CN220568833U - 一种集成电路检测用老化考核装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及集成电路检测技术领域,尤其为一种集成电路检测用老化考核装置,包括下机体,所述下机体的顶部安装有集成电路检测箱,所述集成电路检测箱的正面安装有控制显示器,所述集成电路检测箱左右两侧的下方开设有检测出入口,所述检测出入口内部安装有输送固定组件,设置的螺纹杆、导向杆、移动座、电机能够带动放置板向集成电路检测箱内进行移动,从而能够方便集成电路板在集成电路检测箱内进行进出检验,设置的立板、固定夹板、限位板块、滑块、滑槽、弹簧条能够将集成电路板固定在放置板上,从而能够使集成电路板在输送检测的过程中更加稳定。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路检测技术领域,具体为一种集成电路检测用老化考核装置。
背景技术
集成电路老化考核也就是集成电路老化测试系统,是一种用于电子与通信技术领域的工艺试验仪器,用来做耐温老化试验的,在耐温老化试验中,让芯片在高温状态下工作,在一定的工作时间结束后取出集成电路芯片,再通过其他测试设备判断芯片是否损坏,从而判断集成电路芯片的寿命,是目前使用比较广泛的检测方式之一。
现有集成电路在老化考核后需要人员手动放入箱体内取出检测物件,不够方便,并且集成电路板也在输送和检测的时候不够稳定。
因此需要一种集成电路检测用老化考核装置对上述问题做出改善。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路检测用老化考核装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种集成电路检测用老化考核装置,包括下机体,所述下机体的顶部安装有集成电路检测箱,所述集成电路检测箱的正面安装有控制显示器,所述集成电路检测箱左右两侧的下方开设有检测出入口,所述检测出入口内部安装有输送固定组件;
所述输送固定组件包括设置在集成电路检测箱内部下方的安装框架,所述安装框架的内侧中间处安装有螺纹杆,所述安装框架的内侧并且位于螺纹杆的前后两侧设置有导向杆,所述螺纹杆、导向杆的外壁套接有移动座,所述移动座的上侧设置有放置板,所述放置板的顶面前后两侧的边缘处设置有立板,所述放置板的顶面并且位于立板的内侧设置有固定夹板,所述固定夹板的左右两侧设置有限位板块,所述固定夹板的底部中间处设置有滑块,所述放置板的顶面并且与滑块对应开设有滑槽,所述固定夹板与立板之间左右对称设置有弹簧条,所述安装框架的右侧并且与螺纹杆对应安装有电机。
作为本实用新型优选的方案,所述安装框架的两端贯穿检测出入口,并且检测出入口的高度、宽度大于输送固定组件的高度、宽度。
作为本实用新型优选的方案,所述螺纹杆与安装框架的连接方式为转动连接。
作为本实用新型优选的方案,所述移动座与螺纹杆的连接方式为螺纹连接。
作为本实用新型优选的方案,所述移动座与导向杆的连接方式为滑动连接。
作为本实用新型优选的方案,所述滑块与滑槽的连接方式为滑动连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型中,通过在集成电路检测用老化考核装置中设置的螺纹杆、导向杆、移动座、电机能够带动放置板向集成电路检测箱内进行移动,从而能够方便集成电路板在集成电路检测箱内进行进出检验,设置的立板、固定夹板、限位板块、滑块、滑槽、弹簧条能够将集成电路板固定在放置板上,从而能够使集成电路板在输送检测的过程中更加稳定。
附图说明
图1为本实用新型整体外观结构示意图;
图2为本实用新型输送固定组件结构示意图;
图3为本实用新型放置板结构示意图。
图中:1、下机体;2、集成电路检测箱;3、控制显示器;4、检测出入口;5、输送固定组件;501、安装框架;502、螺纹杆;503、导向杆;504、移动座;505、放置板;506、立板;507、固定夹板;508、限位板块;509、滑块;510、滑槽;511、弹簧条;512、电机。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述,给出了本实用新型的若干实施例,但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例,相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件,当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件,本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同,本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型,本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
实施例,请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:
一种集成电路检测用老化考核装置,包括下机体1,下机体1的顶部安装有集成电路检测箱2,集成电路检测箱2的正面安装有控制显示器3,集成电路检测箱2左右两侧的下方开设有检测出入口4,检测出入口4内部安装有输送固定组件5;
在实施例中,输送固定组件5包括设置在集成电路检测箱2内部下方的安装框架501,安装框架501的内侧中间处安装有螺纹杆502,安装框架501的内侧并且位于螺纹杆502的前后两侧设置有导向杆503,螺纹杆502、导向杆503的外壁套接有移动座504,移动座504的上侧设置有放置板505,放置板505的顶面前后两侧的边缘处设置有立板506,放置板505的顶面并且位于立板506的内侧设置有固定夹板507,固定夹板507的左右两侧设置有限位板块508,固定夹板507的底部中间处设置有滑块509,放置板505的顶面并且与滑块509对应开设有滑槽510,固定夹板507与立板506之间左右对称设置有弹簧条511,安装框架501的右侧并且与螺纹杆502对应安装有电机512,安装框架501的两端贯穿检测出入口4,并且检测出入口4的高度、宽度大于输送固定组件5的高度、宽度,螺纹杆502与安装框架501的连接方式为转动连接,移动座504与螺纹杆502的连接方式为螺纹连接,移动座504与导向杆503的连接方式为滑动连接,滑块509与滑槽510的连接方式为滑动连接,设置的螺纹杆502、导向杆503、移动座504、电机512能够带动放置板505向集成电路检测箱2内进行移动,从而能够方便集成电路板在集成电路检测箱2内进行进出检验,设置的立板506、固定夹板507、限位板块508、滑块509、滑槽510、弹簧条511能够将集成电路板固定在放置板505上,从而能够使集成电路板在输送检测的过程中更加稳定。
本实用新型工作流程:在使用集成电路检测用老化考核装置时,首先将集成电路板放在放置板505的中间处,然后弹簧条511会推动固定夹板507向集成电路板移动,此时滑块509便会在滑槽510内滑动,然后固定夹板507、限位板508便会将集成电路板给固定住,然后启动电机512带动螺纹杆502转动,此时移动座504便会在螺纹杆502、导向杆503上移动,从而带动放置板505向集成电路检测箱2内移动,此时便将集成电路板输送到集成电路检测箱2内进行检测,检测完成后在将集成电路板给输送出来即可,设置的螺纹杆502、导向杆503、移动座504、电机512能够带动放置板505向集成电路检测箱2内进行移动,从而能够方便集成电路板在集成电路检测箱2内进行进出检验,设置的立板506、固定夹板507、限位板块508、滑块509、滑槽510、弹簧条511能够将集成电路板固定在放置板505上,从而能够使集成电路板在输送检测的过程中更加稳定。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种集成电路检测用老化考核装置,包括下机体(1),其特征在于:所述下机体(1)的顶部安装有集成电路检测箱(2),所述集成电路检测箱(2)的正面安装有控制显示器(3),所述集成电路检测箱(2)左右两侧的下方开设有检测出入口(4),所述检测出入口(4)内部安装有输送固定组件(5);
所述输送固定组件(5)包括设置在集成电路检测箱(2)内部下方的安装框架(501),所述安装框架(501)的内侧中间处安装有螺纹杆(502),所述安装框架(501)的内侧并且位于螺纹杆(502)的前后两侧设置有导向杆(503),所述螺纹杆(502)、导向杆(503)的外壁套接有移动座(504),所述移动座(504)的上侧设置有放置板(505),所述放置板(505)的顶面前后两侧的边缘处设置有立板(506),所述放置板(505)的顶面并且位于立板(506)的内侧设置有固定夹板(507),所述固定夹板(507)的左右两侧设置有限位板块(508),所述固定夹板(507)的底部中间处设置有滑块(509),所述放置板(505)的顶面并且与滑块(509)对应开设有滑槽(510),所述固定夹板(507)与立板(506)之间左右对称设置有弹簧条(511),所述安装框架(501)的右侧并且与螺纹杆(502)对应安装有电机(512)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置,其特征在于:所述安装框架(501)的两端贯穿检测出入口(4),并且检测出入口(4)的高度、宽度大于输送固定组件(5)的高度、宽度。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置,其特征在于:所述螺纹杆(502)与安装框架(501)的连接方式为转动连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置,其特征在于:所述移动座(504)与螺纹杆(502)的连接方式为螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置,其特征在于:所述移动座(504)与导向杆(503)的连接方式为滑动连接。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路检测用老化考核装置,其特征在于:所述滑块(509)与滑槽(510)的连接方式为滑动连接。
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