CN221056585U - 一种半导体测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种半导体测试治具，包括：底框；滑腔，滑腔开设于底框的内部，滑腔的顶部固定安装有滑槽。本实用新型提供的一种半导体测试治具，通过摇柄、转轴、主动锥形轮、从动锥形轮、丝杆、固定圈、固定板、螺纹套、移动板、夹持板和橡胶垫等结构相互进行配合，在进行使用的时候，使用者进行转动摇柄，使摇柄带动着转轴进行转动，从而使转轴带动着主动锥形轮进行转动，从而使主动锥形轮带动着从动锥形轮进行转动，从而使从动锥形轮带动着丝杆进行转动，从而使丝杆在螺纹套的内侧面进行螺纹连接，从而使螺纹套带动着移动板进行移动，使移动板带动着夹持板和橡胶垫进行移动，使夹持板向半导体的一侧进行移动，从而对半导体进行夹持限位。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体领域，尤其涉及一种半导体测试治具。
背景技术
半导体(semiconductor)指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体的重要性是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。
在对半导体进行测试的时候，需要使用到冶具，但是现有的冶具在进行使用的时候，不方便使用者对半导体进行夹持限位。
因此，有必要提供一种半导体测试治具解决上述技术问题。
实用新型内容
本实用新型提供一种半导体测试治具，解决了不方便使用者对半导体进行夹持限位的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种半导体测试治具，包括：
底框；
滑腔，所述滑腔开设于所述底框的内部，所述滑腔的顶部固定安装有滑槽；
转轴，所述转轴转动连接于所述底框的正面，所述转轴的一端固定安装有主动锥形轮，所述主动锥形轮的一侧啮合有从动锥形轮，所述从动锥形轮的一侧固定安装有丝杆，所述丝杆的外侧面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的外侧面固定安装有移动板，所述移动板的顶部固定安装有夹持板，所述夹持板的一侧固定安装有橡胶垫。
优选的，所述丝杆的一端转动连接于所述滑腔的内侧面。
优选的，所述转轴的另一端固定安装有摇柄。
优选的，所述丝杆的外侧面转动连接有固定圈，所述固定圈的外侧面固定安装有固定板，所述固定板固定安装于所述滑腔的内侧面。
优选的，所述底框的顶部固定安装有固定罩。
优选的，所述移动板滑动连接于所述滑腔的内侧面。
与相关技术相比较，本实用新型提供的一种半导体测试治具具有如下有益效果：
本实用新型提供一种半导体测试治具，通过摇柄、转轴、主动锥形轮、从动锥形轮、丝杆、固定圈、固定板、螺纹套、移动板、夹持板和橡胶垫等结构相互进行配合，在进行使用的时候，使用者进行转动摇柄，使摇柄带动着转轴进行转动，从而使转轴带动着主动锥形轮进行转动，从而使主动锥形轮带动着从动锥形轮进行转动，从而使从动锥形轮带动着丝杆进行转动，从而使丝杆在螺纹套的内侧面进行螺纹连接，从而使螺纹套带动着移动板进行移动，使移动板带动着夹持板和橡胶垫进行移动，使夹持板向半导体的一侧进行移动，从而对半导体进行夹持限位，这样一来方便使用者对半导体进行限位，方便使用者进行使用。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种半导体测试治具的结构示意图；
图2为图1所示的内部结构示意图；
图3为图2所示的A部放大示意图。
图中标号：1、底框，11、空腔，12、滑槽，2、固定罩，3、摇柄，31、转轴，32、主动锥形轮，33、从动锥形轮，34、丝杆，35、固定圈，36、固定板，37、螺纹套，38、移动板，39、夹持板，30、橡胶垫。
具体实施方式
下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
请结合参阅图1、图2和图3，其中，图1为本实用新型提供的一种半导体测试治具的结构示意图；图2为图1所示的内部结构示意图；图3为图2所示的A部放大示意图。一种半导体测试治具，包括：底框1；
滑腔11，所述滑腔11开设于所述底框1的内部，所述滑腔11的顶部固定安装有滑槽12；
转轴31，所述转轴31转动连接于所述底框1的正面，所述转轴31的一端固定安装有主动锥形轮32，所述主动锥形轮32的一侧啮合有从动锥形轮33，所述从动锥形轮33的一侧固定安装有丝杆34，所述丝杆34的外侧面螺纹连接有螺纹套37，所述螺纹套37的外侧面固定安装有移动板38，所述移动板38的顶部固定安装有夹持板39，所述夹持板39的一侧固定安装有橡胶垫30。
所述丝杆34的一端转动连接于所述滑腔11的内侧面。
所述转轴31的另一端固定安装有摇柄3。
所述丝杆34的外侧面转动连接有固定圈35，所述固定圈35的外侧面固定安装有固定板36，所述固定板36固定安装于所述滑腔11的内侧面。
所述底框1的顶部固定安装有固定罩2。
所述移动板38滑动连接于所述滑腔11的内侧面。
本实用新型提供的一种半导体测试治具的工作原理如下：
在进行使用的时候，使用者将需要进行测试的半导体放在底框1的顶部，之后使用者进行转动摇柄3，使摇柄3带动着转轴31进行转动，从而使转轴31带动着主动锥形轮32进行转动，从而使主动锥形轮32带动着从动锥形轮33进行转动，从而使从动锥形轮33带动着丝杆34进行转动，从而使丝杆34在螺纹套37的内侧面进行螺纹连接，从而使螺纹套37进行移动，使螺纹套37带动着移动板38进行移动，从而使移动板38在滑腔11的内侧面进行滑动，使移动板38带动着夹持板39和橡胶垫30进行移动，从而夹持板39向半导体的一侧进行移动，从而对半导体进行夹持限位，然后对半导体进行测试。
与相关技术相比较，本实用新型提供的一种半导体测试治具具有如下有益效果：
通过摇柄3、转轴31、主动锥形轮32、从动锥形轮33、丝杆34、固定圈35、固定板36、螺纹套37、移动板38、夹持板39和橡胶垫30等结构相互进行配合，在进行使用的时候，使用者进行转动摇柄3，使摇柄3带动着转轴31进行转动，从而使转轴31带动着主动锥形轮32进行转动，从而使主动锥形轮32带动着从动锥形轮33进行转动，从而使从动锥形轮33带动着丝杆34进行转动，从而使丝杆34在螺纹套37的内侧面进行螺纹连接，从而使螺纹套37带动着移动板38进行移动，使移动板38带动着夹持板39和橡胶垫30进行移动，使夹持板39向半导体的一侧进行移动，从而对半导体进行夹持限位，这样一来方便使用者对半导体进行限位，方便使用者进行使用。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种半导体测试治具，其特征在于，包括：
底框；
滑腔，所述滑腔开设于所述底框的内部，所述滑腔的顶部固定安装有滑槽；
转轴，所述转轴转动连接于所述底框的正面，所述转轴的一端固定安装有主动锥形轮，所述主动锥形轮的一侧啮合有从动锥形轮，所述从动锥形轮的一侧固定安装有丝杆，所述丝杆的外侧面螺纹连接有螺纹套，所述螺纹套的外侧面固定安装有移动板，所述移动板的顶部固定安装有夹持板，所述夹持板的一侧固定安装有橡胶垫。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述丝杆的一端转动连接于所述滑腔的内侧面。
3.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述转轴的另一端固定安装有摇柄。
4.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述丝杆的外侧面转动连接有固定圈，所述固定圈的外侧面固定安装有固定板，所述固定板固定安装于所述滑腔的内侧面。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述底框的顶部固定安装有固定罩。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述移动板滑动连接于所述滑腔的内侧面。
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