CN220794112U - 盖体弧度检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及外观检测技术领域，尤其涉及一种盖体弧度检测治具，该治具包括检具上盖和检具块；检具上盖包括外轮廓架和仿形部，外轮廓架与仿形部连接，并且仿形部的底部设有第一仿形面，第一仿形面用于与被测产品的表面贴合；仿形部还包括导向口，检具块呈柱状并穿设于导向口内，检具块的侧面设有刻度线，外轮廓架的顶部表面为基准面，刻度线与基准面平行。本实用新型技术方案，通过刻度线数据化来客观判定，减少主观因素影响，避免/降低人为影响判断结果，以及可通过调节刻度线与基准面之间的位置关系，以适配不同的盖体弧度检测，使治具具有更高的通用性。

Description

盖体弧度检测治具

技术领域

本实用新型涉及外观检测技术领域，尤其涉及一种盖体弧度检测治具。

背景技术

电子产品的外观设计越来越美观。以笔记本电脑为例，不仅向超薄化方向发展，而且，在外观结构上还设置具有弧度的造型。针对具有弧度的壳体结构，可通过仿形治具进行检测。

现有的仿形治具检测方法为：将待测产品放置在治具上，然后，通过厚薄规进行测量。具体的，厚薄规的测量面具有与壳体弧度相同或相似的弧形面，厚薄规的底部放置在治具上，通过人工转动厚薄规，当厚薄规的测量面与壳体的弧形面接触时，检测人员会感受到“摩擦感”，此时，可判断被测的壳体合格；当厚薄规无法顺利转动或与壳体的弧形面无接触时，则判断被测的壳体不合格。

上述测量方法，主要凭借测试人员的主观感觉判定是否在规格内，但是，每个人的量测手法和主观感受均不一致，因此，无法确定统一的检测标准。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的至少以上技术问题，本实用新型提供了一种盖体弧度检测治具。

本实用新型一方面提供一种盖体弧度检测治具，包括检具上盖和检具块；所述检具上盖包括外轮廓架和仿形部，所述外轮廓架与所述仿形部连接，并且所述仿形部的底部设有第一仿形面，所述第一仿形面用于与被测产品的表面贴合；所述仿形部还包括导向口，所述检具块呈柱状并穿设于所述导向口内，所述检具块的侧面设有刻度线，所述外轮廓架的顶部表面为基准面，所述刻度线与所述基准面平行。

在一些实施例中，还包括检具下盖，所述被测产品设于所述检具下盖上，所述检具下盖用于对所述被测产品进行固定；所述外轮廓架的底部与所述检具下盖的底部位于同一平面。

在一些实施例中，所述检具块底部设有第二仿形面；所述检具块沿所述导向口向所述被测产品方向移动设定距离后，所述第二仿形面与所述被测产品的表面贴合。

在一些实施例中，所述外轮廓架与所述仿形部的连接侧设有导向槽，所述导向槽的槽口与所述导向口对接形成所述检具块的导向通道。

在一些实施例中，所述检具上盖还包括内轮廓架，所述内轮廓架与所述仿形部远离所述外轮廓架的一端连接；所述内轮廓架的底部用于与所述被测产品的顶部表面贴合。

在一些实施例中，所述内轮廓架上设有避让槽和/或避让口。

在一些实施例中，所述检具下盖的上表面设有用于与所述被测产品连接的定位结构。

在一些实施例中，所述定位结构包括定位凸起；所述定位凸起垂直设于所述检具下盖的上表面，所述定位凸起用于与所述被测产品上的孔位插接。

本实用新型提供的一种盖体弧度检测治具，使用时，将检具上盖放置在被测产品的上方，其中，仿形部的第一仿形面与被测产品的表面贴合，检具块沿导向口向下移动，直至检具块底部抵接在被测产品的表面，此时，可根据检具块上的刻度线与基准面之间的位置关系，进一步判断盖体弧度是否合格。本实用新型技术方案，通过刻度线数据化来客观判定，减少主观因素影响，避免人为影响判断结果，以及可通过调节刻度线与基准面之间的位置关系，适配不同的盖体弧度检测，使治具具有更高的通用性。

附图说明

通过参考附图阅读下文的详细描述，本实用新型示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本实用新型的若干实施方式，其中：

在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。

图1为本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具的爆炸图；

图3为本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具中检具块处的剖视图；

图4为本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具中导向通道处的局部放大图；

图5为本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具中检具块测量判断的示意图。

图中：

1：检具上盖；2：检具块；3：检具下盖；4：被测产品；

11：外轮廓架；111：基准面；112：导向槽；12：仿形部；121：第一仿形面；122：导向口；13：内轮廓架；131：避让口；

21：刻度线；22：第二仿形面；

31：定位结构。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例提供一种盖体弧度检测治具，包括检具上盖和检具块；检具上盖用于覆盖在被测产品上，其中，需要检具上盖的形状为仿形，也即，该检具上盖可与被测产品产生无缝贴合或趋于无缝的贴合；检具块为检测的标尺，其在设定的范围内移动，通过检具块上刻度线与基准面之间的位置关系，进一步判断盖体弧度是否合格。

以下结合附图，对本实用新型实施例提供的盖体弧度检测治具的各结构，以及各结构之间的位置关系和连接关系进行说明。

如图1至图5所示，检具上盖1包括外轮廓架11和仿形部12，外轮廓架11与仿形部12连接，并且仿形部12的底部设有第一仿形面121，第一仿形面121用于与被测产品4的表面贴合。第一仿形面121的形状与被测产品4的表面形状一致或基本保持一致，当检具上盖1架设在被测产品4的上方时，第一仿形面121与被测产品4完全贴合或者基本全部贴合。

仿形部12还包括导向口122，检具块2呈柱状并穿设于导向口122内，检具块2的侧面设有刻度线21，外轮廓架11的顶部表面为基准面111，刻度线21与基准面111平行。检具块2最终移动的位置为其底部与被测产品4的表面贴合。其中，检具块2的刻度线21与基准面111相比存在两种结果：第一种结果为：刻度线21低于基准面111，此时被测产品4不合格，第二种结果为：刻度线21等于或高于基准面111，此时被测产品4合格。其中，第一种结果时表示，仿形面与被测产品4的表面未良好的贴合，存在较大的缝隙，该缝隙导致检具块2伸入的距离到长，因此，刻度线21会低于基准面111；而第二种结果则表示，缝隙较小，在合格范围内。

以0.15毫米刻度线21为例，当0.15毫米刻度线21低于0基准(基准面111)时，则说明被测产品4的弧度超规，当0.15毫米刻度线21高于0基准时，则说明弧度没有超规。

例如，检具块2底部设有第二仿形面22；检具块2沿导向口122向被测产品4方向移动设定距离后，第二仿形面22与被测产品4的表面贴合。检具块2的底部对应一部分被测产品4，并且检具块2与该部分被测产品4相对设置，为了进一步提高检具块2检测的精准度，将检具块2底部设置为第二仿形面22，该第二仿形面22的形状与其所对应的被测产品4的表面形状相同，第二仿形面22可与被测产品4贴合或趋于贴合。

例如，外轮廓架11与仿形部12的连接侧设有导向槽112，导向槽112的槽口与导向口122对接形成检具块2的导向通道。导向通道的截面形状以及尺寸与检具块2相同或趋于相同，检具块2只能在导向通道内沿一个设定方向往复滑动，也即可沿检测方向滑动，从而确保检具块2检测的精准度。

本实用新型实施例中，检具上盖1还包括内轮廓架13，内轮廓架13与仿形部12远离外轮廓架11的一端连接；内轮廓架13的底部用于与被测产品4的顶部表面贴合。内轮廓架13呈中空状，其用于对仿形部12进行定位支撑，内轮廓架13与外轮廓架11配合，将仿形部12架设在设定的位置。

例如，内轮廓架13上设有避让槽和/或避让口131。在被测产品4的表面可能设有凸起的结构，通过设置避让槽和/或避让口131，可将凸起的机构设置在避让槽或避让口131内，从而避免出现局部被顶高的情况，使内轮廓架13与被测产品4的顶部表面保持贴合。

继续参考图1至图5所示，本实用新型实施例中，盖体弧度检测治具还包括检具下盖3，被测产品4设于检具下盖3上，检具下盖3用于对被测产品4进行固定；外轮廓架11的底部与检具下盖3的底部位于同一平面。

被测产品4放置在检具下盖3上，检具下盖3对被测产品4进行定位支撑。例如，检具下盖3的上表面设有用于与被测产品4连接的定位结构31。定位结构31与被测产品4连接后，可放置被测产品4沿平行检具下盖3上表面方向晃动，利于保持检具下盖3和被测产品4的相对位置。

例如，定位结构31包括定位凸起；定位凸起垂直设于检具下盖3的上表面，定位凸起用于与被测产品4上的孔位插接。被测产品4上的孔位为自有结构，并非为定位而设计的结构，如，被测产品4上包括其他部件的安装孔，可暂用该安装孔作为定位用的孔位。

本实用新型提供的一种盖体弧度检测治具，使用时，将检具上盖1放置在被测产品4的上方，其中，仿形部12的第一仿形面121与被测产品4的表面贴合，检具块2沿导向口122向下移动，直至检具块2底部抵接在被测产品4的表面，此时，可根据检具块2上的刻度线21与基准面111之间的位置关系，进一步判断盖体弧度是否合格。本实用新型技术方案，通过刻度线21数据化来客观判定，减少主观因素影响，避免人为影响判断结果，以及可通过调节刻度线21与基准面111之间的位置关系，适配不同的盖体弧度检测，使治具具有更高的通用性。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

以上，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种盖体弧度检测治具，其特征在于，包括检具上盖(1)和检具块(2)；

所述检具上盖(1)包括外轮廓架(11)和仿形部(12)，所述外轮廓架(11)与所述仿形部(12)连接，并且所述仿形部(12)的底部设有第一仿形面(121)，所述第一仿形面(121)用于与被测产品(4)的表面贴合；

所述仿形部(12)还包括导向口(122)，所述检具块(2)呈柱状并穿设于所述导向口(122)内，所述检具块(2)的侧面设有刻度线(21)，所述外轮廓架(11)的顶部表面为基准面(111)，所述刻度线(21)与所述基准面(111)平行。

2.根据权利要求1所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，还包括检具下盖(3)，所述被测产品(4)设于所述检具下盖(3)上，所述检具下盖(3)用于对所述被测产品(4)进行固定；

所述外轮廓架(11)的底部与所述检具下盖(3)的底部位于同一平面。

3.根据权利要求1所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述检具块(2)底部设有第二仿形面(22)；

所述检具块(2)沿所述导向口(122)向所述被测产品(4)方向移动设定距离后，所述第二仿形面(22)与所述被测产品(4)的表面贴合。

4.根据权利要求3所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述外轮廓架(11)与所述仿形部(12)的连接侧设有导向槽(112)，所述导向槽(112)的槽口与所述导向口(122)对接形成所述检具块(2)的导向通道。

5.根据权利要求1所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述检具上盖(1)还包括内轮廓架(13)，所述内轮廓架(13)与所述仿形部(12)远离所述外轮廓架(11)的一端连接；

所述内轮廓架(13)的底部用于与所述被测产品(4)的顶部表面贴合。

6.根据权利要求5所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述内轮廓架(13)上设有避让槽和/或避让口(131)。

7.根据权利要求2所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述检具下盖(3)的上表面设有用于与所述被测产品(4)连接的定位结构(31)。

8.根据权利要求7所述的盖体弧度检测治具，其特征在于，所述定位结构(31)包括定位凸起；

所述定位凸起垂直设于所述检具下盖(3)的上表面，所述定位凸起用于与所述被测产品(4)上的孔位插接。