CN220961834U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试装置，测试装置包括基座、第一驱动模组以及第二驱动模组，基座具有承载面，第一驱动模组位于基座的承载面所在一侧且安装于基座，第一驱动模组配置成可绕第一方向转动，第二驱动模组安装于第一驱动模组且用于装载待测试产品，第二驱动模组配置成可绕与第一方向相交的第二方向转动。该设计其能够对待测试产品如毫米波雷达的视场角范围内的各个角度下的性能表现进行有效检测。

Description

测试装置

技术领域

本申请涉及角度性能测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

目前，越来越多的产品在出厂前需要进行正常工况下全角度范围内的性能测试，例如毫米波雷达、超声波雷达和摄像头等产品。以毫米波雷达为例，毫米波雷达包括发射模组和接收模组，发射模组中的发射器用于向外界发射电磁波，接收模组中的接收器用于接收来自外界的电磁波。而毫米波雷达发射和接收电磁波的能力决定了毫米波雷达的探测性能，因此，如何对毫米波雷达的视场角范围内的各个角度下的性能表现进行有效检测，以保证毫米波雷达的良好探测性能已成为亟待解决的问题。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测试装置，能够解决相关技术中无法对待测试产品如毫米波雷达的视场角范围内的各个角度下的性能表现进行有效检测的问题。

本申请实施例提供了一种测试装置；该测试装置包括基座、第一驱动模组以及第二驱动模组，基座具有承载面，第一驱动模组位于基座的承载面所在一侧且安装于基座，第一驱动模组配置成可绕第一方向转动，第二驱动模组安装于第一驱动模组且用于装载待测试产品，第二驱动模组配置成可绕与第一方向相交的第二方向转动。

基于本申请实施例的测试装置，通过设计第一驱动模组，第一驱动模组能够驱动与之连接的第二驱动模组绕第一方向转动，第二驱动模组转动能够带动安装于其上的待测试产品也绕第一方向转动，以有效对待测试产品绕第一方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品如毫米波雷达的良好探测性能；通过设计第二驱动模组，第二驱动模组能够驱动安装于其上的待测试产品绕第二方向转动，以有效对待测试产品绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品如毫米波雷达的良好探测性能；通过设计第一驱动模组和第二驱动模组，第一驱动模组能够驱动与之连接的第二驱动模组绕第一方向转动，与此同时第二驱动模组还能够驱动安装于其上的待测试产品绕第二方向转动，第一驱动模组和第二驱动模组配合实现待测试产品同时绕第一方向以及第二方向转动，以有效对待测试产品在第一方向和第二方向上的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品如毫米波雷达的良好探测性能。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请一种实施例中的测试装置的结构示意图；

图2为本申请一种实施例中的测试装置在另一视角下的结构示意图；

图3为本申请一种实施例中的测试装置的后视图。

附图标记：1、测试装置；10、基座；11、承载面；20、第一驱动模组；21、第一电机；22、第一支架；221、穿孔；222、减重孔；30、第二驱动模组；31、第二电机；32、第二支架；321、底板；322、侧板；40、触控模组；41、触控显示屏；50、校准结构；51、水平泡；2、待测试产品。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

请参照图1所示，本申请提出了一种测试装置1，其能够对待测试产品2如毫米波雷达的视场角范围内的各个角度下的性能表现进行有效检测。

该测试装置1包括基座10、第一驱动模组20以及第二驱动模组30。基座10具有承载面11；第一驱动模组20位于基座10的承载面11所在一侧且安装于基座10，第一驱动模组20配置成可绕第一方向转动；第二驱动模组30安装于第一驱动模组20且用于装载待测试产品2，第二驱动模组30配置成可绕与第一方向相交的第二方向转动。

以下结合图1-图3对该测试装置1的具体结构进行展开介绍。

如图1-图3所示，测试装置1包括基座10、第一驱动模组20以及第二驱动模组30。

基座10作为测试装置1的底座，这里对基座10的具体形状不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计，例如，基座10的形状可以但不仅限于是圆形或者矩形。这里对基座10的具体材料也不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理选择，例如，基座10的制备材料可以但不仅限于是不锈钢或者铝合金等等。

基座10具有承载面11，承载面11即为基座10的用于承载如第一驱动模组20以及第二驱动模组30的表面，承载面11可以是平面、也可以是曲面、还可以是平面与曲面的结合。

如图1-图3所示，第一驱动模组20作为测试装置1中用于对待测试产品2绕第一方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测(例如若第一方向与水平面垂直，则第一驱动模组20主要用于测试垂直角度范围内的待测试产品2的性能表现)的结构件。关于第一驱动模组20的具体结构将在下文进行展开介绍。

第一驱动模组20位于基座10的承载面11所在一侧且安装于基座10。这里对第一驱动模组20与基座10之间的具体连接方式不做限定；例如，当第一驱动模组20与基座10之间为可拆卸式连接时，第一驱动模组20可以但不仅限于通过螺接、卡接或者插接等方式中的至少一种与基座10连接；当第一驱动模组20与基座10之间为不可拆卸式连接时，第一驱动模组20可以但不仅限于通过胶接或者焊接的方式与基座10连接。在本申请实施中，第一驱动模组20(具体为下文介绍的第二电机31)通过锁螺丝的方式与基座10固定连接。

如图1-图3所示，第二驱动模组30作为测试装置1中用于对待测试产品2绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测(例如若第二方向与水平面平行，则第一驱动模组20主要用于测试水平角度范围内的待测试产品2的性能表现)的结构件。关于第二驱动模组30的具体结构将在下文进行展开介绍。

第二驱动模组30安装于第一驱动模组20。这里对第二驱动模组30与第一驱动模组20之间的具体连接方式不做限定；例如，当第二驱动模组30与第一驱动模组20之间为可拆卸式连接时，第二驱动模组30可以但不仅限于通过螺接、卡接或者插接等方式中的至少一种与第一驱动模组20连接；当第二驱动模组30与第一驱动模组20之间为不可拆卸式连接时，第二驱动模组30可以但不仅限于通过胶接或者焊接的方式与第一驱动模组20连接。在本申请实施中，第二驱动模组30(具体为下文介绍的第一电机21)通过锁螺丝的方式与第一驱动模组20(具体为下文介绍的第二支架32)固定连接。

第一驱动模组20配置成可绕第一方向转动，以使待测试产品2在第一驱动模组20的作用下也能够绕第一方向转动，从而对待测试产品2绕第一方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测。

第二驱动模组30用于装载待测试产品2，这里对待测试产品2与第二驱动模组30之间的具体安装方式不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计。可以理解的是，针对不同具体表现形式的待测试产品2，待测试产品2与第二驱动模组30之间的具体安装方式也不尽相同。例如，当待测试产品2为毫米波雷达时，毫米波雷达的壳体的背面可以设有螺纹孔，毫米波雷达通过锁螺丝的方式固定在第二驱动模组30上；又例如，当待测试产品2为超声波雷达时，超声波雷达的壳体的背面可以设有螺纹孔，超声波雷达通过锁螺丝的方式固定在第二驱动模组30上；再例如，当待测试产品2为摄像头时，可以在摄像头的背面粘贴双面胶，以将摄像头固定在第二驱动模组30上。关于待测试产品2与第二驱动模组30之间的具体连接方式将在下文进行展开介绍。

第二驱动模组30配置成可绕第二方向转动，以使待测试产品2在第二驱动模组30的作用下也能够绕第二方向转动，从而对待测试产品2绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测。其中，第二方向与第一方向相交，也即第二方向至少具有与第一方向相垂直的分量；例如，当第二方向与第一方向之间的夹角为锐角或者钝角时，以第一方向为基准，此时第二方向不仅具有与第一方向相垂直的第一分量，第二方向还具有与第一方向相平行的第二分量；又例如，当第二方向与第一方向之间的夹角为直角时，以第一方向为基准，此时第二方向仅具有与第一方向相垂直的第一分量。

基于本申请实施例中的测试装置1，通过设计第一驱动模组20，第一驱动模组20能够驱动与之连接的第二驱动模组30绕第一方向转动，第二驱动模组30转动能够带动安装于其上的待测试产品2也绕第一方向转动，以有效对待测试产品2绕第一方向时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品2检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品2如毫米波雷达的良好探测性能；通过设计第二驱动模组30，第二驱动模组30能够驱动安装于其上的待测试产品2绕第二方向转动，以有效对待测试产品2绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品2检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品2如毫米波雷达的良好探测性能；通过设计第一驱动模组20和第二驱动模组30，第一驱动模组20能够驱动与之连接的第二驱动模组30绕第一方向转动，与此同时第二驱动模组30还能够驱动安装于其上的待测试产品2绕第二方向转动，第一驱动模组20和第二驱动模组30配合实现待测试产品2同时绕第一方向以及第二方向转动，以有效对待测试产品2在第一方向和第二方向上时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品2检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品2如毫米波雷达的良好探测性能。

如图1-图3所示，为使第一驱动模组20能够带动待测试产品2绕第一方向转动不同角度，第二驱动模组30能够带动待测试产品2绕第二方向转动不同角度，故设计，测试装置1还包括控制模组。基座10具有容纳腔(图中未示出)，控制模组安装于容纳腔，控制模组与第一驱动模组20通讯连接，以控制第一驱动模组20绕第一方向转动的角度，控制模组还与第二驱动模组30通讯连接，以控制第二驱动模组30绕第二方向转动的角度。

其中，“容纳腔”即为基座10内部的中空区域，这里对容纳腔的具体形状不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计。控制模组为测试装置1的控制中心，控制模组包括控制器，控制器可以通过通讯线缆(图中未示出)与第一电机21(下文有介绍)的通讯接口连接，以实现控制模组与第一驱动模组20之间的通讯连接，控制器也可以通过另一通讯线缆(图中未示出)与第二电机31(下文有介绍)的通讯接口连接，以实现控制模组与第二驱动模组30之间的通讯连接。这里对控制模组在容纳腔内的安装方式也不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计；例如，当控制模组可拆卸式安装于容纳腔内时，控制模组可以但不仅限于通过螺接、卡接或者插接的方式与容纳腔的腔壁连接；当控制模组不可拆卸式安装于容纳腔内时，控制模组可以但不仅限于通过胶接的方式与容纳腔的腔壁连接。

通过设计控制模组与第一驱动模组20通讯连接，通过控制第一驱动模组20绕第一方向转动的角度，来控制待测试产品2绕第一方向转动的角度，从而实现待测试产品2在绕第一方向转动不同角度下的性能表现进行有效检测。通过设计控制模组与第二驱动模组30通讯连接，通过控制第二驱动模组30绕第二方向转动的角度，来控制待测试产品2绕第二方向转动的角度，从而实现待测试产品2在绕第二方向转动不同角度下的性能表现进行有效检测。

如图1-图3所示，为提升控制模组控制第一驱动模组20绕第一方向转动不同角度，以及控制模组控制第二驱动模组30绕第二方向转动不同角度的便捷性，故设计，测试装置1还包括触控模组40。触控模组40安装于基座10的外壁面，触控模组40与控制模组电连接，触控模组40配置成根据输入的参数生成相应的电信号，控制模组根据电信号控制第一驱动模组20以及第二驱动模组30转动至相应的角度。

其中，基座10的外壁面设有与容纳腔连通的通孔，通孔可以通过注塑或者3D打印等方式一体形成于基座10上，通孔也可以通过切削、打磨等方式形成于基座10上。触控模组40作为测试装置1的供用户输入参数等操作的模块，触控模组40包括触控显示屏41，触控显示屏41与控制器电连接，用户可以在触控显示屏41的相应页面上输入相应的参数。触控模组40对应通孔与基座10连接，这里对触控模组40与基座10之间的具体连接方式不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计；例如，当触控模组40与基座10之间为可拆卸式连接时，触控模组40可以但不仅限于通过螺接、卡接或者插接等方式中的至少一种与基座10连接；当触控模组40与基座10之间为不可拆卸式连接时，触控模组40可以但不仅限于通过胶接的方式与基座10连接。

可以理解的是，用户可根据实际需要向触控模组40输入不同的参数，触控模组40根据所输入的不同的参数生成不同的电信号，控制模组与触控模组40电连接以接收不同的电信号，控制模组根据不同的电信号控制第一驱动模组20以及第二驱动模组30转动至相应的角度。需要说明的是，用户根据需要通过触控模组40输入相应的参数后，可以是控制模组根据相应的电信号仅单独控制第一驱动模组20绕第一方向转动至不同角度；也可以是控制模组根据相应的电信号仅单独控制第二驱动模组30绕第二方向转动至不同角度；还可以是控制模组根据相应的电信号先控制第一驱动模组20绕第一方向转动至不同角度之后再控制第二驱动模组30绕第二方向转动至另一不同角度；还可以是控制模组根据相应的电信号控制第一驱动模组20绕第一方向转动至不同角度、同时控制第二驱动模组30绕第二方向转动至另一不同角度。

通过设计触控模组40，用户可根据实际需要向触控模组40输入不同的参数，触控模组40根据所输入的不同的参数生成不同的电信号，控制模组与触控模组40电连接以接收不同的电信号，控制模组根据不同的电信号控制第一驱动模组20以及第二驱动模组30转动至相应的角度，从而有效提升控制模组控制第一驱动模组20以及第二驱动模组30转动的便捷性。

如图1-图3所示，考虑到第二驱动模组30用于带动待测试产品2绕第二方向转动，故设计，第二驱动模组30包括第一电机21和第一支架22。第一电机21安装于第一驱动模组20；第一支架22用于装载待测试产品2，第一支架22的第一端与第一电机21的驱动轴连接，第一支架22的第二端与第一驱动模组20转动连接；第一电机21配置成驱动第一支架22绕第二方向转动，以带动待测试产品2绕第二方向转动。

其中，第一电机21作为第二驱动模组30的动力源，这里对第一电机21的具体型号不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理选择；为实现第一电机21驱动第一支架22绕第二方向转动时的角度精准调节，第一电机21可以选用如伺服电机等具有高精度定位性能的电机。这里对第一电机21与第一驱动模组20(具体为下文介绍的第二支架32的侧板322)之间的具体连接方式不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计；例如，当第一电机21与第一驱动模组20之间为可拆卸式连接时，第一电机21可以但不仅限于通过锁螺丝的方式与第一驱动模组20连接。第一支架22作为待测试部件的载体，这里对第一支架22的具体结构不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计；例如，第一支架22可以是框架结构、也可以是板状结构。这里对第一支架22的第一端与第一电机21的驱动轴之间的固定连接方式、第一支架22的第二端与第一驱动模组20(具体为下文介绍的第二支架32的侧板322)之间的转动连接方式不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计。

通过设计第一电机21，第一电机21工作带动与之驱动轴连接的第一支架22绕第二方向转动，第一支架22绕第二方向转动带动与之连接的待测试产品2绕第二方向转动，从而对待测试产品2在绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品2检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品2如毫米波雷达的良好探测性能。

如图1-图3所示，为实现待测试产品2与第一支架22之间的连接，故设计，第一支架22设有穿孔221，测试装置1还包括紧固件，紧固件穿设穿孔221且用于与待测试产品2的安装孔连接，以将待测试产品2定位于第一支架22。

其中，紧固件可以是螺钉，此时待测试产品2的安装孔为螺纹孔，螺钉穿设穿孔221与待测试产品2的螺纹孔螺纹连接，以实现待测试产品2与第一支架22之间位置的相对固定。紧固件也可以是插销，此时待测试产品2的安装孔为插孔，插销穿设穿孔221与待测试产品2的插孔插合连接(插销与插孔的孔壁过盈配合)，以实现待测试产品2与第一支架22之间位置的相对固定。

通过设计紧固件与待测试产品2的安装孔配合，实现待测试产品2与第一支架22之间位置的相对固定，从而对待测试产品2绕第一方向和/或绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测；通过设计紧固件与待测试产品2的安装孔脱离，又能够实现待测试产品2与第一支架22之间位置的相对改变，从而实现待测试产品2与第一支架22之间的可拆卸。

当然，待测试产品2也可以通过双面胶与第一支架22粘接，以实现待测试产品2与第一支架22之间位置的相对固定，从而对待测试产品2绕第一方向和/或绕第二方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测。

如图1-图3所示，为减轻第一电机21的负载，故设计，第一支架22设有减重孔222。其中，减重孔222的数量可以是一个也可以是多个(两个以上)，这里不做限定；减重孔222可以呈圆形、矩形、三角形或者腰形，这里也不做限定。通过在第一支架22上设计减重孔222，减重孔222一方面能够使第一支架22整体的重量减轻，从而降低第一电机21的负载，另一方面能够起到节省第一支架22的材料的目的。值得一提的是，减重孔222还相当于设计在第一支架22上的补强结构，能够增强第一支架22整体的结构强度。

如图1-图3所示，考虑到第一驱动模组20用于带动待测试产品2绕第一方向转动，故设计，第一驱动模组20包括第二电机31和第二支架32。第二电机31安装于基座10；第二支架32与第二电机31的驱动轴连接，第二驱动模组30安装于第二支架32；第二电机31配置成驱动第二支架32绕第一方向转动，以带动待测试产品2绕第一方向转动。

其中，第二电机31作为第一驱动模组20的动力源，这里对第二电机31的具体型号不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理选择；为实现第二电机31驱动第二支架32绕第一方向转动时的角度精准调节，第二电机31可以选用如伺服电机等具有高精度定位性能的电机。这里对第二电机31与基座10之间的具体连接方式不做限定，设计人员可根据实际需要进行合理设计；例如，当第二电机31与基座10之间为可拆卸式连接时，第二电机31可以但不仅限于通过锁螺丝的方式与基座10连接。第二支架32用于给第二驱动模组30提供支撑，关于第二支架32的具体结构将在下文进行展开介绍。

通过设计第二电机31，第二电机31工作带动与之驱动轴连接的第二支架32绕第一方向转动，第二支架32绕第一方向转动带动与之连接的待测试产品2绕第一方向转动，从而对待测试产品2在绕第一方向转动时的各个角度下的性能表现进行有效检测，一方面提升待测试产品2检测的便捷性，另一方面能够保证待测试产品2如毫米波雷达的良好探测性能。

具体地，第二支架32包括底板321和两个侧板322，两个侧板322沿底板321的长度方向分设于底板321的两端且与底板321连接，第二电机31的驱动轴与底板321连接，第二驱动模组30安装于侧板322。其中，两个侧板322可以通过锁螺丝的方式与底板321连接在一起，以形成一个类“U形”结构的第二支架32。该设计中，通过设计底板321和两个侧板322，底板321和侧板322围合形成类“U形”结构的第二支架32，能够对第二驱动模组30提供良好的支撑作用。

如图1-图3所示，测试装置1还包括校准结构50，校准结构50设置于第二支架32，校准结构50配置成校准基座10是否水平。通过设计校准结构50，校准结构50能够对测试装置1所放置的区域进行水平校准，当校准结构50校准到测试装置1所放置的区域不平整时，机台测试人员可选择性的更换测试装置1的放置区域，以保证测试装置1的测量准确性。

具体地，校准结构50包括水平泡51，水平泡51固定连接于底板321背离底座的承载面11的一侧。通过设计水平泡51，机台测试人员可以通过水平泡51来判断测试装置1所放置的区域是否平整。

本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本申请的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

基座，具有承载面；

第一驱动模组，位于所述基座的所述承载面所在一侧且安装于所述基座，所述第一驱动模组配置成可绕第一方向转动；

第二驱动模组，安装于所述第一驱动模组且用于装载待测试产品，所述第二驱动模组配置成可绕与所述第一方向相交的第二方向转动。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述基座具有容纳腔；

所述测试装置还包括控制模组，所述控制模组安装于所述容纳腔，所述控制模组与所述第一驱动模组通讯连接，以控制所述第一驱动模组绕所述第一方向转动的角度，所述控制模组还与所述第二驱动模组通讯连接，以控制所述第二驱动模组绕所述第二方向转动的角度。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，

所述测试装置还包括触控模组，所述触控模组安装于所述基座的外壁面，所述触控模组与所述控制模组电连接，所述触控模组配置成根据输入的参数生成相应的电信号，所述控制模组根据所述电信号控制所述第一驱动模组和所述第二驱动模组转动至相应的角度。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二驱动模组包括：

第一电机，安装于所述第一驱动模组；

第一支架，用于装载所述待测试产品，所述第一支架的第一端与所述第一电机的驱动轴连接，所述第一支架的第二端与所述第一驱动模组转动连接；

其中，所述第一电机配置成驱动所述第一支架绕所述第二方向转动，以带动所述待测试产品绕所述第二方向转动。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，

所述第一支架设有穿孔，所述测试装置还包括紧固件，所述紧固件穿设所述穿孔且用于与所述待测试产品的安装孔连接，以将所述待测试产品定位于所述第一支架。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，

所述第一支架设有减重孔。

7.如权利要求1-6中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述第一驱动模组包括：

第二电机，安装于所述基座；

第二支架，与所述第二电机的驱动轴连接，所述第二驱动模组安装于所述第二支架；

其中，所述第二电机配置成驱动所述第二支架绕所述第一方向转动，以带动所述待测试产品绕所述第一方向转动。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，

所述第二支架包括底板和两个侧板，两个所述侧板沿所述底板的长度方向分设于所述底板的两端且与所述底板连接，所述第二电机的驱动轴与所述底板连接，所述第二驱动模组安装于所述侧板。

9.如权利要求8所述的测试装置，其特征在于，

所述测试装置还包括校准结构，所述校准结构设置于所述第二支架，所述校准结构配置成用于校准所述基座是否水平。

10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，

所述校准结构包括水平泡，所述水平泡固定连接于所述底板背离所述承载面的一侧。