CN220207793U - 一种芯片测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试治具，解决了通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作的技术问题；包括支架、平移板和两个夹板，支架一侧的顶部固定设有支撑板，支撑板的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机，抱闸电机的输出轴固定连接有轴套，支架的另一侧滑动连接有两个导柱，两个导柱的表面均套设有弹簧；本实用新型通过拉杆拉动两个导柱，能够使平移板压缩两个弹簧，可增加两个夹板之间的距离，便于将芯片放置两个夹板之间，通过松开拉杆，两个弹簧能够推动平移板反向运动，可缩短两个夹板之间的距离，两个夹板能够夹紧不同尺寸的芯片。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试治具。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称，电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路，另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，芯片是现代电子产品的核心构件，在生产芯片过程中，经常需要通过测试治具对其限位、进行测试活动；
根据中国专利授权公告号CN217513697U提供的“一种芯片生产测试用翻转治具”，通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作，橡胶块与芯片之间的接触面积较小，难以保证芯片的稳定性，通过旋转轴承能够转动芯片、实现其翻转活动，但是需要手动操作，且不具有锁定功能，芯片经翻转后容易晃动。
实用新型内容
本实用新型提供一种芯片测试治具，解决了通过T形杆和橡胶块能够对芯片定位，但是需要依次拉动多个T形杆、方能放入芯片，不便于操作的技术问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种芯片测试治具，包括支架、平移板和两个夹板，所述支架一侧的顶部固定设有支撑板，所述支撑板的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机，所述抱闸电机的输出轴固定连接有轴套，所述支架的另一侧滑动连接有两个导柱，两个所述导柱的表面均套设有弹簧，两个所述导柱的一端均与平移板的一侧固定连接，所述平移板另一侧的中部和支架一侧的顶部均通过轴承转动连接有转轴，两个所述转轴的一端均固定设有夹板，两个所述夹板的一侧均开设有三角槽，其中一个所述转轴的一端贯穿支架、并与轴套卡合连接，所述平移板底端的两侧均固定设有立杆，两个所述立杆的底端均设有牛眼轮，两个所述牛眼轮均与支架底端的内壁滑动连接。
优选的，所述支架另一侧的顶部嵌设有两个铜套，两个所述导柱分别与两个铜套滑动连接，所述支架另一侧的顶部设有拉杆，所述拉杆的两端分别与两个导柱的另一端固定连接。
优选的，两个所述三角槽的表面均设有橡胶垫，两个所述橡胶垫的表面均涂覆有抗老化剂。
优选的，其中一个所述转轴的一端设有凸条，所述轴套的内壁开设有凹槽，所述凸条与凹槽卡合连接。
优选的，所述支架底端的两侧均固定设有角铁，两个所述角铁底端的两侧均开设有安装孔。
优选的，所述支撑板的一侧固定设有两个斜撑，两个所述斜撑的一端均与支架一侧的中部固定连接。
与相关技术相比较，本实用新型的有益效果是：
本实用新型提供芯片测试治具，通过拉杆拉动两个导柱，能够使平移板压缩两个弹簧，可增加两个夹板之间的距离，便于将芯片放置两个夹板之间，通过松开拉杆，平移板能够停止压缩两个弹簧，两个弹簧能够推动平移板反向运动，可缩短两个夹板之间的距离，两个夹板通过三角槽能够夹紧不同尺寸的芯片，增加了对芯片的支撑面积，提高了其稳定性，通过三角槽的斜面能够适用于不同厚度的芯片使用，便于快速固定芯片，方便操作，通过橡胶垫能够对芯片提供防护，且能够增加三角槽与芯片之间的贴合度和摩擦力；
通过两个立杆能够对平移板支撑，可保持平移板的稳定性，能够避免其晃动，平移板移动时，两个牛眼轮能够转动，可减少其运动阻力，通过抱闸电机驱动其中一个转轴，两个夹板能够带动芯片转动，即可对芯片进行翻转，不需要工作人员手动，芯片经翻转后，停止抱闸电机的工作，抱闸电机能够抱紧转轴、对其进行锁定，可防止芯片翻转后产生晃动，在对芯片测试时，确保了芯片的稳定性，通过拆卸固定抱闸电机的螺栓、平移抱闸电机，能够将轴套与转轴分离，便于快速取下抱闸电机。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型平移板的结构示意图；
图3为本实用新型夹板的剖面结构示意图；
图4为本实用新型轴套的结构示意图。
图中标号：1、支架；2、支撑板；3、抱闸电机；4、轴套；5、凹槽；6、导柱；7、弹簧；8、平移板；9、轴承；10、转轴；11、夹板；12、三角槽；13、橡胶垫；14、凸条；15、拉杆；16、立杆；17、牛眼轮；18、斜撑；19、角铁；20、铜套。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参阅图1-4，一种芯片测试治具，包括支架1、平移板8和两个夹板11，支架1一侧的顶部固定设有支撑板2，支撑板2的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机3，抱闸电机3的输出轴固定连接有轴套4，支架1的另一侧滑动连接有两个导柱6，两个导柱6的表面均套设有弹簧7，两个导柱6的一端均与平移板8的一侧固定连接，平移板8另一侧的中部和支架1一侧的顶部均通过轴承9转动连接有转轴10，两个转轴10的一端均固定设有夹板11，两个夹板11的一侧均开设有三角槽12，其中一个转轴10的一端贯穿支架1、并与轴套4卡合连接，平移板8底端的两侧均固定设有立杆16，两个立杆16的底端均设有牛眼轮17，两个牛眼轮17均与支架1底端的内壁滑动连接，通过拉动两个导柱6，能够使平移板8压缩两个弹簧7，可增加两个夹板11之间的距离，便于将芯片放置两个夹板11之间，通过松开两个导柱6，平移板8能够停止压缩两个弹簧7，两个弹簧7能够推动平移板8反向运动，可缩短两个夹板11之间的距离，两个夹板11能够夹紧不同尺寸的芯片。
参阅图1，支架1另一侧的顶部嵌设有两个铜套20，两个导柱6分别与两个铜套20滑动连接，支架1另一侧的顶部设有拉杆15，拉杆15的两端分别与两个导柱6的另一端固定连接，通过铜套20能够对两个导柱6导向，可保证两个导柱6的水平运动，通过拉杆15可同时拉动两个导柱6。
参阅图2，两个三角槽12的表面均设有橡胶垫13，两个橡胶垫13的表面均涂覆有抗老化剂，通过橡胶垫13能够对芯片提供防护，且能够增加三角槽12与芯片之间的贴合度和摩擦力。
参阅图3和图4，其中一个转轴10的一端设有凸条14，轴套4的内壁开设有凹槽5，凸条14与凹槽5卡合连接，通过凸条14和凹槽5能够使其中一个转轴10与抱闸电机3的输出轴同步转动。
参阅图1，支架1底端的两侧均固定设有角铁19，两个角铁19底端的两侧均开设有安装孔，通过角铁19能够支撑支架1，通过安装孔可对角铁19固定。
参阅图1，支撑板2的一侧固定设有两个斜撑18，两个斜撑18的一端均与支架1一侧的中部固定连接，通过斜撑18能够对支撑板2支撑，提高了支撑板2的稳固性。
综上，本实用新型中，需要对芯片进行测试时，工作人员首先通过拉杆15拉动两个导柱6，使平移板8压缩两个弹簧7，可增加两个夹板11之间的距离，然后将芯片放置两个夹板11之间，再松开拉杆15，平移板8能够停止压缩两个弹簧7，两个弹簧7能够推动平移板8反向运动，可缩短两个夹板11之间的距离，两个夹板11能够夹紧不同尺寸的芯片，夹板11的三角槽12通过其斜面能够适用于不同厚度的芯片使用，即可快速固定芯片，橡胶垫13能够对芯片提供防护，且能够增加三角槽12与芯片之间的贴合度和摩擦力，芯片经固定后，工作人员即可进行芯片的测试活动，平移板8移动时，两个立杆16能够对平移板8支撑，可保持平移板8的稳定性，两个牛眼轮17能够转动，可减少其运动阻力，需要翻转芯片时，工作人员通过抱闸电机3驱动其中一个转轴10，两个夹板11能够带动芯片转动，即可对芯片进行翻转，芯片经翻转后，停止抱闸电机3的工作，抱闸电机3能够抱紧转轴10、对其进行锁定，可防止芯片翻转后产生晃动，在对芯片测试时，能够确保芯片的稳定性。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种芯片测试治具，包括支架(1)、平移板(8)和两个夹板(11)，其特征在于：所述支架(1)一侧的顶部固定设有支撑板(2)，所述支撑板(2)的顶端通过螺栓固定安装有抱闸电机(3)，所述抱闸电机(3)的输出轴固定连接有轴套(4)，所述支架(1)的另一侧滑动连接有两个导柱(6)，两个所述导柱(6)的表面均套设有弹簧(7)，两个所述导柱(6)的一端均与平移板(8)的一侧固定连接，所述平移板(8)另一侧的中部和支架(1)一侧的顶部均通过轴承(9)转动连接有转轴(10)，两个所述转轴(10)的一端均固定设有夹板(11)，两个所述夹板(11)的一侧均开设有三角槽(12)，其中一个所述转轴(10)的一端贯穿支架(1)、并与轴套(4)卡合连接，所述平移板(8)底端的两侧均固定设有立杆(16)，两个所述立杆(16)的底端均设有牛眼轮(17)，两个所述牛眼轮(17)均与支架(1)底端的内壁滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述支架(1)另一侧的顶部嵌设有两个铜套(20)，两个所述导柱(6)分别与两个铜套(20)滑动连接，所述支架(1)另一侧的顶部设有拉杆(15)，所述拉杆(15)的两端分别与两个导柱(6)的另一端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，两个所述三角槽(12)的表面均设有橡胶垫(13)，两个所述橡胶垫(13)的表面均涂覆有抗老化剂。
4.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，其中一个所述转轴(10)的一端设有凸条(14)，所述轴套(4)的内壁开设有凹槽(5)，所述凸条(14)与凹槽(5)卡合连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述支架(1)底端的两侧均固定设有角铁(19)，两个所述角铁(19)底端的两侧均开设有安装孔。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试治具，其特征在于，所述支撑板(2)的一侧固定设有两个斜撑(18)，两个所述斜撑(18)的一端均与支架(1)一侧的中部固定连接。
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