CN220568074U - 基膜尺寸测量装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种基膜尺寸测量装置，基膜尺寸测量装置包括基膜固定机构、直线传动机构、显微镜以及测量机构。基膜固定机构用于固定基膜。直线传动机构设置在基膜固定机构的一侧。显微镜与直线传动机构的滑块连接，显微镜设置在基膜固定机构的上方，用于放大并显示基膜的边界。测量机构用于测量滑块的位移。通过显微镜可准确定位线条的边界，测量机构用于带动显微镜移动，从而将基膜的尺寸转化滑块的位移，通过测量装置能够准确测量出滑块的位移，从而能够提高基膜尺寸测量装置的测量精度。

Description

基膜尺寸测量装置

技术领域

本申请涉及基膜尺寸测量装置技术领域，特别是涉及基膜尺寸测量装置。

背景技术

随着新能源行业的迅速扩张，对基膜的需求量日益增加。在双向拉伸基膜的生产过程中，热收缩性能是一项重要的参数，很多应用场景对热收缩有很高的要求。

以双向拉伸聚酯基膜为例，现有的国家标准是用精度为0.5mm的钢直尺进行人工测量。

但由于在测量时存在人为误差，钢直尺的分度值最高精度是0.5mm，测量样品的标准大小是100mm，测量时凭内眼来判断，这就意味着收缩率0.5％以下时全靠人的经验来估，这就带来很大的不确定性。基膜在某些应用场景下需要横向是0％至0.3％的收缩范围，而不同人员在同一工艺环境下产出的基膜做收缩试验时得到差异较大的测试结果，甚至有的明明是负收缩，而结果给出的是正收缩。

发明内容

基于此，有必要针对人工测量误差大的问题，提供一种基膜尺寸测量装置。

一种基膜尺寸测量装置，所述基膜尺寸测量装置包括：

基膜固定机构，用于固定基膜；

直线传动机构，设置在所述基膜固定机构的一侧；

显微镜，与所述直线传动机构的滑块连接，所述显微镜设置在所述基膜固定机构的上方，用于放大并显示所述基膜的边界；

测量机构，用于测量所述滑块的位移。

在其中一个实施例中，所述直线传动机构包括：

固定座；

丝杆，所述丝杆可转动的设置在所述固定座上；

螺母座，所述直线传动机构的滑块为螺母座，所述螺母座与所述丝杆螺纹连接；以及

转动把手，与所述丝杆的一端连接。

在其中一个实施例中，所述直线传动机构包括电机，所述丝杆远离所述转动把手的一端与所述电机的驱动轴连接。

在其中一个实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器，所述位移传感器和所述电机分别与所述控制器电连接，所述位移传感器用于监测所述滑块的位移，所述控制器用于接收所述位移，并根据所述位移值控制所述电机停机。

在其中一个实施例中，所述测量机构为数显电子尺，所述数显电子尺的测量端与所述滑块连接。

在其中一个实施例中，所述数显电子尺的精度.mm。

在其中一个实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括显示器，所述显示器与所述显微镜电连接，所述显示器用于显示与所述显微镜的镜头中心位置相对应的十字基准线。

在其中一个实施例中，所述基膜固定机构包括放置台和负压组件，所述放置台用于放置基膜，所述放置台上开设有多个抽吸孔，所述负压组件与所述抽吸孔连通。

在其中一个实施例中，所述基膜固定机构包括放置台、磁体和按压件，所述放置台用于放置基膜，所述磁体设置在所述放置台的周侧，所述按压件的两端分别与位于所述放置台两端的所述磁体吸合，所述按压件靠近所述磁体的一侧的表面为平面。

在其中一个实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括高度调节组件，所述高度调节组件设置在所述直线传动机构的滑块上，所述显微镜设置在所述高度调节组件上。

上述基膜尺寸测量装置，通过显微镜可准确定位线条的边界，测量机构用于带动显微镜移动，从而将基膜的尺寸转化滑块的位移，通过测量装置能够准确测量出滑块的位移，从而能够提高基膜尺寸测量装置的测量精度。

附图说明

图1为一实施例中基膜尺寸测量装置的结构示意图。

图2为图1的俯视图。

图3为图1的侧视图。

附图标记：100、基膜固定机构；110、放置台；130、高度调节机构；

200、直线传动机构；210、固定座；220、丝杆；230、滑块；240、转动把手；250、电机；

300、显微镜；310、显示器；

400、测量机构。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，若有出现这些术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等，这些术语指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，若有出现这些术语“第一”、“第二”，这些术语仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，若有出现术语“多个”，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等，这些术语应做广义理解。例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，若有出现第一特征在第二特征“上”或“下”等类似的描述，其含义可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，若元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。若一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。如若存在，本申请所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

参阅图1-图3，本申请一实施例提供的基膜尺寸测量装置，所述基膜尺寸测量装置包括基膜固定机构100、直线传动机构200、显微镜300以及测量机构400。基膜固定机构100用于固定基膜。直线传动机构200设置在所述基膜固定机构100的一侧。显微镜300与所述直线传动机构200的滑块230连接，所述显微镜300设置在所述基膜固定机构100的上方，用于放大并显示所述基膜的边界。测量机构400用于测量所述滑块230的位移。

其中，显微镜300可以是带相机的显微镜300。

在实际使用时，首先在基膜上画出长度方向沿第一方向的线条，然后将基膜固定在基膜固定机构100上，以使得线条的长度方向平行于直线传动机构200中滑块230的移动方向；再通过直线传动机构200带动显微镜300移动，以通过显微镜300确定线条沿第一方向的第一个边界的位置，此时将测量机构400调零；最后通过直线传动机构200带动显微镜300移动至与线条沿第一方向的第二边界的位置，此时测量机构400测量的滑块230的位移即基膜的沿第一方向的长度。

在本实施例中，通过显微镜300可准确定位线条的边界，测量机构400用于带动显微镜300移动，从而将线条的长度转化为滑块230的位移，通过测量装置能够准确测量出滑块230的位移，从而能够提高基膜尺寸测量装置的测量精度。

在一些实施例中，所述直线传动机构200包括固定座210、丝杆220、螺母座以及转动把手240。所述丝杆220可转动的设置在所述固定座210上，所述直线传动机构200的滑块230为螺母座，所述螺母座与所述丝杆220螺纹连接。转动把手240与所述丝杆220的一端连接。

所述显示器310与螺母座连接，丝杆220转动时，能够带动螺母座沿丝杆220的长度方向移动，即显微镜300能够在螺母座的带动下沿丝杆220移动。在实际测试时，可通过旋转转动把手240，以使得显微镜300确定线条的第一个边界，然后将测量机构400调零，再次转动转动把手240，以使得显微镜300移动至与线条的第二边界的位置时，停止转动把手240，此时滑块230的位移即为基膜的长度。

此外，通过转动转动把手240定位边界时，还可以通过正转转动把手240以及反转转动把手240，以便精确确定边界位置。此种手动测量方式能够大幅度提高边界的定位精度。

在本实施例中，通过显微镜300放大线条，从而使得肉眼通过显微镜300能够准确捕捉到线条边界的位置，同时搭配通过转动转动把手240带动显微镜300移动，从而使得显微镜300的移动精确可控，以便准确捕捉到线条的边界，从而进一步提高基膜尺寸的测量精度。

在一些实施例中，所述直线传动机构200包括电机250，所述丝杆220远离所述转动把手240的一端与所述电机250的驱动轴连接。

进一步的，电机250可以固定在直线传动机构200的固定座210上，电机250的驱动轴用于驱动丝杆220转动，以便还可以通过电动的方式带动显微镜300移动。

在实际测量时，可采用手动与电动相结合的测量方式。具体为，首先通过手动转动转动把手240，以使得显微镜300定位到第一个边界线的位置，再通过测量机构400调零；然后再开启电机250，以使得电机250带动显微镜300移动至距离第二边界线位置在预定距离时，关闭电机250，再通过转动转动把手240微调显微镜300的位置。即在通过手动微调保证测量精度的同时，还能通过电动调节节省劳动力，提高测量效率。其中，预定距离可以根据实际情况确定，例如5mm至20mm。

在其他实施例中，对于精度要求不高的测量装置，还可通过电机250直接带动丝杆220转动至，以使得显微镜300到达第二边界位置处。

在一些实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器，所述位移传感器和所述电机250分别与所述控制器电连接，所述位移传感器用于监测所述滑块230的位移，所述控制器用于接收所述位移，并根据所述位移值控制所述电机250停机。

在本实施例中，位移传感器可以是电位器式位移传感器、电感式位移传感器、自整角机、电容式位移传感器、电涡流式位移传感器以及霍尔式位移传感器。在实际使用时，可根据基膜的实际长度首先在控制器中设定预设位移值，其中预设位移值可基膜的实际长度以及位移传感器的尺寸确定，例如，基膜的大概长度为100mm，则预设位移值可80mm至95mm，当位移传感器检测到滑块230移动到预设位移值后，控制器接收信号，以控制电机250停止转动，此时，则转为人工手动微调丝杆220转动至第二边界位置。

在另一些实施例中，所述基膜尺寸测量装置包括光电开关和光电挡片，光电开关与电机250电连接，光电挡片设置在距离第二边界预定距离内，光电开关设置在滑块230上，当光电开关检测到光电挡片时，则控制电机250关机。预定距离可以根据实际情况确定，例如5mm至20mm。

在一些实施例中，所述测量机构400为数显电子尺，所述数显电子尺的测量端与所述滑块230连接。

在本实施例中，数显电子尺的测量端与所述滑块230连接，即通过数显电子尺即可精确显示滑块230的位移，即基膜的长度。

具体的，所述数显电子尺的精度0.02mm。

在本实施例中，丝杆220与显微镜300相结合，用于提高的对第一边界和第二边界的定位准确度，数显电子尺用于准确获取第一边界与第二边界之间的距离，从而提高基膜尺寸的测量精度。因此，电子尺的精度进一步反映了基膜尺寸测量装置的精度。采用精度为0.02mm的数显电子尺，从而能够使得基膜尺寸测量装置的精度也为0.02mm。和人工通过钢直尺测量相比，精度提高25倍。

在一些实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括显示器310，所述显示器310与所述显微镜300电连接，所述显示器310用于显示与所述显微镜300的镜头中心位置相对应的十字基准线。

在本实施例中，显微镜300的中心通过十字基准线显示，在实际使用时，可以将十字基准线的中心与边界位置对准，从而能够提高边界的位置精度，进而提高基膜尺寸测量装置的精度。

在一些实施例中，所述基膜固定机构100包括放置台110和负压组件，所述放置台110用于放置基膜，所述放置台110上开设有多个抽吸孔，所述负压组件与所述抽吸孔连通。

在本实施例中，通过负压组件对抽吸孔抽负压，从而使得基膜自动吸附在放置台110上，从而可实现对基膜的自动固定，可实现对基膜的非接触式测量。

具体的，多个抽吸孔沿第一方向呈多排依次排列，在放置基膜时，可使得基膜上的画线与沿第一方向的多个抽吸孔平行，即第一方向的多个抽吸孔可作为放置基膜的基准线。

在另外一些实施例中，所述基膜固定机构100包括放置台110、磁体和按压件，所述放置台110用于放置基膜，所述磁体用于设置在所述放置台110的周侧，所述按压件的两端分别与位于所述放置台110两端的所述磁体吸合，所述按压件靠近所述磁体的一侧的表面为平面。

其中，按压件可以是钢直尺，磁体可以电磁铁。对于烘烤后变形较大且厚度较大的基膜，负压吸附的方式不能使得基膜完全展平，因此可以在放置台110的周侧设置电磁铁，测量前，可以在基膜上放置一平直的钢直尺，然后给电磁铁通电，即电磁铁能够将钢直尺吸合，从而使得钢直尺能够将基膜压平在放置台110上，以便于对基膜尺寸的测量。

在一些实施例中，所述基膜尺寸测量装置还包括高度调节组件130，所述高度调节组件130设置在所述直线传动机构200的滑块230上，所述显微镜300设置在所述高度调节组件130上。

在实际使用时，可首先将显微镜300的镜头位置调高，然后再放置基膜，当基膜放置好后，再重新调节显微镜300镜头的高度，以便于显微镜300清楚的识别基膜边界。其中高度调节组件130可以是显微镜上自带的高度调节组件，或者也可以是直线移动模组，显微镜设置在直线移动模组的滑块上。

进一步的，所述基膜尺寸测量装置还包括前后调节机构，直线传动机构200设置在前后调节机构上，通过前后调节机构用于调节显微镜沿前后方向的位置，便于使得显微镜的镜头中心位于基膜上的画线上。

一种基膜尺寸测量装置的测量方法，所述测量方法包括：

通过所述基膜固定机构100将基膜固定；

转动所述转动把手240，以使得所述显微镜300的镜头中心与基膜的第一边界位置对准；

开启所述电机250，所述电机250带动所述丝杆220转动，以使得所述显微镜300的镜头中心距离基膜的第二边界预定距离时，关闭所述电机250；

重新转动所述转动把手240，以使得所述显微镜300的镜头中心与基膜的第二边界位置对准；

读取所述测量机构400的读数。

本申请的测量方法采用手动与电动相结合，在通过手动调节保证测量精度的同时，还能通过电动调节节省劳动力，提高测量效率。

通过本申请的基膜尺寸测量装置可以用于测量基膜烘烤前以及烘烤后的横向和纵向的尺寸，即可用于测量基膜的热收缩率。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜尺寸测量装置包括：

基膜固定机构(100)，用于固定基膜；

直线传动机构(200)，设置在所述基膜固定机构(100)的一侧；

显微镜(300)，与所述直线传动机构(200)的滑块(230)连接，所述显微镜(300)设置在所述基膜固定机构(100)的上方，用于放大并显示所述基膜的边界；

测量机构(400)，用于测量所述滑块(230)的位移。

2.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述直线传动机构(200)包括：

固定座(210)；

丝杆(220)，所述丝杆(220)可转动的设置在所述固定座(210)上；

螺母座，所述直线传动机构(200)的滑块为螺母座，所述螺母座与所述丝杆(220)螺纹连接；以及

转动把手(240)，与所述丝杆(220)的一端连接。

3.根据权利要求2所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述直线传动机构(200)包括电机(250)，所述丝杆(220)远离所述转动把手(240)的一端与所述电机(250)的驱动轴连接。

4.根据权利要求3所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜尺寸测量装置还包括控制器和位移传感器，所述位移传感器和所述电机(250)分别与所述控制器电连接，所述位移传感器用于监测所述滑块(230)的位移，所述控制器用于接收所述位移，并根据所述位移的值控制所述电机(250)停机。

5.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述测量机构(400)为数显电子尺，所述数显电子尺的测量端与所述滑块(230)连接。

6.根据权利要求5所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述数显电子尺的精度0.02mm。

7.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜尺寸测量装置还包括显示器(310)，所述显示器(310)与所述显微镜(300)电连接，所述显示器(310)用于显示与所述显微镜(300)的镜头中心位置相对应的十字基准线。

8.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜固定机构(100)包括放置台(110)和负压组件，所述放置台(110)用于放置基膜，所述放置台(110)上开设有多个抽吸孔，所述负压组件与所述抽吸孔连通。

9.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜固定机构(100)包括放置台(110)、磁体和按压件，所述放置台(110)用于放置基膜，所述磁体设置在所述放置台(110)的周侧，所述按压件的两端分别与位于所述放置台(110)两端的所述磁体吸合，所述按压件靠近所述磁体的一侧的表面为平面。

10.根据权利要求1所述的基膜尺寸测量装置，其特征在于，所述基膜尺寸测量装置还包括高度调节组件(130)，所述高度调节组件(130)设置在所述直线传动机构(200)的滑块(230)上，所述显微镜(300)设置在所述高度调节组件(130)上。