CN220239308U - 一种半导体测试分选机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体测试分选机，本实用新型涉及半导体测试技术领域，包括底座，所述底座的顶部设置有运动机构，所述底座的顶部设置有固定杆，所述固定杆的横截面形状为L形，所述底座的顶部设置有电动推杆，所述电动推杆与固定杆固定连接。该半导体测试分选机，通过第二电机的转动速度大于第一电机的转动速度，让第一电机连接的翻转板先完成工作，通过第一电机让翻转板上下的测试机完成位置调换，自动完成半导体的排放，以及不会影响后续的测试，且在第二电机的使用时，让皮带上面的一个半导体位于测试机上面，从而通过第一电机与第二电机的使用，可以自动完成对半导体的取下、放置和测试，提高了工作的效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试技术领域，具体为一种半导体测试分选机。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，现有技术中，需要人工将半导体放在测试机上面，并对测试机进行操作，之后又需要通过人工的方式将半导体取下，从而需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低。
例如专利申请号CN202020847469.X，具体为本实用新型公开了一种半导体测试分选机，所述底座的前端端面连接有显示屏，所述底座的上端端面连接有限位装置，所述限位装置的中间在底座的上端端面连接有压力传感器，所述压力传感器的上端端面连接有下电极，所述压力传感器的左方在底座的上端端面连接有深度调节装置，所述深度调节装置的外表面在限位装置的表面位置处连接有移动板，本实用新型有凹槽、固定杆、刻度和支撑板组成的限位装置，采用固定杆能很好的限制移动板的移动方向，使移动板只能竖直上下移动，同时移动板在固定杆的表面移动能很好的遮挡刻度，从而在不同角度都能直接读出凹槽表面的刻度，避免直视刻度造成的麻烦，使数据的读取更加迅速，在使用时，需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低问题。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体测试分选机，解决了需要人工进行频繁操作，无法批量对半导体进行测试，使得工作的效率低的问题。
为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种半导体测试分选机，包括底座，所述底座的顶部设置有运动机构，所述底座的顶部设置有固定杆，所述固定杆的横截面形状为L形，所述底座的顶部设置有电动推杆，所述电动推杆与固定杆固定连接，所述电动推杆的底部设置有测试板。
所述运动机构包括齿轮，所述齿轮的数量为两个，两个所述齿轮的背面均通过支撑杆与底座固定连接，所述底座的表面设置有孔洞，所述孔洞的内部设置有翻转板，且翻转板的顶部以及底部均设置有测试机，所述底座的一端顶部设置有皮带，且皮带的外侧表面设置有限制块，所述限制块的数量为多个，且靠近孔洞的齿轮正面设置有第一电机，所述第一电机的输出轴端部与齿轮传动连接。
优选的，所述底座的表面设置有凹洞，所述凹洞的内部设置有第二电机，所述第二电机的输出轴端部设置有小齿轮。
优选的，所述小齿轮的一侧设置有旋转杆，且旋转杆与小齿轮固定连接，所述旋转杆贯穿翻转板。
优选的，所述皮带的内部设置有齿轨，且齿轨与齿轮相啮合，所述底座的底部设置有竖筒。
优选的，所述竖筒的内部设置有齿条板，所述齿条板与竖筒活动连接，所述齿条板的顶端通过凹洞延伸至底座的顶部。
优选的，所述孔洞的面积大于测试机的面积，所述齿轨与齿轮相啮合。
优选的，所述翻转板与测试板为竖直共线设置，所述限制块的横截面形状为半圆形，所述齿条板的顶端背面设置有挡板。
有益效果
本实用新型提供了一种半导体测试分选机。与现有技术相比具备以下有益效果：
1、该半导体测试分选机，通过第二电机的转动速度大于第一电机的转动速度，让第一电机连接的翻转板先完成工作，通过第一电机让翻转板上下的测试机完成位置调换，自动完成半导体的排放，以及不会影响后续的测试，且在第二电机的使用时，让皮带上面的一个半导体位于测试机上面，从而通过第一电机与第二电机的使用，可以自动完成对半导体的取下、放置和测试，提高了工作的效率。
2、该半导体测试分选机，通过挡板位于皮带的上面，且每一个半导体位于相邻两个限制块之间，对半导体进行分隔阻挡，防止半导体直接向下掉落，便于让半导体逐一向下运动。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的运动机构示意图；
图3为本实用新型的图1中的A部放大图；
图4为本实用新型的底座与测试机俯视图。
图中：1、底座；2、运动机构；201、齿轮；202、皮带；203、翻转板；204、测试机；205、限制块；206、第一电机；207、小齿轮；208、旋转杆；209、齿轨；210、竖筒；211、齿条板；3、固定杆；4、电动推杆；5、测试板；6、孔洞；7、凹洞；8、第二电机；9、挡板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体测试分选机，包括底座1，底座1的顶部设置有运动机构2，底座1的顶部设置有固定杆3，固定杆3的横截面形状为L形，底座1的顶部设置有电动推杆4，电动推杆4与固定杆3固定连接，电动推杆4的底部设置有测试板5。
运动机构2包括齿轮201，齿轮201的数量为两个，两个齿轮201的背面均通过支撑杆与底座1固定连接，底座1的表面设置有孔洞6，孔洞6的内部设置有翻转板203，且翻转板203的顶部以及底部均设置有测试机204，底座1的一端顶部设置有皮带202，
靠近孔洞6的齿轮201正面设置有第一电机206，第一电机206的输出轴端部与齿轮201传动连接，底座1的表面设置有凹洞7，凹洞7的内部设置有第二电机8，第二电机8的输出轴端部设置有小齿轮207，第二电机8的转动速度大于第一电机206的转动速度。
小齿轮207的一侧设置有旋转杆208，且旋转杆208与小齿轮207固定连接，旋转杆208贯穿翻转板203，通过旋转杆208的转动让翻转板203发生转动。
皮带202的内部设置有齿轨209，且齿轨209与齿轮201相啮合，底座1的底部设置有竖筒210，让齿条板211沿着竖筒210上下运动，竖筒210的内部设置有齿条板211，齿条板211与竖筒210活动连接，齿条板211的顶端通过凹洞7延伸至底座1的顶部。
孔洞6的面积大于测试机204的面积，齿轨209与齿轮201相啮合。
请参阅图1，且皮带202的外侧表面设置有限制块205，限制块205的数量为多个，翻转板203与测试板5为竖直共线设置，限制块205的横截面形状为半圆形，齿条板211的顶端背面设置有挡板9，防止半导体发生脱落。
工作时，将半导体放在皮带202上面，并位于相邻两个限制块205之间，使得多个半导体位于皮带202上面，在测试时，将第一电机206与第二电机8打开使用，因为第二电机8的转动速度大于第一电机206的转动速度，在第一电机206开始使用时，由于第二电机8的输出轴端部与小齿轮207传动连接，通过第二电机8带动了小齿轮207的转动，且与小齿轮207固定连接的旋转杆208同时发生转动，并让翻转板203同时发生转动，由于翻转板203的面积小于测试机204的面积，可以让上下两个测试机204和翻转板203发生转动，让原先顶部的测试机204位于底部，原先底部的测试机204位于顶部，将上下两个测试机204的位置调换，将原先上面的半导体通过翻转的方式向下掉落，自动对半导体取下，因为第一电机206转动速度小于第二电机8的转动速度，让翻转板203以及测试机204快速180度旋转，并再次处于水平状态，便于后续让半导体位于上面，由于小齿轮207与齿条板211表面的齿条相啮合，通过小齿轮207的转动让齿条板211向上运动，带动了挡板9向上运动，与皮带202之间的距离扩大，防止后续发生卡料，在第一电机206发生转动时，由于第一电机206的输出轴端部与齿轮201传动连接，通过第一电机206带动了齿轮201发生转动，并让齿轮201与齿轨209啮合在一起，且使得齿轨209围绕着齿轮201进行转动，将皮带202处的限制块205位置进行改变，通过皮带202不断的转动，可以让上面的半导体逐渐向下掉落，使得一个半导体掉落带测试机204上面，便于进行后续的测试，之后使用电动推杆4，通过电动推杆4让测试板5向下运动，对半导体进行测试。
同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术。
Claims (7)
1.一种半导体测试分选机，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有运动机构(2)，所述底座(1)的顶部设置有固定杆(3)，所述固定杆(3)的横截面形状为L形，所述底座(1)的顶部设置有电动推杆(4)，所述电动推杆(4)与固定杆(3)固定连接，所述电动推杆(4)的底部设置有测试板(5)；
所述运动机构(2)包括齿轮(201)，所述齿轮(201)的数量为两个，两个所述齿轮(201)的背面均通过支撑杆与底座(1)固定连接，所述底座(1)的表面设置有孔洞(6)，所述孔洞(6)的内部设置有翻转板(203)，且翻转板(203)的顶部以及底部均设置有测试机(204)，所述底座(1)的一端顶部设置有皮带(202)，且皮带(202)的外侧表面设置有限制块(205)，所述限制块(205)的数量为多个，且靠近孔洞(6)的齿轮(201)正面设置有第一电机(206)，所述第一电机(206)的输出轴端部与齿轮(201)传动连接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述底座(1)的表面设置有凹洞(7)，所述凹洞(7)的内部设置有第二电机(8)，所述第二电机(8)的输出轴端部设置有小齿轮(207)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述小齿轮(207)的一侧设置有旋转杆(208)，且旋转杆(208)与小齿轮(207)固定连接，所述旋转杆(208)贯穿翻转板(203)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述皮带(202)的内部设置有齿轨(209)，且齿轨(209)与齿轮(201)相啮合，所述底座(1)的底部设置有竖筒(210)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述竖筒(210)的内部设置有齿条板(211)，所述齿条板(211)与竖筒(210)活动连接，所述齿条板(211)的顶端通过凹洞(7)延伸至底座(1)的顶部。
6.根据权利要求4所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述孔洞(6)的面积大于测试机(204)的面积，所述齿轨(209)与齿轮(201)相啮合。
7.根据权利要求5所述的一种半导体测试分选机，其特征在于：所述翻转板(203)与测试板(5)为竖直共线设置，所述限制块(205)的横截面形状为半圆形，所述齿条板(211)的顶端背面设置有挡板(9)。
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