CN220752263U - 一种集成电路电参数测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试工具技术领域，具体涉及一种集成电路电参数测试系统，其包括一张水平设置的测试板，测试板顶部中央固定设有一对母座，以及分布在两个母座两侧的第一跳线组，测试板的一端设有第一正接线柱以及接地柱；母座成对设置，并且各个母座顶部分别设有两组矩阵状横纵排列的若干插孔，每个母座的横排插孔分别通过测试板顶部的横连导线相互电连接。本实用新型能根据所加载的集成电路规格，采用跳线帽将中央的第一跳线针与两侧的第一跳线针进行短接，从而实现集成电路的供电及接地管脚能与对应的第一正接线柱及接地柱连接，实现集成电路的供电需求。

Description

一种集成电路电参数测试系统

技术领域

本实用新型涉及测试工具技术领域，具体涉及一种集成电路电参数测试系统。

背景技术

集成电路测试技术伴随着集成电路的飞速发展而发展，对促进集成电路的进步和广泛应用作出了巨大的贡献。在集成电路研制、生产、应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试来确保产品质量和研制开发出符合系统要求的电路。尤其对于应用在军工型号上的集成电路，控制质量，保障装备的可靠性，集成电路的检测、筛选过程至关重要。各个军工行业的研究院、所、厂都有自己的元器件检测中心，并引进先进的国产、进口各类高性能集成电路测试设备，负责集成电路在军工行业应用的质量把关，主要的工作就是对国内生产、进口的元器件按照标准要求进行检测，是集成电路使用的一个重要检查站。集成电路测试方法及系统是所有这些工作的技术基础。

随着集成电路复杂度的提高，其测试的复杂度也随之水涨船高，一些器件的测试成本甚至占到了芯片成本的大部分。集成电路会要求几百次的电压、电流和时序的测试，以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。要实现如此复杂的测试，要用到自动测试设备(ATE，Automated Test Equipment)。

ATE是一种由高性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合而成的测试系统，计算机通过运行测试程序的指令来控制测试硬件。测试系统最基本的要求是可以快速且可靠地实现测试，即速度、可靠性和稳定性。

目前对于超出ATE电参数能力的集成电路不具备检测试验能力或者按照器件详细规范只进行简单的筛选试验，对于器件的大功率、大电流的参数没有检测试验的电路板和测试设备，现有测试设备和电路板的检测试验方法对于此类集成电路使用之前的检测试验是完全达不到器件性能参数要求。同时，ATE在测试过程中可能会因为高频次使用某些信号源而对集成电路电参数的测试值产生干扰，造成与真实值的偏差。

实用新型内容

本实用新型提供一种集成电路电参数测试系统，能根据所加载的集成电路规格，采用跳线帽将中央的第一跳线针与两侧的第一跳线针进行短接，从而实现集成电路的供电及接地管脚能与对应的第一正接线柱及接地柱连接，实现集成电路的供电需求。

为了达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路电参数测试系统，其包括一张水平设置的测试板，所述测试板顶部中央固定设有一对母座，以及分布在两个所述母座两侧的第一跳线组，所述测试板的一端设有第一正接线柱以及接地柱；所述母座成对设置，并且各个所述母座顶部分别设有两组矩阵状横纵排列的若干插孔，每个所述母座的横排插孔分别通过所述测试板顶部的横连导线相互电连接；每个所述第一跳线组分别对应所述横排插孔设有三个第一跳线针，位于中央的所述第一跳线针与对应的所述横连导线相互电连接，两侧的所述第一跳线针分别通过印刷导线与所述第一正接线柱及所述接地柱电连接。

优选的，还包括第二正接线柱和第二跳线组，所述第二正接线柱位于所述接地柱的一侧，所述第二跳线组位于所述第一跳线组远离所述母座的一侧，并且各个所述第二跳线组分别对应所述横排插孔设有一对第二跳线针，一个所述第二跳线针与对应的所述横连导线相互电连接，另一所述跳线针通过印刷导线与所述第二正接线柱电连接。

优选的，所述测试板四角底部分别固定连接有支撑柱。

本实用新型有益效果在于：集成电路两侧的针脚分别通过横连导线与第一跳线组的中央第一跳线针连接。而第一正接线柱及接地柱分别与数字电源设备进行连接，并对测试板提供一个恒定的直流电压。根据所加载的集成电路规格，采用跳线帽将中央的第一跳线针与两侧的第一跳线针进行短接，从而实现集成电路的供电及接地管脚能与对应的第一正接线柱及接地柱连接，实现集成电路的供电需求。而在后续的测试操作中，可通过万用表、示波器、函数发生器对集成电路进行测试。第二正接线柱可与数字电源设备的另一路供电连接，并通过第二跳线组实现对集成电路管脚提供多种电压选择。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型测试板背部示意图；

图3为本实用新型应用状态示意图。

图中：1、测试板；2、母座；3、第一跳线组；4、第一正接线柱；5、接地柱；6、横连导线；7、第一跳线针；8、第二跳线组；9、第二跳线针；10、跳线帽；11、支撑柱；12、集成电路；13、第二正接线柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

根据图1、图2、图3所示，一种集成电路电参数测试系统，其包括一张水平设置的测试板1，所述测试板1顶部中央固定设有一对母座2，以及分布在两个所述母座2两侧的第一跳线组3，所述测试板1的一端设有第一正接线柱4以及接地柱5；所述母座2成对设置，并且各个所述母座2顶部分别设有两组矩阵状横纵排列的若干插孔，每个所述母座2的横排插孔分别通过所述测试板1顶部的横连导线6相互电连接；每个所述第一跳线组3分别对应所述横排插孔设有三个第一跳线针7，位于中央的所述第一跳线针7与对应的所述横连导线6相互电连接，两侧的所述第一跳线针7分别通过印刷导线与所述第一正接线柱4及所述接地柱5电连接。

通过上述设置，可将针脚间距与母座2孔距适配的集成电路12插在母座2上，此时集成电路12两侧的针脚分别通过横连导线6与第一跳线组3的中央第一跳线针7连接。而第一正接线柱4及接地柱5分别与数字电源设备进行连接，并对测试板1提供一个恒定的直流电压。根据所加载的集成电路12规格，采用跳线帽10将中央的第一跳线针7与两侧的第一跳线针7进行短接，从而实现集成电路12的供电及接地管脚能与对应的第一正接线柱4及接地柱5连接，实现集成电路12的供电需求。而在后续的测试操作中，可通过万用表、示波器、函数发生器对集成电路12进行测试。

还包括第二正接线柱13和第二跳线组8，所述第二正接线柱13位于所述接地柱5的一侧，所述第二跳线组8位于所述第一跳线组3远离所述母座2的一侧，并且各个所述第二跳线组8分别对应所述横排插孔设有一对第二跳线针9，一个所述第二跳线针9与对应的所述横连导线6相互电连接，另一所述跳线针通过印刷导线与所述第二正接线柱13电连接。

通过该设置，第二正接线柱13可与数字电源设备的另一路供电连接，并通过第二跳线组8实现对集成电路12管脚提供多种电压选择。

所述测试板1四角底部分别固定连接有支撑柱11，该设置中支撑柱11对测试板1进行支撑，避免测试板1底部的焊点与桌面金属物体接触而造成的短路故障。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (3)

1.一种集成电路电参数测试系统，其特征在于,包括一张水平设置的测试板(1)，所述测试板(1)顶部中央固定设有一对母座(2)，以及分布在两个所述母座(2)两侧的第一跳线组(3)，所述测试板(1)的一端设有第一正接线柱(4)以及接地柱(5)；

所述母座(2)成对设置，并且各个所述母座(2)顶部分别设有两组矩阵状横纵排列的若干插孔，每个所述母座(2)的横排插孔分别通过所述测试板(1)顶部的横连导线(6)相互电连接；

每个所述第一跳线组(3)分别对应所述横排插孔设有三个第一跳线针(7)，位于中央的所述第一跳线针(7)与对应的所述横连导线(6)相互电连接，两侧的所述第一跳线针(7)分别通过印刷导线与所述第一正接线柱(4)及所述接地柱(5)电连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路电参数测试系统，其特征在于：还包括第二正接线柱(13)和第二跳线组(8)，所述第二正接线柱(13)位于所述接地柱(5)的一侧，所述第二跳线组(8)位于所述第一跳线组(3)远离所述母座(2)的一侧，并且各个所述第二跳线组(8)分别对应所述横排插孔设有一对第二跳线针(9)，一个所述第二跳线针(9)与对应的所述横连导线(6)相互电连接，另一所述跳线针通过印刷导线与所述第二正接线柱(13)电连接。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路电参数测试系统，其特征在于：所述测试板(1)四角底部分别固定连接有支撑柱(11)。