CN220825147U - 一种半导体分立器件检测分选设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体分立器件检测分选设备，具体涉及半导体分立器件领域，包括操作台，所述操作台的上端固定连接有检测机构，所述检测机构包括有限位架，所述限位架的上面开设有固定槽，所述限位架的外壁固定连接有第二电机，所述第二电机的输出轴通过联轴器连接有传动轴，传动轴贯穿活动安装在固定槽的内部，所述传动轴的外壁固定连接有限位块；本实用新型通过检测机构可以批量对半导体分立器件进行检测，正常可使用的半导体分立器件会与检测槽内的检测板会形成串联，然后电源指示灯通电亮灯，然后将损坏的半导体分立器件取出之后检测器会翻转，然后抬出机构会将检测槽内的半导体分立器件推出，检测效率高，提高了工作效率。

Description

一种半导体分立器件检测分选设备

技术领域

本实用新型涉及半导体分立器件领域，更具体地说，本实用新型涉及一种半导体分立器件检测分选设备。

背景技术

半导体分立器件，泛指半导体晶体二极管、半导体三极管简称三极管、三极管及半导体特殊器件，在生活中的电子元件上常用；

经检索，现有专利(公开号：CN202223256253.4)公开了一种半导体分立器件检测分选装置，包括检测台，所述检测台右端固定连接有支架，所述支架左侧下端设置有电动推杆，所述电动推杆下端固定连接有夹紧机构，所述夹紧机构下部设置有分立器件本体，所述检测台左端固定连接有收集盒，所述检测台上端开有若干个检测插口，若干个所述检测插口两个为一组，所述检测台前端固定连接有若干个电源指示灯，所述检测台前端下部固定连接有若干个万用表，若干个所述万用表分别与若干个电源指示灯通讯连接，一组检测插口与万用表之间电性连接。本实用新型所述的一种半导体分立器件检测分选装置，分选效率高，检测效果好，稳定性高，适合分立器件检测分选的使用。发明人在实现本实用新型的过程中发现现有技术存在如下问题：

现有的半导体分立器件检测分选设备是对半导体分立器件进行检测，将残次品从中挑选出来，现有的大多数需要人工进行一个一个的检测，检测效率较慢，因此需要检测机构同时对多个半导体分立器件进行检测；同时上述引证的专利文件也没有提出相关的方案来解决半导体分立器件的多个检测问题；

因此，针对上述问题提出一种半导体分立器件检测分选设备。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供一种半导体分立器件检测分选设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体分立器件检测分选设备，包括操作台，所述操作台的上端固定连接有检测机构，所述检测机构包括有限位架，所述限位架的上面开设有固定槽，所述限位架的外壁固定连接有第二电机，所述第二电机的输出轴通过联轴器连接有传动轴，传动轴贯穿活动安装在固定槽的内部，所述传动轴的外壁固定连接有限位块，所述限位块的外壁固定连接有检测器；

所述检测器的上面固定连接有透明面板，所述透明面板的上面开设有检测槽，所述检测器的内壁固定连接有电源指示灯，所述检测器的底端固定连接有抬出机构，所述限位架的底端与操作台的上端之间为固定连接。

优选的，所述操作台的底端固定连接有吸收器，所述吸收器的上端固定连接有伸缩软管，所述伸缩软管的一端固定连接有提取机构，所述操作台的上端固定连接有固定架，所述操作台的上面安装有输送机构。

优选的，所述抬出机构包括有第一电机，所述第一电机的输出轴通过联轴器连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外壁螺纹连接有螺纹套。

优选的，所述螺纹套的外壁固定连接有压板，所述压板的上端固定连接有顶出块。

优选的，所述压板的外壁固定连接有滑套，所述滑套的内壁滑动连接有滑杆。

优选的，所述伸缩软管贯穿于操作台的内部与提取机构之间为固定连接，所述提取机构的外壁与固定架的上端之间为活动贴合连接。

优选的，所述提取机构包括有手持架，所述手持架的上端开设有吸入口，所述吸入口与伸缩软管之间构成连通结构。

优选的，所述手持架的内壁固定连接有第一夹持块，所述手持架的内壁贯穿连接有压杆，所述压杆的左侧一端固定连接有第二夹持块。

优选的，所述压杆的外壁缠绕连接有弹簧，所述弹簧安装在手持架的外壁。

本实用新型的技术效果和优点：

1、与现有技术相比，该一种半导体分立器件检测分选设备通过检测机构可以批量对半导体分立器件进行检测，检测时半导体分立器件插入到检测槽内的检测板上，正常可使用的半导体分立器件会与检测槽内的检测板会形成串联，然后电源指示灯通电亮灯，然后将损坏的半导体分立器件取出之后检测器会翻转，然后抬出机构会将检测槽内的半导体分立器件推出，检测效率高，提高了工作效率。

2、与现有技术相比，该一种半导体分立器件检测分选设备通过提取机构可以将损坏的半导体分立器件取出，在使用时通过第一夹持块与第二夹持块可以轻松的将损坏的半导体分立器件从检测槽内取出，提高工作的效率，之后再通过吸入口吸入到吸收器内进行收集，可以对损坏的半导体分立器件集中处理。

附图说明

图1为本实用新型整体立体结构示意图。

图2为本实用新型检测机构结构示意图。

图3为本实用新型检测器与电源指示灯连接结构示意图。

图4为本实用新型抬出机构结构示意图。

图5为本实用新型提取机构结构示意图。

附图标记为：1、操作台；2、检测机构；3、输送机构；4、吸收器；5、伸缩软管；6、提取机构；7、固定架；201、限位架；202、固定槽；203、检测器；204、限位块；205、透明面板；206、检测槽；207、电源指示灯；208、传动轴；209、抬出机构；2010、第二电机；2091、第一电机；2092、螺纹杆；2093、螺纹套；2094、压板；2095、顶出块；2096、滑套；2097、滑杆；601、手持架；602、吸入口；603、第一夹持块；604、第二夹持块；605、压杆；606、弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

如附图1至图4所示的一种半导体分立器件检测分选设备，包括操作台1，操作台1的上端固定连接有检测机构2，检测机构2包括有限位架201，限位架201的上面开设有固定槽202，限位架201的外壁固定连接有第二电机2010，第二电机2010的输出轴通过联轴器连接有传动轴208，传动轴208贯穿活动安装在固定槽202的内部，传动轴208的外壁固定连接有限位块204，限位块204的外壁固定连接有检测器203；

检测器203的上面固定连接有透明面板205，透明面板205的上面开设有检测槽206，检测器203的内壁固定连接有电源指示灯207，检测器203的底端固定连接有抬出机构209，限位架201的底端与操作台1的上端之间为固定连接。

其中：在使用时将半导体分立器件放置到检测槽206内，然后对半导体分立器件进行检测，正常可使用的半导体分立器件会与检测槽206内的检测板会形成串联，然后电源指示灯207通电亮灯，然后将损坏的半导体分立器件取出，然后第二电机2010工作带动传动轴208转动，通过限位块204带动检测器203进行反转到输送机构3上方，之后第一电机2091会工作带动螺纹杆2092转动，然后带动螺纹套2093上升，螺纹套2093在上升时会带动压板2094与顶出块2095上升进入到检测槽206内将检测过的半导体分立器件挤出然后抬出机构209会将检测槽206内的半导体分立器件推出，检测效率高，提高了工作效率。

实施例二

在基于实施例一的基础上，结合下面具体的工作方式对实施例一中的方案进行进一步细化介绍，如图1至图5所示，详细见下文描述：

作为优选的实施方式，操作台1的底端固定连接有吸收器4，吸收器4的上端固定连接有伸缩软管5，伸缩软管5的一端固定连接有提取机构6，操作台1的上端固定连接有固定架7，操作台1的上面安装有输送机构3；进一步的，在使用时吸收器4会工作通过伸缩软管5与提取机构6将损坏的半导体分立器件吸入到吸收器4内进行收集，完好的半导体分立器件会在输送机构3上进行输送。

作为优选的实施方式，抬出机构209包括有第一电机2091，第一电机2091的输出轴通过联轴器连接有螺纹杆2092，螺纹杆2092的外壁螺纹连接有螺纹套2093；进一步的，第一电机2091会通过螺纹杆2092带动螺纹套2093上升与下降。

作为优选的实施方式，螺纹套2093的外壁固定连接有压板2094，压板2094的上端固定连接有顶出块2095；进一步的，顶出块2095可以将检测槽206内的半导体分立器件顶出。

作为优选的实施方式，压板2094的外壁固定连接有滑套2096，滑套2096的内壁滑动连接有滑杆2097；进一步的，能够对螺纹套2093的活动进行限位。

作为优选的实施方式，伸缩软管5贯穿于操作台1的内部与提取机构6之间为固定连接，提取机构6的外壁与固定架7的上端之间为活动贴合连接；进一步的，提取机构6在不使用时可以放置在固定架7上。

作为优选的实施方式，提取机构6包括有手持架601，手持架601的上端开设有吸入口602，吸入口602与伸缩软管5之间构成连通结构；进一步的，损坏的半导体分立器件可以通过吸入口602与伸缩软管5进入到吸收器4内。

作为优选的实施方式，手持架601的内壁固定连接有第一夹持块603，手持架601的内壁贯穿连接有压杆605，压杆605的左侧一端固定连接有第二夹持块604；进一步的，第一夹持块603与第二夹持块604可以对损坏的半导体分立器件进行夹持。

作为优选的实施方式，压杆605的外壁缠绕连接有弹簧606，弹簧606安装在手持架601的外壁；进一步的，弹簧606可以将压杆605与第二夹持块604复位。

本实用新型的工作过程如下：在使用时将半导体分立器件放置到检测槽206内的检测板上，然后对半导体分立器件进行检测，正常可使用的半导体分立器件会与检测槽206内的检测板会形成串联，然后电源指示灯207通电亮灯，然后将手持架601拿起到损坏的半导体分立器件上，之后按压压杆605使第二夹持块604与第一夹持块603靠拢将损坏的半导体分立器件夹持住，然后将损坏的半导体分立器件取出，之后放开压杆605后弹簧606会作用使第二夹持块604分开，此时吸收器4会工作通过伸缩软管5与吸入口602将损坏的半导体分立器件吸入到吸收器4内进行收集，然后第二电机2010工作带动传动轴208转动，通过限位块204带动检测器203进行反转到输送机构3上方，之后第一电机2091会工作带动螺纹杆2092转动，然后带动螺纹套2093上升，螺纹套2093在上升时会带动压板2094与顶出块2095上升进入到检测槽206内将检测过的半导体分立器件挤出掉落到输送机构3上进行输送，上述就是该一种半导体分立器件检测分选设备的工作原理。

最后：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种半导体分立器件检测分选设备，包括操作台(1)，其特征在于：所述操作台(1)的上端固定连接有检测机构(2)，所述检测机构(2)包括有限位架(201)，所述限位架(201)的上面开设有固定槽(202)，所述限位架(201)的外壁固定连接有第二电机(2010)，所述第二电机(2010)的输出轴通过联轴器连接有传动轴(208)，传动轴(208)贯穿活动安装在固定槽(202)的内部，所述传动轴(208)的外壁固定连接有限位块(204)，所述限位块(204)的外壁固定连接有检测器(203)；

所述检测器(203)的上面固定连接有透明面板(205)，所述透明面板(205)的上面开设有检测槽(206)，所述检测器(203)的内壁固定连接有电源指示灯(207)，所述检测器(203)的底端固定连接有抬出机构(209)，所述限位架(201)的底端与操作台(1)的上端之间为固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述操作台(1)的底端固定连接有吸收器(4)，所述吸收器(4)的上端固定连接有伸缩软管(5)，所述伸缩软管(5)的一端固定连接有提取机构(6)，所述操作台(1)的上端固定连接有固定架(7)，所述操作台(1)的上面安装有输送机构(3)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述抬出机构(209)包括有第一电机(2091)，所述第一电机(2091)的输出轴通过联轴器连接有螺纹杆(2092)，所述螺纹杆(2092)的外壁螺纹连接有螺纹套(2093)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述螺纹套(2093)的外壁固定连接有压板(2094)，所述压板(2094)的上端固定连接有顶出块(2095)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述压板(2094)的外壁固定连接有滑套(2096)，所述滑套(2096)的内壁滑动连接有滑杆(2097)。

6.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述伸缩软管(5)贯穿于操作台(1)的内部与提取机构(6)之间为固定连接，所述提取机构(6)的外壁与固定架(7)的上端之间为活动贴合连接。

7.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述提取机构(6)包括有手持架(601)，所述手持架(601)的上端开设有吸入口(602)，所述吸入口(602)与伸缩软管(5)之间构成连通结构。

8.根据权利要求7所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述手持架(601)的内壁固定连接有第一夹持块(603)，所述手持架(601)的内壁贯穿连接有压杆(605)，所述压杆(605)的左侧一端固定连接有第二夹持块(604)。

9.根据权利要求8所述的一种半导体分立器件检测分选设备，其特征在于：所述压杆(605)的外壁缠绕连接有弹簧(606)，所述弹簧(606)安装在手持架(601)的外壁。