轻其操作负担，提高工作效率，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种半导体检测用翻转装置，包括底座与横板，其中，横板位于底座的上方，且底座与横板之间通过剪式机构进行连接，所述横板上安装有用于夹持待测半导体的夹持部，夹持部包括位于横板下方的双向丝杆与滑动连接于横板顶部的滑板，其中，滑板包括有两个，左右对称式分布；
每个所述的滑板上均转动连接有圆柱，多个所述的圆柱相互靠近的一端均安装有夹持组件，右侧所述圆柱的右端设置有用于驱动的驱动件，所述滑板与圆柱之间设置有用于定位的定位件。
作为本实用新型再进一步的方案，所述双向丝杆上套设有多个支架，多个所述支架的顶部均通过螺栓安装于横板的底部外壁上。
作为本实用新型再进一步的方案，所述横板的顶部壳壁上开设有用于导向滑板位移的滑槽组与用于部件通行的通槽，其中，通槽包括有两个，左右对称式分布，每个所述滑板的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆之间螺纹连接。
作为本实用新型再进一步的方案，所述滑板上开设有孔洞，所述圆柱转动连接于孔洞中，所述定位件包括固定连接于滑板内壁上的耳板，耳板上螺纹连接有定位栓，其中，耳板位于圆柱的上方，且圆柱上开设有用于插接限位的限位孔。
作为本实用新型再进一步的方案，所述夹持组件包括固定连接于圆柱上的U型架，U型架远离圆柱的一侧一体设置有抵盘，抵盘上滑动连接有多个夹板，所述U型架的内部转动连接有双向螺杆，多个所述的双向螺杆靠近U型架的一侧均设置有螺纹连接于夹板上的内纹环。
作为本实用新型再进一步的方案，所述驱动件包括设置于右侧所述圆柱右端上的蜗轮，蜗轮的下方设有与之啮合传动的蜗杆，蜗杆的前端安装有用于提供动力的电机，电机通过螺栓安装于右侧所述滑板的外壁上。
作为本实用新型再进一步的方案，所述剪式机构由滑轨组、剪式撑杆件、连板与气缸所构成，其中，滑轨组包括有两组，两组所述的滑轨组之间前后对称式设置，每组所述的滑轨组均包括有上下两个滑轨，上方所述的滑轨固定连接于横板的底部，下方所述的滑轨固定连接于底座的顶部。
作为本实用新型再进一步的方案，上下两个所述的滑轨之间通过剪式撑杆件进行连接，所述气缸设置于底座的顶部，所述连板安装于气缸的输出端，且连板的两侧分别连接于前后对称设置的剪式撑杆件。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过双向丝杆带动对称设置的夹持组件进行同步位移，进而在对半导体进行夹持限位时保障其处于产品的中心位置，从而保障对其的检测效果，而夹持部中所设置的定位件使得夹持组件在相互靠近夹持半导体时其状态相一致，以保障对半导体的快速、便捷性夹持限位，减轻其操作负担，提高工作效率。
2、通过设置剪式机构取代现有的升降结构，升降结构中的主要承重结构为连接轴，极容易出现损坏，进而在保障对其升降调整效果的情况下实现其调节的稳定性与较长的使用寿命，减少维护成本。
附图说明
图1为一种半导体检测用翻转装置的立体结构示意图一；
图2为一种半导体检测用翻转装置的立体结构示意图二；
图3为图1的正视结构示意图。
图中：1、底座；2、横板；3、剪式机构；31、滑轨组；32、剪式撑杆件；33、连板；34、气缸；4、夹持部；41、滑板；42、圆柱；43、驱动件；431、蜗轮；432、蜗杆；433、电机；44、双向丝杆；45、夹持组件；451、U型架；452、抵盘；453、双向螺杆；454、夹板；46、定位件；461、耳板；462、定位栓。
具体实施方式
请参阅图1～3，本实用新型实施例中，一种半导体检测用翻转装置，包括底座1与横板2，其中，横板2位于底座1的上方，且底座1与横板2之间通过剪式机构3进行连接。剪式机构3的设置实现横板2的高度调节，进而保障待测半导体的检测需求。
横板2上安装有用于夹持待测半导体的夹持部4。夹持部4包括位于横板2下方的双向丝杆44与滑动连接于横板2顶部的滑板41。其中，滑板41包括有两个，左右对称式分布。
每个滑板41上均转动连接有圆柱42。多个圆柱42相互靠近的一端均安装有夹持组件45。右侧圆柱42的右端设置有用于驱动的驱动件43。滑板41与圆柱42之间设置有用于定位的定位件46。驱动件43的设置实现对圆柱42的旋转驱动，进而对夹持后的半导体进行翻转操作。定位件46的设置使得夹持组件45在靠近夹持的操作过程中其状态处于预定形态，分别对称的夹持组件45对半导体进行便捷性夹持。
双向丝杆44上套设有多个支架，多个支架的顶部均通过螺栓安装于横板2的底部外壁上。通过支架的设置实现对双向丝杆44的稳定装配。
横板2的顶部壳壁上开设有用于导向滑板41位移的滑槽组与用于部件通行的通槽。其中，通槽包括有两个，左右对称式分布。每个滑板41的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆44之间螺纹连接。连接板在双向丝杆44的作用下实现对对称设置的滑板41进行位移调整。
滑板41上开设有孔洞，圆柱42转动连接于孔洞中。定位件46包括固定连接于滑板41内壁上的耳板461，耳板461上螺纹连接有定位栓462。其中，耳板461位于圆柱42的上方，且圆柱42上开设有用于插接限位的限位孔。定位栓462与限位孔之间插接限位，进而保障夹持组件45在位移夹持时的运动状态。
夹持组件45包括固定连接于圆柱42上的U型架451。U型架451远离圆柱42的一侧一体设置有抵盘452，抵盘452上滑动连接有多个夹板454。U型架451的内部转动连接有双向螺杆453，多个的双向螺杆453靠近U型架451的一侧均设置有螺纹连接于夹板454上的内纹环。双向螺杆453调整夹板454的运动，进而对抵靠夹持的半导体进行再次的夹持限位，提高对半导体夹持的稳定性。
驱动件43包括设置于右侧圆柱42右端上的蜗轮431。蜗轮431的下方设有与之啮合传动的蜗杆432，蜗杆432的前端安装有用于提供动力的电机433。电机433通过螺栓安装于右侧滑板41的外壁上。蜗杆432的后端通过轴承设置有直板，直板固定连接于右侧滑板41的外壁上，用于保障蜗杆432的稳定装配。
剪式机构3由滑轨组31、剪式撑杆件32、连板33与气缸34所构成。其中，滑轨组31包括有两组，两组的滑轨组31之间前后对称式设置。每组的滑轨组31均包括有上下两个滑轨，上下两个滑轨之间一一对应。上方的滑轨固定连接于横板2的底部，下方的滑轨固定连接于底座1的顶部。每个滑轨上均滑动连接有多个活动座。
上下两个的滑轨之间通过剪式撑杆件32进行连接。剪式撑杆件32的各端分别通过销轴连接于相应的活动座上。进而在剪式撑杆件32调整时，实现对横板2的高度调整。
气缸34设置于底座1的顶部，连板33安装于气缸34的输出端，且连板33的两侧分别连接于前后对称设置的用于连接剪式撑杆件32的活动座上。
本实用新型的工作原理是：当产品进行使用时，将待夹持的半导体放置于滑板2的上方，并位于夹持部4中对称设置的夹持组件45之间。然后调整双向丝杆44，随着双向丝杆44的旋转，进而螺纹连接于其上的多个连接板分别带动相应的滑板41在滑板2上进行位移调整，使得位于其上的相应夹持组件45进行同步运动。多个夹持组件45在滑板41位移的带动下相互靠近，进而夹持组件45中的抵盘452对待测半导体进行抵紧夹持。
当待测半导体被预夹持固定后，对不同夹持组件45中的相应双向螺杆454进行旋转调整。随着双向螺杆454的运动，进而螺纹连接于其上的夹板454进行位移调节，进而再次实现对待测半导体的夹持固定，保障待测半导体夹持的稳定性。
当待测半导体夹持完成后，对夹定位件46中的定位栓462进行旋钮上移，进而取消其对圆柱42的限位。然后启动驱动件43中的电机433运行，带动蜗杆432进行转动，蜗杆432的旋转使得与之啮合传动的蜗轮431进行运动，实现相应的圆柱42进行转动。圆柱42的运动使得其上的夹持组件45进行同步旋转，而其对待测半导体进行夹持限位，进而同步实现待测半导体的翻转运动。
剪式机构3的运行根据待测半导体的检测需求进行操作。其在运行时，启动气缸34，带动连板33进行活动，连板33的运动使得对称设置的剪式支撑件32进行调整，进而实现横板2的高度调节。
以上所述的，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种半导体检测用翻转装置，包括底座(1)与横板(2)，其中，横板(2)位于底座(1)的上方，且底座(1)与横板(2)之间通过剪式机构(3)进行连接，其特征在于：所述横板(2)上安装有用于夹持待测半导体的夹持部(4)，夹持部(4)包括位于横板(2)下方的双向丝杆(44)与滑动连接于横板(2)顶部的滑板(41)，其中，滑板(41)包括有两个，左右对称式分布；
每个所述的滑板(41)上均转动连接有圆柱(42)，多个所述的圆柱(42)相互靠近的一端均安装有夹持组件(45)，右侧所述圆柱(42)的右端设置有用于驱动的驱动件(43)，所述滑板(41)与圆柱(42)之间设置有用于定位的定位件(46)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述双向丝杆(44)上套设有多个支架，多个所述支架的顶部均通过螺栓安装于横板(2)的底部外壁上。
3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述横板(2)的顶部壳壁上开设有用于导向滑板(41)位移的滑槽组与用于部件通行的通槽，其中，通槽包括有两个，左右对称式分布，每个所述滑板(41)的底部均安装有连接板，连接板的底端穿过通槽，且连接板与双向丝杆(44)之间螺纹连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述滑板(41)上开设有孔洞，所述圆柱(42)转动连接于孔洞中，所述定位件(46)包括固定连接于滑板(41)内壁上的耳板(461)，耳板(461)上螺纹连接有定位栓(462)，其中，耳板(461)位于圆柱(42)的上方，且圆柱(42)上开设有用于插接限位的限位孔。
5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述夹持组件(45)包括固定连接于圆柱(42)上的U型架(451)，U型架(451)远离圆柱(42)的一侧一体设置有抵盘(452)，抵盘(452)上滑动连接有多个夹板(454)，所述U型架(451)的内部转动连接有双向螺杆(453)，多个所述的双向螺杆(453)靠近U型架(451)的一侧均设置有螺纹连接于夹板(454)上的内纹环。
6.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述驱动件(43)包括设置于右侧所述圆柱(42)右端上的蜗轮(431)，蜗轮(431)的下方设有与之啮合传动的蜗杆(432)，蜗杆(432)的前端安装有用于提供动力的电机(433)，电机(433)通过螺栓安装于右侧所述滑板(41)的外壁上。
7.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，所述剪式机构(3)由滑轨组(31)、剪式撑杆件(32)、连板(33)与气缸(34)所构成，其中，滑轨组(31)包括有两组，两组所述的滑轨组(31)之间前后对称式设置，每组所述的滑轨组(31)均包括有上下两个滑轨，上方所述的滑轨固定连接于横板(2)的底部，下方所述的滑轨固定连接于底座(1)的顶部。
8.根据权利要求7所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于，上下两个所述的滑轨之间通过剪式撑杆件(32)进行连接，所述气缸(34)设置于底座(1)的顶部，所述连板(33)安装于气缸(34)的输出端，且连板(33)的两侧分别连接于前后对称设置的剪式撑杆件(32)。
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