CN220153841U - 一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，本实用新型涉及测试晶体振荡器抗震性的技术领域，它包括从右往左顺次固设于震动器震动平台顶表面上的第一固定座、第二固定座和立板，第一固定座和第二固定座的端面上分别开设有第一螺纹孔和第二螺纹孔，立板的前端面经销轴旋转安装有旋转座；旋转座的左端部开设有位于螺纹杆外侧的第二通孔，旋转座右端部的底表面上焊接有连接块，连接块的端面上开设有与第一螺纹孔相对应的第一通孔；该测试工装还包括压盖，压盖的左右端均开设有通槽。本实用新型的有益效果是：结构紧凑、极大提高晶体振荡器抗震性测试效率、极大提高晶体振荡器抗震性测试精度。

Description

一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装

技术领域

本实用新型涉及测试晶体振荡器抗震性的技术领域，特别是一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装。

背景技术

某晶体振荡器的结构如图1所示，它包括基板1和晶体振荡器本体2，晶体振荡器本体2焊接于基板1的顶表面上，晶体振荡器本体2外圆柱形状。当这种晶体振荡器生产成型后，工艺上要求测试晶体振荡器的抗震性，即测试晶体振荡器本体2与基板1的焊接强度，当测试完毕后，工人将抗震性不符合要求的不合格品剔除掉，而将抗震性符合要求的合格品放入到成品料筐内。

车间内使用如图2所示的测试工装来测试晶体振荡器的抗震性，该测试工装包括焊接于震动器3震动平台4顶表面上的两个螺纹杆5，两个螺纹杆5上均螺纹连接有压板6。该测试工装测试晶体振荡器抗震性的方法是：

S1、工人取出一个待测试的晶体振荡器7，将晶体振荡器7的基板1平放在震动器3的震动平台4的顶表面上，且确保基板1处于两个螺纹杆5之间；

S2、工人在两个螺纹杆5上均螺纹连接压板6，确保两个压板6分别将基板1的左右端部压住，从而将基板1固定在震动平台4上，进而将晶体振荡器7工装固定在震动平台4上，如图3所示；

S3、控制震动器3启动，震动器3驱动震动平台4震动，震动平台4使晶体振荡器7震动，当震动一段时间后，工人控制震动器3关闭，从而最终实现了对该晶体振荡器7的测试；

S4、合格品与不合格品的分类：工人将压板6从螺纹杆5上旋出，旋出后，工人将晶体振荡器7从震动平台4上取下，取下后，工人查看晶体振荡器7的基板1与晶体振荡器本体2之间是否有裂缝，若存在有裂缝，则判定该晶体振荡器7的抗震性不符合要求，即为不合格品，工人将不合格品剔除掉；若不存在裂缝，则判定该晶体振荡器7的抗震性符合要求，即为合格品，工人将合格品放入到成品料筐内，从而最终实现了不合格品和合格品的分类；

S5、如此重复步骤S1~S4的操作，即可连续地对多个晶体振荡器的抗震性进行测试，同时对不合格品和合格品分类。

然而，车间内所使用的测试工装虽然能够对晶体振荡器的抗震性进行测试，但是在技术上仍然存在以下技术缺陷：

I、该测试工装只能工装固定一个晶体振荡器，即通过一次工装只能对一个晶体振荡器7进行测试，这无疑是增加了对后续晶体振荡器7的测试时间，从而降低了晶体振荡器7抗震性的测试效率。

II、该测试工装只能在晶体振荡器7处于水平状态下进行测试，测试方位局限，对应的测试精度低。因此，亟需一种极大提高晶体振荡器抗震性测试效率、极大提高晶体振荡器抗震性测试精度的测试工装。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种结构紧凑、极大提高晶体振荡器抗震性测试效率、极大提高晶体振荡器抗震性测试精度的测试晶体振荡器抗震性能的测试工装。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，它包括从右往左顺次固设于震动器震动平台顶表面上的第一固定座、第二固定座和立板，第一固定座和第二固定座的端面上分别开设有第一螺纹孔和第二螺纹孔，立板的前端面经销轴旋转安装有旋转座，旋转座支撑在第一固定座的顶表面上，旋转座的顶表面上固设有两根垂向设置的螺纹杆，旋转座的顶表面上且位于两个螺纹杆之间开设有多个定位槽，定位槽与基板的外轮廓相配合，且定位槽的深度小于基板的高度；所述旋转座的左端部开设有位于螺纹杆外侧的第二通孔，旋转座右端部的底表面上焊接有连接块，连接块的端面上开设有与第一螺纹孔相对应的第一通孔；

该测试工装还包括压盖，压盖的左右端均开设有通槽，压盖内且位于两个通槽之间开设有多个分别与定位槽相对应的圆孔，圆孔的直径大于晶体振荡器本体的外径。

相邻两个定位槽之间的水平间距相等。

所述第一固定座的高度大于第二固定座的高度。

所述旋转座左端部的底表面上焊接有支板，支板经销轴旋转安装于立板上，所述支板位于第二通孔的右侧。

所述连接块焊接于旋转座的底表面上。

所述第一固定座、第二固定座和立板均焊接于震动器的震动平台的台面上。

本实用新型具有以下优点：结构紧凑、极大提高晶体振荡器抗震性测试效率、极大提高晶体振荡器抗震性测试精度。

附图说明

图1为某晶体振荡器的结构示意图；

图2为车间内所使用的测试工装的结构示意图；

图3为本测试工装工装固定晶体振荡器的示意图；

图4为本实用新型的结构示意图；

图5为图4的主剖示意图；

图6为压盖的结构示意图；

图7为图6的俯视图；

图8为定位待测试晶体振荡器的示意图；

图9为盖板固定晶体振荡器的示意图；

图10为通过锁紧螺钉A将旋转台固定的示意图；

图11为工人向左转动旋转座的示意图；

图12为通过锁紧螺钉B将旋转台固定的示意图；

图中，1-基板，2-晶体振荡器本体，3-震动器，4-震动平台，5-螺纹杆，6-压板，7-晶体振荡器，8-第一固定座，9-第二固定座，10-立板，11-第一螺纹孔，12-第二螺纹孔，13-销轴，14-旋转座，15-定位槽，16-第二通孔，17-连接块，18-第一通孔，19-压盖，20-通槽，21-圆孔，22-支板，23-锁紧螺钉A，24-锁紧螺钉B，25-锁紧螺母。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的描述，本实用新型的保护范围不局限于以下所述：

如图4~图7所示，一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，它包括从右往左顺次固设于震动器3震动平台4顶表面上的第一固定座8、第二固定座9和立板10，所述第一固定座8、第二固定座9和立板10均焊接于震动器3的震动平台4的台面上，第一固定座8的高度大于第二固定座9的高度，第一固定座8和第二固定座9的端面上分别开设有第一螺纹孔11和第二螺纹孔12，立板10的前端面经销轴13旋转安装有旋转座14，旋转座14支撑在第一固定座8的顶表面上，旋转座14的顶表面上固设有两根垂向设置的螺纹杆5，旋转座14的顶表面上且位于两个螺纹杆5之间开设有多个定位槽15，相邻两个定位槽15之间的水平间距相等，定位槽15与基板1的外轮廓相配合，且定位槽15的深度小于基板1的高度；所述旋转座14的左端部开设有位于螺纹杆5外侧的第二通孔16，旋转座14右端部的底表面上焊接有连接块17，连接块17焊接于旋转座14的底表面上，连接块17的端面上开设有与第一螺纹孔11相对应的第一通孔18。

该测试工装还包括压盖19，压盖19的左右端均开设有通槽20，压盖19内且位于两个通槽20之间开设有多个分别与定位槽15相对应的圆孔21，圆孔21的直径大于晶体振荡器本体2的外径。所述旋转座14左端部的底表面上焊接有支板22，支板22经销轴13旋转安装于立板10上，所述支板22位于第二通孔16的右侧。

本实用新型的工作过程如下：

S1、待测试晶体振荡器7的定位：工人在旋转座14的各个定位槽15内均放置一个晶体振荡器7，即将晶体振荡器7的基板1放入到定位槽15内，从而实现了晶体振荡器7的定位，如图8所示，此时各个晶体振荡器7的晶体振荡器本体2均处于旋转座14的上方；

S2、晶体振荡器7的工装固定：工人将压盖19上的圆孔21分别套设在各个晶体振荡器本体2的外部，同时将压盖19上的两个通槽20分别套设在两个螺纹杆5的外部，同时将压盖19支撑在基板1的顶表面上，最后工人在两个螺纹杆5上均螺纹连接锁紧螺母25，以将压盖19固定在旋转座14上，此时在螺纹连接力下，各个晶体振荡器7的基板1均固定于压盖19和旋转座14之间，从而最终实现了晶体振荡器7的工装固定，如图9所示；

其中，从该步骤S2可知，本测试工装通过在螺纹杆5上连接锁紧螺母25，即可将压盖19固定在旋转座14上，进而一次性的将多个晶体振荡器7固定在旋转座14上，确保了后续能够一次性对多个晶体振荡器7进行抗震性测试。由此可知，该测试工装相比于车间内如图2~图3所示测试工装，无需工人一个接一个对晶体振荡器7进行测试，而是一次性对多个晶体振荡器7进行测试，从而缩短了对后续晶体振荡器7的测试时间，进而极大的提高了晶体振荡器7抗震性的测试效率。

S3、旋转座14的固定：工人将锁紧螺钉A23穿过第一通孔18并且与第一固定座8内的第一螺纹孔11螺纹连接，以将连接块17固定，进而将旋转座14固定在第一固定座8上，如图10所示；

S4、在晶体振荡器7处于水平状态下进行测试：控制震动器3启动，震动器3驱动震动平台4震动，震动平台4使晶体振荡器7震动，当震动一段时间后，工人控制震动器3关闭，从而实现了在晶体振荡器7处于水平状态下进行测试；

S5、在晶体振荡器7处于垂直状态下进行测试，其具体操作步骤为：

S51、工人将锁紧螺钉A23从第一固定座8的第一螺纹孔11内拧出；

S52、工人绕着销轴13的轴线向左转动旋转座14，如图11所示，旋转座14带动固定在其上的各个晶体振荡器7同步旋转，当旋转座14旋转到直立状态后，工人将锁紧螺钉B24穿过第二通孔16且与第二固定座9内的第二螺纹孔12螺纹连接，以将旋转座14固定在第二固定座9上，如图12所示；

S53、控制震动器3启动，震动器3驱动震动平台4震动，震动平台4使晶体振荡器7震动，当震动一段时间后，工人控制震动器3关闭，从而实现了在晶体振荡器7处于垂直状态下进行测试；

S6、合格品与不合格品的分类：工人将锁紧螺母25从螺纹杆5上旋出，旋出后，工人将压盖19从螺纹杆5上取走，取走后，工人将各个晶体振荡器7从定位槽15内取走；取走后，工人查看晶体振荡器7的基板1与晶体振荡器本体2之间是否有裂缝，若存在有裂缝，则判定该晶体振荡器7的抗震性不符合要求，即为不合格品，工人将不合格品剔除掉；若不存在裂缝，则判定该晶体振荡器7的抗震性符合要求，即为合格品，工人将合格品放入到成品料筐内，从而最终实现了不合格品和合格品的分类；

S7、如此重复步骤S1~S6的操作，即可连续地对多个晶体振荡器的抗震性进行测试，同时对不合格品和合格品分类。

其中，从步骤S4~S5可知，本测试工装不仅能够使晶体振荡器7处于水平状态下进行测试，而且还能够使晶体振荡器7处于垂直状态下进行测试，即能够在两种状态下对晶体振荡器7的抗震性进行测试，本测试工装相比于车间内如图2~图3所示的测试工装只能在一种状态下对晶体振荡器进行测试，测试更加全面，从而极大的提高了晶体振荡器抗震性的测试精度。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：它包括从右往左顺次固设于震动器（3）震动平台（4）顶表面上的第一固定座（8）、第二固定座（9）和立板（10），第一固定座（8）和第二固定座（9）的端面上分别开设有第一螺纹孔（11）和第二螺纹孔（12），立板（10）的前端面经销轴（13）旋转安装有旋转座（14），旋转座（14）支撑在第一固定座（8）的顶表面上，旋转座（14）的顶表面上固设有两根垂向设置的螺纹杆（5），旋转座（14）的顶表面上且位于两个螺纹杆（5）之间开设有多个定位槽（15），定位槽（15）与基板（1）的外轮廓相配合，且定位槽（15）的深度小于基板（1）的高度；所述旋转座（14）的左端部开设有位于螺纹杆（5）外侧的第二通孔（16），旋转座（14）右端部的底表面上焊接有连接块（17），连接块（17）的端面上开设有与第一螺纹孔（11）相对应的第一通孔（18）；

该测试工装还包括压盖（19），压盖（19）的左右端均开设有通槽（20），压盖（19）内且位于两个通槽（20）之间开设有多个分别与定位槽（15）相对应的圆孔（21），圆孔（21）的直径大于晶体振荡器本体（2）的外径。

2.根据权利要求1所述的一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：相邻两个定位槽（15）之间的水平间距相等。

3.根据权利要求1所述的一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：所述第一固定座（8）的高度大于第二固定座（9）的高度。

4.根据权利要求1所述的一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：所述旋转座（14）左端部的底表面上焊接有支板（22），支板（22）经销轴（13）旋转安装于立板（10）上，所述支板（22）位于第二通孔（16）的右侧。

5.根据权利要求1所述的一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：所述连接块（17）焊接于旋转座（14）的底表面上。

6.根据权利要求1所述的一种测试晶体振荡器抗震性能的测试工装，其特征在于：所述第一固定座（8）、第二固定座（9）和立板（10）均焊接于震动器（3）的震动平台（4）的台面上。