CN220145764U - 一种适用于条状芯片测试的吸盘 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘座，所述吸盘座的表面间隔开设有若干吸附口，所述吸盘座通过连接座a横向对称转动连接有两个横向螺柱，所述吸盘座通过连接座b纵向对称转动连接有两个纵向螺柱，所述横向螺柱的外侧螺纹套接有传动块a，所述传动块a的一端固定安装有横向限位条，所述纵向螺柱的外侧螺纹套接有传动块b，所述传动块b的一端固定安装有纵向限位条，所述吸盘座的横向两侧均固定安装有导向横柱，所述导向横柱活动贯穿于传动块a，本实用新型便于满足不同尺寸规格的条状芯片限位使用需求，提高限位结构的适用性，增加对于条状芯片测试时的适用范围。

Description

一种适用于条状芯片测试的吸盘

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种适用于条状芯片测试的吸盘。

背景技术

芯片是电路小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，芯片生产时需对其进行测试处理，首先将芯片放置在吸盘上，然后通过吸盘对芯片位置固定后进行测试。

经检索，中国专利授权公告号为CN 209280750 U公开的一种适用于条状芯片测试的吸盘，虽然通过设置限位横杆、矩形框和隔杆构成条状芯片放置的限位结构，可避免吸盘撤去真空时条状芯片移位掉落，但是由于限位结构整体空间固定，难以满足不同尺寸规格的条状芯片限位使用需求，导致限位结构的适用性较差，对于条状芯片测试时的适用范围受限，因此，我们提出一种适用于条状芯片测试的吸盘。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适用于条状芯片测试的吸盘，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘座，所述吸盘座的表面间隔开设有若干吸附口，所述吸盘座通过连接座a横向对称转动连接有两个横向螺柱，所述吸盘座通过连接座b纵向对称转动连接有两个纵向螺柱，所述横向螺柱的外侧螺纹套接有传动块a，所述传动块a的一端固定安装有横向限位条，所述纵向螺柱的外侧螺纹套接有传动块b，所述传动块b的一端固定安装有纵向限位条，所述吸盘座的横向两侧均固定安装有导向横柱，所述导向横柱活动贯穿于传动块a，所述吸盘座的纵向两侧均固定安装有导向纵柱，所述导向纵柱活动贯穿于传动块b。

优选的，所述吸盘座的抽气端口固定连通有抽气管，所述抽气管的一端固定设置有抽气接头。

优选的，所述吸附口呈线性等距间隔分布设置，所述吸附口的截面形状为矩形。

优选的，所述导向横柱和导向纵柱的一端均固定安装有挡块。

优选的，所述横向螺柱和纵向螺柱的一端均固定连接有旋钮块，所述旋钮块的截面形状为正六边形。

优选的，所述吸盘座的底部固定设置有装配架，所述装配架的表面开设有若干装配孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型通过转动横向螺柱与纵向螺柱，可带动横向限位条与纵向限位条在吸盘座上发生移位，直至使得横向限位条与纵向限位条分别接触于条状芯片各侧部，能够调整横向限位条与纵向限位条形成的限位结构整体空间，从而便于满足不同尺寸规格的条状芯片限位使用需求，提高限位结构的适用性，增加对于条状芯片测试时的适用范围。

附图说明

图1为一种适用于条状芯片测试的吸盘的立体结构示意图；

图2为一种适用于条状芯片测试的吸盘的剖视结构示意图；

图3为一种适用于条状芯片测试的吸盘的俯视结构示意图。

图中：1、吸盘座；101、吸附口；102、导向横柱；103、导向纵柱；104、挡块；105、装配架；106、装配孔；2、连接座a；201、横向螺柱；3、传动块a；301、横向限位条；4、连接座b；401、纵向螺柱；5、传动块b；501、纵向限位条；6、旋钮块；7、抽气管；701、抽气接头。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-图3所示，本实用新型提供的一种技术方案：

一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘座1，吸盘座1的表面间隔开设有若干吸附口101，吸盘座1通过连接座a2横向对称转动连接有两个横向螺柱201，吸盘座1通过连接座b4纵向对称转动连接有两个纵向螺柱401，横向螺柱201的外侧螺纹套接有传动块a3，传动块a3的一端固定安装有横向限位条301，纵向螺柱401的外侧螺纹套接有传动块b5，传动块b5的一端固定安装有纵向限位条501，吸盘座1的横向两侧均固定安装有导向横柱102，导向横柱102活动贯穿于传动块a3，吸盘座1的纵向两侧均固定安装有导向纵柱103，导向纵柱103活动贯穿于传动块b5。

作为本实施例中的一种优选的实施方式，如图2所示，吸盘座1的抽气端口固定连通有抽气管7，抽气管7的一端固定设置有抽气接头701，达到了便于将抽气管7接通于真空抽气泵的目的。

作为本实施例中的一种优选的实施方式，如图3所示，吸附口101呈线性等距间隔分布设置，吸附口101的截面形状为矩形。

作为本实施例中的一种优选的实施方式，如图1所示，导向横柱102和导向纵柱103的一端均固定安装有挡块104，达到了能够对传动块a3与传动块b5起到阻挡作用的目的。

作为本实施例中的一种优选的实施方式，如图1所示，横向螺柱201和纵向螺柱401的一端均固定连接有旋钮块6，旋钮块6的截面形状为正六边形，达到了便于将横向螺柱201和纵向螺柱401进行转动的目的。

作为本实施例中的一种优选的实施方式，如图1所示，吸盘座1的底部固定设置有装配架105，装配架105的表面开设有若干装配孔106，达到了能够将吸盘座1进行固定装配的目的。

工作原理：

在条状芯片测试使用过程中，将条状芯片置于吸盘座1上，抽气管7接通于真空抽气泵，通过真空抽气泵使得吸盘座1上的各个吸附口101对条状芯片产生吸附效果，利用横向限位条301与纵向限位条501形成限位结构，使得横向限位条301与纵向限位条501可对吸盘座1上的条状芯片起到限位作用，当需要对不同尺寸规格的条状芯片进行限位时，使用旋钮块6转动横向螺柱201与纵向螺柱401，可带动横向限位条301与纵向限位条501在吸盘座1上发生移位，直至使得横向限位条301与纵向限位条501分别接触于条状芯片各侧部，能够调整横向限位条301与纵向限位条501形成的限位结构整体空间，即可重新对吸盘座1上的条状芯片起到限位作用。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (6)

1.一种适用于条状芯片测试的吸盘，包括吸盘座(1)，所述吸盘座(1)的表面间隔开设有若干吸附口(101)，其特征在于：所述吸盘座(1)通过连接座a(2)横向对称转动连接有两个横向螺柱(201)，所述吸盘座(1)通过连接座b(4)纵向对称转动连接有两个纵向螺柱(401)，所述横向螺柱(201)的外侧螺纹套接有传动块a(3)，所述传动块a(3)的一端固定安装有横向限位条(301)，所述纵向螺柱(401)的外侧螺纹套接有传动块b(5)，所述传动块b(5)的一端固定安装有纵向限位条(501)，所述吸盘座(1)的横向两侧均固定安装有导向横柱(102)，所述导向横柱(102)活动贯穿于传动块a(3)，所述吸盘座(1)的纵向两侧均固定安装有导向纵柱(103)，所述导向纵柱(103)活动贯穿于传动块b(5)。

2.根据权利要求1所述的一种适用于条状芯片测试的吸盘，其特征在于：所述吸盘座(1)的抽气端口固定连通有抽气管(7)，所述抽气管(7)的一端固定设置有抽气接头(701)。

3.根据权利要求1所述的一种适用于条状芯片测试的吸盘，其特征在于：所述吸附口(101)呈线性等距间隔分布设置，所述吸附口(101)的截面形状为矩形。

4.根据权利要求1所述的一种适用于条状芯片测试的吸盘，其特征在于：所述导向横柱(102)和导向纵柱(103)的一端均固定安装有挡块(104)。

5.根据权利要求1所述的一种适用于条状芯片测试的吸盘，其特征在于：所述横向螺柱(201)和纵向螺柱(401)的一端均固定连接有旋钮块(6)，所述旋钮块(6)的截面形状为正六边形。

6.根据权利要求1所述的一种适用于条状芯片测试的吸盘，其特征在于：所述吸盘座(1)的底部固定设置有装配架(105)，所述装配架(105)的表面开设有若干装配孔(106)。