CN221056551U - 一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子元器件类测试技术领域,尤其为一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,所述测试平台模组的表面固定连接有电磁阀模组,所述测试平台模组的表面固定连接有下料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有整列机上料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有载具搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有储料送料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有上料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有机械手搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有产品下料模组。本实用新型通过准确检验MLCC产品的电性能测试,并适合多品种小批量的生产模式,实现全自动作业生产模式,达到了投入成本低,效率高的效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元器件类测试技术领域,具体为一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置。
背景技术
随着电子元器件的小型化、多样化、高性能化,在使用电子元器件时元器件越来越多,因此需要测试电子元器件方法;
其中MLCC的产品尺寸也逐渐趋于小型化,确定电子元器件的容量损耗值是否符合电路设计的要求或经受高温等环境应力时,其容量损耗是否符合有关标准的规定;
通常用LCR测试仪测试各种电子元器件容量损耗值,常规的LCR测试试仪采用的是传统式的鳄鱼夹端口,测试时是用鳄鱼夹直接接触到被测产品的两个端极,这种测试方法因为夹具接触面易松动不方便操作,夹取的部位测试结果差异偏大,对产品尺寸较小的电子元器件无法进行测试从而影响绝缘电阻测试的准确度和使用范围,测试完成后再次对产品进行精度等级区分加大员工的工作量对于员工的要求也较高,大大提高了成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足之处,提供一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,以解决背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,包括测试平台模组,所述测试平台模组的表面固定连接有载具错位模组,所述测试平台模组的表面固定连接有电磁阀模组,所述测试平台模组的表面固定连接有下料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有整列机上料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有载具搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有储料送料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有上料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有机械手搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有产品下料模组。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述载具错位模组的位置处于电磁阀模组的左侧。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述整列机上料模组与载具搬运模组和储料送料模组均处于测试平台模组的右侧单独陈列。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述机械手搬运模组的位置处于产品下料模组的右侧。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述下料流水线模组与上料流水线模组呈相对位置分布。
本实用新型的有益效果是:
该片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,通过准确检验MLCC产品的电性能测试,并适合多品种小批量的生产模式,实现全自动作业生产模式,达到了投入成本低,效率高的效果。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型整体外观结构方案直视示意图;
图3为本实用新型工艺流程直视示意图;
图4为本实用新型机械手搬运模组结构直视示意图;
图5为本实用新型特殊测试机构示意图;
图6为本实用新型产品下料模组结构直视示意图。
图中:1、测试平台模组;2、载具错位模组;3、电磁阀模组;4、下料流水线模组;5、整列机上料模组;6、载具搬运模组;7、储料送料模组;8、上料流水线模组;9、机械手搬运模组;10、产品下料模组;91、六轴3KG机械手;92、下压气缸;93、夹爪气缸;94、相机镜头;11、KK模组2;12、KK模组1;13、伺服电机;14、精密滑台;15、气管载座;16、吹气座;17、探针座;18、滑台。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-6,本实施方案中:一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,包括测试平台模组1,测试平台模组1的表面固定连接有载具错位模组2,测试平台模组1的表面固定连接有电磁阀模组3,测试平台模组1的表面固定连接有下料流水线模组4,测试平台模组1的表面固定连接有整列机上料模组5,测试平台模组1的表面固定连接有载具搬运模组6,测试平台模组1的表面固定连接有储料送料模组7,测试平台模组1的表面固定连接有上料流水线模组8,测试平台模组1的表面固定连接有机械手搬运模组9,测试平台模组1的表面固定连接有产品下料模组10。
本实施例中,载具错位模组2的位置处于电磁阀模组3的左侧;整列机上料模组5与载具搬运模组6和储料送料模组7均处于测试平台模组1的右侧单独陈列;机械手搬运模组9的位置处于产品下料模组10的右侧;下料流水线模组4与上料流水线模组8呈相对位置分布。
如图4所示,机械手搬运模组9包括六轴3KG机械手91、下压气缸92、夹爪气缸93、相机镜头94。
如图5所示,测试平台模组1包括KK模组2(11)、KK模组1(12)、伺服电机13、精密滑台14、气管载座15、吹气座16、探针座17、滑台18。
工作原理:在使用时,请参阅图1-6,首先需要工作人员通过伺服电机加KK模组2(11)将气管载座15和上探针(接触式探针)模组下压,实现测试动作,代替传统的探针测试,提高效率,减少作业员劳动负荷,再通过GPIB通讯,远程进行LCR测试仪的参数设定及指令触发,通过低阻继电器减少线组降低测试干扰,设计电路,通过通道切换的方式,实现夹具内产品的单独测试,结合MES生产执行系统的思想,将生产批号等信息并入记录,对于已测试产品测试数据都具有可追溯性,并将产品按照精度等级自动区分。
以上,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,包括测试平台模组,其特征在于:所述测试平台模组的表面固定连接有载具错位模组,所述测试平台模组的表面固定连接有电磁阀模组,所述测试平台模组的表面固定连接有下料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有整列机上料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有载具搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有储料送料模组,所述测试平台模组的表面固定连接有上料流水线模组,所述测试平台模组的表面固定连接有机械手搬运模组,所述测试平台模组的表面固定连接有产品下料模组。
2.根据权利要求1所述的一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,其特征在于:所述载具错位模组的位置处于电磁阀模组的左侧。
3.根据权利要求1所述的一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,其特征在于:所述整列机上料模组与载具搬运模组和储料送料模组均处于测试平台模组的右侧单独陈列。
4.根据权利要求1所述的一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,其特征在于:所述机械手搬运模组的位置处于产品下料模组的右侧。
5.根据权利要求1所述的一种片式多层瓷介大尺寸电容容量损耗测试装置,其特征在于:所述下料流水线模组与上料流水线模组呈相对位置分布。
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