CN220340282U - 一种拆卸方便的存储芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种拆卸方便的存储芯片测试装置，芯片拆装机构包括：连接轴杆，连接轴杆的一端固定连接在转动把手上；连接轴心，连接轴心连接在连接轴杆的另一端；调节轴杆，调节轴杆与连接轴心相连接；转动轴心，转动轴心安装在调节轴杆的一端；连接杆，连接杆的底端连接在转动轴心上；旋转轴心，旋转轴心安装在连接杆上，连接杆绕着旋转轴心进行偏转；夹持杆，夹持杆固定连接在连接杆上。本实用新型通过两组相对设置的夹持杆对安装台上方放置的存储芯片进行限位，保持存储芯片的稳定性，避免存储芯片检测时出现滑动，造成存储芯片检测不稳定；同时，也方便进行拆卸检测安装，实现快速检测。

Description

一种拆卸方便的存储芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种拆卸方便的存储芯片测试装置。

背景技术

存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。所以存储芯片在出厂前要经过严格的检测，但是现有的测试大多存在不便拆卸的弊端，因此需要对其进行改进。

现有中国实用新型专利公开号CN218158217U公开了一种拆卸方便的存储芯片简易测试装置，属于芯片测试技术领域，其中，包括壳体，所述壳体内部开设有放置腔和测试腔，所述放置腔内壁的底部开设有第一凹槽，所述第一凹槽内固定连接有双轴电机，所述双轴电机的两个输出轴上分别固定连接有第一丝杆和第二丝杆，通过驱动电机工作，能够带动主动齿轮与从动齿轮啮合转动，进而能够通过第二转轴带动支撑板转动，实现带动芯片本体转动的目的，达到均匀受热或受冷的目的，保障测试准确性，通过加热管和制冷器工作，能够分别根据测试需要，借助第二吸风泵和第一吸风泵，将热气或低温气体经输气管输送至测试腔内，实现对芯片本体进行高温或低温测试的目的。

上述引证专利在进行测试时，缺少对存储芯片的固定结构，存储芯片在进行测试时，容易出现滑动，造成测试结果不精确。

实用新型内容

为解决引证专利在进行测试时，缺少对存储芯片的固定结构，存储芯片在进行测试时，容易出现滑动，造成测试结果不精确的技术问题，本实用新型提供一种拆卸方便的存储芯片测试装置。

本实用新型采用以下技术方案实现：一种拆卸方便的存储芯片测试装置，包括：

芯片测试机构，对芯片进行测试；

芯片拆装机构，对芯片进行拆卸固定；

其中，芯片拆装机构包括：

转动把手；

连接轴杆，连接轴杆的一端固定连接在转动把手上；连接轴心，连接轴心连接在连接轴杆的另一端；调节轴杆，调节轴杆与连接轴心相连接；转动轴心，转动轴心安装在调节轴杆的一端；连接杆，连接杆的底端连接在转动轴心上；转动轴心穿接通过调节轴杆以及连接杆，调节轴杆以及连接杆通过转动轴心进行偏转。旋转轴心，旋转轴心安装在连接杆上，连接杆绕着旋转轴心进行偏转；夹持杆，夹持杆固定连接在连接杆上。

安装台；

存储芯片，存储芯片放置在安装台的上方，夹持杆搭接在存储芯片的上方；

将存储芯片放置在安装台上，工作人员通过拧动转动把手，转动把手随即同步带动与之连接的连接轴杆进行偏转，连接轴杆顶端连接的连接轴心进行同步转动，连接轴心上连接的调节轴杆进行同步转动，调节轴杆顶端连接的转动轴心进行同步移动，转动轴心外侧连接的连接杆进行同步偏转，连接杆以旋转轴心为基点进行偏转，连接杆顶端设置的夹持杆进行同步偏转，两组相对设置的夹持杆继而对安装台上方放置的存储芯片进行限位，保持存储芯片的稳定性，避免存储芯片检测时出现滑动，造成存储芯片检测不稳定；同时，也方便进行拆卸检测安装，实现快速检测。

作为上述方案的进一步改进，芯片测试机构包括：

固定台；

驱动电机，驱动电机安装在固定台的上方；液压伸缩杆，液压伸缩杆连接在驱动电机的下方；活动轴心，液压伸缩杆的底端连接在活动轴心上；偏转轴块，偏转轴块连接在活动轴心上；测试头，测试头连接在偏转轴块上，偏转轴块与液压伸缩杆之间通过活动轴心进行偏转；

通过芯片拆装机构上的夹持杆对存储芯片进行固定之后，通过驱动电机的工作，驱动电机控制液压伸缩杆进行工作，液压伸缩杆进行延伸，同时，偏转轴块可以通过活动轴心为基点进行偏转，调节偏转轴块的倾斜角度，偏转轴块外侧连接的测试头可以进行多角度调节，测试头从而对存储芯片进行测试操作，实现对存储芯片的测试。

作为上述方案的进一步改进，所述芯片测试机构包括：支撑杆，支撑杆固定连接在固定台的下方，支撑杆支撑固定台；调节块；滑动槽，滑动槽开设在调节块的下方，调节块在滑动槽上进行移动。

作为上述方案的进一步改进，

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：

1、本实用新型通过两组相对设置的夹持杆对安装台上方放置的存储芯片进行限位，保持存储芯片的稳定性，避免存储芯片检测时出现滑动，造成存储芯片检测不稳定；同时，也方便进行拆卸检测安装，实现快速检测；

2、本实用新型通过驱动电机控制液压伸缩杆进行工作，液压伸缩杆进行延伸，同时，偏转轴块可以通过活动轴心为基点进行偏转，调节偏转轴块的倾斜角度，偏转轴块外侧连接的测试头可以进行多角度调节，测试头从而对存储芯片进行测试操作，实现对存储芯片的测试。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型芯片测试机构连接结构示意图；

图3为本实用新型测试头连接结构示意图；

图4为本实用新型芯片拆装机构连接结构示意图。

主要符号说明：

1、芯片测试机构；11、固定台；12、驱动电机；13、液压伸缩杆；14、活动轴心；15、偏转轴块；16、测试头；17、支撑杆；18、调节块；19、滑动槽；2、芯片拆装机构；21、转动把手；22、连接轴杆；23、连接轴心；24、调节轴杆；25、转动轴心；26、连接杆；27、旋转轴心；28、夹持杆；29、安装台；210、存储芯片。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

实施例1：

请结合图1-图4，本实施例提出了一种拆卸方便的存储芯片测试装置，包括：

芯片测试机构1，对芯片进行测试；

芯片测试机构1包括：

固定台11；

驱动电机12，驱动电机12安装在固定台11的上方；液压伸缩杆13，液压伸缩杆13连接在驱动电机12的下方；活动轴心14，液压伸缩杆13的底端连接在活动轴心14上；偏转轴块15，偏转轴块15连接在活动轴心14上；测试头16，测试头16连接在偏转轴块15上，偏转轴块15与液压伸缩杆13之间通过活动轴心14进行偏转；支撑杆17，支撑杆17固定连接在固定台11的下方，支撑杆17支撑固定台11；

调节块18；

滑动槽19，滑动槽19开设在调节块18的下方，调节块18在滑动槽19上进行移动。

通过芯片拆装机构2上的夹持杆28对存储芯片210进行固定之后，通过驱动电机12的工作，驱动电机12控制液压伸缩杆13进行工作，液压伸缩杆13进行延伸，同时，偏转轴块15可以通过活动轴心14为基点进行偏转，调节偏转轴块15的倾斜角度，偏转轴块15外侧连接的测试头16可以进行多角度调节，测试头16从而对存储芯片210进行测试操作，实现对存储芯片210的测试。

芯片拆装机构2，对芯片进行拆卸固定；

其中，芯片拆装机构2包括：

转动把手21；

连接轴杆22，连接轴杆22的一端固定连接在转动把手21上；连接轴心23，连接轴心23连接在连接轴杆22的另一端；调节轴杆24，调节轴杆24与连接轴心23相连接；转动轴心25，转动轴心25安装在调节轴杆24的一端；连接杆26，连接杆26的底端连接在转动轴心25上；转动轴心25穿接通过调节轴杆24以及连接杆26，调节轴杆24以及连接杆26通过转动轴心25进行偏转。旋转轴心27，旋转轴心27安装在连接杆26上，连接杆26绕着旋转轴心27进行偏转；夹持杆28，夹持杆28固定连接在连接杆26上。

安装台29；

存储芯片210，存储芯片210放置在安装台29的上方，夹持杆28搭接在存储芯片210的上方。

将存储芯片210放置在安装台29上，工作人员通过拧动转动把手21，转动把手21随即同步带动与之连接的连接轴杆22进行偏转，连接轴杆22顶端连接的连接轴心23进行同步转动，连接轴心23上连接的调节轴杆24进行同步转动，调节轴杆24顶端连接的转动轴心25进行同步移动，转动轴心25外侧连接的连接杆26进行同步偏转，连接杆26以旋转轴心27为基点进行偏转，连接杆26顶端设置的夹持杆28进行同步偏转，两组相对设置的夹持杆28继而对安装台29上方放置的存储芯片210进行限位，保持存储芯片210的稳定性，避免存储芯片210检测时出现滑动，造成存储芯片210检测不稳定；同时，也方便进行拆卸检测安装，实现快速检测。

本实用新型具体实施步骤：

在使用时，将存储芯片210放置在安装台29上，工作人员通过拧动转动把手21，转动把手21随即同步带动与之连接的连接轴杆22进行偏转，连接轴杆22顶端连接的连接轴心23进行同步转动，连接轴心23上连接的调节轴杆24进行同步转动，调节轴杆24顶端连接的转动轴心25进行同步移动，转动轴心25外侧连接的连接杆26进行同步偏转，连接杆26以旋转轴心27为基点进行偏转，连接杆26顶端设置的夹持杆28进行同步偏转，两组相对设置的夹持杆28继而对安装台29上方放置的存储芯片210进行限位，保持存储芯片210的稳定性，避免存储芯片210检测时出现滑动，造成存储芯片210检测不稳定；同时，也方便进行拆卸检测安装，实现快速检测；

通过芯片拆装机构2上的夹持杆28对存储芯片210进行固定之后，通过驱动电机12的工作，驱动电机12控制液压伸缩杆13进行工作，液压伸缩杆13进行延伸，同时，偏转轴块15可以通过活动轴心14为基点进行偏转，调节偏转轴块15的倾斜角度，偏转轴块15外侧连接的测试头16可以进行多角度调节，测试头16从而对存储芯片210进行测试操作，实现对存储芯片210的测试。

上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。

Claims (6)

1.一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，包括：

芯片测试机构，对芯片进行测试；

芯片拆装机构，对芯片进行拆卸固定；

其中，所述芯片拆装机构包括：

转动把手；

连接轴杆，所述连接轴杆的一端固定连接在所述转动把手上；

连接轴心，所述连接轴心连接在所述连接轴杆的另一端；

调节轴杆，所述调节轴杆与所述连接轴心相连接；

转动轴心，所述转动轴心安装在所述调节轴杆的一端；

连接杆，所述连接杆的底端连接在所述转动轴心上；

旋转轴心，所述旋转轴心安装在所述连接杆上，所述连接杆绕着所述旋转轴心进行偏转；

夹持杆，所述夹持杆固定连接在所述连接杆上。

2.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片拆装机构还包括：

安装台；

存储芯片，所述存储芯片放置在所述安装台的上方，所述夹持杆搭接在所述存储芯片的上方。

3.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述转动轴心穿接通过所述调节轴杆以及所述连接杆，所述调节轴杆以及所述连接杆通过所述转动轴心进行偏转。

4.如权利要求1所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试机构包括：

固定台；

驱动电机，所述驱动电机安装在所述固定台的上方；

液压伸缩杆，所述液压伸缩杆连接在所述驱动电机的下方；

活动轴心，所述液压伸缩杆的底端连接在所述活动轴心上；

偏转轴块，所述偏转轴块连接在所述活动轴心上；

测试头，所述测试头连接在所述偏转轴块上。

5.如权利要求4所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述偏转轴块与所述液压伸缩杆之间通过所述活动轴心进行偏转。

6.如权利要求4所述的一种拆卸方便的存储芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试机构还包括：

支撑杆，所述支撑杆固定连接在所述固定台的下方，所述支撑杆支撑所述固定台；

调节块；

滑动槽，所述滑动槽开设在所述调节块的下方，所述调节块在所述滑动槽上进行移动。