CN219626296U - 一种显示屏测试冶具 - Google Patents

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翟一平
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Shanghai Shenhua Enterprise Development Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种显示屏测试冶具,包括测试底座、压板和探针盖板;测试底座上设置有测试线路与若干第一探针;探针盖板可拆卸安装在测试底座上,其开设有的槽的形状与测试样品的形状相匹配;第一探针的一端电连接测试线路,另一端穿过探针盖板与测试样品电连接;压板与测试底座转动连接,压板上设置有若干第二探针,第二探针的一端电连接测试线路,另一端可随压板翻转至测试底座上方并电连接测试样品。本实用新型通用性强,适应多种显示屏测试样品,实现多样品同步测试以及多场景便捷移动。

Description

一种显示屏测试冶具
技术领域
本实用新型涉及显示屏测试领域,尤其涉及一种显示屏测试冶具。
背景技术
随着显示面板技术发展,液晶显示测试需求越来越广泛,在液晶正式量产前存在大量测试验证工作,在生产过程中需针对液晶材料在不同环境下(高温、高低温、高压、高频等)的反转特性、响应特性进行测试验证,同步进行分析改善动作。
但现有显示屏测试冶具通常针对测试样品的形状单独设计,无法复用,存在很大浪费,并且满足不了多样品同时测试及多场景(测试站点)便捷移动的需要。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中的不足,提供一种显示屏测试冶具,通用性强,满足多样品同步测试以及多场景便捷移动的需求。
为解决上述技术问题,本实用新型是采用下述方案实现的:
本实用新型提供了一种显示屏测试冶具,包括测试底座、压板和探针盖板;测试底座上设置有测试线路与若干第一探针;探针盖板可拆卸安装在测试底座上,其开设有的槽的形状与测试样品的形状相匹配;第一探针的一端电连接测试线路,另一端穿过探针盖板与测试样品电连接;压板与测试底座转动连接,压板上设置有若干第二探针,第二探针的一端电连接测试线路,另一端可随压板翻转至测试底座上方并电连接测试样品。
优选的,压板设置有两个,压板通过合页铰链与测试底座转动连接;压板能够翻转至测试底座上方并压接测试样品或翻转至测试底座的两侧。
优选的,还包括透光孔,透光孔开设在测试底座上且设置在探针盖板开设有的槽的下方。
优选的,压板内嵌设有磁铁,磁铁在压板压接测试样品时用于锁定闭合状态。
优选的,压板上设置有U型肋板,肋板在压板翻转至测试底座上方时与测试底座抵接,肋板外覆设有硅胶。
优选的,第一探针与第二探针不同侧设置。
优选的,探针盖板上设置有探针孔,第一探针通过探针孔穿过探针盖板与测试样品电连接。
与现有技术相比,本实用新型所达到的有益效果:本实用新型通用性强,适应多种显示屏测试样品,实现多样品同步测试以及多场景便捷移动。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种显示屏测试冶具闭合时的结构示意图;
图2是本实用新型实施例提供的第一种显示屏测试冶具打开时的结构示意图;
图3是本实用新型实施例提供的第二种显示屏测试冶具打开时的结构示意图;
图4是本实用新型实施例提供的第二种显示屏测试冶具的爆炸结构示意图;
图5是本实用新型实施例提供的第一种探针盖板的结构示意图;
图6是本实用新型实施例提供的第二种探针盖板的结构示意图;
图7是本实用新型实施例提供的测试样品的结构示意图;
图中:1、测试底座;2、压板;3、透光孔;4、测试线路;5、测试样品;6、合页铰链;7、磁铁;8、第一探针;9、第二探针;10、肋板;11、探针盖板;12、探针孔;13、上表面测试点;14、下表面测试点;15、线槽。
实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案,而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
如图1所示,本实用新型实施例提供的一种显示屏测试冶具,由测试底座1、探针盖板11和两块压板2组成。
具体地,测试底座1上设置有测试线路4与6组第一探针8;探针盖板11通过螺丝可拆卸安装在测试底座1上,其开设有槽的形状与测试样品5的形状相匹配:如图5和图6所示两种形状的探针盖板11分别安装在图2和图3(或图4)所示显示屏测试冶具的测试底座1上;探针盖板11上开设的槽设置有6组,与6组第一探针8相对应,用于批量放置多个测试样品5,进而满足多样品同步测试的需求,并且通过拆换不同形状的探针盖板11可以适配多种显示屏测试样品5,通用性强,减少重新设计测试冶具的成本。
第一探针8的一端电连接测试线路4,另一端穿过探针盖板11上设有的探针孔12电连接测试样品5的下表面测试点14;两块压板2与测试底座1转动连接,压板2上设置有若干第二探针9,第二探针9的一端电连接测试线路4,另一端可随压板2翻转至测试底座1上方并电连接测试样品5的上表面测试点13;测试线路4设置有通电接口,用于连通外部电源经过上、下探针以同时供电测试样品5,上面供电电压恒定6v,下面供电电压为0~12v,实现液晶电压正反变换功能,对测试样品5的液晶材料特性进行测试验证。第一探针8与第二探针9不同侧设置,适配测试样品5(图7所示)的构造及上、下同时通电的需求。
两块压板2通过合页铰链6与测试底座1转动连接,两块压板2形如合页式书本,能够翻转至测试底座1上方并压接测试样品5(闭合状态)或翻转至测试底座1的两侧(打开状态)。两块压板2内均嵌设有磁铁7,磁铁7在盖板1压接测试样品5时自动锁定闭合状态。两块压板2上均设置有U型肋板10,肋板10在压板2翻转至测试底座1上方时与测试底座1抵接,肋板10外覆设有硅胶,在压板2压接测试样品5时,铝质且外覆设硅胶的U型肋板10能够柔性化闭合状态,实现限位与保护测试样品5的双层功能。通过合页式的压板2设计,在测试样品5安装完毕后,翻转压板2关闭自吸合,测试治具可以便携地搬运至其他测试场景(测试站点)进行不同的测试验证。
还包括透光孔3,透光孔3开设在测试底座1上且设置在探针盖板11开设有的槽的下方,用于透光,使得背光源能够穿过透光孔3直接作用在测试样品5上,检测测试样品5在进行多种验证测试后是否损坏或变性。
此外,测试线路4通过线槽15进行走线:测试线路4分别从测试底座1的底部电连接第一探针8以及延伸至其中一块压板2的内部与第二探针电连接;上述显示屏测试冶具的主体结构(测试底座1、探针盖板11、两块压板2及肋板10)均由阳极氧化铝材质制成,可满足高、低温等不同测试场景的需求。
工作原理:
根据不同形状的测试样品5选择对应的探针盖板11;翻转两块压板2至测试底座1的两侧,通过螺丝将探针盖板11安装到测试底座1上,再将多个测试样品5对位放入探针盖板11中;翻转两块压板2压接(磁铁7自动吸合)测试样品5;外接电源通过测试线路4的通电接口接入,再通过第一探针8和第二探针9同时供电测试样品5,对多个测试样品5同步进行液晶材料特性的多场景(测试站点)测试验证;测试完毕后翻转两块压板2至测试底座1的两侧,取出测试样品5后循环测试下一批测样样品5。
应当理解的是,本实施例未详细描述的内容均为现有技术。
上述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (7)

1.一种显示屏测试冶具,其特征在于,包括测试底座、压板和探针盖板;测试底座上设置有测试线路与若干第一探针;探针盖板可拆卸安装在测试底座上,其开设有的槽的形状与测试样品的形状相匹配;第一探针的一端电连接测试线路,另一端穿过探针盖板与测试样品电连接;压板与测试底座转动连接,压板上设置有若干第二探针,第二探针的一端电连接测试线路,另一端可随压板翻转至测试底座上方并电连接测试样品。
2.根据权利要求1所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,压板设置有两个,压板通过合页铰链与测试底座转动连接;压板能够翻转至测试底座上方并压接测试样品或翻转至测试底座的两侧。
3.根据权利要求1所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,还包括透光孔,透光孔开设在测试底座上且设置在探针盖板开设有的槽的下方。
4.根据权利要求2所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,压板内嵌设有磁铁,磁铁在压板压接测试样品时用于锁定闭合状态。
5.根据权利要求2所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,压板上设置有U型肋板,肋板在压板翻转至测试底座上方时与测试底座抵接,肋板外覆设有硅胶。
6.根据权利要求1所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,第一探针与第二探针不同侧设置。
7.根据权利要求1所述的一种显示屏测试冶具,其特征在于,探针盖板上设置有探针孔,第一探针通过探针孔穿过探针盖板与测试样品电连接。
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